JPH0258595B2 - - Google Patents
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- JPH0258595B2 JPH0258595B2 JP54062285A JP6228579A JPH0258595B2 JP H0258595 B2 JPH0258595 B2 JP H0258595B2 JP 54062285 A JP54062285 A JP 54062285A JP 6228579 A JP6228579 A JP 6228579A JP H0258595 B2 JPH0258595 B2 JP H0258595B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gate
- word
- sequence
- spectrometer
- digital
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は一般的にNMR分光に関するもの
で、特にNMR分光装置におけるデータ取込みと
コントロールの面に関する。
で、特にNMR分光装置におけるデータ取込みと
コントロールの面に関する。
[従来の技術と課題]
フーリエ変換法によるNMR分光は実り多い解
析的技法であることが証明されてきた。このよう
な装置は方法上の必要を満たし、柔軟性を維持す
るために事実上コンピユータを基礎としたシステ
ムを強要する。
析的技法であることが証明されてきた。このよう
な装置は方法上の必要を満たし、柔軟性を維持す
るために事実上コンピユータを基礎としたシステ
ムを強要する。
現代のフーリエ変換分光器は以下のものを供給
する能力を持つ、それは位相や持続時間やパルス
間隔を変化しうる研究対象の試料に加える励起パ
ルスであり、またデカツプリング・パルス、均一
劣化パルスのような補助的トランジエントであ
り、さらに受信器と送信器のゲーテイング、アナ
ログからデジタルへの変換命令などのコントロー
ル機能である。
する能力を持つ、それは位相や持続時間やパルス
間隔を変化しうる研究対象の試料に加える励起パ
ルスであり、またデカツプリング・パルス、均一
劣化パルスのような補助的トランジエントであ
り、さらに受信器と送信器のゲーテイング、アナ
ログからデジタルへの変換命令などのコントロー
ル機能である。
これらの操作はデータのありのままの取込みを
与えるだけである。時間平均、蓄積、時間領域へ
の変換、バツクグラウンド解析、オンライン表示
そしてハード・コピー出力は必然的に計算上の労
力を必要とするもう一つ別のクラスに入る操作で
ある。データの評価や解釈、データと理論の比較
そして他の高度な操作においてはさらに進んだデ
ータ処理が必要となる。
与えるだけである。時間平均、蓄積、時間領域へ
の変換、バツクグラウンド解析、オンライン表示
そしてハード・コピー出力は必然的に計算上の労
力を必要とするもう一つ別のクラスに入る操作で
ある。データの評価や解釈、データと理論の比較
そして他の高度な操作においてはさらに進んだデ
ータ処理が必要となる。
従来の技術では、これらの操作のクラスは一個
のプロセツサーを用いた割込みを基礎としたシス
テム構成により供給されるのが最も普通であり、
このプロセツサーは進行中の仕事がより高位の優
先度を要求する仕事によつて割込まれるとその仕
事を行い、それが終了すると、割込み前の状態に
回復し、元の仕事に復帰する。
のプロセツサーを用いた割込みを基礎としたシス
テム構成により供給されるのが最も普通であり、
このプロセツサーは進行中の仕事がより高位の優
先度を要求する仕事によつて割込まれるとその仕
事を行い、それが終了すると、割込み前の状態に
回復し、元の仕事に復帰する。
このような装置の効率は優先順位をどのように
指定したとしても如何なる仕事に対しても決して
最大にはならず、このようなシステムを確立し維
持するためにかなりの労力が要求される。
指定したとしても如何なる仕事に対しても決して
最大にはならず、このようなシステムを確立し維
持するためにかなりの労力が要求される。
フーリエ変換分光器は励起−検出サイクルの非
常に多くの繰り返しによつて統計的な精度を上げ
ている。いま取込まれたデジタル化されたデータ
の増加分(実際にはデジタル化された波形)は独
立変数(時間)の値に対応するアドレスにおいて
その前に取込まれた信号に加えられる。この様に
した、平均化された時間領域のスペクトル(又
は、平均化された波形)がメモリー内部で次第に
形をととのえて行く。半導体ランダム・アクセ
ス・メモリー(RAM)部品の導入はこの目的の
ために高速で大容量のメモリーを供給することを
経済的に可能にする。これらの構成要素に対して
は経済性と技術上の特殊性が望まれているけれど
も、現在の半導体RAMは揮発性であつて電源の
事故又は電力の一時的なひどい変化の場合には情
報を維持できない。
常に多くの繰り返しによつて統計的な精度を上げ
ている。いま取込まれたデジタル化されたデータ
の増加分(実際にはデジタル化された波形)は独
立変数(時間)の値に対応するアドレスにおいて
その前に取込まれた信号に加えられる。この様に
した、平均化された時間領域のスペクトル(又
は、平均化された波形)がメモリー内部で次第に
形をととのえて行く。半導体ランダム・アクセ
ス・メモリー(RAM)部品の導入はこの目的の
ために高速で大容量のメモリーを供給することを
経済的に可能にする。これらの構成要素に対して
は経済性と技術上の特殊性が望まれているけれど
も、現在の半導体RAMは揮発性であつて電源の
事故又は電力の一時的なひどい変化の場合には情
