JPH02299291A - 基板の空胴の側壁被覆方法 - Google Patents
基板の空胴の側壁被覆方法Info
- Publication number
- JPH02299291A JPH02299291A JP2097820A JP9782090A JPH02299291A JP H02299291 A JPH02299291 A JP H02299291A JP 2097820 A JP2097820 A JP 2097820A JP 9782090 A JP9782090 A JP 9782090A JP H02299291 A JPH02299291 A JP H02299291A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cavity
- substrate
- coating
- sidewall
- substrate according
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/36—Removing material
- B23K26/38—Removing material by boring or cutting
- B23K26/382—Removing material by boring or cutting by boring
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/36—Removing material
- B23K26/38—Removing material by boring or cutting
- B23K26/382—Removing material by boring or cutting by boring
- B23K26/389—Removing material by boring or cutting by boring of fluid openings, e.g. nozzles, jets
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/36—Removing material
- B23K26/40—Removing material taking account of the properties of the material involved
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/05—Insulated conductive substrates, e.g. insulated metal substrate
- H05K1/056—Insulated conductive substrates, e.g. insulated metal substrate the metal substrate being covered by an organic insulating layer
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/44—Manufacturing insulated metal core circuits or other insulated electrically conductive core circuits
- H05K3/445—Manufacturing insulated metal core circuits or other insulated electrically conductive core circuits having insulated holes or insulated via connections through the metal core
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2101/00—Articles made by soldering, welding or cutting
- B23K2101/34—Coated articles ; Surface treated articles
- B23K2101/35—Surface treated articles
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2103/00—Materials to be soldered, welded or cut
- B23K2103/08—Non-ferrous metals or alloys
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2103/00—Materials to be soldered, welded or cut
- B23K2103/08—Non-ferrous metals or alloys
- B23K2103/10—Aluminium or alloys thereof
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2103/00—Materials to be soldered, welded or cut
- B23K2103/08—Non-ferrous metals or alloys
- B23K2103/12—Copper or alloys thereof
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2103/00—Materials to be soldered, welded or cut
- B23K2103/16—Composite materials
- B23K2103/166—Multilayered materials
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2103/00—Materials to be soldered, welded or cut
- B23K2103/16—Composite materials
- B23K2103/166—Multilayered materials
- B23K2103/172—Multilayered materials wherein at least one of the layers is non-metallic
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2103/00—Materials to be soldered, welded or cut
- B23K2103/18—Dissimilar materials
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2103/00—Materials to be soldered, welded or cut
- B23K2103/30—Organic materials
- B23K2103/42—Plastics other than composite materials
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2103/00—Materials to be soldered, welded or cut
- B23K2103/50—Inorganic materials other than metals or composite materials
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2103/00—Materials to be soldered, welded or cut
- B23K2103/50—Inorganic materials other than metals or composite materials
- B23K2103/52—Ceramics
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2103/00—Materials to be soldered, welded or cut
- B23K2103/50—Inorganic materials other than metals or composite materials
- B23K2103/54—Glass
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2103/00—Materials to be soldered, welded or cut
- B23K2103/50—Inorganic materials other than metals or composite materials
- B23K2103/56—Inorganic materials other than metals or composite materials being semiconducting
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/01—Dielectrics
