JPH0228731A - 評価用マイクロコンピュータ - Google Patents

評価用マイクロコンピュータ

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JPH0228731A
JPH0228731A JP63178812A JP17881288A JPH0228731A JP H0228731 A JPH0228731 A JP H0228731A JP 63178812 A JP63178812 A JP 63178812A JP 17881288 A JP17881288 A JP 17881288A JP H0228731 A JPH0228731 A JP H0228731A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ram
data
mass
produced
address
Prior art date
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Pending
Application number
JP63178812A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaya Ota
昌也 太田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sanyo Electric Co Ltd filed Critical Sanyo Electric Co Ltd
Priority to JP63178812A priority Critical patent/JPH0228731A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (り産業上の利用分野 本発明は、RAM容量の異なる複数の量産マイクロコン
ピュータに組み込まれたプログラムを評価する評価用マ
イクロコンピュータに関するものである。
(ロ)従来の技術 評価用マイクロコンピュータによって、RAM容量の異
なる複数の量産マイクロコンピュータに組み込まれたプ
ログラムを評価する場合、評価用マイクロコンピュータ
のRAMの中で使用される領域を、量産マイクロコンピ
ュータのRAM容量に応じて切り換えなければならない
。そこで従来は、評価用マイクロコンピュータにデイツ
プスイッチを設け、このデイツプスイッチによって評価
用マイクロコンピュータのRAM容量を切り換えたり、
また評価用マイクロコンピュータにデイツプスイッチを
設けずに、RAM容量切換用端子に配線を施すことによ
って評価用マイクロコンピュータのRAM容量を切り換
えたりしていた。
(ハ)発明が解決しようとする課題 しかしながら評価用マイクロコンピュータにデイツプス
イッチを設けると、厚みが増すことから、この評価用マ
イクロコンピュータをセットに組み込む際に、スペース
の自由度が減少してしまう問題点があった。またRAM
容量切換用端子に配線を施すと、前述した厚みの問題は
解消できるが、この評価用マイクロコンピュータをセッ
トに組み込んだ後に配線が切れると、修理が困難であり
、セット側によるサービス性を低下させてしまう問題点
があった。
(ニ)課題を解決するための手段 本発明は、RAM容量の異なる複数の量産マイクロコン
ピュータに組み込まれたプログラムを評価する評価用マ
イクロコンピュータにおいて、前記量産マイクロコンピ
ュータに組み込まれたプログラムが書き込まれると共に
前記量産マイクロコンピュータのRAM容量に応じたデ
ータが特定アドレスに書き込まれる不揮発性メモリと、
前記複数の量産マイクロコンピュータのRAM容量以上
のRAM容量を有するRAMと、リセット信号が印加さ
れることによって、クロック信号を発生するクロック発
生回路と、前記クロック信号が印加されることによって
、前記量産マイクロコンピュータのRAM容量に応じた
データをラッチするラッチ回路と、該ラッチ回路のラッ
チデータによって、前記RAMのアドレスを指定するア
ドレスデータのビット数を制御する制御回路とを備え、
前記RAMの中で使用される領域を前記量産マイクロコ
ンピュータのRAM容量に応じて切り換えることによっ
て前記問題点を解決する。
(ホ)作用 本発明は、RAM容量の異なる複数の量産マイクロコン
ピュータに組み込まれたプログラムを評価する評価用マ
イクロコンピュータに設けて以下の如く有効である。即
ち量産マイクロコンピュータに組み込まれたプログラム
が不揮発性メモリに書き込まれると共に、量産マイクロ
コンピュータのRAM容量に応じたデータが不揮発性メ
モリの特定アドレスに書き込まれた状態で、リセット信
号がクロック発生回路に印加されると、クロック信号が
クロック発生回路から発生し、クロック信号がラッチ回
路に印加されると、量産マイクロコンピュータのRAM
容量に応じたデータがラッチ回路にラッチされる。そし
てラッチ回路のラッチデータが制御回路に印加されると
、評価用マイクロコンピュータのRAMのアドレスを指
定するアドレスデータのビット数が制御回路によって制