報を維持できない。
低強度のスペクトルの形状の測定のための非常
に長いデータ取込み動作は電源に乱れが生じた場
合にはデータの完全な喪失を招くといつてよい。
普通は、このような条件下においてもメモリーの
内容を保存するためにいつでも電力を供給できる
ように用意された電池電源が必要とされる。しか
しこれは、性能を確保するために定期的な保守管
理を必要とし、その上に器械の原価と運転コスト
を増加させる。
に長いデータ取込み動作は電源に乱れが生じた場
合にはデータの完全な喪失を招くといつてよい。
普通は、このような条件下においてもメモリーの
内容を保存するためにいつでも電力を供給できる
ように用意された電池電源が必要とされる。しか
しこれは、性能を確保するために定期的な保守管
理を必要とし、その上に器械の原価と運転コスト
を増加させる。
以前の方法では、NMR分光に用いられるパル
スシーケンスの発生は、いろいろな程度で協力し
て作動するソフトウエアとハードウエアを備えた
デジタルコンピユータによつて、先行するゲート
信号から必要な時間をおき、必要とする保持時間
間隔を持つゲート信号を必要なデバイスに与える
ことによつて行われていた。
スシーケンスの発生は、いろいろな程度で協力し
て作動するソフトウエアとハードウエアを備えた
デジタルコンピユータによつて、先行するゲート
信号から必要な時間をおき、必要とする保持時間
間隔を持つゲート信号を必要なデバイスに与える
ことによつて行われていた。
制御機能とNMR応答の処理の組合わせは、通
常、優先割込みに基づいたコンピユータ・システ
ムにより実施されている。データ取込み速度能力
とデータに対する拡張演算機能の両方においての
明白な制限がそのようなシステムを特徴づけてい
る。このような装置の一般的な記述はShawの
“Fourier Transform NMR Spectroscopy”
(Elsevier Scientific Publishing Company,
1979)の中に見いだすことができる。加えて、割
込みが高い頻度で起こると、時間参照信号に対す
る励起と波形のデジタル化の同期を保持すること
において困難さが生じる。
常、優先割込みに基づいたコンピユータ・システ
ムにより実施されている。データ取込み速度能力
とデータに対する拡張演算機能の両方においての
明白な制限がそのようなシステムを特徴づけてい
る。このような装置の一般的な記述はShawの
“Fourier Transform NMR Spectroscopy”
(Elsevier Scientific Publishing Company,
1979)の中に見いだすことができる。加えて、割
込みが高い頻度で起こると、時間参照信号に対す
る励起と波形のデジタル化の同期を保持すること
において困難さが生じる。
[発明の概要]
本発明の目的はフーリエ変換NMR分光に対し
て改良されたデータ取込み装置を与えることにあ
る。
て改良されたデータ取込み装置を与えることにあ
る。
本発明の一つの特徴では、実時間のデータ取込
みの機能が第一のデジタル・プロセツサーによつ
て制御され、このプロセツサーはNMR分光器を
特色づける状態のシーケンスを発現している。
みの機能が第一のデジタル・プロセツサーによつ
て制御され、このプロセツサーはNMR分光器を
特色づける状態のシーケンスを発現している。
本発明のもう一つの特徴では、分光器のパル
ス・ゲート状態のシーケンスは対応する二進の情
報と共に、FIFOスタツクに連続して蓄えられる
二進ワードによつて表現される。そしてこの二進
の情報は対応する状態の持続時間を指定し、この
状態によつて取込みシーケンスの各状態のタイミ
ング表示が規定される。
ス・ゲート状態のシーケンスは対応する二進の情
報と共に、FIFOスタツクに連続して蓄えられる
二進ワードによつて表現される。そしてこの二進
の情報は対応する状態の持続時間を指定し、この
状態によつて取込みシーケンスの各状態のタイミ
ング表示が規定される。
本発明のさらにもう一つの特徴としては、
FIFOスタツクの内容はマスター・クロツクとカ
ウント・ダウン回路に応答して進められ、この回
路は前記の持続間隔の情報と一致して初期設定さ
れる。さらにこの情報により取込みシーケンスの
時間依存性が前記の第1のプロセツサーの動作と
は独立に実現される。
FIFOスタツクの内容はマスター・クロツクとカ
ウント・ダウン回路に応答して進められ、この回
路は前記の持続間隔の情報と一致して初期設定さ
れる。さらにこの情報により取込みシーケンスの
時間依存性が前記の第1のプロセツサーの動作と
は独立に実現される。
再び、本発明のもう一つの特徴として、デジタ
ル化されたNMR信号は平均化され、二重ポート
揮発性半導体メモリーの第一のポートを通して前
記第1のプロセツサーにより蓄積され、この半導
体メモリーによつて蓄積された時間領域のスペク
トルが形成される。
ル化されたNMR信号は平均化され、二重ポート
揮発性半導体メモリーの第一のポートを通して前
記第1のプロセツサーにより蓄積され、この半導
体メモリーによつて蓄積された時間領域のスペク
トルが形成される。
本発明のさらにもう一つの特徴では、前もつて
決められた数の過渡信号からなる各データブロツ
クの後に、そのブロツクによつて新しくされた累
積時間領域スペクトルは、前記の二重ポート半導
体メモリーの第2のポートを通して取込みシーケ
ンスの決定的なタイミング記録をみだすことなく
不揮発性メモリーに書き込まれ、それによつて累
積データは最新の取込み状態で保存され、データ
の損失は最小に抑えられる。
決められた数の過渡信号からなる各データブロツ
クの後に、そのブロツクによつて新しくされた累