- H05K2201/0104—Properties and characteristics in general
- H05K2201/0129—Thermoplastic polymer, e.g. auto-adhesive layer; Shaping of thermoplastic polymer
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/09—Shape and layout
- H05K2201/09209—Shape and layout details of conductors
- H05K2201/095—Conductive through-holes or vias
- H05K2201/09581—Applying an insulating coating on the walls of holes
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/02—Details related to mechanical or acoustic processing, e.g. drilling, punching, cutting, using ultrasound
- H05K2203/0278—Flat pressure, e.g. for connecting terminals with anisotropic conductive adhesive
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/06—Lamination
- H05K2203/068—Features of the lamination press or of the lamination process, e.g. using special separator sheets
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/14—Related to the order of processing steps
- H05K2203/1438—Treating holes after another process, e.g. coating holes after coating the substrate
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Laminated Bodies (AREA)
- Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
- Insulated Metal Substrates For Printed Circuits (AREA)
- Casting Or Compression Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野
本発明は、基板における空胴の側壁上を被覆する方法に
関し、特に、内部に空胴を持つ基板上に材料を設けるこ
とによって及び上記材料が流れ、空胴内に材料が付着す
るのを許容し、モして空胴内に上記材料を押し付ける環
境を提供することによって、基板における空胴を充填し
て空胴の側壁を被覆する方法に関する。
関し、特に、内部に空胴を持つ基板上に材料を設けるこ
とによって及び上記材料が流れ、空胴内に材料が付着す
るのを許容し、モして空胴内に上記材料を押し付ける環
境を提供することによって、基板における空胴を充填し
て空胴の側壁を被覆する方法に関する。
B、従来の技術及び発明が解決しようとする課題電子デ
バイスが電気的に搭載される基板は、一般的に、例えば
セラミクス、セラミック金属複合材、ポリマー材料及び
ポリマー材料金属複合材のような絶縁材料から製造され
る。これらの基板は、その中に埋めこまれた多層電気的
導体パターンを持つことができる。
バイスが電気的に搭載される基板は、一般的に、例えば
セラミクス、セラミック金属複合材、ポリマー材料及び
ポリマー材料金属複合材のような絶縁材料から製造され
る。これらの基板は、その中に埋めこまれた多層電気的
導体パターンを持つことができる。
簡単な具体例として、基板を貫通して延在する電気的に
伝導性のある複数のバイアによって電気的に相互接続さ
れる基板の両側上に電気的導体パターンを有する1つの
絶縁層を、基板が持っている例がある。
伝導性のある複数のバイアによって電気的に相互接続さ
れる基板の両側上に電気的導体パターンを有する1つの
絶縁層を、基板が持っている例がある。
他の具体例として、誘電体材料により被覆される電気的
及び/又は熱的に伝導性のある層から基板が作られる例
がある。
及び/又は熱的に伝導性のある層から基板が作られる例
がある。
複数のスルーホールは、基板を貫通してドリル穴開けさ
れ、穿孔され或いはエツチングされる。
れ、穿孔され或いはエツチングされる。
コアから電気的に絶縁される電気的に伝導性のあるバイ
アを形成するためには、スルーホールの側壁が、コア領
域において少なくとも電気的絶縁性材料により被覆され
ることが要求される。
アを形成するためには、スルーホールの側壁が、コア領
域において少なくとも電気的絶縁性材料により被覆され
ることが要求される。
誘電体材料によりスルーホールの側壁を被覆する1つの
方法は、基板を液体ポリマー内に浸漬することである。
方法は、基板を液体ポリマー内に浸漬することである。
液体ポリマーがスルーホールの中に入るためには、液体
ポリマーが十分な低粘性を持っていることが要求される
。一般に、そのような低粘性を達成するために、液体ポ
リマーを溶媒と混合しなければならない。スルーホール
の側壁だけが誘電体材料により被覆されるということが
要求されるならば、液体ポリマーは高い溶媒含有量を保
持しなければならない。その上、誘電体材料による側壁
のぬれ性を増進させるためには、液体ポリマーが高い溶
媒含有量を持っていることが要求される。次に、基板は
、液体ポリマーに含まれた溶媒を蒸発させるために硬化
若しくは加熱されなければならない。液体ポリマーが高
い溶媒の含有量を持っている場合、液体ポリマーの硬化
は、スルーホールの側壁を被覆する液体ポリマ一層の厚
さを十分に収縮させる結果となる。一般に、コアと、ス
ルーホールを被覆された側壁に堆積される電気的に伝導
性のあるバイアとの間の電気的短絡を確実に避けるため
に、十分に厚いポリマーの側壁の厚さを達成するために
、液体ポリマー中への複数回の浸漬及び側壁の厚さを形
成するために複数回の硬化工程が要求される。
ポリマーが十分な低粘性を持っていることが要求される
。一般に、そのような低粘性を達成するために、液体ポ
リマーを溶媒と混合しなければならない。スルーホール
の側壁だけが誘電体材料により被覆されるということが
要求されるならば、液体ポリマーは高い溶媒含有量を保
持しなければならない。その上、誘電体材料による側壁
のぬれ性を増進させるためには、液体ポリマーが高い溶
媒含有量を持っていることが要求される。次に、基板は
、液体ポリマーに含まれた溶媒を蒸発させるために硬化
若しくは加熱されなければならない。液体ポリマーが高
い溶媒の含有量を持っている場合、液体ポリマーの硬化
は、スルーホールの側壁を被覆する液体ポリマ一層の厚
さを十分に収縮させる結果となる。一般に、コアと、ス
ルーホールを被覆された側壁に堆積される電気的に伝導
性のあるバイアとの間の電気的短絡を確実に避けるため
に、十分に厚いポリマーの側壁の厚さを達成するために
、液体ポリマー中への複数回の浸漬及び側壁の厚さを形
成するために複数回の硬化工程が要求される。
本発明に係る方法は、スルーホールの側壁を被覆するた
めに、溶媒を含む液体ポリマーの使用を避け、そしてさ
らに十分な側壁誘電体の厚さを達成するために複数回の
工程を避ける。
めに、溶媒を含む液体ポリマーの使用を避け、そしてさ
らに十分な側壁誘電体の厚さを達成するために複数回の
工程を避ける。
電気的に伝導性のあるコアを含んでいる基板におけるス
ルーホール側壁を被覆する他の方法は、電気泳動堆積方
法である。当該電気泳動堆積方法において、スルーホー
ルを有する基板がポリマー粒子を含んでいる水溶液中に
浸漬される。電極は、溶液中に浸漬され、そして電位が
この電極と、電気的に伝導性ある基板のコアとの間に与
えられる。
ルーホール側壁を被覆する他の方法は、電気泳動堆積方
法である。当該電気泳動堆積方法において、スルーホー
ルを有する基板がポリマー粒子を含んでいる水溶液中に
浸漬される。電極は、溶液中に浸漬され、そして電位が
この電極と、電気的に伝導性ある基板のコアとの間に与
えられる。
溶液中の粒子はスルーホール内に入り、そしてポリマー
粒子が堆積することになるスルーホールの側壁内で露出
された電気的に伝導性のあるコアで電子交換が行なわれ
る。このことにより、スルーホールの側壁の電気的に伝
導性のあるコア部分で、比較的高い電流が発生する。こ
の電流が非常に高いならば、効果的な電気泳動堆積を妨
げるガスが急速に発生する。上記電流が非常に低いなら
ば、電気泳動堆積が行なわれない。
粒子が堆積することになるスルーホールの側壁内で露出
された電気的に伝導性のあるコアで電子交換が行なわれ
る。このことにより、スルーホールの側壁の電気的に伝
導性のあるコア部分で、比較的高い電流が発生する。こ
