JPH0241582A - 曲面形状の判定装置 - Google Patents
曲面形状の判定装置Info
- Publication number
- JPH0241582A JPH0241582A JP63193837A JP19383788A JPH0241582A JP H0241582 A JPH0241582 A JP H0241582A JP 63193837 A JP63193837 A JP 63193837A JP 19383788 A JP19383788 A JP 19383788A JP H0241582 A JPH0241582 A JP H0241582A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- slit
- circuit
- curved surface
- binary data
- interval
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は曲面形状の判定装置、特に、曲面の凹凸の形状
に基づいて良否判定を行なう曲面形状の判定装置に関す
る。
に基づいて良否判定を行なう曲面形状の判定装置に関す
る。
従来の技術としては例えば、°゛はんだ面の状態認識方
式パ（特公昭６１−４１９０６号公報）にみられる様に
、はんだ面を多数の点光源で照射して、所定の位置に設
けた撮像装置で反射光を取り込み、あらかじめ設けた閾
値を超える高輝度範囲のみ分離した画像を形成して、は
んだ面の状態を認識するものがある。
式パ（特公昭６１−４１９０６号公報）にみられる様に
、はんだ面を多数の点光源で照射して、所定の位置に設
けた撮像装置で反射光を取り込み、あらかじめ設けた閾
値を超える高輝度範囲のみ分離した画像を形成して、は
んだ面の状態を認識するものがある。
上述した従来の技術では、直接形状を求める代わりに、
反射光量の大小に基づいて判定を行なっているため、対
象の材質の変動による反射係数の変化に伴ない、誤認識
をするという欠点があった。
反射光量の大小に基づいて判定を行なっているため、対
象の材質の変動による反射係数の変化に伴ない、誤認識
をするという欠点があった。
本発明の曲面形状の判定装置は、あらかじめ等間隔に設
定されたスリット光を対象物に照射するスリット光投影
部と、投影されたスリットパターンを画像信号として取
込むための光電変換スキャナと、前記光電変換スキャナ
で供給された画像信号を多値レベルのディジタル画像に
変換するためのＡ／Ｄ変換回路と、あらかじめ設定され
た検査エリアを指定する☆インド発生回路と、前記ディ
ジタル画像を、前記ウィンド発生回路で指定された検査
エリア内で水平方向についての平均値を算出して濃度分
布として求める濃度分布算出回路と、算出された濃度分
布あらかじめ設定されたスライスレベルで、“０′°、
“１′″の２値化データに変換する２値化回路と、前記
変換された２値化データよりスリット間隔を検出するた
めのスリット間隔検出回路と、前記検出されたスリット
間隔の変動より曲面の凹凸を判定する形状判定回路とを
含んで構成される。
定されたスリット光を対象物に照射するスリット光投影
部と、投影されたスリットパターンを画像信号として取
込むための光電変換スキャナと、前記光電変換スキャナ
で供給された画像信号を多値レベルのディジタル画像に
変換するためのＡ／Ｄ変換回路と、あらかじめ設定され
た検査エリアを指定する☆インド発生回路と、前記ディ
ジタル画像を、前記ウィンド発生回路で指定された検査
エリア内で水平方向についての平均値を算出して濃度分
布として求める濃度分布算出回路と、算出された濃度分
布あらかじめ設定されたスライスレベルで、“０′°、
“１′″の２値化データに変換する２値化回路と、前記
変換された２値化データよりスリット間隔を検出するた
めのスリット間隔検出回路と、前記検出されたスリット
間隔の変動より曲面の凹凸を判定する形状判定回路とを
含んで構成される。
次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
第１図は、本発明の一実施例を示すブロック図である。
あらかじめ等間隔に設定されたスリット光を投影するた
めのスリット光投影部１により、対象物に投影されたス
リットパターンは、光電変換スキャナ２を用いて画像信
号３として入力される。更に、画像信号３はＡ／Ｄ変換
回路４によりディジタル画像５に変換される。ウィンド
発生回路７は、あらかじめ設定された検査エリア信号８
を出力し、濃度分布算出回路６では、ディジタル画像５
の水平方向についての平均値を、検査エリア信号８内で
算出して、濃度分布信号９を出力する。
めのスリット光投影部１により、対象物に投影されたス
リットパターンは、光電変換スキャナ２を用いて画像信
号３として入力される。更に、画像信号３はＡ／Ｄ変換
回路４によりディジタル画像５に変換される。ウィンド
発生回路７は、あらかじめ設定された検査エリア信号８
を出力し、濃度分布算出回路６では、ディジタル画像５
の水平方向についての平均値を、検査エリア信号８内で
算出して、濃度分布信号９を出力する。
２値化回路１０では、あらかじめ設定されたスライスレ
