JPH02287272A - 導通チェック装置 - Google Patents
導通チェック装置Info
- Publication number
- JPH02287272A JPH02287272A JP1107630A JP10763089A JPH02287272A JP H02287272 A JPH02287272 A JP H02287272A JP 1107630 A JP1107630 A JP 1107630A JP 10763089 A JP10763089 A JP 10763089A JP H02287272 A JPH02287272 A JP H02287272A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring
- blobbing
- probing
- prober
- end point
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、電子回路基板上の配線作業を実施した後に配
線の誤りがないかどうかをチエツクする検査装置に関す
る。
線の誤りがないかどうかをチエツクする検査装置に関す
る。
従来、電子回路基板上の配線チエツクは人手にて導通回
路テスターのプローブを両手で持って、片側ずつ接触さ
せて回路チエツクを行っていた。
路テスターのプローブを両手で持って、片側ずつ接触さ
せて回路チエツクを行っていた。
また関連するチエツク装置として、2本のプローブピン
をそれぞれX、Yテーブルに搭載してNCデータにてプ
ローブを移動してチエツクする方法がある。なおこの種
の装置として関連するものには特開昭62−28227
7号公報等が挙げられる。
をそれぞれX、Yテーブルに搭載してNCデータにてプ
ローブを移動してチエツクする方法がある。なおこの種
の装置として関連するものには特開昭62−28227
7号公報等が挙げられる。
上記従来技術の人手によるプロピング方法では接触させ
ようとする配線の始点、終点が微細になると正確に接触
できなくなる。また拡大鏡を用いた場合でも片側のブロ
ービングはできるがもう一方のブロービングができなく
なる。これは一つの拡大鏡で始点と終点のターゲットが
同時に!lt察できないためと、左手で始点を接触した
後に右手で終点側を接触する場合にプローブ先端が動い
て正確な導通チエツクができないためである。
ようとする配線の始点、終点が微細になると正確に接触
できなくなる。また拡大鏡を用いた場合でも片側のブロ
ービングはできるがもう一方のブロービングができなく
なる。これは一つの拡大鏡で始点と終点のターゲットが
同時に!lt察できないためと、左手で始点を接触した
後に右手で終点側を接触する場合にプローブ先端が動い
て正確な導通チエツクができないためである。
また従来技術のNCデータレこでチエツクする装置では
5導通チエツクをしようとする配線の始点と終点をそれ
ぞれ同時に接触させるために2つのXY子テーブル有す
る大規模で複雑な導通チエツクシステムとなり、導通チ
エツク装置が高価になる。
5導通チエツクをしようとする配線の始点と終点をそれ
ぞれ同時に接触させるために2つのXY子テーブル有す
る大規模で複雑な導通チエツクシステムとなり、導通チ
エツク装置が高価になる。
さらにこれらの装置では既に配線された線材がある場合
、正確に確認できないため線材を傷つけたりつぶしたり
して製品を壊すケースがある。
、正確に確認できないため線材を傷つけたりつぶしたり
して製品を壊すケースがある。
本発明の目的は、これら導通チエツクを簡易に安全にさ
らには正確に行うための装置であり、これにかかる問題
を解決する手段を提供することにある。
らには正確に行うための装置であり、これにかかる問題
を解決する手段を提供することにある。
上記目的を達成するために、X、Yテーブルを上下に2
段構成とし、1段目のXY子テーブル上設けられ九X、
Y、Z移動の可能なプローバとこれらX、Yテーブル上
にない固定プローバとを設けた。
段構成とし、1段目のXY子テーブル上設けられ九X、
Y、Z移動の可能なプローバとこれらX、Yテーブル上
にない固定プローバとを設けた。
X,Y,Z方向に移動可能なプローバは1段目のX、Y
テーブルに搭載されているために、1段目のX、Yテー
ブルを用いて終点ターゲットに位置合わせするときに始
点側のブロービングが外れて正確なチエツクが出来なく
なる様なことがない。
テーブルに搭載されているために、1段目のX、Yテー
ブルを用いて終点ターゲットに位置合わせするときに始
点側のブロービングが外れて正確なチエツクが出来なく
なる様なことがない。
以下1本発明の一実施例を第1図及び第2図により説明