積時間領域スペクトルは、前記の二重ポート半導
体メモリーの第2のポートを通して取込みシーケ
ンスの決定的なタイミング記録をみだすことなく
不揮発性メモリーに書き込まれ、それによつて累
積データは最新の取込み状態で保存され、データ
の損失は最小に抑えられる。
本発明においては、RFパルスの位相、デカツ
プリング・パラメータ、均一性劣化、アナログ−
デジタル変換器のコントロール、ロツク・チヤン
ネル操作、及び送信器と受信器のゲーテイングな
どのような分光器の機能は、それぞれ、専用の取
込みプロセツサーによつて最終的に選択された
各々のゲートによつて制御される。一組のラツチ
からなる出力ポートは、それゆえ、二進のゲート
状態ワードに応じて与えられた任意の時刻におけ
る装置の状態を記述する。そしてこのワードの各
ビツトは分光器の個々の機能を制御する。
プリング・パラメータ、均一性劣化、アナログ−
デジタル変換器のコントロール、ロツク・チヤン
ネル操作、及び送信器と受信器のゲーテイングな
どのような分光器の機能は、それぞれ、専用の取
込みプロセツサーによつて最終的に選択された
各々のゲートによつて制御される。一組のラツチ
からなる出力ポートは、それゆえ、二進のゲート
状態ワードに応じて与えられた任意の時刻におけ
る装置の状態を記述する。そしてこのワードの各
ビツトは分光器の個々の機能を制御する。
ゲート状態のシーケンスとそれらのそれぞれの
持続時間は対応する二進ワードの列の中で指定さ
れる。各ワードはそれぞれのサブ・フイールドの
中で特定の状態とその指定された持続時間を指定
する。これらのワードは、状態のサブ・フイール
ドの内容を出力ポートへ引続き提示するために、
一個のFIFOレジスター内にロードされる。この
FIFOのクロツキングは持続時間又は持続サブ・
フイールドから初期設定されるカウント・ダウン
回路により制御される。その結果、FIFOの内容
はデータ取込みの全サイクルの中の特定の一部分
を指定する。このようなサイクルは、種々の、持
続時間、位相、そしてパルス間隔を持つた励起パ
ルス、受信ゲート信号とデジタル変換命令信号、
デカツプリング・パルス、均一劣化パルスなどか
らなる。
持続時間は対応する二進ワードの列の中で指定さ
れる。各ワードはそれぞれのサブ・フイールドの
中で特定の状態とその指定された持続時間を指定
する。これらのワードは、状態のサブ・フイール
ドの内容を出力ポートへ引続き提示するために、
一個のFIFOレジスター内にロードされる。この
FIFOのクロツキングは持続時間又は持続サブ・
フイールドから初期設定されるカウント・ダウン
回路により制御される。その結果、FIFOの内容
はデータ取込みの全サイクルの中の特定の一部分
を指定する。このようなサイクルは、種々の、持
続時間、位相、そしてパルス間隔を持つた励起パ
ルス、受信ゲート信号とデジタル変換命令信号、
デカツプリング・パルス、均一劣化パルスなどか
らなる。
これらの命令ゲートは専用のプロセツサーのデ
ータ・レートをはるかに超えた(バースト的に)
速度で希望のシーケンスとタイミングで分光器に
与えられる。
ータ・レートをはるかに超えた(バースト的に)
速度で希望のシーケンスとタイミングで分光器に
与えられる。
本発明の特徴と利点は添付の図の中で図解さ
れ、以下に記述されている好適実施例から明らか
となるであろう。
れ、以下に記述されている好適実施例から明らか
となるであろう。
[好適実施例]
第1図を参照すると、本発明の好適実施例がブ
ロツク形式で示されている。二つのプロセツサー
が見分けられる;汎用デジタル・コンピユータと
言つてよい“ホスト”コンピユータ10、例えば
Sperry−Rand社により製作されたV−77デー
タ・マシーン、そして、専用のシステム取込みプ
ロセツサー(SAP)20、これはもう1つの汎
用コンピユータ・マイクロプロセツサー又は特別
に設計されたビツト・スライス型マイクロコンピ
ユータである。
ロツク形式で示されている。二つのプロセツサー
が見分けられる;汎用デジタル・コンピユータと
言つてよい“ホスト”コンピユータ10、例えば
Sperry−Rand社により製作されたV−77デー
タ・マシーン、そして、専用のシステム取込みプ
ロセツサー(SAP)20、これはもう1つの汎
用コンピユータ・マイクロプロセツサー又は特別
に設計されたビツト・スライス型マイクロコンピ
ユータである。
このSAP20はホスト10とホスト・システ
ムバス12を通して連絡し、それとは独立に、記
述されるべき多くのインターフエイス・コンポー
ネント及び第一のメモリー・アクセス・ポート2
5を通つて取込みデータ・メモリー24と取込み
バス22の上で連絡している。後者のメモリーは
ホスト・コンピユータ10により、別々にアクセ
スされてもよく、好適にはSAP20を介さずに
ダイレクト・メモリー・アクセス機能を通してア
クセスされる。データ・メモリー24はそれによ
つて処埋されるNMRデータのみならずSAP20
によつて実行される取込みプログラムをも蓄積す
る。
ムバス12を通して連絡し、それとは独立に、記
述されるべき多くのインターフエイス・コンポー
ネント及び第一のメモリー・アクセス・ポート2
5を通つて取込みデータ・メモリー24と取込み
バス22の上で連絡している。後者のメモリーは
ホスト・コンピユータ10により、別々にアクセ
スされてもよく、好適にはSAP20を介さずに
ダイレクト・メモリー・アクセス機能を通してア
クセスされる。データ・メモリー24はそれによ
つて処埋されるNMRデータのみならずSAP20
によつて実行される取込みプログラムをも蓄積す
る。
SAP20はまたその指令のレパートリーを実
行するために一個のマイクロコード・メモリー2
