JPH0228913B2 - Choseimokuhyodenatsusetsuteihoho - Google Patents
ChoseimokuhyodenatsusetsuteihohoInfo
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- JPH0228913B2 JPH0228913B2 JP57137307A JP13730782A JPH0228913B2 JP H0228913 B2 JPH0228913 B2 JP H0228913B2 JP 57137307 A JP57137307 A JP 57137307A JP 13730782 A JP13730782 A JP 13730782A JP H0228913 B2 JPH0228913 B2 JP H0228913B2
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 34
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 25
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 19
- 238000009966 trimming Methods 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000005488 sandblasting Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC
- G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is DC using semiconductor devices in series with the load as final control devices
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、集積回路等を被調整回路とする機能
トリミング装置において、その対象部分の電圧と
調整目標電圧との差を高精度で求め、その値に応
じて当該機能トリミングを正確に行うための調整
目標電圧設定方法に関するものである。
トリミング装置において、その対象部分の電圧と
調整目標電圧との差を高精度で求め、その値に応
じて当該機能トリミングを正確に行うための調整
目標電圧設定方法に関するものである。
一般に機能トリミング装置は、被調整回路の調
整対象部分の電圧を測定するとき、Ａ／Ｄ変換器
またはそれを応用したデータ読出し可能な電圧計
（例えば、デイジタル電圧計）を使用している。
整対象部分の電圧を測定するとき、Ａ／Ｄ変換器
またはそれを応用したデータ読出し可能な電圧計
（例えば、デイジタル電圧計）を使用している。
しかしながら、それらの測定回路には、その非
直線性、ドリフトが存在するので、測定精度に限
界があり、調整精度の向上を妨げる原因となつて
いた。また、上記のような電圧計は、測定時間が
長く、調整効率の向上も困難であつた。
直線性、ドリフトが存在するので、測定精度に限
界があり、調整精度の向上を妨げる原因となつて
いた。また、上記のような電圧計は、測定時間が
長く、調整効率の向上も困難であつた。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をな
くし、被調整回路の対象部分の電圧と調整目標電
圧との差を高精度で求め、その値に応じて当該機
能トリミングを正確で効率的に行うことができる
調整目標電圧設定方法を提供することにある。
くし、被調整回路の対象部分の電圧と調整目標電
圧との差を高精度で求め、その値に応じて当該機
能トリミングを正確で効率的に行うことができる
調整目標電圧設定方法を提供することにある。
本発明に係る調整目標電圧設定方法の構成は、
被調整回路の対象部分の電圧を測定し、そのデイ
ジタル値と当該調整目標電圧のデイジタル値との
差に応じて所要調整量を算出し、その調整量に応
じて被調整回路の当該対象部分の回路定数を変化
させるように制御・処理をする機能を有する機能
トリミング装置において、調整目標電圧の設定を
被調整回路の各対象部分に対応して所望のデイジ
タル値で行いうるようにするとともに、そのビツ
ト数を上記対象部分の電圧測定結果のＡ／Ｄ変換