御される。これより評価用マイクロコンピュータのRA
Mの中で使用可能な領域が、量産マイクロコンピュータ
のRAM容量に応じて切り換えられることになる。
(へ)実施例 本発明の詳細を図示の実施例により具体的に説明する。
図面は本発明の評価用マイクロコンピュータを示すブロ
ック図である。
図面において、(1)はEPROM(不揮発性メモリ)
であって、「1」の書き込み制御信号が印加されること
によって、量産マイクロコンピュータに組み込まれたプ
ログラムが書き込まれると共に前記量産マイクロコンピ
ュータのRAM容量に応じたデータがその特定アドレス
(1a)に書き込まれ、ここで該特定アドレス(1a〉
の左側を下位ビットとする。(2)は、前記EPROM
(1)のアドレスを指定するPC(プログラムカウンタ
)である。
(3)はRAMであって、評価される量産マイクロコン
ピュータのRAM容量以上のRAM容量を有する。(4
)は、前記RAM(3)内で複数のビット線に対してマ
トリクス配置された複数のワード線の何れかを選択する
ローアドレスデコーダであって、3ビツトのローアドレ
スデータ「X6 X+ X*」が直接印加されると共に
1ビツトのローアドレスデータ「X、」が制御回路とし
てのANDゲート(5)を介して印加される。(6)は
、前記複数のビット線の何れかを選択する為に複数のビ
ット選択線の何れかを選択するカラムアドレスデコーダ
であって、4ビツトのカラムアドレスデータry。
Y + Y * Y 8 Jが直接印加される。(7)
はクロック発生回路であって、インバータ(8)を介し
たリセット信号が印加されることによって、クロック信
号を発生する。(9)はラッチ回路であって、前記クロ
ック信号が印加されることによって、前記量産マイクロ
コンピュータのRAM容量に応じたデータがラッチされ
、このラッチデータによって前記ANDゲート(5)が
制御される。尚、4ビツトのローアドレスデータ’Xo
 XIXx XsJ又は3ビツトのローアドレスデータ
’ XOXI Xx」に基づいて複数のワード線の何れ
かが選択され、4ビツトのカラムアドレスデータ’Yo
 Y+ YQY8.に基づいて複数のビット選択線の何
れかが選択されることから、前記RAM(3)の最大容
量は2’X2’=256ワードとなり、即ち最大256
ワードのRAM容量を有する量産マイクロコンピュータ
に組み込まれたプログラムまでを評価できることになる
。また量産マイクロコンピュータのRAM容量に応じた
データは、RAM容量が256ワードの時に「1」、R
AM容量が128ワードの時に10」とする。
まず256ワードのRAM容量を有する量産マイクロコ
ンピュータに組み込まれたプログラムを評価する場合、
E P ROM(1)に書き込まれているデータを予め
紫外線によって消去した状態で11」の書き込み制御信
号がEPROM(1)に印加されると、量産マイクロコ
ンピュータに組み込まれたプログラムがPC(2)によ
って指定されたアドレスに書き込まれ、量産マイクロコ
ンピュータのRAM容量に応じたデータ「1」がPC(
2)によって指定された特定アドレス(1a)の第Oビ
ットに書き込まれる。そして評価用マイクロコンピュー
タをリセットする為に10」のリセット信号がインバー
タ(8)に印加跡れると、インバータ(8〉を介した「
1」のリセット信号がクロック発生回路り7)に印加さ
れ、クロック信号がクロック発生回路(7)から発生す
る。このクロック信号がラッチ回路(9)のT()リガ
ー)端子に印加されると、D(データ)端子に印加され
た特定アドレス(1a)の第0ビツトのデータ「1」が
、クロック信号の立上りでラッチされてクロック信号の
立下りでQ(出力)端子から出力される。よってAND
ゲート(5)の一方の入力端子がラッチ回路(9)のラ
ッチデータによって「1」に保持きれることから、1ビ
ツトのローアドレスデータ「X、」がANDゲート(5
)を介してローアドレスデコーダ(4)に印加されるこ
とになる。従ってRAM(3)のアドレスは4ビツトの
ローアドレスデータ「xDX。
XtXs」及び4ビツトのカラムアドレスデータ「Yo
YIY2Ys」に基づいて指定されることになり、即ち
RA M (3)の中で使用される領域は、量産マイク
ロコンピュータのRAM容量と等しい2’X2’=25
6ワードとされることになる。これよりEPROM(1
)に書き込まれたプログラムを実行することにより、2
56ワードのRAM容量を有する量産マイクロコンピュ
ータに組み込まれたプログラムが評価されることになる
次に128ワードのRAM容量を有する量産マイクロコ
ンピュータに組み込まれたプログラムを評価する場合、
前述の場合において、量産マイクロコンピュータのRA
M容量に応したデータのみを101とすればよく、AN
Dゲート(5)の一方の入力端子がラッチ回路(9)の
ラッチデータによってrO」に保持されることから、1
ビツトのローアドレスデータ「X3」として常にr□」
がANDゲート(5)を介してローアドレスデコーダ(
4)に印加されることになる。従ってRAM(3)のア
ドレスは3ビツトのローアドレスデータ「X。