の電流が非常に高いならば、効果的な電気泳動堆積を妨
げるガスが急速に発生する。上記電流が非常に低いなら
ば、電気泳動堆積が行なわれない。
本発明によると、上述の技術の欠点は避けられる。本発
明の1側面によると、誘電体材料は加熱され、そして次
に圧縮される。全く驚くべきことに、スルーホール内部
に押し付けられる誘電体材料は、スルーホールの側壁だ
けを被覆するか、若しくは誘電体材料欠陥を発生させる
空所を封じ込めることなく、スルーホールを完全に充填
するように制御され得るということが判った。
明の1側面によると、誘電体材料は加熱され、そして次
に圧縮される。全く驚くべきことに、スルーホール内部
に押し付けられる誘電体材料は、スルーホールの側壁だ
けを被覆するか、若しくは誘電体材料欠陥を発生させる
空所を封じ込めることなく、スルーホールを完全に充填
するように制御され得るということが判った。
・全く驚くことに、比較的に大きな基板上の比較的多数
のスルーホールが本発明に係る方法において誘電体材料
により被覆され得ることが判った。
のスルーホールが本発明に係る方法において誘電体材料
により被覆され得ることが判った。
スルーホールが本発明に係る方法によって完全に充填さ
れた場合、基板のスルーホールを充填する誘電体材料の
中心を貫くスルーホールは、その後にドリル穴開け、穿
孔、エツチングによって形成され得る。
れた場合、基板のスルーホールを充填する誘電体材料の
中心を貫くスルーホールは、その後にドリル穴開け、穿
孔、エツチングによって形成され得る。
本発明の目的は、誘電体材料において空所を封じ込める
ことなしに上記材料を押し付けることによって当該材料
で基板の空胴の側壁を被覆するか、若しくは基板の空胴
を完全に充填する方法を提供することにある。
ことなしに上記材料を押し付けることによって当該材料
で基板の空胴の側壁を被覆するか、若しくは基板の空胴
を完全に充填する方法を提供することにある。
C6課題を解決するための手段
本発明の最も広い側面をとらえると、材料が流動するこ
とを許容し、空胴の側壁を被覆する材料を加圧し、その
後に空胴を充填するまで時間をかけて厚く形成する環境
を与えることによって、基板における空胴の側壁を上記
材料で被覆する方法若しくは基板における空胴を上記材
料で完全に充填する方法である。
とを許容し、空胴の側壁を被覆する材料を加圧し、その
後に空胴を充填するまで時間をかけて厚く形成する環境
を与えることによって、基板における空胴の側壁を上記
材料で被覆する方法若しくは基板における空胴を上記材
料で完全に充填する方法である。
本発明のさらに特定の側面をとらえると、上記材料は基
板を湿らす。
板を湿らす。
本発明のさらに別の特定の側面をとらえると、上記材料
は基板の表面自由エネルギーよりも低い表面自由エネル
ギーを持っている。
は基板の表面自由エネルギーよりも低い表面自由エネル
ギーを持っている。
本発明のさらに特定の側面をとらえると、材料がガラス
転移温度を上回る温度になり、それによって材料が流動
しやすくなるような環境を与えるために加熱される。
転移温度を上回る温度になり、それによって材料が流動
しやすくなるような環境を与えるために加熱される。
本発明のさらに特定の側面をとらえると、基板の空胴の
側壁上に被覆する材料の厚さは、熱及び圧力を加えてい
る間の時間を管理することによって制御される。
側壁上に被覆する材料の厚さは、熱及び圧力を加えてい
る間の時間を管理することによって制御される。
本発明のさらに特定の側面をとらえると、基板は、電気
的及び/又は熱的導体である。
的及び/又は熱的導体である。
本発明のさらに特定の側面をとらえると、基板の空胴は
、基板を貫くスルーホールである。
、基板を貫くスルーホールである。
本発明のさらに特定の側面をとらえると、誘電体材料は
、もっとも短い距離の結晶質配列を持っている。
、もっとも短い距離の結晶質配列を持っている。
本発明のさらに特定の側面をとらえると、誘電体材料は
、熱可塑性ポリマー材料である。
、熱可塑性ポリマー材料である。
本発明のさらに特定の側面をとらえると、ポリマー材料
は、ポリイミド若しくはふり化ポリマーである。
は、ポリイミド若しくはふり化ポリマーである。
D、実施例
第1図を参照すると、基板IOの表面2及び表面4は、
材料層6及び8によりそれぞれ被覆される。
材料層6及び8によりそれぞれ被覆される。
第2図に示すように、スルーホール12は、第1図の構
造体14内に形成される。当該スルーホールは、ドリル
加工による穴開け、穿孔、レーザーアブレーション(レ
ザー摩耗)そしてエツチングのような従来から一般に知
られているいかなる方法によっても形成され得る。これ
らの方法は好適例であるが、これらに限定されない。エ
ツチングが用いられるとき、レジストのような材料が最
初に堆積され、露光される基板の領域において選択的に
除去され、基板は、従来から一般に知られている方法に
よってエツチングされる。
造体14内に形成される。当該スルーホールは、ドリル
加工による穴開け、穿孔、レーザーアブレーション(レ
ザー摩耗)そしてエツチングのような従来から一般に知
られているいかなる方法によっても形成され得る。これ
らの方法は好適例であるが、これらに限定されない。エ
ツチングが用いられるとき、レジストのような材料が最
初に堆積され、露光される基板の領域において選択的に
除去され、基板は、従来から一般に知られている方法に
よってエツチングされる。
第3図において、第2図のスルーホール12を形成する
ために、構造体14を貫通して挿入された穿孔機若しく
はドリルの刃16が示されている。
ために、構造体14を貫通して挿入された穿孔機若しく
はドリルの刃16が示されている。
一般的に、該構造体が柔らかいか若しくは可鍛性である
ならば、スルーホールが、基板lOを穿孔し、ドリル加
工することによって形成されるとき、基板10は穿孔機
若しくはドリルの刃16の近くに基板10の表面4上の
空間領域17を形成するように外方にめくれ出る。
ならば、スルーホールが、基板lOを穿孔し、ドリル加
工することによって形成されるとき、基板10は穿孔機
若しくはドリルの刃16の近くに基板10の表面4上の
空間領域17を形成するように外方にめくれ出る。
基板10の外方へのめくれは、構造体14の材料層8に
延長領域20を形成する。第4図に示すように、スルー
ホール12の側壁18に沿って材料層10は、空間領域
17を除去するためにエッチバックされる。この工程は
、空間領域17及び延長領域20は、わかり易くするた
めに大きく示している。
延長領域20を形成する。第4図に示すように、スルー
ホール12の側壁18に沿って材料層10は、空間領域
17を除去するためにエッチバックされる。この工程は
、空間領域17及び延長領域20は、わかり易くするた
めに大きく示している。
好ましい実施例において、基板10は、電気的及び/又
は熱的に伝導性のある材料、例えばCu、A1.Cu−
インパール(Invar)−Cu 、 M o及びその
合金及び材料から形成される。
は熱的に伝導性のある材料、例えばCu、A1.Cu−
インパール(Invar)−Cu 、 M o及びその
合金及び材料から形成される。
好ましい実施例において、第1図の材料層8及び6は誘
電体材料、さらに好ましくはポリマー材料である。熱可
塑性ポリマー材料は、特有なガラス転移温度Tgを有し
ており、その温度を上回るとそれらの材料は流れ始める
。本発明を実施するのに有用であるポリマー材料とそれ
らのガラス転移温度は、J 、 B randrupそ
の他により編集された”ポリマーハンドブック゛第2版
の111139頁乃至192頁に記述されている。これ
らのポリマーは、ポリイミド、ポリアミック酸、過ふつ
化ポリマー、ポリ(ジエン)、ポリ(アルケン)、ポリ
(アクリル)、ポリ(メタクリル)、ポリ(ビニールエ
ーテル)、ポリ(ビニールチオエーテル)、ポリ(ビニ
ールアルコール)、ポリ(ビニールケトン)、ポリ(ビ
ニールハライド)、ポリ(ビニール窒化物)、ポリ(ビ
ニールエステル)、ボIバスチレン)、ポリ(フェニレ
ン)、ポリ(酸化物)、ポリ(炭酸塩)、ポリ(エステ
ル)、ポリ(無水)、ポリ(ウレタン)、ポリ(スルホ
ン酸塩)、ニトロソポリマー、ポリ(シリキサン)、ポ
リ(硫化物)、ポリ(チオエステル)、ボ;パスルホン
)、ポリ(スルホンアミド)、ポリ(アミド)、ポリ(
イミン)、ポリ(尿素)、ポリ(ホスファゼン)、ポリ
(シラン)、ポリ(シラザン)、ポリ(フランテトラカ
ルボン酸ジイミド)、ポリ(ベンゾキサゾール)、ポリ
(オキサジアゾール〉、ポリ(ベンゾチアジノフェノチ
アジン)、ポリ(ベンゾチアゾール)、ポリ(ビラジノ
キノキサリン)、ポリ(ビロメリチミド)、ポリ(キノ
キサリン)、ポリ(ベンジミダゾール)、ポリ(オキシ
ンドール)、ポリ(オキソイソインドリン)、ポリ(ト
リアジン)、ポリ(ピリダジン)、ポリ(ピペラジン)
、ボ1バビリジン)、ポリ(ピペラジン)、ポリ(トリ
アゾール)、ポリ(ピラゾール)、ポリ(ピロリジン)
、ポリ(カルボラン)、ポリ(フルオレセイン)、ポリ
(オキサバイシクロノナン)、ポリ(ジベンゾフラン)
、ポリ(フタリド)、ポリ(アセタール)、ボ1バ無水
)及び炭水化物を含んでいる。
電体材料、さらに好ましくはポリマー材料である。熱可
塑性ポリマー材料は、特有なガラス転移温度Tgを有し