のビツト数よりも充分に多くするようにしたもの
である。
被調整回路の対象部分の電圧を測定し、そのデイ
ジタル値と当該調整目標電圧のデイジタル値との
差に応じて所要調整量を算出し、その調整量に応
じて被調整回路の当該対象部分の回路定数を変化
させるように制御・処理をする機能を有する機能
トリミング装置において、調整目標電圧の設定を
被調整回路の各対象部分に対応して所望のデイジ
タル値で行いうるようにするとともに、そのビツ
ト数を上記対象部分の電圧測定結果のＡ／Ｄ変換
のビツト数よりも充分に多くするようにしたもの
である。
これを要するに、目標調整電圧をデイジタル値
で設定しうるようにすることにより、そのプログ
ラマブル化を容易とするとともに、そのビツト数
を上記電圧測定結果のＡ／Ｄ変換のビツト数より
も充分に多くすることにより、上記Ａ／Ｄ変換に
おける誤差、非直線性等を吸収して電圧測定の高
精度化を可能とするものである。
で設定しうるようにすることにより、そのプログ
ラマブル化を容易とするとともに、そのビツト数
を上記電圧測定結果のＡ／Ｄ変換のビツト数より
も充分に多くすることにより、上記Ａ／Ｄ変換に
おける誤差、非直線性等を吸収して電圧測定の高
精度化を可能とするものである。
以下、本発明の実施例を図に基づいて説明す
る。
る。
第１図は、本発明に係る調整目標電圧設定方法
の一実施例の方式構成図、第２図は、その処理フ
ローチヤートである。
の一実施例の方式構成図、第２図は、その処理フ
ローチヤートである。
ここで、１は、処理装置、２は、調整駆動ユニ
ツト、３は、Ｄ／Ａ変換回路（Ｄ／Ａ）、４は、
増幅回路、５は、切換回路、６は、減衰回路、７
は、Ａ／Ｄ変換回路（Ａ／Ｄ）である。
ツト、３は、Ｄ／Ａ変換回路（Ｄ／Ａ）、４は、
増幅回路、５は、切換回路、６は、減衰回路、７
は、Ａ／Ｄ変換回路（Ａ／Ｄ）である。
最初に、上記各部の機能・動作を説明する。
Ｄ／Ａ変換回路３は、処理装置１からデイジタ
ルデータを受け、そのデータに従つて種々のアナ
ログ電圧を出力することができる。また、増幅回
路４は、Ｄ／Ａ変換回路３の出力を増幅し、被調
整回路ICの調整目標電圧を発生する。
ルデータを受け、そのデータに従つて種々のアナ
ログ電圧を出力することができる。また、増幅回
路４は、Ｄ／Ａ変換回路３の出力を増幅し、被調
整回路ICの調整目標電圧を発生する。
すなわち、Ｄ／Ａ変換回路３、増幅回路４によ
り、処理装置１から出力するデイジタルデータに
応じて調整目標電圧に等しい任意の基準電圧が得
られるようにし、種々の被調整回路ICの調整目
標電圧に適用できるようにしたものである。
り、処理装置１から出力するデイジタルデータに
応じて調整目標電圧に等しい任意の基準電圧が得
られるようにし、種々の被調整回路ICの調整目
標電圧に適用できるようにしたものである。
ここで使用するＤ／Ａ変換回路３、増幅回路４
は、それぞれ、測定回路に使用するＡ／Ｄ変換回
路７の精度よりも充分に高いものを選択して使用
する。例えば、Ａ／Ｄ変換回路７に12ビツト精度
の回路を使用する場合、Ｄ／Ａ変換回路３には16
ビツト精度の回路を用いるとともに、これに対応
して増幅回路４も誤差の小さい回路を使用する。
は、それぞれ、測定回路に使用するＡ／Ｄ変換回
路７の精度よりも充分に高いものを選択して使用
する。例えば、Ａ／Ｄ変換回路７に12ビツト精度
の回路を使用する場合、Ｄ／Ａ変換回路３には16
ビツト精度の回路を用いるとともに、これに対応
して増幅回路４も誤差の小さい回路を使用する。
次に、切換回路５は、処理装置１によつて制御
され、被調整回路ICの測定信号電圧と、Ｄ／Ａ
変換回路３、増幅回路４によつて出力される基準
電圧とのいずれかを選択し、次段の減衰回路６に
入力する。
され、被調整回路ICの測定信号電圧と、Ｄ／Ａ
変換回路３、増幅回路４によつて出力される基準
電圧とのいずれかを選択し、次段の減衰回路６に
入力する。
減衰回路６は、入力された信号を、次段のＡ／
Ｄ変換回路７の入力許容電圧以内に減衰させ、
Ａ／Ｄ変換回路７に入力する。
Ｄ変換回路７の入力許容電圧以内に減衰させ、
Ａ／Ｄ変換回路７に入力する。
Ａ／Ｄ変換回路７は、処理装置１から変換開始
信号を受けると、アナログ入力信号電圧をデイジ
タル信号に変換して処理装置１に出力する。
信号を受けると、アナログ入力信号電圧をデイジ
タル信号に変換して処理装置１に出力する。
