JPH02440Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH02440Y2 JPH02440Y2 JP1984085695U JP8569584U JPH02440Y2 JP H02440 Y2 JPH02440 Y2 JP H02440Y2 JP 1984085695 U JP1984085695 U JP 1984085695U JP 8569584 U JP8569584 U JP 8569584U JP H02440 Y2 JPH02440 Y2 JP H02440Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mask
- substrate
- filter
- thickness
- holes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、多層膜干渉フイルタなど光学フイル
タを製造する際に用いられるフイルタ製造用マス
クの改良に関する。
タを製造する際に用いられるフイルタ製造用マス
クの改良に関する。
パイロセンサを赤外線検出器として用いる場
合、パイロセンサの受光面に特定波長のみ透過す
るフイルタとして多層膜干渉フイルタが貼り付け
られる。このフイルタは、パイロセンサが小さい
ためにそれに対応して数mm角程度の小さなものが
必要である。
合、パイロセンサの受光面に特定波長のみ透過す
るフイルタとして多層膜干渉フイルタが貼り付け
られる。このフイルタは、パイロセンサが小さい
ためにそれに対応して数mm角程度の小さなものが
必要である。
このような小チツプのフイルタを製造する場
合、従来は大面積(直径が16mmまたは20mm)のフ
イルタを製造した後、切断機を用いて小チツプに
切断するといつた手法によつていた。
合、従来は大面積(直径が16mmまたは20mm)のフ
イルタを製造した後、切断機を用いて小チツプに
切断するといつた手法によつていた。
しかるに、いかなる切断手段によるかを問わ
ず、フイルタを切断することは切断縁の蒸着物質
が剥離し、そのため歩留りが悪く量産に適さない
し、また、性能上も切断によつて剥離した部分が
フイルタの特性に悪影響を与えるといつた欠点が
ある。
ず、フイルタを切断することは切断縁の蒸着物質
が剥離し、そのため歩留りが悪く量産に適さない
し、また、性能上も切断によつて剥離した部分が
フイルタの特性に悪影響を与えるといつた欠点が
ある。
従つて、小チツプのフイルタを製造するに際し
ては、基板上の切断予定部分に蒸着部質が蒸着し
ないよう基板の切断予定部分を隠蔽するマスクを
用いる必要がある。
ては、基板上の切断予定部分に蒸着部質が蒸着し
ないよう基板の切断予定部分を隠蔽するマスクを
用いる必要がある。
ところで、このマスクは厚みが大きいと、基板
に向けて蒸着物質を飛ばせて真空蒸着を行う際、
蒸着物質の飛ぶ方向が、第4図に示すように、斜
めの方向であると、マスク1の孔2の近傍に陰に
なる部分Aができるため、基板4に蒸着されない
部分ができるといつた欠点がある。
に向けて蒸着物質を飛ばせて真空蒸着を行う際、
蒸着物質の飛ぶ方向が、第4図に示すように、斜
めの方向であると、マスク1の孔2の近傍に陰に
なる部分Aができるため、基板4に蒸着されない
部分ができるといつた欠点がある。
これに対して、例えば実開昭52−32270号公報
に示されるように、厚肉部分(0.1mm程度)と薄
肉部分(0.05mm程度以下)とから構成するととも
に、全体の厚みを小さくした2段差を有するメタ
ルマスクが提案されている。
に示されるように、厚肉部分(0.1mm程度)と薄
肉部分(0.05mm程度以下)とから構成するととも
に、全体の厚みを小さくした2段差を有するメタ
ルマスクが提案されている。
しかしながら、この公報に記載されたメタルマ
スクは、基板が高温(例えば200℃以上)に温調
されない半導体製造用のものであつて、これをそ
のまま上記フイルタの製造に用いた場合、次のよ
うな不都合がある。
スクは、基板が高温(例えば200℃以上)に温調
されない半導体製造用のものであつて、これをそ
のまま上記フイルタの製造に用いた場合、次のよ
うな不都合がある。
すなわち、真空蒸着時の基板4は、200℃以上
の高温に温調されているため、この基板にこのよ
うに薄いマスクでは、マスクそのものが熱によつ
て撓んでしまい、基板とマスクとの密着性が悪く
なり、所定の蒸着を行うことができない。
の高温に温調されているため、この基板にこのよ
うに薄いマスクでは、マスクそのものが熱によつ
て撓んでしまい、基板とマスクとの密着性が悪く
なり、所定の蒸着を行うことができない。
本考案は、上述の事柄に留意してなされたもの
で、その目的とするところは、マスクが厚いこと
による欠点と薄いことによる不都合とを同時に解
消した、有用なフイルタ製造用マスクを提供する
ことにある。
で、その目的とするところは、マスクが厚いこと
による欠点と薄いことによる不都合とを同時に解
消した、有用なフイルタ製造用マスクを提供する
ことにある。
上述の目的を達成するため、本考案に係るフイ
ルタ製造用マスクは、マスクの厚肉部分の厚みが
約0.5mm、薄肉部分の厚みが約0.2mmになるように
形成している。これは、本考案者が種々の実験の
結果見出したものである。
ルタ製造用マスクは、マスクの厚肉部分の厚みが
約0.5mm、薄肉部分の厚みが約0.2mmになるように
形成している。これは、本考案者が種々の実験の
結果見出したものである。
