JPH0244206A - レジスト膜厚検査装置 - Google Patents

レジスト膜厚検査装置

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JPH0244206A
JPH0244206A JP63195111A JP19511188A JPH0244206A JP H0244206 A JPH0244206 A JP H0244206A JP 63195111 A JP63195111 A JP 63195111A JP 19511188 A JP19511188 A JP 19511188A JP H0244206 A JPH0244206 A JP H0244206A
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JP
Japan
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signal
turntable
stage
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rotation
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JP63195111A
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Inventor
Masao Tanehashi
正夫 種橋
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NEC Corp
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NEC Corp
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野」 本発明はレジスト膜厚検査装置、特に、光デイスク原盤
作成時のレジス)[厚検査装置に関する。
〔従来の技術〕
従来のレジス)[[厚検査装置は、ターンテーブルと、
前記ターンテーブルを回転するターンテーブル回転駆動
部と、前記ターンテーブルの半径方向へ移動できるステ
ージと、前記ステージを駆動するステージ駆動部と、レ
ーザビームを発生するレーザと、前記レーザビームを前
記ターンテーブルへ導く光学系と、前記ターンテーブル
へ入射するレーザビームと反射するレーザビームを検出
し入射信号と反射信号を発生する2つの光検出器と、前
記反射信号を前記入射信号で除算し反射率信号を発生す
る除算部とを含んで構成される。
次に従来のレジスト膜厚検査装置について図面を参照し
て詳細に説明する。
第6図は、従来のレジスト膜厚検査装置の一例を示すブ
ロック図である。
第6図に示すレジスト膜厚検査装置は、ターンテーブル
lと、ターンテーブル回転駆動部2と、ステージ4と、
ステージ駆動部5と、レーザ7と、光学系8と、光検出
器9.10と、除算部11とを含んでいる。
ここでターンテーブルlVi、 被測定物のレジストを
コーティングした光デイスク原盤を載せる台である。タ
ーンテーブル回転駆動!112Fi、ターンテーブル1
を回転する。ステージ4Fi、光学系8が固定される。
ステージ駆動部5は、ターンテーブルlの半径方向へス
テージ4を移動する◇レーザ7は、レーザビームCを発
生する。光学系8fl、レーザビームCを2本のビーム
に分離し、1本をターンテーブル1上の被測定物に導く
。被測定物に導かれたビームは、被測定物で反射し、反
射ビームeになる。もう一方は、被測定物に入射したビ
ームの光量を検出するために用いられる入射ビームdに
なる。
光検出器9 、10Fi、入射ビームdと反射ビームC
を各々電気1g号に変換し、入射信号fと反射信号gを
発生する。
除算部17d、反射堡号gを入射信号fで除算し反射率
信号りを発生する。レジスト膜厚によって反射率が変化
するので反射率1d号lを測定することによってレジス
ト膜厚を検査することができる。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来のレジスト膜厚検査装置ハ、測定値が測定
時限りで消えてしまうのでデータの蓄積、分析が困難で
あるといり次点があった。−1fc、膜厚に相当する反
射率信号を生成するとき、ハード的に除算を行っている
ために、除算部の入力信号である反射信号と入射信号が
除算部の入力範囲内であるかどうかチエツクできないと
いう欠点があったO 〔課題を解決するための手段〕 本発明のレジスト膜厚検査装置は、ターンテーブルと、
前記ターンテーブルを回転するターンテーブル回転駆動
部と、前記ターンテーブルの回転角を等角度に分割する
回転角信号を発生するエンコーダと、前記ターンテーブ
ルの半径方向へ移動できるステージと、前記ステージを
駆動するステージ駆動部と、前記ターンテーブルの回転
中心から前記ステージまでの距離を検出し位it洛号を
発生する位置検出器と、レーザビームを発生するレーザ
と、前記レーザビームを前記ターンテーブルへ導く光学
系と、前記ターンテーブルへ入射するレーザビームと反
射するレーザビームを検出し入射信号と反射信号を発生
する2つの光検出器と、前記人IR信号と前記反射信号
の中から1つを選択する選択器と、前記選択器の出力を
ディジタル信号に変換するA/D変換器と、前記ディジ
タル信号を記憶する記憶部と、入出力装置を備え、位置
信号と回転角信号を記憶する制御部とを含んで構成され
る。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
第1図に示すレジスト膜厚検査装置は、ターンテーブル
1と、ターンテーブル回転駆動部2と、エンコーダ3と
、ステージ4と、ステージ5と、位置検出器6と、レー
ザ7と、光学系8と、光検出器9,10と、選択器11
と、A/D変換部12と、記憶部13と、制(至)部1