6を含み、できれば特別の目的のルーチンを含
む。例えば、2種類のルーチンを含み、その一つ
は現在のADCデータのSAP20への伝達から、
或は配慮を必要とするFIFO状態のフラツグの主
張から発生する割込みを供給するルーチンであ
り、もう一つはシステムバス12を通しての
SAP20とホスト10の間の情報伝達に対して
と、メモリー24と以下に記述されているような
外部メモリーとの間におけるデータの伝達に対し
てのルーチンである。
行するために一個のマイクロコード・メモリー2
6を含み、できれば特別の目的のルーチンを含
む。例えば、2種類のルーチンを含み、その一つ
は現在のADCデータのSAP20への伝達から、
或は配慮を必要とするFIFO状態のフラツグの主
張から発生する割込みを供給するルーチンであ
り、もう一つはシステムバス12を通しての
SAP20とホスト10の間の情報伝達に対して
と、メモリー24と以下に記述されているような
外部メモリーとの間におけるデータの伝達に対し
てのルーチンである。
SAP20の入出力インターフエイス30は示
されていない装置−−SAPバス22を通しての
1個またはそれ以上のアナログ−デジタル変換器
(ADC)、センス・ラインそれに割込みが含まれ
る−−によつて発生されるデジタル・データを受
けるために入力インターフエイス32を含む。出
力インターフエイス34が用意されており、これ
は通常、BCDデータの表示や外部装置において
動作パラメータをセツトする配置命令などのよう
な限定された目的のために使用される。励起−検
出サイクルにおいて周期的に現れる出力はFIFO
インターフエイス40を通して実施される。
されていない装置−−SAPバス22を通しての
1個またはそれ以上のアナログ−デジタル変換器
(ADC)、センス・ラインそれに割込みが含まれ
る−−によつて発生されるデジタル・データを受
けるために入力インターフエイス32を含む。出
力インターフエイス34が用意されており、これ
は通常、BCDデータの表示や外部装置において
動作パラメータをセツトする配置命令などのよう
な限定された目的のために使用される。励起−検
出サイクルにおいて周期的に現れる出力はFIFO
インターフエイス40を通して実施される。
SAP20の役割を果たす代表的プロセツサー
は0.5MHzのオーダーの割合でパルスシーケンス
を発生させることができる。現代のFT−NMR
分光では実験上命令パルスの瞬時レートを高める
能力が要求される。それ故に、本発明は、比較的
おそいSAP20から20MHzまでの命令ゲートの
バースト・レートの性能を達成し、さらにこの
SAP20に対する割込みサービス要求を最小化
するために一個のFIFOレジスター・スタツクを
編入している。
は0.5MHzのオーダーの割合でパルスシーケンス
を発生させることができる。現代のFT−NMR
分光では実験上命令パルスの瞬時レートを高める
能力が要求される。それ故に、本発明は、比較的
おそいSAP20から20MHzまでの命令ゲートの
バースト・レートの性能を達成し、さらにこの
SAP20に対する割込みサービス要求を最小化
するために一個のFIFOレジスター・スタツクを
編入している。
FIFO「スタツク」は技術的によく知られてい
る。好適実施例において、それぞれが32ビツトの
16ワードから成る一個のFIFOが、15個までの別
個の命令ゲート・パターンのバーストにおいて
FIFOタイマーの組合わせのクロツキングによつ
てのみ制限されるバースト・レートでゲート状態
のシーケンスを与えるために使用されている。
FIFOインターフエイス40は一個のFIFOレジス
ター・スタツクを使い、その各ワードは16ビツト
のゲート状態部分42Aと16ビツトの持続部分4
2Bから成る。このFIFOスタツクはワードのシ
ーケンスを維持するため、また、現にその時点で
使用されているワードに含まれる情報が次の処理
のために受け取られる出力位置へとワードを命令
に従つた一連の配列で進めるためにいかなる方法
によつても実施される。
る。好適実施例において、それぞれが32ビツトの
16ワードから成る一個のFIFOが、15個までの別
個の命令ゲート・パターンのバーストにおいて
FIFOタイマーの組合わせのクロツキングによつ
てのみ制限されるバースト・レートでゲート状態
のシーケンスを与えるために使用されている。
FIFOインターフエイス40は一個のFIFOレジス
ター・スタツクを使い、その各ワードは16ビツト
のゲート状態部分42Aと16ビツトの持続部分4
2Bから成る。このFIFOスタツクはワードのシ
ーケンスを維持するため、また、現にその時点で
使用されているワードに含まれる情報が次の処理
のために受け取られる出力位置へとワードを命令
に従つた一連の配列で進めるためにいかなる方法
によつても実施される。
FIFOコントロール43はFIFOスタツク42
(42Aと42Bを含む)への入力とそこからの
出力を同期させ、FIFOスタツク42の入出力ア
ドレスに対するポインターを維持する。そして、
さらにスタート、ストツプそれにアンンダーフロ
ー(FIFOは空)とオーバーフロー(FIFOはいつ
ぱい)といつた条件のFIFOの状態を制御し、監
視する。このFIFOインターフエイス40は以下
で非常に詳しく記述されている出力ラツチとゲー
テイング・インターフエイス44及びFIFOタイ
マー46をさらに含んでいる。
(42Aと42Bを含む)への入力とそこからの
出力を同期させ、FIFOスタツク42の入出力ア
ドレスに対するポインターを維持する。そして、
さらにスタート、ストツプそれにアンンダーフロ
ー(FIFOは空)とオーバーフロー(FIFOはいつ
