JPH0249648B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0249648B2 JPH0249648B2 JP58144648A JP14464883A JPH0249648B2 JP H0249648 B2 JPH0249648 B2 JP H0249648B2 JP 58144648 A JP58144648 A JP 58144648A JP 14464883 A JP14464883 A JP 14464883A JP H0249648 B2 JPH0249648 B2 JP H0249648B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mirror
- light
- dew point
- detectors
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/56—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content
- G01N25/66—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content by investigating dew-point
- G01N25/68—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content by investigating dew-point by varying the temperature of a condensing surface
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(1) 発明の分野
この発明は、ミラーを用いた光学式の露点計に
関するものである。
関するものである。
(2) 従来技術
従来、光学式の露点計は、光源からの光をミラ
ーに照射し、このミラーを冷却手段で冷却してミ
ラー表面を結露させ、ミラーの反射光量変化を検
出器で検出し、このときのミラーの温度から露点
を検出していた。
ーに照射し、このミラーを冷却手段で冷却してミ
ラー表面を結露させ、ミラーの反射光量変化を検
出器で検出し、このときのミラーの温度から露点
を検出していた。
しかしながら、ミラーの表面が汚れると、検出
誤差を招き、ミラーの汚れの除去に多くの手間を
要するものであつた。
誤差を招き、ミラーの汚れの除去に多くの手間を
要するものであつた。
(3) 発明の目的
この発明の目的は、以上の点に鑑み、２色測定
により、ミラーの汚れの影響を受けない露点計を
提供することである。
により、ミラーの汚れの影響を受けない露点計を
提供することである。
(4) 発明の実施例
第１図は、この発明の一実施例を示す構成説明
図である。
図である。
図において、１は光源、２は光源１からの光を
反射するミラー、３はミラー２からの光を分割す
るハーフミラーのような光分岐手段、４１，４２
は光分岐手段３により分離された光を受ける互い
に異なつた波長の光を透過させるフイルタ、５
１，５２はフイルタ４１，４２よりの光を入射し
２波長に対応した信号を発生する検出器、６は検
出器５１，５２の２つの信号の比率を演算し、温
度制御手段７を介してミラー２の温度を制御する
演算手段、８はミラー７の温度を測定し露点を検
出する温度センサである。
反射するミラー、３はミラー２からの光を分割す
るハーフミラーのような光分岐手段、４１，４２
は光分岐手段３により分離された光を受ける互い
に異なつた波長の光を透過させるフイルタ、５
１，５２はフイルタ４１，４２よりの光を入射し
２波長に対応した信号を発生する検出器、６は検
出器５１，５２の２つの信号の比率を演算し、温
度制御手段７を介してミラー２の温度を制御する
演算手段、８はミラー７の温度を測定し露点を検
出する温度センサである。
つまり、ミラー２が結露していない場合、光源
１からの光はミラー２を反射し、光分岐手段３、
フイルタ４１，４２を介し検出器５１，５２に入
射し、２波長に対応した信号E1，E2を発生させ
る。この２つの信号の比率E0＝E1／E2を演算手
段６でとり、温度制御手段７を介してミラー２を
冷却し、ミラー２が結露するまで冷却を続ける。
そしてミラー２が結露し、その反射率が大きく変
化し、検出器５１，５２、演算手段６の出力が大
きく変化して結露信号を出力したとき、温度セン
サ８で結露温度、露点Ｔを検出する。
１からの光はミラー２を反射し、光分岐手段３、
フイルタ４１，４２を介し検出器５１，５２に入
射し、２波長に対応した信号E1，E2を発生させ
る。この２つの信号の比率E0＝E1／E2を演算手
段６でとり、温度制御手段７を介してミラー２を
冷却し、ミラー２が結露するまで冷却を続ける。
そしてミラー２が結露し、その反射率が大きく変
化し、検出器５１，５２、演算手段６の出力が大
きく変化して結露信号を出力したとき、温度セン
サ８で結露温度、露点Ｔを検出する。
ところで、ミラー２が汚れ、検出器５１，５２
の出力がそれぞれkE1，kE2（ｋは汚れ等に起因す
る係数）となつたとする。演算手段６はこれらの
比率をとるため、その出力はE0＝kE1／kE2＝
E1／E2で一定なものとなり、汚れの影響は除去
され、汚れによる露点変動を補正し常に正しい露
点を計測できることになる。
の出力がそれぞれkE1，kE2（ｋは汚れ等に起因す
る係数）となつたとする。演算手段６はこれらの
比率をとるため、その出力はE0＝kE1／kE2＝
E1／E2で一定なものとなり、汚れの影響は除去
され、汚れによる露点変動を補正し常に正しい露
点を計測できることになる。
また、検出器５１，５２の少くとも一方の出力
kE1，kE2の変化から、ミラー２の汚れに関する
情報を得て外部に出力することもできる。
kE1，kE2の変化から、ミラー２の汚れに関する
情報を得て外部に出力することもできる。