X、X、、及び4ビツトのカラムアドレスデータ’ Y
o YHYx Y3Jに基づいて指定されることになり
、即ちRAM(3)の中で使用される領域は、量産マイ
クロコンピュータのRAM容量と等しい23X2’=1
28ワードとされることになる。これよりEPROM(
1)に書き込まれたプログラムを実行することにより、
128ワードのRAM容量を有する量産マイクロコンピ
ュータに組み込まれたプログラムが評価されることにな
る。
以上より256ワード又は128ワードのRAM容量を
有する量産マイクロコンピュータに組み込まれたプログ
ラムを評価するには、量産マイクロコンピュータのRA
M容量に応じたデータ「1」又は「0」を、EPROM
(1)の特定アドレス(1a)の第Oビットに書き込め
ばよいことから、評価用マイクロコンピュータのRA 
M (3)の中で使用される領域が、量産マイクロコン
ピュータの256ワード又は128ワード等のRAM容
量に応じて容易に切り換えられることになる。故に従来
の様な問題点は全て解消されることになる。
尚、本実施例は量産マイクロコンピュータのRAM容量
が256ワード又は128ワードの場合について説明し
たが、特定アドレス(1a)の第Oビット以降のビット
に対してラッチ回路(9)及びANDゲート(5)を同
様に設けると共に、’x、。
以外のローアドレスデータ’Xo XlX1 」及びカ
ラムアドレスデータ’ Yo Yr Yl Ys 」の
何れかをそのANDゲート(5)に印加した状態で、ク
ロック信号をラッチ回路(9)のT端子に印加してやれ
ば、前記以外のRAM容量を有する量産マイクロコンピ
ュータに組み込まれたプログラムを評価できることは言
うまでもないことである。またEPROM(1)に代わ
ってEEPROMを設けてもよい。
〈ト)発明の効果 本発明によれば、RAM容量の異なる量産マイクロコン
ピュータに組み込まれたプログラムを評価するには、量
産マイクロコンピュータのRAM容量に応じたデータを
不揮発性メモリの特定アドレスに書き込んでやれはよく
、これより評価用マイクロコンピュータのRAMの中で
使用される領域が量産マイクロコンピュータのRAM容
量に応じて容易に切り換えられることになる。またこの
評価用マイクロコンピュータをセラ1〜に組み込んでも
スペースの自由度は減少せず、更にRAM容量を切り換
える為の配線が不要となることから、セット側によるザ
ービス性が向上する等の利点が得られる。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の評価用マイクロコンピュータを示すブロ
ック図である。 (1)−EPROM、   (la)−特定アドレス、
(3〉・・・RAM、   (5)・・・ANDゲート
、  (7)・・・クロック発生回路、 (9)・・・
ラッチ回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)RAM容量の異なる複数の量産マイクロコンピュ
    ータに組み込まれたプログラムを評価する評価用マイク
    ロコンピュータにおいて、前記量産マイクロコンピュー
    タに組み込まれたプログラムが書き込まれると共に前記
    量産マイクロコンピュータのRAM容量に応じたデータ
    が特定アドレスに書き込まれる不揮発性メモリと、前記
    複数の量産マイクロコンピュータのRAM容量以上のR
    AM容量を有するRAMと、リセット信号が印加される
    ことによって、クロック信号を発生するクロック発生回
    路と、前記クロック信号が印加されることによって、前
    記量産マイクロコンピュータのRAM容量に応じたデー
    タをラッチするラッチ回路と、該ラッチ回路のラッチデ
    ータによって、前記RAMのアドレスを指定するアドレ
    スデータのビット数を制御する制御回路とを備え、前記
    RAMの中で使用される領域を前記量産マイクロコンピ
    ュータのRAM容量に応じて切り換えることを特徴とす
    る評価用マイクロコンピュータ。
JP63178812A 1988-07-18 1988-07-18 評価用マイクロコンピュータ Pending JPH0228731A (ja)

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JP63178812A JPH0228731A (ja) 1988-07-18 1988-07-18 評価用マイクロコンピュータ

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JP63178812A JPH0228731A (ja) 1988-07-18 1988-07-18 評価用マイクロコンピュータ

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JPH0228731A true JPH0228731A (ja) 1990-01-30

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