ており、その温度を上回るとそれらの材料は流れ始める
。本発明を実施するのに有用であるポリマー材料とそれ
らのガラス転移温度は、J 、 B randrupそ
の他により編集された”ポリマーハンドブック゛第2版
の111139頁乃至192頁に記述されている。これ
らのポリマーは、ポリイミド、ポリアミック酸、過ふつ
化ポリマー、ポリ(ジエン)、ポリ(アルケン)、ポリ
(アクリル)、ポリ(メタクリル)、ポリ(ビニールエ
ーテル)、ポリ(ビニールチオエーテル)、ポリ(ビニ
ールアルコール)、ポリ(ビニールケトン)、ポリ(ビ
ニールハライド)、ポリ(ビニール窒化物)、ポリ(ビ
ニールエステル)、ボIバスチレン)、ポリ(フェニレ
ン)、ポリ(酸化物)、ポリ(炭酸塩)、ポリ(エステ
ル)、ポリ(無水)、ポリ(ウレタン)、ポリ(スルホ
ン酸塩)、ニトロソポリマー、ポリ(シリキサン)、ポ
リ(硫化物)、ポリ(チオエステル)、ボ;パスルホン
)、ポリ(スルホンアミド)、ポリ(アミド)、ポリ(
イミン)、ポリ(尿素)、ポリ(ホスファゼン)、ポリ
(シラン)、ポリ(シラザン)、ポリ(フランテトラカ
ルボン酸ジイミド)、ポリ(ベンゾキサゾール)、ポリ
(オキサジアゾール〉、ポリ(ベンゾチアジノフェノチ
アジン)、ポリ(ベンゾチアゾール)、ポリ(ビラジノ
キノキサリン)、ポリ(ビロメリチミド)、ポリ(キノ
キサリン)、ポリ(ベンジミダゾール)、ポリ(オキシ
ンドール)、ポリ(オキソイソインドリン)、ポリ(ト
リアジン)、ポリ(ピリダジン)、ポリ(ピペラジン)
、ボ1バビリジン)、ポリ(ピペラジン)、ポリ(トリ
アゾール)、ポリ(ピラゾール)、ポリ(ピロリジン)
、ポリ(カルボラン)、ポリ(フルオレセイン)、ポリ
(オキサバイシクロノナン)、ポリ(ジベンゾフラン)
、ポリ(フタリド)、ポリ(アセタール)、ボ1バ無水
)及び炭水化物を含んでいる。
一般に、ポリイミドは、ジアミン及びモノイミド循環単
位を有するポリマーを含んでいる。
位を有するポリマーを含んでいる。
一般に、ジアミン単位を有するポリイミドは、次の循環
単位を有する。
単位を有する。
ここでnは、通常、分子量約toooo乃至約1000
00を与えるための、多数の反復単位を表している完全
体である。Rは、次のような構成から成る群から選択さ
れた少なくとも1つの4価有機基である。
00を与えるための、多数の反復単位を表している完全
体である。Rは、次のような構成から成る群から選択さ
れた少なくとも1つの4価有機基である。
R2は、形態が1乃至4炭素原子を有している2価脂肪
族炭化水素基及びカルボニル、オキシ、スルホ、硫化物
、エーテル、シロキサン、フォシン酸化物、六ふっ化イ
ンプロピリデン(hexarluorioisopro
pyl 1dene)及びスルホニル基から成り立って
いる群から選択されており、干してR1は、脂肪族有機
基から成り立っている群から若しくは次に示した群から
選択される少なくとも1つの2価基である。
族炭化水素基及びカルボニル、オキシ、スルホ、硫化物
、エーテル、シロキサン、フォシン酸化物、六ふっ化イ
ンプロピリデン(hexarluorioisopro
pyl 1dene)及びスルホニル基から成り立って
いる群から選択されており、干してR1は、脂肪族有機
基から成り立っている群から若しくは次に示した群から
選択される少なくとも1つの2価基である。
そして、R3は、R2、シリコ及びアミノ基がら成り立
っている群から選択される2価有機基である。2又はそ
れ以上のR及び/又はR1基を含んでいるポリマー、特
に、アミノ基を含んでいるR1の多重系が用いられ得る
。一般に、モノイミド単位を有しているポリイミドは、
次の循環単位を持つている。
っている群から選択される2価有機基である。2又はそ
れ以上のR及び/又はR1基を含んでいるポリマー、特
に、アミノ基を含んでいるR1の多重系が用いられ得る
。一般に、モノイミド単位を有しているポリイミドは、
次の循環単位を持つている。
そして、R4は、3価であり、Pは、通常、分子量約t
oooo乃至約toooooを与えるための多数の反復
単位を表している完全体である。
oooo乃至約toooooを与えるための多数の反復
単位を表している完全体である。
化学技術百科辞典、第3版、第18巻、第704頁乃至
719頁における”ポリイミド“と題する項目において
、ホモポリマー及びそれらのボリアミック酸前駆物質を
含んでいる種々のポリイミド材料が記載されている。
719頁における”ポリイミド“と題する項目において
、ホモポリマー及びそれらのボリアミック酸前駆物質を
含んでいる種々のポリイミド材料が記載されている。
本発明を実施するために有用なフルオロポリマーは、ポ
リテトラフルオレオエチレン、過フルオロアルカン及び
ふっ素と化合させたエチレンプロピレンを含んでいる。
リテトラフルオレオエチレン、過フルオロアルカン及び
ふっ素と化合させたエチレンプロピレンを含んでいる。
これらは好適例であってこれらに限定されるものではな
い。
い。
第5図では、第2図若しくは第4図の構造体14がプラ
テン22及びプラテン24間に保持されたものが示され
ている。圧力が上記構造体14に加えられるとき、材料
層6及び8が網状流動、塑性変形、若しくは塑性クリー
プを示す粘弾性流体又は弾性流体として、従来技術にお
いて言及されている状態にする条件が与えられる。材料
層6及び8がアモルファス材料のよ゛うな低結晶度を有
するならば、ガラス転移温度(Tg)で若しくはそれ以
上で実質的に粘弾性の状態にある。多くの材料のガラス
転移温度は室温以上であるけれど、室温若しくはそれ以
下になり得る。ガラス転移温度が室温以下であるならば
、材料は望ましい流動特性を達成するために冷却されな
ければならない。材料層6及び8が高結晶度を有するな
らば、融解温度(Tm)で若しくはそれ以上で実質的に
粘弾性の状態になる。材料層6.8及び基板lOは、金
属、セラミック、ポリマー、ガラス、半導体材料及びア
モルファス、半結晶若しくは結晶状態における半金属及
び同種のものであり得る。
テン22及びプラテン24間に保持されたものが示され
ている。圧力が上記構造体14に加えられるとき、材料
層6及び8が網状流動、塑性変形、若しくは塑性クリー
プを示す粘弾性流体又は弾性流体として、従来技術にお
いて言及されている状態にする条件が与えられる。材料
層6及び8がアモルファス材料のよ゛うな低結晶度を有
するならば、ガラス転移温度(Tg)で若しくはそれ以
上で実質的に粘弾性の状態にある。多くの材料のガラス
転移温度は室温以上であるけれど、室温若しくはそれ以
下になり得る。ガラス転移温度が室温以下であるならば
、材料は望ましい流動特性を達成するために冷却されな
ければならない。材料層6及び8が高結晶度を有するな
らば、融解温度(Tm)で若しくはそれ以上で実質的に
粘弾性の状態になる。材料層6.8及び基板lOは、金
属、セラミック、ポリマー、ガラス、半導体材料及びア
モルファス、半結晶若しくは結晶状態における半金属及
び同種のものであり得る。
最も好ましい実施例において、材料層6及び8は、室温
以上のガラス転移温度を有するポリマーである。構造体
14は、材料層6及び8のガラス転移温度まで加熱され
る。ポリイミド型材料の場合、この温度は、一般に約1
25°Cを超過している。第5図に示すように、構造体
14はプラテン22及び24間で圧縮される。
以上のガラス転移温度を有するポリマーである。構造体
14は、材料層6及び8のガラス転移温度まで加熱され
る。ポリイミド型材料の場合、この温度は、一般に約1
25°Cを超過している。第5図に示すように、構造体
14はプラテン22及び24間で圧縮される。
第6図乃至第9図は、材料層6及び8の流動の状態を順
次示している。第6図においては、材料層6及び8がス
ルーホール12の側壁18に沿って、かと26.28.
30及び32の周りを流れ始めるところがちょうど示さ
れている。圧力を増して行く時間に比例して、流動する
材料の前部34.36.38及び40は、第7図に示す
ように、前部34が前部40に接触するまで及び前部3
6が前部38に接触するまで側壁18に沿って動き続け
る。これら前部が接触した後、材料を被覆した側壁18
は、第8図に示されたポリマー前部42及び44が第9
図に示すように、前部42と44が接触するまでスルー
ホール12の中心に向かって移動するので厚くなり始め
る。その後、第10図に示すように、前部42及び44
は溶は込み、そしてスルーホール12は完全に材料6及
び8により充填される。一般に、材料6及び8は、同じ
材料である。
次示している。第6図においては、材料層6及び8がス
ルーホール12の側壁18に沿って、かと26.28.
30及び32の周りを流れ始めるところがちょうど示さ
れている。圧力を増して行く時間に比例して、流動する
材料の前部34.36.38及び40は、第7図に示す
ように、前部34が前部40に接触するまで及び前部3
6が前部38に接触するまで側壁18に沿って動き続け
る。これら前部が接触した後、材料を被覆した側壁18
は、第8図に示されたポリマー前部42及び44が第9
図に示すように、前部42と44が接触するまでスルー
ホール12の中心に向かって移動するので厚くなり始め
る。その後、第10図に示すように、前部42及び44
