JPH025404Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH025404Y2 JPH025404Y2 JP9842082U JP9842082U JPH025404Y2 JP H025404 Y2 JPH025404 Y2 JP H025404Y2 JP 9842082 U JP9842082 U JP 9842082U JP 9842082 U JP9842082 U JP 9842082U JP H025404 Y2 JPH025404 Y2 JP H025404Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sedimentation
- concentration
- particle size
- size distribution
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 50
- 238000004062 sedimentation Methods 0.000 claims description 38
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 26
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 20
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 3
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は粒度分布測定装置に関し、更に詳しく
は、媒溶液中に供試粒体を均一に分散させて遠心
力下で沈降させ、ある沈降距離のところで媒溶液
中供試粒体濃度を測定し、粒子径に関する沈降速
度の相違を利用して、濃度の時間的変化から供試
粒体の粒度分布を測定する、いわゆる遠心沈降法
による粒度分布測定装置に関する。
は、媒溶液中に供試粒体を均一に分散させて遠心
力下で沈降させ、ある沈降距離のところで媒溶液
中供試粒体濃度を測定し、粒子径に関する沈降速
度の相違を利用して、濃度の時間的変化から供試
粒体の粒度分布を測定する、いわゆる遠心沈降法
による粒度分布測定装置に関する。
一般に、この種装置においては、濃度検出位置
が一定の一個所である為、沈降速度の大きな粒子
（粒径の大きな粒子）は速く沈降し過ぎて検出し
得かつたり、沈降速度の小さな粒子（粒径の小さ
な粒子）は濃度検出位置まで沈降するに要する時
間が長いという問題点がある。従来、この問題点
を解決するために濃度検出器を沈降距離の異る複
数個所に設け、沈降速度の大きな粒子を沈降距離
の大きな位置に設けられた濃度検出器でとらえ、
沈降速度の小さな粒子は沈降距離の小さな位置に
設けられた濃度検出器によつてとらえるという工
夫がなされていた。この様にすることによつて、
１種類の供試粒体について同時に沈降距離の異る
位置での濃度信号が得られ、沈降速度の大きな粒
子でも正確に分布を得ることができ、かつ、沈降
速度の小さな粒子も短時間でその分布を測定する
ことができるようになつた。しかし、この様な従
来装置では、濃度検出器が複数個必要であり、必
然的に装置の大形化、調整の複雑化及び価格の上
昇という欠点が生ずる。
が一定の一個所である為、沈降速度の大きな粒子
（粒径の大きな粒子）は速く沈降し過ぎて検出し
得かつたり、沈降速度の小さな粒子（粒径の小さ
な粒子）は濃度検出位置まで沈降するに要する時
間が長いという問題点がある。従来、この問題点
を解決するために濃度検出器を沈降距離の異る複
数個所に設け、沈降速度の大きな粒子を沈降距離
の大きな位置に設けられた濃度検出器でとらえ、
沈降速度の小さな粒子は沈降距離の小さな位置に
設けられた濃度検出器によつてとらえるという工
夫がなされていた。この様にすることによつて、
１種類の供試粒体について同時に沈降距離の異る
位置での濃度信号が得られ、沈降速度の大きな粒
子でも正確に分布を得ることができ、かつ、沈降
速度の小さな粒子も短時間でその分布を測定する
ことができるようになつた。しかし、この様な従
来装置では、濃度検出器が複数個必要であり、必
然的に装置の大形化、調整の複雑化及び価格の上
昇という欠点が生ずる。
本考案は上記に鑑みなされたものであつて、１
