JPH02309260A - プローブピン - Google Patents

プローブピン

Info

Publication number
JPH02309260A
JPH02309260A JP12886489A JP12886489A JPH02309260A JP H02309260 A JPH02309260 A JP H02309260A JP 12886489 A JP12886489 A JP 12886489A JP 12886489 A JP12886489 A JP 12886489A JP H02309260 A JPH02309260 A JP H02309260A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tip
probe pin
protrusion
dirt
contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12886489A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Shoji
小路 浩之
Kiyoshi Numata
清 沼田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Computer Engineering Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Computer Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Computer Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP12886489A priority Critical patent/JPH02309260A/ja
Publication of JPH02309260A publication Critical patent/JPH02309260A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、高密度基板の導通検査において、特にパッド
との信頼性の高い電気的接触を得るのに好敵なプローブ
ピンに関する4 〔従来の技術〕 従来のプローブピンは、実公昭61−46465号公報
に記載のように、先端が固定されたプランジャを有する
ものであった。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来技術は5パツドにゴミが付着している場合につ
いて配慮されておらず、ゴミの上に先端部の突起がゴミ
に乗ると、そこで止まってしまい、他の突起がパッドと
接触することができず、接触不良が発生してしまうとい
う問題があった。
本発明の目的は、先端部の突起がゴミに乗っても他の突
起でパッドと接触できるようにすることにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達成するために、プランジャ先端部を可動す
るようにしたものである。
〔作用〕
先端部の突起がゴミに乗ると、突起の先端はプランジャ
の中心よりズしているため先端部が傾き、他の突起がパ
ッドに接触することができる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図、第2図により説明す
る。
第1図は、実施例を示した断面図で、ボール1゜チュー
ブ2.スプリング3.プランジャ4.先端部5から成っ
ている。
従来のプローブピンでは、先端部5の突起1゜5aがゴ
ミ6に乗ると先端部5はそこで止まってしまい、電気的
接触を得ることはできなかった。
そこで本発明によるプローブピンでは、第2図に示す如
く、先端部5の突起1,5aがゴミ6に乗ると、先端部
5が傾き、突起2,5bがパッド7に接触し、電気的接
触を得ることができるようになる。
本実施例によればゴミによって接触不良にならないとい
う効果がある。
〔発明の効果〕
本発明によれば、先端部の突起がゴミに乗っても、他の
突起でパッドと電気的接触が可能なので。
ゴミに左右されずに常に接触信頼性を確保できるという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の断面図、第2図は第1図の
先端部拡大図である。 1・・・ボール、2・・・チューブ、3・・・スプリン
グ。 4・・・プランジャ、5・・・先端部、5a・・・突起
1゜5b・・・突起2,6・・・ゴミ、7・・・パッド
。 力l己 第2圀

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、プランジャの先端部が可動することを特徴とするプ
    ローブピン。
JP12886489A 1989-05-24 1989-05-24 プローブピン Pending JPH02309260A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12886489A JPH02309260A (ja) 1989-05-24 1989-05-24 プローブピン

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12886489A JPH02309260A (ja) 1989-05-24 1989-05-24 プローブピン

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02309260A true JPH02309260A (ja) 1990-12-25

Family

ID=14995255

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12886489A Pending JPH02309260A (ja) 1989-05-24 1989-05-24 プローブピン

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02309260A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04113442U (ja) * 1991-03-22 1992-10-05 太陽誘電株式会社 プローブ構造
KR100823873B1 (ko) * 2006-11-01 2008-04-21 주식회사 아이에스시테크놀러지 테스트 소켓

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04113442U (ja) * 1991-03-22 1992-10-05 太陽誘電株式会社 プローブ構造
KR100823873B1 (ko) * 2006-11-01 2008-04-21 주식회사 아이에스시테크놀러지 테스트 소켓

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH02309260A (ja) プローブピン
JPS60183879U (ja) 半導体試験装置の接触子
JPS6021966U (ja) ハンドラ−用スリツト型接触子
JPS60159444U (ja) 装着状態の検知装置
JPS59134070U (ja) プリント基板検査用コンタクトプロ−ブピン
JPS60185263U (ja) 回路基板等の検査装置におけるコンタクトプロ−ブ
JPS60174872U (ja) Lsiテスタの接触式コネクタ
JPS61148781A (ja) バネピン
JPS5910069U (ja) 試験用ソケツト
JPS59125837U (ja) 半導体検査装置
JPS6132969U (ja) 電子部品検査用コンタクトプロ−ブ装置
JPS60102676U (ja) 導通度測定装置
JPS60183877U (ja) Icハンドラの測定用ソケツト
JPS6117669U (ja) プロ−ブ
JPS58164236U (ja) 半導体ウエ−ハ特性測定装置
JPS5896276U (ja) 集積回路用測定治具
JPS58138006U (ja) 接点ギヤツプゲ−ジ
JPS58120967U (ja) オシロスコ−プ用プロ−ブ
JPS608807U (ja) 寸法測定器
JPS59187102U (ja) 回転形電気部品の摺動子
JPS6080353U (ja) 計測器用探針
JPS6035271U (ja) 接続ボ−ドのフレキシブル継手機構
JPS58186993U (ja) 捲取り式ハツチカバ−のヒンヂ連結装置
JPS6197839U (ja)
JPS58148933U (ja) 集積回路測定装置