は溶は込み、そしてスルーホール12は完全に材料6及
び8により充填される。一般に、材料6及び8は、同じ
材料である。
第6図乃至第9図に示すように、流動する材料層6及び
8の場合及び第13図乃至第16図に示すように、以下
に記載した流動する材料84の場合、その材料は表面を
湿らせ、その表面上を流れる。材料の表面自由エネルギ
ーが基板表面の表面自由エネルギー以下若しくは同じで
あるならば、当該材料は基板表面を湿らす=材料と基板
との間に、例えば、クーロンの相互作用、イオン結合、
共有結合、水素結合、双極子相互作用、電荷移動錯体、
機械的連結、連鎖もつれ及び同種の相互伴用が存在する
ならば、材料は基板表面の表面をさらに湿らすことがで
きる。
8の場合及び第13図乃至第16図に示すように、以下
に記載した流動する材料84の場合、その材料は表面を
湿らせ、その表面上を流れる。材料の表面自由エネルギ
ーが基板表面の表面自由エネルギー以下若しくは同じで
あるならば、当該材料は基板表面を湿らす=材料と基板
との間に、例えば、クーロンの相互作用、イオン結合、
共有結合、水素結合、双極子相互作用、電荷移動錯体、
機械的連結、連鎖もつれ及び同種の相互伴用が存在する
ならば、材料は基板表面の表面をさらに湿らすことがで
きる。
第10図に示すように、スルーホール12が完全に充填
された後、望むならば、スルーホール12を充填してい
る材料は、第11図に示すように、構造体14を貫くス
ルーホール56を形成するために、穿孔、ドリル加工に
よる穴開は若しくはエツチングによって部分的に除去さ
れ得る。
された後、望むならば、スルーホール12を充填してい
る材料は、第11図に示すように、構造体14を貫くス
ルーホール56を形成するために、穿孔、ドリル加工に
よる穴開は若しくはエツチングによって部分的に除去さ
れ得る。
第8図に示すようなスルーホール12における材料6及
び8の側壁42及び44又は第11図に示すようなスル
ーホール56の側壁48及び50は、電気的導体により
被覆されることができ、又はスルーホール12若しくは
56は、第11図の表面52から表面54まで若しくは
第8図の表面43から表面45まで電気的伝導バイアを
形成するために電気的導体により完全に被覆することが
できる。電気的導体は、一般的に金属である。
び8の側壁42及び44又は第11図に示すようなスル
ーホール56の側壁48及び50は、電気的導体により
被覆されることができ、又はスルーホール12若しくは
56は、第11図の表面52から表面54まで若しくは
第8図の表面43から表面45まで電気的伝導バイアを
形成するために電気的導体により完全に被覆することが
できる。電気的導体は、一般的に金属である。
多くのスルーホールは充填されることができ、若しくは
本明細書に記載された方法によって材料により被覆され
る側壁を有している。スルーホールは、約2.54XI
F2cm以下及び好ましくは1.27X10−2cm以
下の横断面寸法とすることができる。スルーホールの深
さは、約2.54X1(12cm以下及び好ましくは1
.27X10−2cm以下とすることができる。各スル
ーホールは最小限の横断面寸法の約2倍よりも短い位置
に離隔して形成され得る。
本明細書に記載された方法によって材料により被覆され
る側壁を有している。スルーホールは、約2.54XI
F2cm以下及び好ましくは1.27X10−2cm以
下の横断面寸法とすることができる。スルーホールの深
さは、約2.54X1(12cm以下及び好ましくは1
.27X10−2cm以下とすることができる。各スル
ーホールは最小限の横断面寸法の約2倍よりも短い位置
に離隔して形成され得る。
第1図の材料層6及び8がポリイミド材料であるとき、
ポリイミド全表面は、例えばプラチナ、パラジウム、ニ
ッケル及び同種の適当な極材料がまかれる。最も好まし
い極材料はパラジウムである。1988年12月23日
に出願された米国特許出願第290488号に係るヴイ
ーベツク(Viehbeck)その他による発明の名称
が「有機ポリマー材料を条件付ける方法」には、ポリマ
ー材料、特にパラジウムのような極材料を持つポリイミ
ド材料をまく電気化学的及び化学的方法が記載されてい
る。当該工程は、変更可能な方法で電子及び対イオンを
運ぶことができる有機ポリマー材料の少なくとも1つの
表面を条件付ける方法である。当該工程は、電解質から
対イオンを同時吸収した状態でレドックス拠点、即ち酸
化還元をうけることが出来る拠点に電子を加えて成る。
ポリイミド全表面は、例えばプラチナ、パラジウム、ニ
ッケル及び同種の適当な極材料がまかれる。最も好まし
い極材料はパラジウムである。1988年12月23日
に出願された米国特許出願第290488号に係るヴイ
ーベツク(Viehbeck)その他による発明の名称
が「有機ポリマー材料を条件付ける方法」には、ポリマ
ー材料、特にパラジウムのような極材料を持つポリイミ
ド材料をまく電気化学的及び化学的方法が記載されてい
る。当該工程は、変更可能な方法で電子及び対イオンを
運ぶことができる有機ポリマー材料の少なくとも1つの
表面を条件付ける方法である。当該工程は、電解質から
対イオンを同時吸収した状態でレドックス拠点、即ち酸
化還元をうけることが出来る拠点に電子を加えて成る。
次に、還元されたポリマー材料は、有機ポリマー材料内
に拡散し、そしてそのレドックス拠点に接触する金属の
陽イオンを含む溶液に接触するように配置される。
に拡散し、そしてそのレドックス拠点に接触する金属の
陽イオンを含む溶液に接触するように配置される。
レドックス拠点は、このレドックス拠点から電子を受は
取ることによって無酸化状態における金属原子に対して
陽イオンを還元するためにエネルギー的に配置されてい
る陽イオンに向かって電子を移動させる。そのような方
法で堆積された金属は、ポリマーからの継続した電子転
移を仲介することができ、前に堆積した金属の近くにさ
らに金属が堆積される。次に、第2番目の金属が無酸化
状態の金属上に電気分解めっき浴から堆積される。
取ることによって無酸化状態における金属原子に対して
陽イオンを還元するためにエネルギー的に配置されてい
る陽イオンに向かって電子を移動させる。そのような方
法で堆積された金属は、ポリマーからの継続した電子転
移を仲介することができ、前に堆積した金属の近くにさ
らに金属が堆積される。次に、第2番目の金属が無酸化
状態の金属上に電気分解めっき浴から堆積される。
電子は、電子化学回路のカソードにより、又は好ましく
は還元剤及び還元溶液のいずれか一方によりポリマー材
料のレドックス拠点に供給される。
は還元剤及び還元溶液のいずれか一方によりポリマー材
料のレドックス拠点に供給される。
なお、上記カソードに加えられる電位はポリマーの還元
電位と等しいか若しくは負であり、上記還元剤の酸化電
位はポリマーの還元電位に関して負である。その代りに
、電子は、ポリマー材料をテトラキス(ジメチルアミノ
)エチレンに接触させることによってポリマー材料のレ
ドックス拠点に供給され得る。還元剤は、帯電若しくは
中性の形態で存在し得る。ポリマーは、化学的機能的に
還元電位を持っていなければならず、その還元電位は金
属イオンの還元電位に関して負である。ポリマー表面を
条件付ける適当な還元剤は、電解質としてテトラブチル
アンモニウムフルオロホウ酸塩を含んでいるアセトニト
リルにおけるベンゾフェノン基陰イオンである。これは
好適例であってこれに限定されない。他の例は、ヴイー
ベツク(Viehveck)その他による特許出願中に
その記載を見付けることができる。従来技術として一般
に知られている他のシーディング技術がさらに用いられ
得る。
電位と等しいか若しくは負であり、上記還元剤の酸化電
位はポリマーの還元電位に関して負である。その代りに
、電子は、ポリマー材料をテトラキス(ジメチルアミノ
)エチレンに接触させることによってポリマー材料のレ
ドックス拠点に供給され得る。還元剤は、帯電若しくは
中性の形態で存在し得る。ポリマーは、化学的機能的に
還元電位を持っていなければならず、その還元電位は金
属イオンの還元電位に関して負である。ポリマー表面を
条件付ける適当な還元剤は、電解質としてテトラブチル
アンモニウムフルオロホウ酸塩を含んでいるアセトニト
リルにおけるベンゾフェノン基陰イオンである。これは
好適例であってこれに限定されない。他の例は、ヴイー
ベツク(Viehveck)その他による特許出願中に
その記載を見付けることができる。従来技術として一般
に知られている他のシーディング技術がさらに用いられ
得る。
従来技術において一般に知られている手段によって、他
の金属は、めっきベースを形成するために種層上に無電
解的に堆積される。例えば、胴、金、パラジウム、銀、
ニッケル及び同種のもののような金属が無電解的に種層
上に堆積され得る。
の金属は、めっきベースを形成するために種層上に無電
解的に堆積される。例えば、胴、金、パラジウム、銀、
ニッケル及び同種のもののような金属が無電解的に種層
上に堆積され得る。
無電解的に種層上に堆積された金属の厚さは、約0.0
5ミクロン乃至約35ミクロン、好ましくは約0.1ミ
クロン乃至約8ミクロン、もっとも好ましいのは約0.
1ミクロン乃至約2ミクロンである。
5ミクロン乃至約35ミクロン、好ましくは約0.1ミ
クロン乃至約8ミクロン、もっとも好ましいのは約0.
