JPS6035249A - 露点計 - Google Patents

露点計

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Publication number
JPS6035249A
JPS6035249A JP14464883A JP14464883A JPS6035249A JP S6035249 A JPS6035249 A JP S6035249A JP 14464883 A JP14464883 A JP 14464883A JP 14464883 A JP14464883 A JP 14464883A JP S6035249 A JPS6035249 A JP S6035249A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirror
light
ratio
dew point
detectors
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP14464883A
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English (en)
Other versions
JPH0249648B2 (ja
Inventor
Isao Hishikari
功 菱刈
Tetsuo Kobari
小針 哲郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chino Corp
Original Assignee
Chino Works Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Chino Works Ltd filed Critical Chino Works Ltd
Priority to JP14464883A priority Critical patent/JPS6035249A/ja
Publication of JPS6035249A publication Critical patent/JPS6035249A/ja
Publication of JPH0249648B2 publication Critical patent/JPH0249648B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N25/00Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G01N25/56Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content
    • G01N25/66Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content by investigating dew-point
    • G01N25/68Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content by investigating dew-point by varying the temperature of a condensing surface

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (1)発明の分野 この発明は、ミラーを用いた光学式の露点計に関するも
のである。
(2)従来技術 従来、光学式の露点計は、光源からの光をミラーに照射
し、このミラーを冷却手段で冷却してミラー表面を結露
させ、ミラーの反射光量変化を検出器で検出し、このと
きのミラーの温度から露点を検出していた。
しかしながら、ミラーの表面が汚れると、検出誤差を招
き、ミラーの汚れの除去に多くの手間を要するものであ
った。
(3)発明の目的 この発明の目的は2以上の点に鑑み、2色測定により、
ミラーの汚れの影響を受けない露点計を提供することで
ある。
(4)発明の実施例 第1図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
図において、1は光源、2は光源1からの光を反射する
ミラー、3はミラー2からの光を分割するハーフミラ−
のような光分岐手段、 41 、42は光分岐手段3に
より分離された光を受ける互いに異なった波長の光を透
過させるフィルタ、 51 、52はフィルタ41 、
42よりの光を入射し2波長に対応した信号を発生する
検出器、6は検出器51 、52の2つの信号の比率を
演算し、温度制御手段7を介しでミラー2の温度を制御
する演算手段、8はミ2−7の温度を測定し露点を検出
する温度センナである。
つまり、ミラー2が結露していない場合、光源lからの
光はミ2−2を反射し、光分岐手段3゜フィルタ41 
、42を介し検出器51 、52に入射し、2波長に対
応した信号El、 Ezを発生させる。この2つの信号
の比率Eo = El / Ezを演算手段6でとり。
温度制御手段7を介してミラー2を冷却し、ミ2を検出
する。
ところで、ミラー2が汚れ、検出器51 、52の出力
がそれぞれkEl、kE2(kは汚れ等に起因する係数
)となったとする。演算手段6はこれらの比率をとるた
め、その出力はEo = kEt /kEz =E1 
/E2で一定なものとなり、汚れの影響は除去され、汚
れによる露点変動を補正し常に正しい露点を計測また。
検出器51 、52の少くとも一方の出力kE1゜kE
2の変化から、ミラー2の汚れに関する情報を得て外部
に出力することもできる。
第2図(a) 、 (b)は、ミラー2の一実施例を示
す構成説明図で、ミラー2の表面に白金等の温度センサ
膜21を形成し、裏面にニクロム等のヒータ膜22を形
成して小型化を図す、ミラー2の上下面における温度分
布をより少なくシ、精密な露点測定を可能としている。
なお、温度センサ膜21の上面に透明なSiO等の保護
膜23を形成してもよく、温度センサ膜21のパターン
は、棒状、<シ形状、らせん形状等積々の形状が考えら
れる。
(5)発明の要約 以上述べたように、この発明は、ミラーからの光源光を
検出器により受光して2波長に対応した信号を発生し、
演算手段によりその比率をとるようにした露点計である
(6)発明の効果 2色比率演算を行っているので、ミラーの汚れ等による
影響は除去され、常に安定した測定が可能となる。また
ミラーにセンサX、ヒータ膜を形成して小型化を図れば
、より高精度な露点測定が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は、この発明の一実施例を示す構成説明
図である。 1・・・光源、2・・・ミラー、3・・・光分岐手段、
41゜42・・・フィルタ、51.52・・・検出器、
6・・・演算手段。 7・・・温度制御手段、8・・・温度センサ特許出願人
 株式会社 千野製作所

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 工、 光源からの光を反射するミラーと、このミラーか
    らの光を受光し2波長に対応した信号を発生する検出器
    と、この検出器の2つの信号の比率を演算しミラーの温
    度を制御する演算手段とを備えたことを特徴とする露点
    計。 2 前記ミラーとして1表面に温度上ンサ膜を形成し裏
    面にヒータ膜を形成したものを用いたことを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の露点計。
JP14464883A 1983-08-08 1983-08-08 露点計 Granted JPS6035249A (ja)

Priority Applications (1)

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JP14464883A JPS6035249A (ja) 1983-08-08 1983-08-08 露点計

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14464883A JPS6035249A (ja) 1983-08-08 1983-08-08 露点計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6035249A true JPS6035249A (ja) 1985-02-23
JPH0249648B2 JPH0249648B2 (ja) 1990-10-30

Family

ID=15366960

Family Applications (1)

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JP14464883A Granted JPS6035249A (ja) 1983-08-08 1983-08-08 露点計

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH02156574A (ja) * 1988-12-08 1990-06-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 結露検知素子
CN116263269A (zh) * 2022-12-16 2023-06-16 宁波惠康实业有限公司 一种电气舱空调防电器件结露的方法

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JPS57101952A (en) * 1980-12-17 1982-06-24 Hitachi Ltd Bus tracer
JPS57108144U (ja) * 1980-12-25 1982-07-03

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