処理装置１は、例えば、マイクロコンピユー
タ、ミニコンピユータなどで構成することがで
き、Ｄ／Ａ変換回路３、切換回路５、Ａ／Ｄ変換
回路７を制御し、Ａ／Ｄ変換回路７の出力データ
を取り込み、あらかじめ定められた処理プログラ
ムを実行し、調整駆動ユニツト２を制御する。そ
の動作は、後述する第２図の処理フローチヤート
に示すとおりである。
タ、ミニコンピユータなどで構成することがで
き、Ｄ／Ａ変換回路３、切換回路５、Ａ／Ｄ変換
回路７を制御し、Ａ／Ｄ変換回路７の出力データ
を取り込み、あらかじめ定められた処理プログラ
ムを実行し、調整駆動ユニツト２を制御する。そ
の動作は、後述する第２図の処理フローチヤート
に示すとおりである。
調整駆動ユニツト２は、例えば、レーザによる
トリミング装置であつて、処理装置１からトリミ
ング量を入力し、それに従つて被調整回路IC（例
えば、厚膜モジユール）の上に形成された厚膜抵
抗体、コンデンサ等をトリミングし、その回路定
数を変化させて当該関連電圧が調整目標電圧とな
るように調整する。被調整回路ICの調整対象部
品が可変の抵抗器、コンデンサ、コイルなどであ
れば、調整駆動ユニツト２は、それらの部品の定
数を変化させる治具（例えば、回転ドライバ）を
も備えたものである。
トリミング装置であつて、処理装置１からトリミ
ング量を入力し、それに従つて被調整回路IC（例
えば、厚膜モジユール）の上に形成された厚膜抵
抗体、コンデンサ等をトリミングし、その回路定
数を変化させて当該関連電圧が調整目標電圧とな
るように調整する。被調整回路ICの調整対象部
品が可変の抵抗器、コンデンサ、コイルなどであ
れば、調整駆動ユニツト２は、それらの部品の定
数を変化させる治具（例えば、回転ドライバ）を
も備えたものである。
次に、全体の動作を第１図、第２図に基づいて
説明する。
説明する。
まず、処理装置１は、被調整回路ICの電圧測
定、対象部分のトリミングに先立ち、切替回路５
をＤ／Ａ変換回路３、増幅回路４側にセツトした
後、被調整回路ICの対象部分の調整目標電圧S0
に対応するデイジタルデータC0をＤ／Ａ変換回
路３へ送出する。
定、対象部分のトリミングに先立ち、切替回路５
をＤ／Ａ変換回路３、増幅回路４側にセツトした
後、被調整回路ICの対象部分の調整目標電圧S0
に対応するデイジタルデータC0をＤ／Ａ変換回
路３へ送出する。
Ｄ／Ａ変換回路３は、その出力C1を増幅率α
の増幅回路４へ入力し、増幅回路４は、その出力
α・C1を切換回路５に入力する。ここで、α・
C1＝S0となるように、あらかじめ、上記デイジ
タルデータC0の値を実測等によつて決定してお
く。
の増幅回路４へ入力し、増幅回路４は、その出力
α・C1を切換回路５に入力する。ここで、α・
C1＝S0となるように、あらかじめ、上記デイジ
タルデータC0の値を実測等によつて決定してお
く。
その出力α・C1＝S0は、切替回路５を通して
減衰率１／β（β≧１）の減衰回路６に入力され、
その出力S0／βは、Ａ／Ｄ変換回路７に入力され
る。
減衰率１／β（β≧１）の減衰回路６に入力され、
その出力S0／βは、Ａ／Ｄ変換回路７に入力され
る。
Ａ／Ｄ変換回路７は、処理位置１からのＡ／Ｄ
変換スタート信号により、上記入力S0／βをＡ／
Ｄ変換したデイジタル値S1を処理装置１に読み取
らせる。
変換スタート信号により、上記入力S0／βをＡ／
Ｄ変換したデイジタル値S1を処理装置１に読み取
らせる。
処理装置１は、そのデータS1を一時記憶し、次
に切換回路５を被調整回路IC側へ切換え、その
測定信号電圧X0iを前述と同様の経路で取り込む。
に切換回路５を被調整回路IC側へ切換え、その
測定信号電圧X0iを前述と同様の経路で取り込む。
すなわち、その測定信号電圧X0iが減衰回路６
に入力され、その出力X0i／βがＡ／Ｄ変換回路
７に入力され、これをＡ／Ｄ変換した値Xiが処理
装置１に読み取られて記憶される。
に入力され、その出力X0i／βがＡ／Ｄ変換回路
７に入力され、これをＡ／Ｄ変換した値Xiが処理
装置１に読み取られて記憶される。
処理装置１は、ここで取り込んだデータXiと先
に一時記憶したデータS1との差（S1−Xi）を求
め、あらかじめ処理装置１に設定しておいた当該
対象部分の調整目標範囲の公差T1と上記差（S1
−Xi）との大小を比較する。
に一時記憶したデータS1との差（S1−Xi）を求