1ミクロン乃至約2ミクロンである。
めっきベースの堆積に引き続き、露光されためっきベー
ス上に金属線をめっきするために、露光され無電解的に
堆積されためっきベース層上に、例えば、銅、金、銀、
コバルト、ニッケル及び同種のもののような金属を従来
技術として一般に知られている方法によって電気めっき
する前に、フォトレジストを塗布し、露光し、現像する
ことによって所望のパターンは、形成され得る。めっき
仕上げされた線は、約1.27X10−3cm乃至約2
.54X10”2cm、好ましくは約1.27X10−
3cm乃至約1.27X10−2cm、もっとも好まし
くは約2.54XIO−3cm乃至約7.62X10−
3cmの厚さを持っている。めっき仕上げされた線は、
第12図において電気的導体60を形成する。それら導
体は、個々に誘電体材料層6及び8の表面52及び54
上に配置される。電気めっき金屑66は、さらに電気的
に伝導性のあるバイ768を形成するために、スルーホ
ール56の側壁48及び50若しくはスルーホール12
の側壁42及び44上に堆積されためっきベース66を
被覆する。
ス上に金属線をめっきするために、露光され無電解的に
堆積されためっきベース層上に、例えば、銅、金、銀、
コバルト、ニッケル及び同種のもののような金属を従来
技術として一般に知られている方法によって電気めっき
する前に、フォトレジストを塗布し、露光し、現像する
ことによって所望のパターンは、形成され得る。めっき
仕上げされた線は、約1.27X10−3cm乃至約2
.54X10”2cm、好ましくは約1.27X10−
3cm乃至約1.27X10−2cm、もっとも好まし
くは約2.54XIO−3cm乃至約7.62X10−
3cmの厚さを持っている。めっき仕上げされた線は、
第12図において電気的導体60を形成する。それら導
体は、個々に誘電体材料層6及び8の表面52及び54
上に配置される。電気めっき金屑66は、さらに電気的
に伝導性のあるバイ768を形成するために、スルーホ
ール56の側壁48及び50若しくはスルーホール12
の側壁42及び44上に堆積されためっきベース66を
被覆する。
余分なめっきフォトレジストは、従来技術として一般に
知られた手段手段によって除去される。
知られた手段手段によって除去される。
下の方に存在しない余分なめっきベースや極材料及び符
号60や符号66のような電気めっきされた導体は、従
来技術として一般に知られた手段によって除去される。
号60や符号66のような電気めっきされた導体は、従
来技術として一般に知られた手段によって除去される。
めっきベースが銅の場合、めっきベースは、銅のエッチ
ャント、例えば、アンモニウム、過硫酸塩若しくは塩化
第二鉄によって除去され得る。例えばパラジウムのよう
な余分な極材料は、大いに拡散し、除去する必要はない
が、もしも望むなら、硝酸により除去され得る。これら
は好適例であって、これらに限定されない。
ャント、例えば、アンモニウム、過硫酸塩若しくは塩化
第二鉄によって除去され得る。例えばパラジウムのよう
な余分な極材料は、大いに拡散し、除去する必要はない
が、もしも望むなら、硝酸により除去され得る。これら
は好適例であって、これらに限定されない。
第13図に示すように、基板82は、基板82の表面8
6まで広がり、そして基板82の表面86上に配設され
る材料層を貫いて広がっている空胴80を有している。
6まで広がり、そして基板82の表面86上に配設され
る材料層を貫いて広がっている空胴80を有している。
材料84は、側壁88や空15i80の底部90を被覆
するために、若しくは完全に空胴80を埋めるために、
材料84は空胴80内部に圧入され得る。第13図に示
すような空胴は、基板82の1つの表面まで延びている
が、第2図に示すように基板10のスルーホール12の
ように基板82を貫いて延びていない。材料層84は、
適当な温度に維持され、そして圧力が空1飼80内部に
材料を圧縮する。
するために、若しくは完全に空胴80を埋めるために、
材料84は空胴80内部に圧入され得る。第13図に示
すような空胴は、基板82の1つの表面まで延びている
が、第2図に示すように基板10のスルーホール12の
ように基板82を貫いて延びていない。材料層84は、
適当な温度に維持され、そして圧力が空1飼80内部に
材料を圧縮する。
空胴80内部への材料84の流動の時間的な過程は、第
6図乃至第10図において基板10に関して示されてい
るものと類似している。塑性的に流動する材料84は基
板82の空15!80、縁92、そしてそれから空胴8
0の底部90上に流れ落ちる。第5図に関連して記載し
たように、プラテン94とプラテン96とを一緒に圧縮
することによって圧力が加えられる。第14図は、空胴
80の側壁88を流れ落ちている流動する材料84の前
部98を示している。第15図は、空胴80の底部90
に沿って流れている材料84の流動する前部98及び1
00を示している。圧力が加えられるにつれて、材料8
4の前部98及び100は空+5030の底部にそって
流れ、圧力が加え続けられた状態で、材料84の前部9
8及び100は空胴80の底部に沿って流れると思われ
る。圧力が加え続けられた状態で、前部98及び100
は溶は込み、そしてその後、圧力が加えられ続けるにつ
れて、空胴80は、第16図に示すように完全に充填さ
れる。
6図乃至第10図において基板10に関して示されてい
るものと類似している。塑性的に流動する材料84は基
板82の空15!80、縁92、そしてそれから空胴8
0の底部90上に流れ落ちる。第5図に関連して記載し
たように、プラテン94とプラテン96とを一緒に圧縮
することによって圧力が加えられる。第14図は、空胴
80の側壁88を流れ落ちている流動する材料84の前
部98を示している。第15図は、空胴80の底部90
に沿って流れている材料84の流動する前部98及び1
00を示している。圧力が加えられるにつれて、材料8
4の前部98及び100は空+5030の底部にそって
流れ、圧力が加え続けられた状態で、材料84の前部9
8及び100は空胴80の底部に沿って流れると思われ
る。圧力が加え続けられた状態で、前部98及び100
は溶は込み、そしてその後、圧力が加えられ続けるにつ
れて、空胴80は、第16図に示すように完全に充填さ
れる。
例1
デュポン社のバイラリン(Pyralin) P I
2525(熱可塑性ポリイミド)が、7.62X 10
−3c mの銅箔上に浸漬被覆された。厚さ約1.27
X10−3cmのポリマーが各浸漬から得られた。銅箔
の両側上に厚さ2.54X10−3cmと5.O8X1
0−3cmの最終のポリマーを得るために複合的な浸漬
を行った。両サンプルは、各浸漬被覆の間に200°C
で5分間ベーキングされ、その後、最後の被覆が完了す
る。1.27X10’−2cmの直径を持つスルーホー
ルは、各サンプルを機械的に貫いて穿孔された。これら
によってスルーホール内部の銅コアは露出された。銅コ
アは、50’ cの塩化第二鉄中で4分間浸漬すること
によってエッチバックされた。それからサンプルは、イ
オンを取り除いた水により洗浄し、次に乾燥を行った。
2525(熱可塑性ポリイミド)が、7.62X 10
−3c mの銅箔上に浸漬被覆された。厚さ約1.27
X10−3cmのポリマーが各浸漬から得られた。銅箔
の両側上に厚さ2.54X10−3cmと5.O8X1
0−3cmの最終のポリマーを得るために複合的な浸漬
を行った。両サンプルは、各浸漬被覆の間に200°C
で5分間ベーキングされ、その後、最後の被覆が完了す
る。1.27X10’−2cmの直径を持つスルーホー
ルは、各サンプルを機械的に貫いて穿孔された。これら
によってスルーホール内部の銅コアは露出された。銅コ
アは、50’ cの塩化第二鉄中で4分間浸漬すること
によってエッチバックされた。それからサンプルは、イ
オンを取り除いた水により洗浄し、次に乾燥を行った。
サンプルはTg310’c以上で加熱し、2つのプラテ
ン間で圧縮された。ポリマーの厚さが2゜54X10−
3cmの場合、15秒間350’ cで5000psi
が用いられた。ポリマーの厚さが5.08X10−3c
mIO秒間340°Cで5000psiが用いられた。
ン間で圧縮された。ポリマーの厚さが2゜54X10−
3cmの場合、15秒間350’ cで5000psi
が用いられた。ポリマーの厚さが5.08X10−3c
mIO秒間340°Cで5000psiが用いられた。
例2
デュポン社により製造された浸漬被覆ポリアミック酸(
Dip coat polyao+1cacid) 5
811 Dは、約28gの予め穿孔された銅−インパー
ル(invir)−銅の上へのBPDA−PDAポリイ
ミド前駆物質である。コアは、スパッタされたクロム表
面を有している。被覆されたコアは、1時間、85°C
でベーキングされる。次に、コアは45分間、125°
Cで750psiの力で圧縮される。それから、ポリマ
ーにより穿孔された穴が充填されるまで1時間250°
Cで750psiの力で圧縮される。
Dip coat polyao+1cacid) 5
811 Dは、約28gの予め穿孔された銅−インパー
ル(invir)−銅の上へのBPDA−PDAポリイ
ミド前駆物質である。コアは、スパッタされたクロム表
面を有している。被覆されたコアは、1時間、85°C
でベーキングされる。次に、コアは45分間、125°
Cで750psiの力で圧縮される。それから、ポリマ
ーにより穿孔された穴が充填されるまで1時間250°
Cで750psiの力で圧縮される。
例3
自立アミド酸層が形成され、それから基板に積層され得
る。ポリアミック酸膜は、適当な基板、すなわちガラス
上にポリアミック酸及び溶剤、すなわちNMPを含んで
いるポリアミック酸溶液を被覆することによって作成さ
れ得る。ポリアミック酸は、スピン被覆され得るが、若
しくは他の通常用いられる方法によって被覆され得る。
る。ポリアミック酸膜は、適当な基板、すなわちガラス
上にポリアミック酸及び溶剤、すなわちNMPを含んで
いるポリアミック酸溶液を被覆することによって作成さ
れ得る。ポリアミック酸は、スピン被覆され得るが、若
しくは他の通常用いられる方法によって被覆され得る。
基板は、溶剤を除去するために被覆されるポリアミック
酸がかなりイミド化するのを防ぐ温度で予めベーキング
される。上記被覆は、基板から除去され、例えば金属基
板のようなワークピース上に積層される。
酸がかなりイミド化するのを防ぐ温度で予めベーキング
される。上記被覆は、基板から除去され、例えば金属基
板のようなワークピース上に積層される。