個の濃度検出器によつて同時に上述の如き沈降距
離の異る位置での濃度信号を得ることができ、か
つ、それら信号を用いて積算形粒度分布曲線を短
時間に得られるほか微分形粒度分布曲線をも求め
ることができる粒度分布測定装置の提供を目的と
する。
個の濃度検出器によつて同時に上述の如き沈降距
離の異る位置での濃度信号を得ることができ、か
つ、それら信号を用いて積算形粒度分布曲線を短
時間に得られるほか微分形粒度分布曲線をも求め
ることができる粒度分布測定装置の提供を目的と
する。
本考案の特徴とするところは、媒溶液中に均一
に分散させた供試粒体を密封して遠心力を付与す
る為の沈降容器を複数個備え、１個の濃度検出器
によつてその複数個の沈降容器内の粒子濃度を別
個にとらえ、各沈降容器内の溶液液面位を異なら
しめることによつて上述の如き沈降距離の異る位
置での濃度信号を同時に得るようにしたことにあ
り、短時間に積算形粒度分布曲線を得るほか、更
に、それら信号を引算する回路を設け微分形の粒
度分曲線を得るようにしたことにある。
に分散させた供試粒体を密封して遠心力を付与す
る為の沈降容器を複数個備え、１個の濃度検出器
によつてその複数個の沈降容器内の粒子濃度を別
個にとらえ、各沈降容器内の溶液液面位を異なら
しめることによつて上述の如き沈降距離の異る位
置での濃度信号を同時に得るようにしたことにあ
り、短時間に積算形粒度分布曲線を得るほか、更
に、それら信号を引算する回路を設け微分形の粒
度分曲線を得るようにしたことにある。
以下、図面に基づいて本考案実施例を説明す
る。
る。
第１図は本考案実施例の構成図であり、第２図
はその回転円盤３の正面図である。
はその回転円盤３の正面図である。
媒溶液中に均一に分散させた供試粒体を密封す
る第１および第２の沈降容器１ａおよび１ｂは、
モータ２の回転軸に取り付けられた回転円盤３に
互いに回転中心を挟んで相対する位置に装着され
ている。回転円盤の回転中心Ｏから所定距離R2
のところに、沈降容器１ａおよび１ｂを横切る光
を発する濃度検出用光源４およびその光を受けて
電気量に変換して出力する濃度検出用受光部５が
設けられている。この濃度検出用光源４と濃度検
出用受光部５は、光透過法によつて各沈降容器１
ａ，１ｂ内の媒溶液中供試粒体濃度を検出する。
濃度検出用受光部５の出力はプリアンプ６を介し
て信号弁別スイツチ７に導入される。一方、モー
タ２の回転軸には沈降容器位置検出円盤８が固着
され、この容器位置検出円盤８には第１および第
２の沈降容器１ａおよび１ｂがそれぞれ濃度検出
用光源５の光線を横切る位置に来たときに位置検
出用光源９からの光が位置検出用受光部１０に入
射されるような位置に孔が穿たれている。従つ
て、位置検出用受光部１０は、各沈降容器１ａ，
１ｂがそれぞれ濃度検出位置に到来したときに検
出信号を発し、その検出信号を信号弁別スイツチ
７に導入することによつて、第１および第２の沈
降容器１ａおよび１ｂ内の媒溶液中供試粒体濃度
信号は、それぞれの濃度信号に弁別されてそれぞ
れ第１および第２のアンプ１１ａおよび１１ｂに
供給される様構成されている。第１および第２の
アンプ１１ａおよび１１ｂの出力は、それぞれ独
立して２ペンコーダ１２に導入されるとともに、
引算回路１３に導入され、引算回路１３は第１の
アンプ１１ａの出力から第２のアンプ１１ｂの出
力を引算してレコーダ１４に出力する。
る第１および第２の沈降容器１ａおよび１ｂは、
モータ２の回転軸に取り付けられた回転円盤３に
互いに回転中心を挟んで相対する位置に装着され
ている。回転円盤の回転中心Ｏから所定距離R2
のところに、沈降容器１ａおよび１ｂを横切る光
を発する濃度検出用光源４およびその光を受けて
電気量に変換して出力する濃度検出用受光部５が
設けられている。この濃度検出用光源４と濃度検
出用受光部５は、光透過法によつて各沈降容器１
ａ，１ｂ内の媒溶液中供試粒体濃度を検出する。
濃度検出用受光部５の出力はプリアンプ６を介し
て信号弁別スイツチ７に導入される。一方、モー
タ２の回転軸には沈降容器位置検出円盤８が固着
され、この容器位置検出円盤８には第１および第
２の沈降容器１ａおよび１ｂがそれぞれ濃度検出
用光源５の光線を横切る位置に来たときに位置検
出用光源９からの光が位置検出用受光部１０に入
射されるような位置に孔が穿たれている。従つ
て、位置検出用受光部１０は、各沈降容器１ａ，