以下、本考案の一実施例を、図面に基づいて説
明する。
明する。
第1図は本考案の一実施例に係るフイルタ製造
用マスクの断面図、第2図はこのマスクの平面図
である。
用マスクの断面図、第2図はこのマスクの平面図
である。
これらの図において、1はマスクで、耐熱性の
ある金属板からなり、多数の小さい孔2…が整列
状態で形成されている。このマスク1は、200℃
以上の高温においても撓まないような適度な厚み
を備える必要があり、約0.5mmの厚みを備えてい
る。孔2…の大きさは、製造しようとするフイル
タの大きさによつて適宜設定される。この実施例
では、パイロセンサの受光面に貼り付けるフイル
タを製造するため、孔2…は2〜3mm角程度に設
定してある。
ある金属板からなり、多数の小さい孔2…が整列
状態で形成されている。このマスク1は、200℃
以上の高温においても撓まないような適度な厚み
を備える必要があり、約0.5mmの厚みを備えてい
る。孔2…の大きさは、製造しようとするフイル
タの大きさによつて適宜設定される。この実施例
では、パイロセンサの受光面に貼り付けるフイル
タを製造するため、孔2…は2〜3mm角程度に設
定してある。
そして、各孔2の周縁は、段差3をつけること
によつて薄く形成してある。段差3をつける部分
の広さおよび板厚は、蒸着物質が最も斜め方向か
ら飛んできたとしても、第4図に示したような陰
になるような部分Aができないために必要かつ十
分な薄さとする必要がある。この実施例では、段
差3の広さは、孔2の縁から1.0mmまでの広さと
し、板厚は0.2mmとしている。段差3は例えばエ
ツチング処理によつて形成することができる。
によつて薄く形成してある。段差3をつける部分
の広さおよび板厚は、蒸着物質が最も斜め方向か
ら飛んできたとしても、第4図に示したような陰
になるような部分Aができないために必要かつ十
分な薄さとする必要がある。この実施例では、段
差3の広さは、孔2の縁から1.0mmまでの広さと
し、板厚は0.2mmとしている。段差3は例えばエ
ツチング処理によつて形成することができる。
上記構成のマスク1を用いてフイルタを製造す
るには、先ず、第3図イに示すように、マスク1
を基板4に位置合わせした状態で固定する。両者
の固定は、ポリイミド粘着テープを周部数カ所に
貼着することによつて行うことができる。
るには、先ず、第3図イに示すように、マスク1
を基板4に位置合わせした状態で固定する。両者
の固定は、ポリイミド粘着テープを周部数カ所に
貼着することによつて行うことができる。
マスク1を基板4に固定すると、その状態で第
3図イ,ロに示すように、ホルダ5に固定し、そ
れを真空蒸着装置のレンズドーム6の所定位置に
取り付ける。そして、蒸着源7から高屈折率物質
と低屈折率物質とを交互に飛ばして真空蒸着す
る。この場合、基板4には孔2…の開いたマスク
1が固定してあるので、蒸着物質は、マスク1の
孔2…から露出した基板4上にのみ蒸着される。
しかも、マスク1の孔2…の周辺は、上述したよ
うに、段差3…がつけてあるため、孔2…周辺に
陰ができることなく孔2…から露出した基板4上
に余すところなく蒸着が行われることとなる。前
記高屈折率物質としては例えばGe、低屈折率物
質としては例えばSiOが用いられる。
3図イ,ロに示すように、ホルダ5に固定し、そ
れを真空蒸着装置のレンズドーム6の所定位置に
取り付ける。そして、蒸着源7から高屈折率物質
と低屈折率物質とを交互に飛ばして真空蒸着す
る。この場合、基板4には孔2…の開いたマスク
1が固定してあるので、蒸着物質は、マスク1の
孔2…から露出した基板4上にのみ蒸着される。
しかも、マスク1の孔2…の周辺は、上述したよ
うに、段差3…がつけてあるため、孔2…周辺に
陰ができることなく孔2…から露出した基板4上
に余すところなく蒸着が行われることとなる。前
記高屈折率物質としては例えばGe、低屈折率物
質としては例えばSiOが用いられる。
上述のようにして真空蒸着を所定回数交互に行
えば、今度は基板4の裏面に対しても同様に真空
蒸着を行う。この場合、基板4の裏面にマスク1
の位置合わせをして固定し、基板4の表裏両面の
同一位置に蒸着物質が蒸着されるようにする。
えば、今度は基板4の裏面に対しても同様に真空
蒸着を行う。この場合、基板4の裏面にマスク1
の位置合わせをして固定し、基板4の表裏両面の
同一位置に蒸着物質が蒸着されるようにする。
基板4の両面に対する真空蒸着が完了すると、
基板4をホルダ5から外し、第3図ニに示すよう
に、マスク1を基板4から取り外して、最後に、
第3図ホに示すように、基板4上で蒸着物質8が
蒸着されてない切断予定部分9に沿つて基板4を
切断する。この切断は、蒸着物質8が蒸着されて
いないところに沿つて行なえるので、蒸着物質8
が剥離するといつた問題は生じない。
基板4をホルダ5から外し、第3図ニに示すよう
に、マスク1を基板4から取り外して、最後に、
第3図ホに示すように、基板4上で蒸着物質8が
蒸着されてない切断予定部分9に沿つて基板4を
切断する。この切断は、蒸着物質8が蒸着されて
いないところに沿つて行なえるので、蒸着物質8
が剥離するといつた問題は生じない。
以上説明したように、本考案に係るフイルタ製
造用マスクは、マスクの厚肉部分の厚みが約0.5
mm、薄肉部分の厚みが約0.2mmになるように形成
されているので、真空蒸着時、蒸着物質が基板に
対して斜め方向から飛んできたとしても、陰にな
る部分ができるといつたことがなく、孔から露出
した基板上に余すところなく蒸着物質を蒸着する