縦横それぞれ15.24cm、厚さ0.31750 I
nの2つのガラス板を60秒間1000回転でポリアミ
ック酸(BPDA−PDA)をスピン被覆する。被覆さ
れたガラス板を80”cで30分間ベーキングする。そ
れから膜は、基板から容易に除去される。
nの2つのガラス板を60秒間1000回転でポリアミ
ック酸(BPDA−PDA)をスピン被覆する。被覆さ
れたガラス板を80”cで30分間ベーキングする。そ
れから膜は、基板から容易に除去される。
ポリアミック酸膜は、基板上に形成される。
基板に形成された空胴とその膜は、上記例1及び2に記
載されたように加熱され、圧縮される。良好な基板付着
を与える連続的な積層とバイアの絶縁特性が次の条件を
用いて得られた。
載されたように加熱され、圧縮される。良好な基板付着
を与える連続的な積層とバイアの絶縁特性が次の条件を
用いて得られた。
80° c/1300ps i/20分間、90’ c
/1300ps i/20分間、100’c/1300
psi/20分間。
/1300ps i/20分間、100’c/1300
psi/20分間。
いったん積層が完了すると、ポリアミック酸をポリイミ
ドに転換するための最終の硬化が行なわれ得る。例えば
、N2の下で、100°c/60分間、200’c/6
0分間、400°c/60分間である。
ドに転換するための最終の硬化が行なわれ得る。例えば
、N2の下で、100°c/60分間、200’c/6
0分間、400°c/60分間である。
E1発明の効果
本発明によると、誘電体材料において空所を封じ込める
ことなしに上記材料を加圧することによって当該材料で
基板の空胴の側壁を被覆するか、若しくは基板の空胴を
完全に充填することができる。また、本発明に係る方法
は、基板の空胴側壁を被覆するために、溶媒を含む液体
ポリマーの使用を避け、そしてさらに十分な側壁誘電体
の厚さを達成するために複数回の工程を経ることを必要
としない。
ことなしに上記材料を加圧することによって当該材料で
基板の空胴の側壁を被覆するか、若しくは基板の空胴を
完全に充填することができる。また、本発明に係る方法
は、基板の空胴側壁を被覆するために、溶媒を含む液体
ポリマーの使用を避け、そしてさらに十分な側壁誘電体
の厚さを達成するために複数回の工程を経ることを必要
としない。
【図面の簡単な説明】
第1図は材料層が堆積した上部及び底部主要表面を有す
る基板の概略図、第2図は、スルーホールを形成した基
板の概略図、第3図は第1図の基板にスルーホールを形
成するために穿孔機を使用した状態を示した概略図、第
4図は基板に穿孔機によ・って基板にスルーホールを形
成した状態を示した基板の概略図、第5図は基板の両側
から所定の部材によって圧力を加えた状態を示した第2
図若しくは第4図の構造の概略図、第6図乃至第10図
は基板の両側から圧力を加えた結果を示した基板の概略
図、第11図は材料被覆により完全に充填された第10
図の構造の上記充填材料中に形成されたスルーホールを
持つ基板の概略図、第12図はスルーホール中及び被覆
された基板の表面上に金属パターンを持つ第8図若しく
は第11図の構造の概略図、第13図は空胴が形成され
た基板上に材料層が形成され、両側から所定の部材によ
り圧力が加えられた他状態を示した基板の概略図、第1
4図乃至第16図は、第13図の構造の基板の両側から
圧力を加えた結果を示した基板の概略図である。 2.4.43.45.52.54.86・・・表面、6
.8.84・・・誘電体材料層、10.82・・・基板
、12.56・・・空I’ll(スルーホール)、14
・・・構造体、18.48.50−・・側壁、22.2
4.94.96・・・プラテン。 出願人 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・
コーポレーション
る基板の概略図、第2図は、スルーホールを形成した基
板の概略図、第3図は第1図の基板にスルーホールを形
成するために穿孔機を使用した状態を示した概略図、第
4図は基板に穿孔機によ・って基板にスルーホールを形
成した状態を示した基板の概略図、第5図は基板の両側
から所定の部材によって圧力を加えた状態を示した第2
図若しくは第4図の構造の概略図、第6図乃至第10図
は基板の両側から圧力を加えた結果を示した基板の概略
図、第11図は材料被覆により完全に充填された第10
図の構造の上記充填材料中に形成されたスルーホールを
持つ基板の概略図、第12図はスルーホール中及び被覆
された基板の表面上に金属パターンを持つ第8図若しく
は第11図の構造の概略図、第13図は空胴が形成され
た基板上に材料層が形成され、両側から所定の部材によ
り圧力が加えられた他状態を示した基板の概略図、第1
4図乃至第16図は、第13図の構造の基板の両側から
圧力を加えた結果を示した基板の概略図である。 2.4.43.45.52.54.86・・・表面、6
.8.84・・・誘電体材料層、10.82・・・基板
、12.56・・・空I’ll(スルーホール)、14
・・・構造体、18.48.50−・・側壁、22.2
4.94.96・・・プラテン。 出願人 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・
コーポレーション
Claims (25)
- (1)表面の少なくとも一部分上に所定の材料層を有し
、前記材料層まで延長する空胴を有する基板を用意し、 前記材料層が流動するのに十分な環境を設定し、前記空
胴内部に上記材料層が流れ込むように前記基板の方に前
記材料層を加圧すること を含む基板の空胴の側壁被覆方法。 - (2)前記材料層が流動するのに十分な環境を設定する
工程が前記材料層を加熱することである請求項(1)記
載の基板の空胴の側壁被覆方法。 - (3)前記材料層が前記材料の少なくともガラス転移温
度まで加熱される請求項(2)記載の基板の空胴の側壁
被覆方法。 - (4)前記材料層が前記材料の少なくとも溶解温度まで
加熱される請求項(2)記載の基板の空胴の側壁被覆方
法。 - (5)前記空胴内に流れこむ前記材料が前記基板を湿ら
せる請求項(1)記載の基板の空胴の側壁被覆方法。 - (6)前記空胴内に流れこむ前記材料が前記基板の表面
自由エネルギーよりも低い表面自由エネルギーを有して
いる請求項(1)記載の基板の空胴の側壁被覆方法。 - (7)前記空胴が前記基板を貫いて延長している請求項
(1)記載の基板の空胴の側壁被覆方法。 - (8)前記空胴の一端が前記基板の表面を貫いて延長し
、そして前記空胴の他端が前記基板の内部にある請求項
(1)記載の基板の空胴の側壁被覆方法。 - (9)前記基板が第1及び第2の主要表面を有し、前記
材料層が前記第1及び第2の主要表面上に配置され、そ
して前記空胴が前記第1及び第2の主要表面上の前記材
料層を貫いて前記第1及び第2の主要表面から延長して
いる請求項(7)記載の基板の空胴の側壁被覆方法。 - (10)前記材料層が前記空胴側壁を被覆するために加
圧される請求項(1)記載の基板の空胴の側壁被覆方法
。 - (11)前記材料層が前記空胴を十分に充填するために
加圧される請求項(1)記載の基板の空胴の側壁被覆方
法。 - (12)前記材料層が前記空胴側壁と前記空胴底部を被
覆するために加圧される請求項(8)記載の基板の空胴
の側壁被覆方法。 - (13)前記空胴が約2.54×10^−^2cmより
も短い横断面寸法及び約2.54×10^−^2cmよ
りも短い深さ持ち、近接した空胴から前記最小限の横断
面寸法の約2倍よりも短い位置に離隔して複数の前記空
胴が存している請求項(1)記載の基板の空胴の側壁被
覆方法。 - (14)前記基板が導体である請求項(1)記載の基板
の空胴の側壁被覆方法。 - (15)前記導体がAl、Cu、Mo及びCu−インバ
ール−Cuから成る群から選択される請求項(14)記
載の基板の空胴の側壁被覆方法。 - (16)前記材料層がポリマー材料である請求項(1)
記載の基板の空胴の側壁被覆方法。 - (17)前記ポリマー材料が熱可塑性ポリマー材料であ
る請求項(16)記載の基板の空胴の側壁被覆方法。 - (18)前記ポリマー材料がポリイミド材料、ふっ化ポ
リマー材料及びポリアミック酸材料から成る群から選択
される請求項(16)記載の基板の空胴の側壁被覆方法
。 - (19)相互方向に加圧される第1及び第2のプラテン
間に、前記材料層をその上に有する基板を配置すること
によって前記基板方向に前記材料層が加圧される請求項
(1)記載の基板の空胴の側壁被覆方法。 - (20)前記加圧された材料層が十分な平坦面を有して
いる請求項(1)記載の基板の空胴の側壁被覆方法。 - (21)前記空胴を充填する前記材料内部に第2の空胴
を形成することを含んでいる請求項(11)記載の基板
の空胴の側壁被覆方法。 - (22)前記空胴が穿孔、ドリル加工による穴開け、レ
ーザーアブレーシヨン及びエッチングから成る群から選
択された方法によって形成される請求項(1)記載の基
板の空胴の側壁被覆方法。 - (23)前記空胴を形成した後、前記空胴をオーバーハ
ングしている前記材料層の予期量を残している前記空胴
の側壁に沿って前記基板の予期量を除去することを含ん
でいる請求項(1)記載の基板の空胴の側壁被覆方法。 - (24)前記電気的導体が前記空胴内に設けられる請求
項(1)記載の基板の空胴の側壁被覆方法。 - (25)前記材料層が流動するために十分な環境を設定
する前記工程が前記材料層を冷却することである請求項
(1)記載の基板の空胴の側壁被覆方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US339557 | 1982-01-15 | ||
| US33955789A | 1989-04-17 | 1989-04-17 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02299291A true JPH02299291A (ja) | 1990-12-11 |
| JP2553216B2 JP2553216B2 (ja) | 1996-11-13 |
Family
ID=23329588
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2097820A Expired - Lifetime JP2553216B2 (ja) | 1989-04-17 | 1990-04-16 | 基板の穴の側壁被覆方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0393381B1 (ja) |