ぱい)といつた条件のFIFOの状態を制御し、監
視する。このFIFOインターフエイス40は以下
で非常に詳しく記述されている出力ラツチとゲー
テイング・インターフエイス44及びFIFOタイ
マー46をさらに含んでいる。
フーリエ変換NMR分光器は共鳴系の励起に関
して制御され、この励起に対する応答としてデー
タを取込むということを思い出そう。この励起を
制御する機能は、デカツプリングや均一性劣化な
どを成し遂げるための特殊な過渡的場を印加する
他に、パルスの長さ、位相、パルスの間隔という
ようないろいろなパラメータを持つた励起パルス
の繰り返しのサイクルをしばしば形成する。
して制御され、この励起に対する応答としてデー
タを取込むということを思い出そう。この励起を
制御する機能は、デカツプリングや均一性劣化な
どを成し遂げるための特殊な過渡的場を印加する
他に、パルスの長さ、位相、パルスの間隔という
ようないろいろなパラメータを持つた励起パルス
の繰り返しのサイクルをしばしば形成する。
このような方法で達成できる様々な異なつた実
験は関連した装置の構成要素に対する一つの状態
のシーケンスとして指定される。
験は関連した装置の構成要素に対する一つの状態
のシーケンスとして指定される。
本発明において、16個の分光器の成分あるいは
機能は、このような機能を選ぶために二進数で指
定される。こうして16ビツトの2進フイールドは
各々が分光器の制御副機能を動かす16個の出力ラ
インの状態を指定する。コントロール状態の時間
依存性は指定された状態に対する持続時間として
インタープリツトされるもう一つの2進のサブ・
フイールドによつて指定される。
機能は、このような機能を選ぶために二進数で指
定される。こうして16ビツトの2進フイールドは
各々が分光器の制御副機能を動かす16個の出力ラ
インの状態を指定する。コントロール状態の時間
依存性は指定された状態に対する持続時間として
インタープリツトされるもう一つの2進のサブ・
フイールドによつて指定される。
以下に示す表1は、サブ・フイールドを指示す
るような状態において、サブ・フアンクシヨンの
好適な割当てを要約したものである。各々の指示
されているビツト(0又は1)の値は対応するゲ
ート或は選択コードの主張か非主張かを制御す
る。ゲートの指定と示された機能に対する選択コ
ードは唯一つのものではなく、FT−NMR分光
器に対する望まれる性能を代表的に表している。
るような状態において、サブ・フアンクシヨンの
好適な割当てを要約したものである。各々の指示
されているビツト(0又は1)の値は対応するゲ
ート或は選択コードの主張か非主張かを制御す
る。ゲートの指定と示された機能に対する選択コ
ードは唯一つのものではなく、FT−NMR分光
器に対する望まれる性能を代表的に表している。
表:ゲート状態の定義ビツト
ゲート命令
0 送信器ゲート
1 受信器ゲート
2 デカツプラー・パルス
3 90゜RFパルス
4 180゜RFパルス
5 ADCサンプリング状態
6 ADCサンプリング状態
7 変換のためのADC命令
8 ロツク・チヤンネル選択
9 90゜位相差検波(Q.D)はそうでないか
の選択 10 デカツプラー変調選択 11 デカツプラー変調選択 12 均一性劣化パルス 13 90゜デカツプラー・パルス 14 180゜デカツプラー・パルス 15 デカツプラー・パワー選択(高/低) 表のゲート状態のビツト指定によつて制御さ
れる機能はFT−NMR分光器の技術では良く知
られており文献の中でもつと十分な記述がなされ
ているであろう。例えばShaw(OP.Cit.)を見よ。
の選択 10 デカツプラー変調選択 11 デカツプラー変調選択 12 均一性劣化パルス 13 90゜デカツプラー・パルス 14 180゜デカツプラー・パルス 15 デカツプラー・パワー選択(高/低) 表のゲート状態のビツト指定によつて制御さ
れる機能はFT−NMR分光器の技術では良く知
られており文献の中でもつと十分な記述がなされ
ているであろう。例えばShaw(OP.Cit.)を見よ。
表の特定の指定を除けば、状態の指定に対し
て216−1個の値までが与えられ得ることがわか
る。
て216−1個の値までが与えられ得ることがわか
る。
表のように特定の機能を指定すれば、このよ
うに多数のビツトの組合せの中の限定された数の
組みは両立し難いものであり通常は同時に主張し
得ないものとなるであろう。例えば、送信器ゲー
トと受信器ゲートは正常には同時に主張されるこ
とはない。同様に、連続した状態は論理的な、又
は装置により決められた制限を持つだろう。例え
ば、ADC変換命令は励起−取込みサイクルにお
いて励起パルスに先ずるよりもむしろ励起パルス
に従う。
うに多数のビツトの組合せの中の限定された数の
組みは両立し難いものであり通常は同時に主張し
得ないものとなるであろう。例えば、送信器ゲー
トと受信器ゲートは正常には同時に主張されるこ
とはない。同様に、連続した状態は論理的な、又
は装置により決められた制限を持つだろう。例え
ば、ADC変換命令は励起−取込みサイクルにお
いて励起パルスに先ずるよりもむしろ励起パルス
に従う。
次に第2図を参照すると、完全な状態を指定す
る一つのワードの16ビツトの持続時間サブフイー
ルドについて好適なフオルマツトが示されてい
る。ビツト0−2は10-n秒という値と結びつく時
間ベースの指標nを指定する。ここでn=2…7
である。50ナノ秒(FIFOのロツク・レートに対
応する)という基本のタイミング単位はn=0、
1の値に対してとられる。ビツト3は停止ビツト
である。ビツト4−15はまとめて、時間のベース
と共に12ビツトの仮数を与え、この仮数はタイマ