ベルで、濃度分布信号９を０″、“１″の２値化データ
１１に変換して出力する。スリット間隔検出回路１２で
は、２値データ１１で、１′″より“０″°に変化して
更に“′１″となるまでの間隔をスリット間隔として算
出し、スリット間隔データ１３を出力する。更に、形状
判定回路１４では、算出されたスリット間隔データ１３
の相互間の差を求めて、曲面の凹凸を判定して判定信号
１５を出力する。
ベルで、濃度分布信号９を０″、“１″の２値化データ
１１に変換して出力する。スリット間隔検出回路１２で
は、２値データ１１で、１′″より“０″°に変化して
更に“′１″となるまでの間隔をスリット間隔として算
出し、スリット間隔データ１３を出力する。更に、形状
判定回路１４では、算出されたスリット間隔データ１３
の相互間の差を求めて、曲面の凹凸を判定して判定信号
１５を出力する。
次に、各部の詳細について説明を行なう。
第２図は、投影されたスリットパターンと、撮像された
パターンとの関係を説明するための光路図である。
パターンとの関係を説明するための光路図である。
投影スリットパターン２０は間隔ａで、対象曲面２２に
投影され、光電変換スキャナ２に撮像パターン２１とし
て間隔すで入力されるとする。また、この際の撮像パタ
ーンが水平面となす角をαとし、更に対象曲面は、水平
面とβのなす角をもつ平面で近似するとする。この結果
、間隔すは、ｂ＝ａｓ ｉｎα＋ａｔａｎβＣＯ８αで
表わされる。
投影され、光電変換スキャナ２に撮像パターン２１とし
て間隔すで入力されるとする。また、この際の撮像パタ
ーンが水平面となす角をαとし、更に対象曲面は、水平
面とβのなす角をもつ平面で近似するとする。この結果
、間隔すは、ｂ＝ａｓ ｉｎα＋ａｔａｎβＣＯ８αで
表わされる。
ここで、ａおよびαの値は一定であるので、撮像パター
ン間隔すは、対象曲面の傾きβの増加とともに増加し、
逆に、βが減少すれば、ｂも減少する。
ン間隔すは、対象曲面の傾きβの増加とともに増加し、
逆に、βが減少すれば、ｂも減少する。
第３図（ａ）、（ｂ）は、曲面形状が凹の場合の、形状
判定方法の説明図である。第３図（ａ）は、投影スリッ
トパターン２０と撮像パターン２１との関係を示す。
判定方法の説明図である。第３図（ａ）は、投影スリッ
トパターン２０と撮像パターン２１との関係を示す。
対象曲面が凹であるため、前述した対象曲面の傾きβは
、順次減少してゆくので、撮像パターン間隔Ａ、Ｂ、Ｃ
，Ｄの間には Ａ＞Ｂ＞Ｃ＞Ｄ の大小関係が成り立つ。
、順次減少してゆくので、撮像パターン間隔Ａ、Ｂ、Ｃ
，Ｄの間には Ａ＞Ｂ＞Ｃ＞Ｄ の大小関係が成り立つ。
第３図（ｂ）は、入力された画像データ２３より作成し
た濃度分布２４と、撮像パターン間隔Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄと
の関係を説明する図である。
た濃度分布２４と、撮像パターン間隔Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄと
の関係を説明する図である。
前述した方法で、濃度分布２４より撮像パターン間隔Ａ
、Ｂ、Ｃ，Ｄを算出し、Ａ＞Ｂ＞Ｃ＞Ｄの大小関係が成
り立てば、対象曲面は凹であると判定できる。
、Ｂ、Ｃ，Ｄを算出し、Ａ＞Ｂ＞Ｃ＞Ｄの大小関係が成
り立てば、対象曲面は凹であると判定できる。
第４図（ａ）、（ｂ）は、曲面形状が凸の場合の形状判
定方法の説明図である。第４図（ａ＞は、撮影スリット
パターン２０と撮像パターン２１との関係を示す。
定方法の説明図である。第４図（ａ＞は、撮影スリット
パターン２０と撮像パターン２１との関係を示す。
対象曲面が凸であるなめ、前述した対象曲面の傾きβは
順次増加してゆくので、撮像パターン間Ａ＜Ｂ＜Ｃ＜Ｄ の大小関係が成り立つ。
順次増加してゆくので、撮像パターン間Ａ＜Ｂ＜Ｃ＜Ｄ の大小関係が成り立つ。
第４図（ｂ）は、入力された画像データ２３より作成し
た濃度分布２４と、撮像パターン間隔Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄと
の関係を説明する図である。
た濃度分布２４と、撮像パターン間隔Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄと
の関係を説明する図である。
前述した方法で、濃度分布２４より撮像パターン間隔Ａ
、Ｂ、Ｃ，−Ｄを算出し、Ａ＜Ｂ＜Ｃ＜Ｄの大小関係が
成り立てば、対象曲面は凸であると判定できる。
、Ｂ、Ｃ，−Ｄを算出し、Ａ＜Ｂ＜Ｃ＜Ｄの大小関係が
成り立てば、対象曲面は凸であると判定できる。
本発明の曲面形状の判定装置では、従来の反射光量の大
小に元づいて形状判定を行なう代わりに、直接、曲面の
凹凸形状を算出することが可能であるため、対象の材質
の変動による反射係数の変化の影響を受けずに、高精度
の形状判定ができるという効果がある。
小に元づいて形状判定を行なう代わりに、直接、曲面の
凹凸形状を算出することが可能であるため、対象の材質
の変動による反射係数の変化の影響を受けずに、高精度