１ｂがそれぞれ濃度検出位置に到来したときに検
出信号を発し、その検出信号を信号弁別スイツチ
７に導入することによつて、第１および第２の沈
降容器１ａおよび１ｂ内の媒溶液中供試粒体濃度
信号は、それぞれの濃度信号に弁別されてそれぞ
れ第１および第２のアンプ１１ａおよび１１ｂに
供給される様構成されている。第１および第２の
アンプ１１ａおよび１１ｂの出力は、それぞれ独
立して２ペンコーダ１２に導入されるとともに、
引算回路１３に導入され、引算回路１３は第１の
アンプ１１ａの出力から第２のアンプ１１ｂの出
力を引算してレコーダ１４に出力する。
次にこの本考案実施例の作用を、使用方法とと
もに述べる。
もに述べる。
まず、供試粒体を媒溶液中に均一に分散させた
溶液を、第１および第２の沈降容器１ａおよび１
ｂに密封するが、このときの封入量はそれぞれ異
る量とし、第２図に示す如く回転中心Ｏからそれ
ぞれの溶液液面までの距離をそれぞれR1(A)およ
びR1(B)として記録しておく。次にモータ２を回
転すると第１および第２の沈降容器１ａおよび１
ｂは濃度検出用光源４からの光線を交互に横切
り、濃度検出用受光部５からの濃度信号は信号弁
別スイツチ７でそれぞれ第１および第２の沈降容
器１ａおよび１ｂ内の濃度信号に弁別されて第１
および第２のアンプ１１ａおよび１１ｂに導入さ
れる。ここで、回転場で粒子が沈降するとき、回
転中心から液面までの距離をR1、回転中心から
検出点までの距離をR2、沈降開始点からの時間
をＴ、Ｋを定数とすると、検出点を通過し終える
粒子径DPは次式で求めることができる。
溶液を、第１および第２の沈降容器１ａおよび１
ｂに密封するが、このときの封入量はそれぞれ異
る量とし、第２図に示す如く回転中心Ｏからそれ
ぞれの溶液液面までの距離をそれぞれR1(A)およ
びR1(B)として記録しておく。次にモータ２を回
転すると第１および第２の沈降容器１ａおよび１
ｂは濃度検出用光源４からの光線を交互に横切
り、濃度検出用受光部５からの濃度信号は信号弁
別スイツチ７でそれぞれ第１および第２の沈降容
器１ａおよび１ｂ内の濃度信号に弁別されて第１
および第２のアンプ１１ａおよび１１ｂに導入さ
れる。ここで、回転場で粒子が沈降するとき、回
転中心から液面までの距離をR1、回転中心から
検出点までの距離をR2、沈降開始点からの時間
をＴ、Ｋを定数とすると、検出点を通過し終える
粒子径DPは次式で求めることができる。
DP＝ｋ（１／Ｔ）log（R2／R1）
第１および第２の沈降容器１ａおよび１ｂにつ
いて、上式においてR2は同一であるが、R1はそ
れぞれR1(A)およびR1(B)と異らしめているので、
ある経過時間Ｔでの両者の濃度信号は、第１の沈
降容器１ａについてはDP(A)なる粒径の粒子より
小さな径の粒子濃度であり、第２沈降容器１ｂに
ついてはDP(B)なる粒径の粒子より小さな径の粒
子の濃度ということになる。第１および第２のア
ンプ１１ａおよび１１ｂからの濃度信号を、引算
回路１３によつて引算すると、ある経過時間Ｔに
おけるDP(A)とDP(B)の粒子区間に存在する粒子量
が得られたことになる。これを連続的に求めてレ
コーダ１４に記録すれば、粒子径区間ごとに存在
する粒子量の分布曲線、すなわち微分形粒度分布
曲線を得る。一方、第１および第２のアンプ１１
ａおよび１１ｂの出力を２ペンレコーダ１２によ
つてそれぞれ独立して時間経過に従つて記録すれ
ば、同時に沈降距離の異る位置での濃度信号を得
ることができ、前述した濃度検出器を２個設けた
場合と同様な結果を、すなわち短時間に積算形の
粒度分布曲線も得ることができる。
いて、上式においてR2は同一であるが、R1はそ
れぞれR1(A)およびR1(B)と異らしめているので、
ある経過時間Ｔでの両者の濃度信号は、第１の沈
降容器１ａについてはDP(A)なる粒径の粒子より
小さな径の粒子濃度であり、第２沈降容器１ｂに
ついてはDP(B)なる粒径の粒子より小さな径の粒
子の濃度ということになる。第１および第２のア
ンプ１１ａおよび１１ｂからの濃度信号を、引算
回路１３によつて引算すると、ある経過時間Ｔに
おけるDP(A)とDP(B)の粒子区間に存在する粒子量
が得られたことになる。これを連続的に求めてレ
コーダ１４に記録すれば、粒子径区間ごとに存在
する粒子量の分布曲線、すなわち微分形粒度分布
曲線を得る。一方、第１および第２のアンプ１１
ａおよび１１ｂの出力を２ペンレコーダ１２によ