ー46(第1図)の初期設定に役立ち、このタイ
マーはこの一部を形成する20MHzのシステム・ク
ロツクの隔離された出力から動く一個のカウン
ト・ダウン回路を内蔵する。残りの16ビツトは前
記したように、分光器の制御副機能を動かす16個
の出力ラインの状態を指定する。(表)。
る一つのワードの16ビツトの持続時間サブフイー
ルドについて好適なフオルマツトが示されてい
る。ビツト0−2は10-n秒という値と結びつく時
間ベースの指標nを指定する。ここでn=2…7
である。50ナノ秒(FIFOのロツク・レートに対
応する)という基本のタイミング単位はn=0、
1の値に対してとられる。ビツト3は停止ビツト
である。ビツト4−15はまとめて、時間のベース
と共に12ビツトの仮数を与え、この仮数はタイマ
ー46(第1図)の初期設定に役立ち、このタイ
マーはこの一部を形成する20MHzのシステム・ク
ロツクの隔離された出力から動く一個のカウン
ト・ダウン回路を内蔵する。残りの16ビツトは前
記したように、分光器の制御副機能を動かす16個
の出力ラインの状態を指定する。(表)。
指定された間隔が終わつた時、FIFOスタツク
(ゲート状態部分42A−持続部分42B)の一
連の内容は出力ラツチ44とタイマー46へ次の
FIFOワードを与えるために進む。タイマー46
を隔離することにより、SAP20の相対的な同
期が許されるにもかかかわらず、一定のタイム・
レフアレンスに対する時間間隔の完全さを維持す
る。SAP20の相対的な同期はSAP20から取
込みデータ・メモリー(RAM)24へのメモリ
ー・アクセスが何等かの理由、例えば、リフレツ
シユ・サイクル、進行中におけるホスト10によ
るカレント・アクセスなど、のために遅らされる
時に起こるかもしれない。
(ゲート状態部分42A−持続部分42B)の一
連の内容は出力ラツチ44とタイマー46へ次の
FIFOワードを与えるために進む。タイマー46
を隔離することにより、SAP20の相対的な同
期が許されるにもかかかわらず、一定のタイム・
レフアレンスに対する時間間隔の完全さを維持す
る。SAP20の相対的な同期はSAP20から取
込みデータ・メモリー(RAM)24へのメモリ
ー・アクセスが何等かの理由、例えば、リフレツ
シユ・サイクル、進行中におけるホスト10によ
るカレント・アクセスなど、のために遅らされる
時に起こるかもしれない。
ホスト・コンピユータ10とSAP20が独立
した役割りを持つことが本発明のシステムにおい
て強調されている。
した役割りを持つことが本発明のシステムにおい
て強調されている。
データの取込みと実験のコントロールはバス2
2を通して示される。こうして、ホスト・コンピ
ユータ10は、目下取込まれているデータのデジ
タル変換が完了することにより生じる頻繁な割込
みから隔離されている。
2を通して示される。こうして、ホスト・コンピ
ユータ10は、目下取込まれているデータのデジ
タル変換が完了することにより生じる頻繁な割込
みから隔離されている。
SAP20は、事実上、自由誘導減衰(FID)信
号の処理とゲート状態シーケンスの発生を確立す
るために共用されるSAP操作のこれらの面は時
間の経過に対して本質的に重複しないので、
SAP20は最小の遊び時間で最大の効率をもつ
て動作し得る。ホスト・コンピユータ10は
SAPのプログラムと実験のパラメータを最初に
伝え、SAPの操作を修正し、そしてSAPの状態
を監視する。
号の処理とゲート状態シーケンスの発生を確立す
るために共用されるSAP操作のこれらの面は時
間の経過に対して本質的に重複しないので、
SAP20は最小の遊び時間で最大の効率をもつ
て動作し得る。ホスト・コンピユータ10は
SAPのプログラムと実験のパラメータを最初に
伝え、SAPの操作を修正し、そしてSAPの状態
を監視する。
周期的に、スペクトル測定の過程の間にSAP
20は蓄積された時間領域のスペクトルを揮発性
半導体メモリーRAMから不揮発性メモリーへ複
写する。不揮発性メモリーへの複写は、例えば、
技術的に良く知られている磁気デイスクへの蓄積
であろう。ポストはまたこの蓄積された時間領域
のスペクトルに作用して周波数領域へのフーリエ
変換をもたらす。これらの操作は現在積算しつつ
あるデータに関する;これらの目的に対するオー
バーヘツドとホストの実行時間は僅かであり、ホ
スト・コンピユータ10が以前に取込まれたスペ
クトル・データをプロツトすることを可能にし、
さもなければ、そのようなスペクトル・データ、
例えばバツクグラウンドの削除、ピークの積分な
どの操作を可能にする。
20は蓄積された時間領域のスペクトルを揮発性
半導体メモリーRAMから不揮発性メモリーへ複
写する。不揮発性メモリーへの複写は、例えば、
技術的に良く知られている磁気デイスクへの蓄積
であろう。ポストはまたこの蓄積された時間領域
のスペクトルに作用して周波数領域へのフーリエ
変換をもたらす。これらの操作は現在積算しつつ
あるデータに関する;これらの目的に対するオー
バーヘツドとホストの実行時間は僅かであり、ホ
スト・コンピユータ10が以前に取込まれたスペ
クトル・データをプロツトすることを可能にし、
さもなければ、そのようなスペクトル・データ、
例えばバツクグラウンドの削除、ピークの積分な
どの操作を可能にする。
この機構はホスト10とSAP20により共用
される2つのポートを持つたメモリー24によつ
て可能にされるということが明らかになるであろ
う。メモリー24は通常多少とも揮発性−停電又
は重大な電力の変動下においてメモリー要素が情
報を維持しないこと−である半導体RAM要素で
実現される。
される2つのポートを持つたメモリー24によつ
て可能にされるということが明らかになるであろ