の形状判定ができるという効果がある。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
投影されたスリットパターンと撮像されたパターンとの
関係を示す説明図、第３図（ａ）。 （ｂ）は曲面形状が凹の場合の形状判定方法の説明図、
第４図（ａ）、（ｂ）は曲面形状が凸の場合の形状判定
方法の説明図である。 １・・・スリット光投影部、２・・・光電変換スキャナ
、３・・・画像信号、４・・・Ａ／Ｄ変換回路、５・・
・ディジタル画像、６・・・濃度分布算出回路、７・・
・ウィンド発生回路、８・・・検査エリア信号、９・・
・濃度分布信号、１０・・・２値化回路、１１・・・２
値化データ、１２・・・スリット間隔検出回路、１３・
・・スリット間隔データ、１４・・・形状判定回路、１
５・・・判定信号、２０・・・投影スリットパターン、
２１・・・撮像パターン、２２・・・対象曲面、２３・
・・画像データ、２４・・・濃度分布。
投影されたスリットパターンと撮像されたパターンとの
関係を示す説明図、第３図（ａ）。 （ｂ）は曲面形状が凹の場合の形状判定方法の説明図、
第４図（ａ）、（ｂ）は曲面形状が凸の場合の形状判定
方法の説明図である。 １・・・スリット光投影部、２・・・光電変換スキャナ
、３・・・画像信号、４・・・Ａ／Ｄ変換回路、５・・
・ディジタル画像、６・・・濃度分布算出回路、７・・
・ウィンド発生回路、８・・・検査エリア信号、９・・
・濃度分布信号、１０・・・２値化回路、１１・・・２
値化データ、１２・・・スリット間隔検出回路、１３・
・・スリット間隔データ、１４・・・形状判定回路、１
５・・・判定信号、２０・・・投影スリットパターン、
２１・・・撮像パターン、２２・・・対象曲面、２３・
・・画像データ、２４・・・濃度分布。
Claims (1)
- あらかじめ等間隔に設定されたスリット光を対象物に照
射するスリット光投影部と、投影されたスリットパター
ンを画像信号として取込むための光電変換スキャナと、
前記光電変換スキャナで供給された画像信号を多値レベ
ルのディジタル画像に変換するためのＡ／Ｄ変換回路と
、あらかじめ設定された検査エリアを指定するウィンド
発生回路と、前記ディジタル画像を、前記ウィンド発生
回路で指定された検査エリア内で水平方向についての平
均値を算出して濃度分布として求める濃度分布算出回路
と、算出された濃度分布あらかじめ設定されたスライス
レベルで、“０”、“１”の２値化データに変換する２
値化回路と、前記変換された２値化データよりスリット
間隔を検出するためのスリット間隔検出回路と、前記検
出されたスリット間隔の変動より曲面の凹凸を判定する
形状判定回路とを含むことを特徴とする曲面形状の判定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63193837A JPH0241582A (ja) | 1988-08-02 | 1988-08-02 | 曲面形状の判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63193837A JPH0241582A (ja) | 1988-08-02 | 1988-08-02 | 曲面形状の判定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0241582A true JPH0241582A (ja) | 1990-02-09 |
Family
ID=16314564
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63193837A Pending JPH0241582A (ja) | 1988-08-02 | 1988-08-02 | 曲面形状の判定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0241582A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02102405A (ja) * | 1988-10-07 | 1990-04-16 | Fujitsu Ltd | 半田付け接合部の外観検査装置 |
| JP2000512012A (ja) * | 1996-06-13 | 2000-09-12 | ケイ・ユー・リューヴェン・リサーチ・アンド・デヴェロップメント | 三次元形状の表示を得る方法とシステム |
-
1988
- 1988-08-02 JP JP63193837A patent/JPH0241582A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02102405A (ja) * | 1988-10-07 | 1990-04-16 | Fujitsu Ltd | 半田付け接合部の外観検査装置 |
| JP2000512012A (ja) * | 1996-06-13 | 2000-09-12 | ケイ・ユー・リューヴェン・リサーチ・アンド・デヴェロップメント | 三次元形状の表示を得る方法とシステム |
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