4と、キーボード15と、表示出力部16とを含んでい
る口 ここでターンテーブルlは、被測定物のレジストをコー
ティングした光デイスク原盤を載せる台である。ターン
テーブル回転駆動12#:t、ターンテーブルlを回転
する@エンコーダ3は、ターンテーブル1回転角を等角
度に分割する回転角1号aを発生する0ステージ4は、
光学系8が固定される。ステージ駆動部5は、ターンテ
ーブル1の半径方向へステージ4を移動する。位置検出
器6は、ターンテーブル10回転中心からステージ4ま
での距離を検出し位置(i号すを発生する。
レーザ7は、レーザビームCを発生する。光学系8は、
レーザビームCを2本のビームに分離し、1本をターン
デープル1上の被測定物に導く。被測定物に導かれたビ
ームは、被測定物で反射し、反射ビームeになる。もう
一方は、被測定物に入射したビームの光量を検出するた
めに用いられる入射ビームベンこなる。
光検出器9.10ri、入射ビームdと反射ビームeを
各々区気信号に変換し入射信号fと反射信号gを発生す
る。
選択器11Tri、後記セレクト信号りに従い、入射信
号fと反射信号gの中から1つを選択し出力する。
λ/D変換部12は、選択器11の出力を後記タイミン
グ信号にのタイミングでA/D変換し、A/Dデータi
を発生する〇 記憶部13はA/Dデータiを記憶する。
制御11114H1人出力装置としてキーボード15と
表示出力部16を備えている。キーボード15によって
人力された測定条件に基づいて回転角信gaと位115
号すからセレクト15号りとタイミング1d号kt−発
生する。lた測定終了後、キーボード15によって人力
された出力形式に基ついて測定結果から膜厚1直を算出
し表示出力部16VC出力する。
第2図〜第5図σ出力形式の例である。
第2図は、被測定物の半径方向における膜厚値変化を折
れ腺グラフで表示している。
第3図は、仮測定物の円周方向におけるIA厚直値変化
折れ巌グラフで表示している。
第4図は、測定結果が規格外であった位置を分布図とし
て表示している。
第5図は、測定結果が規格外であった位置と膜厚データ
を表示している。
〔発明の効果〕
本発明のレジスト遍厚検査装置1ILri、測定値をデ
ィジタル化し蓄積することによシ、データの分析が容易
になシ、グラフ、分布図等を作成でさるという効果があ
る。また、膜厚値を反射信号と入射信号から算出してい
るので反射信号と入射信号が正常な範囲内であるかどう
かチエ、りできるという効果がある〇 レフト信号、i・・・・・・A/Dデータ、k・・・・
・・タイばング信号、!・・・・・・反射率信号。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ターンテーブルと、前記ターンテーブルを回転するター
    ンテーブル回転駆動部と、前記ターンテーブルの回転角
    を等角度に分割する回転角信号を発生するエンコーダと
    、前記ターンテーブルの半径方向へ移動できるステージ
    と、前記ステージを駆動するステージ駆動部と、前記タ
    ーンテーブルの回転中心から前記ステージまでの距離を
    検出し位置信号を発生する位置検出器と、レーザビーム
    を発生するレーザと、前記レーザビームを前記ターンテ
    ーブルへ導く光学系と、前記ターンテーブルへ入射する
    レーザビームと反射するレーザビームを検出し入射信号
    と反射信号を発生する2つの光検出器と、前記入射信号
    と前記反射信号の中から1つを選択する選択器と、前記
    選択器の出力をディジタル信号に変換するA/D変換器
    と、前記ディジタル信号を記憶する記憶部と、入出力装
    置を備え位置信号と回転角信号を記憶する制御部とを含
    むことを特徴とするレジスト膜厚検査装置。
JP63195111A 1988-08-03 1988-08-03 レジスト膜厚検査装置 Expired - Fee Related JPH06103172B2 (ja)

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JPH0244206A true JPH0244206A (ja) 1990-02-14
JPH06103172B2 JPH06103172B2 (ja) 1994-12-14

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021032896A (ja) * 2019-08-26 2021-03-01 シュトゥルム マシーネン ウント アラゲンバウ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングSturm Maschinen− & Anlagenbau GmbH センサ・デバイス

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021032896A (ja) * 2019-08-26 2021-03-01 シュトゥルム マシーネン ウント アラゲンバウ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングSturm Maschinen− & Anlagenbau GmbH センサ・デバイス
US11549802B2 (en) 2019-08-26 2023-01-10 Sturm Maschinen- & Anlagenbau Gmbh Sensor device for examining the coating of a disc

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JPH06103172B2 (ja) 1994-12-14

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