する。
する。
第2図に示すように、回路基板1は設計上変更を必要と
する配線3が発生する。配線3は配線機または自動機械
で配線されるが、正確に配線されたかどうかのチエツク
及び配線3の不良解析を行う場合にどうしても簡易的に
チエツクできる装置が必要である。
する配線3が発生する。配線3は配線機または自動機械
で配線されるが、正確に配線されたかどうかのチエツク
及び配線3の不良解析を行う場合にどうしても簡易的に
チエツクできる装置が必要である。
本装置は、X、Y移動テーブルが2層構造を有し、ブロ
ービングピンを2本設け、1本は2段テーブルの移動プ
ローブ、他の1本はベース上に設けた固定プローブであ
り、微小部分を確認するための拡大装置とで構成されて
いる。
ービングピンを2本設け、1本は2段テーブルの移動プ
ローブ、他の1本はベース上に設けた固定プローブであ
り、微小部分を確認するための拡大装置とで構成されて
いる。
この配線チエツクは配線3の始点3山と終点3bを設計
指示図面に従いブロービング(接触)し、導通の有無を
確認するもので、最初に始点3山側からブロービングさ
れる。始点3z側のブロービングはブロービングターゲ
ットに2段目のX、Yテーブル5山、5b(X方向5山
、Y方向5b)で拡大鏡10の視野内に位置合わせをし
、1段目X、Yテーブル40.,4b上に設けられた始
点プローバ6を動かし、設計指示の始点3山パツドにブ
ロービングし、固定できる構造となっている。この時ブ
ロービングは始点30−パッドへの接触状態とか、既に
配線された線材を傷つけない様にブロービングエリアを
観察しながらブロービングできる様、垂直方向又は斜方
方向から拡大鏡lOで確認ができる様になっている。
指示図面に従いブロービング(接触)し、導通の有無を
確認するもので、最初に始点3山側からブロービングさ
れる。始点3z側のブロービングはブロービングターゲ
ットに2段目のX、Yテーブル5山、5b(X方向5山
、Y方向5b)で拡大鏡10の視野内に位置合わせをし
、1段目X、Yテーブル40.,4b上に設けられた始
点プローバ6を動かし、設計指示の始点3山パツドにブ
ロービングし、固定できる構造となっている。この時ブ
ロービングは始点30−パッドへの接触状態とか、既に
配線された線材を傷つけない様にブロービングエリアを
観察しながらブロービングできる様、垂直方向又は斜方
方向から拡大鏡lOで確認ができる様になっている。
ブロービングはプロービング駆動ステージX軸14山を
移動し1次にY軸14bを移動し、位置合わせが完了す
ると、ブロービングピンをパッドに接触させるための2
軸14cを下降する。
移動し1次にY軸14bを移動し、位置合わせが完了す
ると、ブロービングピンをパッドに接触させるための2
軸14cを下降する。
始点30.側のブロービングが終ると終点3b側につい
ても同様に拡大鏡10の視野内にブロービングエリアを
位置合わせする。この位置合わせは1段目のXY子テー
ブル0..4b (X方向が40.。
ても同様に拡大鏡10の視野内にブロービングエリアを
位置合わせする。この位置合わせは1段目のXY子テー
ブル0..4b (X方向が40.。
Y方向が4b)と駆動させて位置合ねせをするもので、
始点3山側のブロービングと回路基板1は固定状態で、
終点3b側へ移動する構造となっているため、終点3b
側のブロービングが正確にしかも安全にできる。
始点3山側のブロービングと回路基板1は固定状態で、
終点3b側へ移動する構造となっているため、終点3b
側のブロービングが正確にしかも安全にできる。
終点側のブロービングはベースに固定されたプローブヘ
ッド8にてブロービングするもので2方向のみ動く構造
になっている。また針の先端はスポットインジケータ1
1のビームポイントに下降する位置に固定され、上記1
段目X、Yテーブル4a、、4bにて位置合わせ完了後
に終点プローバフを下降させ接触するものである。
ッド8にてブロービングするもので2方向のみ動く構造
になっている。また針の先端はスポットインジケータ1
1のビームポイントに下降する位置に固定され、上記1
段目X、Yテーブル4a、、4bにて位置合わせ完了後
に終点プローバフを下降させ接触するものである。
以上始点3山と終点3bをそれぞれブロービングするこ
とにより導通回路テスター12にて配線13の導通有無
を確認する構造となっている。
とにより導通回路テスター12にて配線13の導通有無
を確認する構造となっている。
またチエツク装置は位置合わせを容易にするため、スポ
ットインジケータ11にて拡大鏡10の視野を明示する
機能を有する。また拡大鏡10は支柱9に取付けて固定
し、支柱9はベース板13に取付けている。なおX、Y