う。メモリー24は通常多少とも揮発性−停電又
は重大な電力の変動下においてメモリー要素が情
報を維持しないこと−である半導体RAM要素で
実現される。
好適実施例において、ホスト10はSperry−
Univacによつて製作されたV−77コンピユータ
であり、共通の二重ポート(V−77型)メモリー
24とその一つのポートを通して連絡している、
一方、SAP20はもう一つのポートを通してこ
のメモリーをアクセスする。
Univacによつて製作されたV−77コンピユータ
であり、共通の二重ポート(V−77型)メモリー
24とその一つのポートを通して連絡している、
一方、SAP20はもう一つのポートを通してこ
のメモリーをアクセスする。
好適実施例において、SAP20はマイクロ・
プログラム・コントロール・ユニツト3001、
16個の中央処理要素3002それに6個のプログ
ラム可能な読み出し専用メモリー3624のよう
な標準的な構成要素から実現されておりこれらは
すべてCalifornia、Santa ClaraのIntel社の製品
である。必要とされるクロツク、電源、そして簡
単な追加のロジツクと共に、32ビツトのプロセツ
サーが一個、既知の様式で与えられている。
プログラム・コントロール・ユニツト3001、
16個の中央処理要素3002それに6個のプログ
ラム可能な読み出し専用メモリー3624のよう
な標準的な構成要素から実現されておりこれらは
すべてCalifornia、Santa ClaraのIntel社の製品
である。必要とされるクロツク、電源、そして簡
単な追加のロジツクと共に、32ビツトのプロセツ
サーが一個、既知の様式で与えられている。
作動中において、ホスト・コンピユータは一つ
の実験あるいは一連の実験を指定する実験者から
のキーボード入力を受ける。
の実験あるいは一連の実験を指定する実験者から
のキーボード入力を受ける。
この入力は単にホスト・システム・ライブラリ
ーかな標準的なデータ取込みテンプレートを呼び
出すか又は特別に仕立てられた取込みプログラム
(単数又は複数)を実行する。このコードは、
SAP20により実行可能であるが、取込みデー
タ・メモリー(RAM)24の一部にある。取込
みデータ・メモリー(RAM)24のもう一つの
部分はスペクトル・データの積算に対して取つて
置かれる。SAP20の中でコントロールが確立
された時、ホスト20は他の仕事に対して利用で
き、この仕事はSAP20の操作の修正に対する
キーボード入力の監視を含む。
ーかな標準的なデータ取込みテンプレートを呼び
出すか又は特別に仕立てられた取込みプログラム
(単数又は複数)を実行する。このコードは、
SAP20により実行可能であるが、取込みデー
タ・メモリー(RAM)24の一部にある。取込
みデータ・メモリー(RAM)24のもう一つの
部分はスペクトル・データの積算に対して取つて
置かれる。SAP20の中でコントロールが確立
された時、ホスト20は他の仕事に対して利用で
き、この仕事はSAP20の操作の修正に対する
キーボード入力の監視を含む。
一方SAP20はFIFOスタツク42のロードを
含むSAPの初期設定手順を実行する。スタート
命令をFIFOインターフエイスに出した後、FIFO
スタツク42の内容は、各ゲート状態ワードの各
タイミング部分42Bの中に含まれるような持続
時間で、連続的に出力ラツチ44に対して与えら
れる。FIFOスタートを開始すると、SAP20は
自由になり他の仕事を遂行する。初期の励起シー
ケンスの後に、相応して連続する時間間隔でFID
信号のADCによるデジタル変換を引き起こすた
めにFIFOはやがて一連のゲート状態を生ずるで
あろう。
含むSAPの初期設定手順を実行する。スタート
命令をFIFOインターフエイスに出した後、FIFO
スタツク42の内容は、各ゲート状態ワードの各
タイミング部分42Bの中に含まれるような持続
時間で、連続的に出力ラツチ44に対して与えら
れる。FIFOスタートを開始すると、SAP20は
自由になり他の仕事を遂行する。初期の励起シー
ケンスの後に、相応して連続する時間間隔でFID
信号のADCによるデジタル変換を引き起こすた
めにFIFOはやがて一連のゲート状態を生ずるで
あろう。
与えられたアナログからデジタルへの変換が完
了したとき、このADCはそのデータを入力イン
ターフエイス32へ送りだし、ADCの動作のた
めにSAP20に対し割り込みを引き起こす。上
で述べたように、SAP20はゲート状態ワード
を形成している間ずつと作動しているわけではな
い。と言うのはこのSAPはFIFOインターフエイ
ス40が周期的に再ロードされることをただ確実
にする必要があるだけだからである。ADCへの
変換命令は正確に間隔を保たれた時間間隔で与え
られ、この時間間隔は変換命令を主張するゲート
状態の持続時間フイールドによつて支配されてい
る。変換命令の一つのシーケンスは、メモリーサ
イズや他のパラメータと矛盾しない選ばれたスペ
クトル幅にわたつて、希望のサンプリング間隔で
FID信号のデジタル化をもたらすように発生させ
られる。例えば、最大サイズの大きさの信号を選
択された変換精度に変換するために最大サンプリ
ング・レートがADCによつて要求される時間に
より制限される。それ故に、ADC変換ゲートに
対する持続時間は常にこの最小値より大きい。
了したとき、このADCはそのデータを入力イン
ターフエイス32へ送りだし、ADCの動作のた
めにSAP20に対し割り込みを引き起こす。上
で述べたように、SAP20はゲート状態ワード
を形成している間ずつと作動しているわけではな
い。と言うのはこのSAPはFIFOインターフエイ