つてそれぞれ独立して時間経過に従つて記録すれ
ば、同時に沈降距離の異る位置での濃度信号を得
ることができ、前述した濃度検出器を２個設けた
場合と同様な結果を、すなわち短時間に積算形の
粒度分布曲線も得ることができる。
以上説明したように、本考案によれば、１個の
濃度検出器によつて、複数個の濃度検出器を用い
た場合と同様なる効果が得られ、また、微分形粒
度分布曲線を容易に得ることができ、しかも、大
形化することなく、調整が簡単で、かつ、安価に
提供することが可能となつた。
濃度検出器によつて、複数個の濃度検出器を用い
た場合と同様なる効果が得られ、また、微分形粒
度分布曲線を容易に得ることができ、しかも、大
形化することなく、調整が簡単で、かつ、安価に
提供することが可能となつた。
第１図は本考案実施例の構成図、第２図はその
回転円盤の正面図である。 １ａ，１ｂ……第１および第２の沈降容器、３
……回転円盤、４……濃度検出用光源、５……濃
度検出用受光部、７……信号弁別スイツチ、８…
…容器位置検出円盤、１２……２ペンレコーダ、
１３……引算回路、１４……レコーダ。
回転円盤の正面図である。 １ａ，１ｂ……第１および第２の沈降容器、３
……回転円盤、４……濃度検出用光源、５……濃
度検出用受光部、７……信号弁別スイツチ、８…
…容器位置検出円盤、１２……２ペンレコーダ、
１３……引算回路、１４……レコーダ。
Claims (1)
- 媒溶液中に均一に分散させた供試粒体を沈降容
器内に密封して遠心力下で沈降させ、一定の沈降
距離のところに上記沈降容器内の媒溶液中供試粒
体濃度を検出する手段を設け、その濃度の時間的
変化によつて供試粒体の粒度分布を測定する装置
において、上記沈降容器を複数個有し、上記濃度
検出手段からの検出信号を上記複数個の沈降容器
それぞれの濃度信号に弁別する手段と、その弁別
された複数個の濃度信号を入力とする引算回路を
備え、上記複数個の沈降容器内の溶液液面位を異
らしめることによつて、同時に複数個の異る沈降
距離についての濃度を検出し、その複数個の濃度
を独立的に用いて同時に供試粒体の粒度分布を測
定し得るとともに、上記複数個の濃度信号を上記
引算回路に導入して微分形粒度分布曲線を求め得
るよう構成したことを特徴とする粒度分布測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9842082U JPS593350U (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 粒度分布測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9842082U JPS593350U (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 粒度分布測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS593350U JPS593350U (ja) | 1984-01-10 |
| JPH025404Y2 true JPH025404Y2 (ja) | 1990-02-08 |
Family
ID=30233677
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9842082U Granted JPS593350U (ja) | 1982-06-30 | 1982-06-30 | 粒度分布測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS593350U (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0695069B2 (ja) * | 1985-09-30 | 1994-11-24 | 株式会社島津製作所 | 遠心沈降式粒度分布測定方法 |
-
1982
- 1982-06-30 JP JP9842082U patent/JPS593350U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS593350U (ja) | 1984-01-10 |
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