JPH02296118A - レーザ装置 - Google Patents

レーザ装置

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Publication number
JPH02296118A
JPH02296118A JP1116474A JP11647489A JPH02296118A JP H02296118 A JPH02296118 A JP H02296118A JP 1116474 A JP1116474 A JP 1116474A JP 11647489 A JP11647489 A JP 11647489A JP H02296118 A JPH02296118 A JP H02296118A
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JP
Japan
Prior art keywords
laser
light
laser beam
excimer laser
mirror
Prior art date
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Pending
Application number
JP1116474A
Other languages
English (en)
Inventor
Ikuo Hikima
郁雄 引間
Hiroshi Toudou
弘 東道
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
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Publication of JPH02296118A publication Critical patent/JPH02296118A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/0014Monitoring arrangements not otherwise provided for

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、レーザ装置、例えば半導体素子製造用の露光
装置の光源として適用するのに好適なエキシマレーザ装
置に関するものである。
〔従来の技術〕
エキシマレーザは高輝度、高出力のパルスレーザであり
、次世代の露光装置或いは半導体プロセス(光CVD等
)用の光源として注目されている。
従来、この種のエキシマレーザ装置はレーザチャンバと
、レーザ光の光路上にレーザチャンバを挟んで前後に配
置されるフロントミラー及びリアミラーから成る共振器
とを有し、フロントミラーを介してエキシマレーザを発
振するように構成されている。また、エキシマレーザ装
置から発振されるレーザ光の光路中には低反射率の反射
ミラーが設けられ、この反射ミラーで反射されたレーザ
光の一部を、フォトダイオード等の光電検出器(受光素
子)で光電検出することによって、エキシマレーザの光
強度(光量)検出を行っていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上記の如き従来の技術においては、エキ
シマレーザ装置から発振されるレーザ光の光路中に反射
ミラーを設け、レーザ光の一部を光電検出器に導いてい
るため、エキシマレーザ装置が大きくなってしまい、装
置本体をコンパクト化する上で障害になるという問題点
があった。
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、コンパク
トなエキシマレーザ装置を得ることを目的としている。
〔課題を解決する為の手段〕
かかる問題点を解決する為本発明においては、エキシマ
レーザ光を発生するレーザガスチャンバ〔レーザ源〕 
lと、レーザ光の光路上にレーザガスチャンバlを挟ん
で前後に配置された共振器としてのフロントミラー〔第
1反射部材〕2とリアミラー〔第2反射部材〕 3とを
有し、フロントミラー2を介してレーザ光を発振するエ
キシマレーザ装置であって、リアミラー3にピンホール
〔光透過部)3aを設け、ピンホール3aから取り出さ
れるレーザ光を光電検出することによって、エキシマレ
ーザ光の光量を検出するように構成する。
〔作 用〕 本発明では、共振器を構成するりアミラーに所定形状の
光透過部を設け、この光透過部から取り出されるレーザ
光を光電検出することによって、レーザ装置から発振さ
れるレーザ光の光量を算出する。このため、レーザ光の
光路中に反射ミラーを設けて光強度をモニターする必要
がなく、レーザ装置本体をコンパクト化することが可能
となる。
〔実 施 例〕
以下、第1図を参照して本発明の実施例によるエキシマ
レーザ装置の概略的な構成について説明する。第1図に
おいて、エキシマレープ装置はウィンドー1a、lb及
び、レーザ光の光軸に沿って平行な2枚の電極1c、l
dを有し、KrF、XeC1等の活性媒質が所定の圧力
、ガス混合比で密封されているレーザガスチャンバlと
、反射率の低いフロントミラー2と反射率100%のり
アミラー3とから成る共振器(ここでは、安定共振器と
する)とを有し、電極1c、ld間に高電圧の放電を起
こすことによって、エキシマレーザ光をパルス発振する
ように構成されている。また、本実施例では発振ビーム
の断面積よりも十分小さな大きさで、リアミラー3の略
中夫に光透過部としてのピンホール3aを形成すると共
に、ピンホール3aから取り出されるレーザ光を受光し
て、受光光量に応じた光電信号を出力する光電検出器(
受光素子)を有し、この光電信号に基づいてエキシマレ
ーザ光の光量を検出する光量モニター系4をリアミラー
3 (裏面)に一体に設ける。尚、リアミラー3とレー
ザガスチャンバ1との間、又はフロントミラー2とレー
ザガスチャンバlとの間の両方或いはいずれか一方に、