| JP (1) | JP2553216B2 (ja) |
| DE (1) | DE69023382T2 (ja) |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5527561A (en) * | 1991-05-28 | 1996-06-18 | Electrotech Limited | Method for filing substrate recesses using elevated temperature and pressure |
| DE69233222T2 (de) * | 1991-05-28 | 2004-08-26 | Trikon Technologies Ltd., Thornbury | Verfahren zum Füllen eines Hohlraumes in einem Substrat |
| GB9414145D0 (en) * | 1994-07-13 | 1994-08-31 | Electrotech Ltd | Forming a layer |
| US5239746A (en) * | 1991-06-07 | 1993-08-31 | Norton Company | Method of fabricating electronic circuits |
| KR960042974A (ja) * | 1995-05-23 | 1996-12-21 | ||
| US10410883B2 (en) | 2016-06-01 | 2019-09-10 | Corning Incorporated | Articles and methods of forming vias in substrates |
| US10794679B2 (en) | 2016-06-29 | 2020-10-06 | Corning Incorporated | Method and system for measuring geometric parameters of through holes |
| US11078112B2 (en) | 2017-05-25 | 2021-08-03 | Corning Incorporated | Silica-containing substrates with vias having an axially variable sidewall taper and methods for forming the same |
| US12180108B2 (en) | 2017-12-19 | 2024-12-31 | Corning Incorporated | Methods for etching vias in glass-based articles employing positive charge organic molecules |
| US11554984B2 (en) | 2018-02-22 | 2023-01-17 | Corning Incorporated | Alkali-free borosilicate glasses with low post-HF etch roughness |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6253827A (ja) * | 1985-05-30 | 1987-03-09 | 三井東圧化学株式会社 | 金属ベ−スプリント配線基板及びその製造方法 |
| JPS62132391A (ja) * | 1985-12-04 | 1987-06-15 | 松下電工株式会社 | 金属ベ−ス配線基板 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3354542A (en) * | 1965-05-10 | 1967-11-28 | Western Electric Co | Enclosing a metal support with a printed circuit containing envelope |
| DE2739494B2 (de) * | 1977-08-30 | 1980-10-16 | Fuba, Hans Kolbe & Co, 3202 Bad Salzuflen | Verfahren zum Herstellen elektrischer Leiterplatten |
| DE3027336A1 (de) * | 1980-07-18 | 1982-02-18 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur bohrungsisolierung bei metallkernleiterplatten |
| US4472238A (en) * | 1983-12-05 | 1984-09-18 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Process using plasma for forming conductive through-holes through a dielectric layer |
| EP0399161B1 (en) * | 1989-04-17 | 1995-01-11 | International Business Machines Corporation | Multi-level circuit card structure |
-
1990
- 1990-03-24 DE DE69023382T patent/DE69023382T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-03-24 EP EP90105609A patent/EP0393381B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-04-16 JP JP2097820A patent/JP2553216B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6253827A (ja) * | 1985-05-30 | 1987-03-09 | 三井東圧化学株式会社 | 金属ベ−スプリント配線基板及びその製造方法 |
| JPS62132391A (ja) * | 1985-12-04 | 1987-06-15 | 松下電工株式会社 | 金属ベ−ス配線基板 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69023382T2 (de) | 1996-06-20 |
| EP0393381B1 (en) | 1995-11-08 |
| EP0393381A3 (en) | 1991-07-03 |
| EP0393381A2 (en) | 1990-10-24 |
| JP2553216B2 (ja) | 1996-11-13 |
| DE69023382D1 (de) | 1995-12-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5208068A (en) | Lamination method for coating the sidewall or filling a cavity in a substrate | |
| DE68916523T2 (de) | Verfahren zur Vorbehandlung von Kunststoffsubstraten. | |
| JP2654359B2 (ja) | ハロゲン化重合体物質の表面変性方法 | |
| CN101919008B (zh) | 表面处理促进金属镀覆的方法和形成的器件 | |
| US4633035A (en) | Microwave circuit boards | |
| JPH03132089A (ja) | 選択メッキ用構造体および選択メッキ方法 | |
| JPH02299291A (ja) | 基板の空胴の側壁被覆方法 | |
| US5545429A (en) | Fabrication of double side fully metallized plated thru-holes, in polymer structures, without seeding or photoprocess | |
| JP5219806B2 (ja) | エチレンイミンカップリング剤を用いるポリイミドフィルムの表面改質方法、それを用いる銅箔積層フィルムの製造方法及びその方法で製造される2層構造の銅箔積層フィルム | |
| TW595297B (en) | Method of removing smear from via holes | |
| JPS62171187A (ja) | 印刷回路板の製造方法 | |
| CA1204518A (en) | Microwave circuit boards and method of manufacture thereof | |
| JP4075637B2 (ja) | 異方性導電シートの製造方法 | |
| WO2001038086A1 (en) | Member having metallic layer, its manufacturing method, and its application | |
| JPH0318088A (ja) | 絶縁金属基板及びその製造方法 | |
| CN1268185C (zh) | 金属箔层压板及其制备方法 | |
| CN110098063A (zh) | 一种柔性金电极及制备方法 | |
| TWI882994B (zh) | 積層體及電子零件 | |
| Abdulrhman et al. | Low-power laser manufacturing of copper tracks on 3D printed geometry using liquid polyimide coating | |
| GB2080630A (en) | Printed circuit panels | |
| JPH03266306A (ja) | 異方導電フィルムの製造方法 | |
| JPH0573359B2 (ja) | ||
| JP2003283123A (ja) | 積層基板及びその製造方法 | |
| JPS63280496A (ja) | 多層回路板の製造方法 | |
| JP2005217052A (ja) | 配線基板及びその製造方法 |