め、あらかじめ処理装置１に設定しておいた当該
対象部分の調整目標範囲の公差T1と上記差（S1
−Xi）との大小を比較する。
差（S1−Xi）が公差T1より大きいときは、更
に、その差の値〔（S1−Xi）−T1〕と、あらかじ
め処理装置１に設定しておいた調整定数Ｒとの積
（S1−Xi−T1）×Ｒ＝Diを求め、その値Diを調整
量として調整駆動ユニツト２を制御し、被調整回
路ICの当該対象部分からの測定信号電圧X0iを調
整目標電圧S0に近付けるようにトリミングをせし
める。
に、その差の値〔（S1−Xi）−T1〕と、あらかじ
め処理装置１に設定しておいた調整定数Ｒとの積
（S1−Xi−T1）×Ｒ＝Diを求め、その値Diを調整
量として調整駆動ユニツト２を制御し、被調整回
路ICの当該対象部分からの測定信号電圧X0iを調
整目標電圧S0に近付けるようにトリミングをせし
める。
ここで、調整定数Ｒは、調整駆動ユニツト２に
対応した定数で、例えば、レーザ式、サンドブラ
スト式のトリマであれば切断長など、また、スク
リユードライバ式のトリマであればボリユーム回
転角などである。
対応した定数で、例えば、レーザ式、サンドブラ
スト式のトリマであれば切断長など、また、スク
リユードライバ式のトリマであればボリユーム回
転角などである。
以後、切換回路５をそのままの状態に保ちなが
ら、被調整回路ICの測定信号電圧X0iを再度同じ
経路で処理装置１に取り込み、前述と同様の処理
を行う。
ら、被調整回路ICの測定信号電圧X0iを再度同じ
経路で処理装置１に取り込み、前述と同様の処理
を行う。
このようにして、調整を複数回繰り返し、被調
整回路ICの対象部分の測定信号電圧X0iが調整目
標範囲S0±T0となるように調整する。公差T0、
T1間の関係は、T0／β＝T1である。
整回路ICの対象部分の測定信号電圧X0iが調整目
標範囲S0±T0となるように調整する。公差T0、
T1間の関係は、T0／β＝T1である。
ここで、調整量Diは、回路定数が調整目標範囲
に近付くに従つて減少するが、目標値近傍で公差
を逸脱しないように、あらかじめ実験等によつて
調整定数Ｒを求めておく。
に近付くに従つて減少するが、目標値近傍で公差
を逸脱しないように、あらかじめ実験等によつて
調整定数Ｒを求めておく。
このようにして調整を繰り返すことにより、目
標値との差が大きいときは大きな調整量で、目標
に近付くに従つて小さな調整量で調整を行い、高
精度で高速に目標電圧に調整しようとするもので
ある。
標値との差が大きいときは大きな調整量で、目標
に近付くに従つて小さな調整量で調整を行い、高
精度で高速に目標電圧に調整しようとするもので
ある。
このように本実施例によれば、電圧を測定する
Ａ／Ｄ変換回路７に非直線性、ドリフトによる誤
差があつても、精度の良い調整目標電圧を前もつ
て同一の測定系を通して処理装置１に記憶してお
き、被調整回路ICの特性測定時に誤差分を相殺
することにより、比較的精度の良くない測定系の
特性を救済して高い調整精度を得ることができ
る。
Ａ／Ｄ変換回路７に非直線性、ドリフトによる誤
差があつても、精度の良い調整目標電圧を前もつ
て同一の測定系を通して処理装置１に記憶してお
き、被調整回路ICの特性測定時に誤差分を相殺
することにより、比較的精度の良くない測定系の
特性を救済して高い調整精度を得ることができ
る。
すなわち、被調整回路ICの測定系と上記精度
のの良い調整目標電圧の測定系がＡ／Ｄ変換回路
７を含めて同一であるため、該Ａ／Ｄ変換回路７
の非直接性は両電圧の差を求める段階で相殺さ
れ、また一般に調整目標電圧設定後被調整回路
ICの測定までの時間は周囲の温度変化等に起因
する上記ドリフトより十分短いため該ドリフトも
相殺される。
のの良い調整目標電圧の測定系がＡ／Ｄ変換回路
７を含めて同一であるため、該Ａ／Ｄ変換回路７
の非直接性は両電圧の差を求める段階で相殺さ
れ、また一般に調整目標電圧設定後被調整回路
ICの測定までの時間は周囲の温度変化等に起因
する上記ドリフトより十分短いため該ドリフトも
相殺される。
以上、詳細に説明したように、本発明によれ
ば、被調整回路の調整を一般の電圧測定回路を用
いて高精度で高速に行うことができるので、この
種の機能トリミング装置または同調整工程の信頼
性向上、効率向上、経済化に顕著な効果が得られ
る。
ば、被調整回路の調整を一般の電圧測定回路を用
いて高精度で高速に行うことができるので、この