ことができるのは勿論のこと、孔周縁以外のとこ
ろは段差がなく、薄肉部分でもその厚みが約0.2
mmもあるところから、高温に温調された光学フイ
ルタ用基板に接触して使用されても、撓んだりす
ることがなく、従つて、基板との密着性を良好に
保つことができ、品質の高い多層膜干渉フイルタ
を製造することができる。
造用マスクは、マスクの厚肉部分の厚みが約0.5
mm、薄肉部分の厚みが約0.2mmになるように形成
されているので、真空蒸着時、蒸着物質が基板に
対して斜め方向から飛んできたとしても、陰にな
る部分ができるといつたことがなく、孔から露出
した基板上に余すところなく蒸着物質を蒸着する
ことができるのは勿論のこと、孔周縁以外のとこ
ろは段差がなく、薄肉部分でもその厚みが約0.2
mmもあるところから、高温に温調された光学フイ
ルタ用基板に接触して使用されても、撓んだりす
ることがなく、従つて、基板との密着性を良好に
保つことができ、品質の高い多層膜干渉フイルタ
を製造することができる。
第1図〜第3図は本考案の一実施例を示し、第
1図は本考案に係るフイルタ製造用マスクの一例
を示す側面図、第2図はその平面図、第3図は前
記マスクを用いてフイルタを製造する工程を示す
図である。第4図はマスクの板厚が厚い場合の欠
点を示す図である。 1……マスク、2……孔、3……段差、4……
基板。
1図は本考案に係るフイルタ製造用マスクの一例
を示す側面図、第2図はその平面図、第3図は前
記マスクを用いてフイルタを製造する工程を示す
図である。第4図はマスクの板厚が厚い場合の欠
点を示す図である。 1……マスク、2……孔、3……段差、4……
基板。
Claims (1)
- 多数の孔を有し、孔周縁は薄肉に、それ以外の
部分は厚肉とした2段差を有し、高温に温調され
た光学フイルタ用基板に接触して使用されるフイ
ルタ製造用マスクにおいて、マスクの厚肉部分の
厚みが約0.5mm、薄肉部分の厚みが約0.2mmになる
ように形成したことを特徴とするフイルタ製造用
マスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1984085695U JPS612450U (ja) | 1984-06-09 | 1984-06-09 | フイルタ製造用マスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1984085695U JPS612450U (ja) | 1984-06-09 | 1984-06-09 | フイルタ製造用マスク |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS612450U JPS612450U (ja) | 1986-01-09 |
| JPH02440Y2 true JPH02440Y2 (ja) | 1990-01-08 |
Family
ID=30636323
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1984085695U Granted JPS612450U (ja) | 1984-06-09 | 1984-06-09 | フイルタ製造用マスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS612450U (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS586711A (ja) * | 1981-07-01 | 1983-01-14 | Kawasaki Steel Corp | 圧延ロ−ルカリバ−のスラスト方向ずれ検出方法 |
| JP3778621B2 (ja) * | 1996-07-29 | 2006-05-24 | 三洋電機株式会社 | 光学部品のコーティング方法 |
| JP3651432B2 (ja) | 2001-09-25 | 2005-05-25 | セイコーエプソン株式会社 | マスク及びその製造方法並びにエレクトロルミネッセンス装置の製造方法 |
| JP4170179B2 (ja) * | 2003-01-09 | 2008-10-22 | 株式会社 日立ディスプレイズ | 有機elパネルの製造方法および有機elパネル |
| JP5262226B2 (ja) * | 2007-08-24 | 2013-08-14 | 大日本印刷株式会社 | 蒸着マスクおよび蒸着マスクの製造方法 |
| JP5284636B2 (ja) * | 2007-12-27 | 2013-09-11 | 株式会社日本触媒 | 積層フィルム、積層体、光選択透過フィルター及びその積層フィルムの製造方法 |
| JP5517405B2 (ja) * | 2007-12-27 | 2014-06-11 | 株式会社日本触媒 | 光選択透過フィルター |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5232270U (ja) * | 1975-08-28 | 1977-03-07 |
-
1984
- 1984-06-09 JP JP1984085695U patent/JPS612450U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS612450U (ja) | 1986-01-09 |
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