発振波長の狭帯化、絶対波長の安定化のための波長選択
素子(エタロン、グレーティング、プリズム等)が設け
られることもある。
次に、上記の如く構成されたエキシマレーザ装置の動作
について簡単に説明する。第1図に示したエキシマレー
ザ装置において、電極1c、ld間での高電圧の放電に
より発光したレーザ光は、フロントミラー2とりアミラ
ー3との間を数回反射往復した後、エキシマレーザ光と
なってパルス発振される。この際、リアミラー3で反射
するエキシマレーザ光の一部は、ピンホール3aを透過
して光量モニター系4に入射する。この光量モニター系
4に入射するレーザ光の光強度は、エキシマレーザ装置
から発振されるレーザ光の光強度と略比例するため、光
量モニター系4は受光光lに応じた光電信号からエキシ
マレーザ光の光量を検出する。この結果、光量モニター
4はエキシマレーザ装置のレーザ出力(光量)を常時モ
ニターできることになる。
尚、本実施例ではりアミラー3にピンホールを形成して
いたが、本実施例で使用するのに好適な光透過部は任意
形状の開口(例えば、微小スリット)であれば良く、そ
の大きさはエキシマレーザ装置の発振出力を低下させず
、しかも出力ビームの強度分布に影響を与えない程度に
定めることが望ましい。一般に、エキシマレーザのビー
ム断面は数mm角程度の長方形であるため、それよりも
十分小さな面積の光透過部であれば問題ない。また、光
透過部の形成位置はりアミラー3の中央に限られるもの
ではな(、レーザ光の反射領域内であればリアミラー3
のどこに設けても構わない。
さらに、リアミラー3に形成する光透過部の数は1つに
限られるものではない。例えば、リアミラー3に複数個
のピンホールを設けると共に、リアミラー3の裏面にピ
ンホールの数だけ光電検出器を設ける、或いはりアミラ
ー3の裏面に各ピンホールに対応した受光面を有する分
割受光型素子を設けても良(、この場合にはレーザ光の
強度分布、レーザ光の横方向のドリフト等を求めること
ができ、且つレーザパターン(断面形状)の一部の変化
をモニターすることもできる。また、本実施例ではエキ
シマレーザ装置について述べたが、本発明はエキシマレ
ーザ装置以外のレーザ装置にも同様に適用することがで
きる。
〔発明の効果〕
以上のように本発明によれば、リアミラーに光透過部を
設け、光透過部から取り出されるレーザ光を光電検出す
ることによって、レーザ装置から発振されるレーザ光の
光強度をモニターしている。
このため、エキシマレーザ装置本体をコンパクト化する
ことができ、且つ光透過部を複数形成することによって
、レーザ光の光強度分布や断面形状の一部の変化もモニ
ター可能となる。この結果、常時光強度をモニターでき
るコンパクトなレーザ装置を実現し得る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例によるエキシマレーザ装置の概
略的な構成を示す図である。 〔主要部分の符号の説明〕 1・・・レーザガスチャンバ、2・・・フロントミラー
3・・・リアミラー 4・・・光量モニター系。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. レーザビームを発生するレーザ源と、前記レーザビーム
    の光路上に前記レーザ源を挟んで前後に配置された第1
    反射部材と第2反射部材とから成る共振器とを有し、該
    第1反射部材を介して前記レーザビームを発振するレー
    ザ装置であって、前記第2反射部材に所定形状の光透過
    部を少なくとも1つ設け、該光透過部から取り出される
    レーザビームを光電検出することによって、前記第1反
    射部材を介して発振される前記レーザビームの光強度を
    検出することを特徴とするレーザ装置。
JP1116474A 1989-05-10 1989-05-10 レーザ装置 Pending JPH02296118A (ja)

Priority Applications (1)

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JP1116474A JPH02296118A (ja) 1989-05-10 1989-05-10 レーザ装置

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JP1116474A JPH02296118A (ja) 1989-05-10 1989-05-10 レーザ装置

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JPH02296118A true JPH02296118A (ja) 1990-12-06

Family

ID=14687998

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JP1116474A Pending JPH02296118A (ja) 1989-05-10 1989-05-10 レーザ装置

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JP (1) JPH02296118A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007042798A (ja) * 2005-08-02 2007-02-15 Aisin Seiki Co Ltd パルスレーザーの共振器モニタ装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007042798A (ja) * 2005-08-02 2007-02-15 Aisin Seiki Co Ltd パルスレーザーの共振器モニタ装置

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