JPH0235444U - - Google Patents
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- JPH0235444U JPH0235444U JP11301988U JP11301988U JPH0235444U JP H0235444 U JPH0235444 U JP H0235444U JP 11301988 U JP11301988 U JP 11301988U JP 11301988 U JP11301988 U JP 11301988U JP H0235444 U JPH0235444 U JP H0235444U
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- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第１図ａは本考案の一実施例であるリードフレ
ームの一部にインデツクスを設けた多連式サーデ
イツプ型パツケージの斜視図である。第１図ｂは
第１図ａに於けるインデツクス部の拡大図である
。第１図ｃは第１図ｂに於けるＡ―Ａ′断面図で
ある。第２図乃至第４図は他の実施例の斜視図で
ある。 符号の説明、１：リードフレーム、２：インデ
ツクス、３：ハーフカツト（ハーフエツチ）部、
４：ベース（セラミツク）、５：ウインドフレー
ム（セラミツク）、６：低融点ガラス。
ームの一部にインデツクスを設けた多連式サーデ
イツプ型パツケージの斜視図である。第１図ｂは
第１図ａに於けるインデツクス部の拡大図である
。第１図ｃは第１図ｂに於けるＡ―Ａ′断面図で
ある。第２図乃至第４図は他の実施例の斜視図で
ある。 符号の説明、１：リードフレーム、２：インデ
ツクス、３：ハーフカツト（ハーフエツチ）部、
４：ベース（セラミツク）、５：ウインドフレー
ム（セラミツク）、６：低融点ガラス。
Claims (1)
- リードフレームの一部に良品／不良品の判別用
インデツクス（目印）を設けたことを特徴とする
多連式サーデイツプ型パツケージ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11301988U JPH0235444U (ja) | 1988-08-29 | 1988-08-29 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11301988U JPH0235444U (ja) | 1988-08-29 | 1988-08-29 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0235444U true JPH0235444U (ja) | 1990-03-07 |
Family
ID=31352488
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11301988U Pending JPH0235444U (ja) | 1988-08-29 | 1988-08-29 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0235444U (ja) |
-
1988
- 1988-08-29 JP JP11301988U patent/JPH0235444U/ja active Pending