第２図ａ，ｂは、ミラー２の一実施例を示す構
成説明図で、ミラー２の表面に白金等の温度セン
サ膜２１を形成し、裏面にニクロム等のヒータ膜
２２を形成して小型化を図り、ミラー２の上下面
における温度分布をより少なくし、精密な露点測
定を可能としている。なお、温度センサ膜２１の
上面に透明なSiO等の保護膜２３を形成してもよ
く、温度センサ膜２１のパターンは、棒状、くし
形状、らせん形状等種々の形状が考えられる。
成説明図で、ミラー２の表面に白金等の温度セン
サ膜２１を形成し、裏面にニクロム等のヒータ膜
２２を形成して小型化を図り、ミラー２の上下面
における温度分布をより少なくし、精密な露点測
定を可能としている。なお、温度センサ膜２１の
上面に透明なSiO等の保護膜２３を形成してもよ
く、温度センサ膜２１のパターンは、棒状、くし
形状、らせん形状等種々の形状が考えられる。
(5) 発明の要約
以上述べたように、この発明は、ミラーからの
光源光を検出器により受光して２波長に対応した
信号を発生し、演算手段によりその比率をとるよ
うにした露点計である。
光源光を検出器により受光して２波長に対応した
信号を発生し、演算手段によりその比率をとるよ
うにした露点計である。
(6) 発明の効果
２色比率演算を行つているので、ミラーの汚れ
等による影響は除去され、常に安定した測定が可
能となる。またミラーにセンサ膜、ヒータ膜を形
成して小型化を図れば、より高精度な露点測定が
可能となる。
等による影響は除去され、常に安定した測定が可
能となる。またミラーにセンサ膜、ヒータ膜を形
成して小型化を図れば、より高精度な露点測定が
可能となる。
第１図、第２図は、この発明の一実施例を示す
構成説明図である。 １……光源、２……ミラー、３……光分岐手
段、４１，４２……フイルタ、５１，５２……検
出器、６……演算手段、７……温度制御手段、８
……温度センサ。
構成説明図である。 １……光源、２……ミラー、３……光分岐手
段、４１，４２……フイルタ、５１，５２……検
出器、６……演算手段、７……温度制御手段、８
……温度センサ。
Claims (1)
- １ 光源からの光を反射する表面に温度センサ膜
を形成し裏面にヒータ膜を形成したミラーと、こ
のミラーからの光を受光し異なる２波長に対応し
た信号を発生する異つた波長の光を透過させる複
数のフイルタを各々前面に有する２個の検出器
と、この検出器の異なる２波長に対応した２つの
信号の比率を演算しミラーのヒータ温度を制御す
る演算手段とを備えたことを特徴とする露点計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14464883A JPS6035249A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 露点計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14464883A JPS6035249A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 露点計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6035249A JPS6035249A (ja) | 1985-02-23 |
| JPH0249648B2 true JPH0249648B2 (ja) | 1990-10-30 |
Family
ID=15366960
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14464883A Granted JPS6035249A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 露点計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6035249A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04124552U (ja) * | 1991-04-30 | 1992-11-13 | 東海興業株式会社 | 自動車用サイドモール |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02156574A (ja) * | 1988-12-08 | 1990-06-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 結露検知素子 |
| CN116263269A (zh) * | 2022-12-16 | 2023-06-16 | 宁波惠康实业有限公司 | 一种电气舱空调防电器件结露的方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS625642Y2 (ja) * | 1980-12-15 | 1987-02-09 | ||
| JPS57101952A (en) * | 1980-12-17 | 1982-06-24 | Hitachi Ltd | Bus tracer |
| JPS57108144U (ja) * | 1980-12-25 | 1982-07-03 |
-
1983
- 1983-08-08 JP JP14464883A patent/JPS6035249A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04124552U (ja) * | 1991-04-30 | 1992-11-13 | 東海興業株式会社 | 自動車用サイドモール |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6035249A (ja) | 1985-02-23 |
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