テーブルの駆動方法は手動。
ットインジケータ11にて拡大鏡10の視野を明示する
機能を有する。また拡大鏡10は支柱9に取付けて固定
し、支柱9はベース板13に取付けている。なおX、Y
テーブルの駆動方法は手動。
自動どちらにも適用可能で、その廃動源は問わない。本
実施例以外にも応用は多大である。
実施例以外にも応用は多大である。
本発明は、以上説明したように構成されているので以下
に記載されるような効果を奏する。
に記載されるような効果を奏する。
上下2つのX、Yテーブルと1段目に設けられたX,Y
,Z移動プローバと固定プローバを有するため始点ブロ
ービングした後に終点ブロービングを容易に正確に行う
ことができる。
,Z移動プローバと固定プローバを有するため始点ブロ
ービングした後に終点ブロービングを容易に正確に行う
ことができる。
また始点ブロービング、終点ブロービングともに拡大鏡
のamエリアにてブロービングするため既に配線された
線材に対して傷つけることなくブロービングができる。
のamエリアにてブロービングするため既に配線された
線材に対して傷つけることなくブロービングができる。
さらには電子回路基板が微細になっても簡便にブロービ
ングが可能なため、安価な設備化で対応できる。
ングが可能なため、安価な設備化で対応できる。
第1図は本発明の実施例を示す斜視図、第2図は電子回
路基板の実装状態を示す斜視図である。 1・・・回路基板、 3・・・配線、3山、・
・・始点、 3b・・・終点。 4良、4b・・・X、Yテーブル、 5山、5b・・・x、yテーブル、 6・・・始点プローバ、 7・・・終点プローバ。
路基板の実装状態を示す斜視図である。 1・・・回路基板、 3・・・配線、3山、・
・・始点、 3b・・・終点。 4良、4b・・・X、Yテーブル、 5山、5b・・・x、yテーブル、 6・・・始点プローバ、 7・・・終点プローバ。
Claims (1)
- 1.上下に重ねた2組のXYテーブルと、前記XYテー
ブルの1組の上に設けられたX,Y,Z方向に移動可能
な移動プローバと、前記XYテーブル上にはない固定プ
ローバとを設けたことを特徴とする導通チェック装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1107630A JP2796351B2 (ja) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | 導通チェック装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1107630A JP2796351B2 (ja) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | 導通チェック装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02287272A true JPH02287272A (ja) | 1990-11-27 |
| JP2796351B2 JP2796351B2 (ja) | 1998-09-10 |
Family
ID=14464061
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1107630A Expired - Lifetime JP2796351B2 (ja) | 1989-04-28 | 1989-04-28 | 導通チェック装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2796351B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107907091A (zh) * | 2017-12-14 | 2018-04-13 | 山东科技大学 | 一种测量波形唇油封模芯唇口波形误差的测量装置及方法 |
-
1989
- 1989-04-28 JP JP1107630A patent/JP2796351B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107907091A (zh) * | 2017-12-14 | 2018-04-13 | 山东科技大学 | 一种测量波形唇油封模芯唇口波形误差的测量装置及方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2796351B2 (ja) | 1998-09-10 |
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