種の機能トリミング装置または同調整工程の信頼
性向上、効率向上、経済化に顕著な効果が得られ
る。
第１図は、本発明に係る調整目標電圧設定方法
の一実施例の方式構成図、第２図は、その処理フ
ローチヤートである。 １……処理装置、２……調整駆動ユニツト、３
……Ｄ／Ａ変換回路、４……増幅回路、５……切
替回路、６……減衰回路、７……Ａ／Ｄ変換回
路。
の一実施例の方式構成図、第２図は、その処理フ
ローチヤートである。 １……処理装置、２……調整駆動ユニツト、３
……Ｄ／Ａ変換回路、４……増幅回路、５……切
替回路、６……減衰回路、７……Ａ／Ｄ変換回
路。
Claims (1)
- １ 被調整回路の対象部分の電圧を測定し、その
デイジタル値と当該調整目標電圧のデイジタル値
との差に応じて所要調整量を算出し、その調整量
に応じて被調整回路の当該対象部分の回路定数を
変化させるように制御・処理をする機能を有する
機能トリミング装置において、被調整回路の各対
象部分の測定電圧をデジタル値で得る測定系と同
一の測定系を経由して、上記各対象部分に対応す
る所望の調整目標電圧の設定をデイジタル値で行
い、上記各対象部分の電圧測定のＡ／Ｄ変換精度
より高精度の調整目標電圧を設定するため、上記
所望の調整目標電圧のデジタル値のビツト数を上
記Ａ／Ｄ変換のビツト数よりも多くすることを特
徴とする調整目標電圧設定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57137307A JPH0228913B2 (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | Choseimokuhyodenatsusetsuteihoho |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57137307A JPH0228913B2 (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | Choseimokuhyodenatsusetsuteihoho |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5928367A JPS5928367A (ja) | 1984-02-15 |
| JPH0228913B2 true JPH0228913B2 (ja) | 1990-06-27 |
Family
ID=15195619
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57137307A Expired - Lifetime JPH0228913B2 (ja) | 1982-08-09 | 1982-08-09 | Choseimokuhyodenatsusetsuteihoho |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0228913B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20210057529A (ko) * | 2019-11-12 | 2021-05-21 | 현대위아 주식회사 | 공작기계의 주축 열변위 측정 및 보정방법과 시스템 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2815601B2 (ja) * | 1989-02-16 | 1998-10-27 | 富士通株式会社 | 基準電圧発生回路 |
-
1982
- 1982-08-09 JP JP57137307A patent/JPH0228913B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20210057529A (ko) * | 2019-11-12 | 2021-05-21 | 현대위아 주식회사 | 공작기계의 주축 열변위 측정 및 보정방법과 시스템 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5928367A (ja) | 1984-02-15 |
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