ス40が周期的に再ロードされることをただ確実
にする必要があるだけだからである。ADCへの
変換命令は正確に間隔を保たれた時間間隔で与え
られ、この時間間隔は変換命令を主張するゲート
状態の持続時間フイールドによつて支配されてい
る。変換命令の一つのシーケンスは、メモリーサ
イズや他のパラメータと矛盾しない選ばれたスペ
クトル幅にわたつて、希望のサンプリング間隔で
FID信号のデジタル化をもたらすように発生させ
られる。例えば、最大サイズの大きさの信号を選
択された変換精度に変換するために最大サンプリ
ング・レートがADCによつて要求される時間に
より制限される。それ故に、ADC変換ゲートに
対する持続時間は常にこの最小値より大きい。
提示されたADCに対して、13ビツトの精度が
12マイクロ秒内で±10ボルトのサンプルに対して
達成されている;7ビツトの精度は4マイクロ秒
を要求する。通常サンプル間隔はSAP20が、
割込み作業ルーチンからもどる前に、ADCをリ
セツトし、解除し、いま現在のデータを処理し、
畜積時間領域スペクトルを維持しているメモリー
のすべての場所の突然のオーバーフローに対して
チエツクし、そして他のハウス・キーピング・タ
スクを実行するのに必要な限界よりも通常ずつと
長く置かれる。SAP20は時々、この作業シー
ケンスを保持するためにFIFOスタツク42を再
ロードしなければならない。
12マイクロ秒内で±10ボルトのサンプルに対して
達成されている;7ビツトの精度は4マイクロ秒
を要求する。通常サンプル間隔はSAP20が、
割込み作業ルーチンからもどる前に、ADCをリ
セツトし、解除し、いま現在のデータを処理し、
畜積時間領域スペクトルを維持しているメモリー
のすべての場所の突然のオーバーフローに対して
チエツクし、そして他のハウス・キーピング・タ
スクを実行するのに必要な限界よりも通常ずつと
長く置かれる。SAP20は時々、この作業シー
ケンスを保持するためにFIFOスタツク42を再
ロードしなければならない。
各n個のトランジエントの経過の後、SAP2
0は先に述べたように畜積スペクトルの不揮発性
メモリーへの転送を開始する。好適実施例におい
て、SAP20はバス・マルチプレクサー
(MPX)52を通して磁気デイスク50と直接に
連絡する。このようにして、SAP20とホスト
10は(揮発性)取込みデータ・メモリー24に
対して共用したアクセスと同様に、デイスク・メ
モリー50に対するアクセスを共用する。分光器
と連絡しているセンス・ラインと割込みは、
SAP20に対して、人口的なスペクトルを導い
たり或はスペクトルを歪めるかも知れない分光器
の構成要素の状態を示すために用いられ、プロセ
ツサー・プログラムが指定するような動作を促進
する。このような動作の簡単な一例は、いま現在
不揮発性メモリー内にある畜積スペクトルを保持
するためにデータ取込みを終了することである。
もつと複雑なルーチンには補正作業を行うことに
なるであろう。例えば、フイールド周波数ロツク
の粉失を指示するセンス・ラインと割込みは独立
に装置の中でフイールド周波数探索モードを開始
する。そのような装置は同時係属出願第896410号
(本願譲受人に譲渡されている)の中で述べられ
たような装置又はそれと同様の装置である。
0は先に述べたように畜積スペクトルの不揮発性
メモリーへの転送を開始する。好適実施例におい
て、SAP20はバス・マルチプレクサー
(MPX)52を通して磁気デイスク50と直接に
連絡する。このようにして、SAP20とホスト
10は(揮発性)取込みデータ・メモリー24に
対して共用したアクセスと同様に、デイスク・メ
モリー50に対するアクセスを共用する。分光器
と連絡しているセンス・ラインと割込みは、
SAP20に対して、人口的なスペクトルを導い
たり或はスペクトルを歪めるかも知れない分光器
の構成要素の状態を示すために用いられ、プロセ
ツサー・プログラムが指定するような動作を促進
する。このような動作の簡単な一例は、いま現在
不揮発性メモリー内にある畜積スペクトルを保持
するためにデータ取込みを終了することである。
もつと複雑なルーチンには補正作業を行うことに
なるであろう。例えば、フイールド周波数ロツク
の粉失を指示するセンス・ラインと割込みは独立
に装置の中でフイールド周波数探索モードを開始
する。そのような装置は同時係属出願第896410号
(本願譲受人に譲渡されている)の中で述べられ
たような装置又はそれと同様の装置である。
SAP20が、フイールド周波数ロツクが再び
設定されることを確実にした後、前記の装置によ
つて疑わしいとされたデータは捨てられ、FIFO
インターフエイス40はデータ取込みを再び始め
るために再初期設定される。
設定されることを確実にした後、前記の装置によ
つて疑わしいとされたデータは捨てられ、FIFO
インターフエイス40はデータ取込みを再び始め
るために再初期設定される。
一般的に、本発明のシステムは、蓄積されたス
ペクトルの完全性を保持するためにシステムの作
用を解析し修正するための能力を持つている。
ペクトルの完全性を保持するためにシステムの作
用を解析し修正するための能力を持つている。
さらにもつと複雑な動作は技術的に通常の熟練
度も持つているプログラマーの能力の中に明らか
に存在する。この上述された発明において多くの
変更がなされ得るし、また実際はともかく見たと
ころではこの発明のはなはだしく異なる多くの実
施例がその範囲から外れることなしに作られる可
能性があるので、上に記述された内容に含まれ添
付の図面中に示されている全事柄は限定的な意味
ではなくて例証として解釈されるべきものである
ということを強調しておく。
度も持つているプログラマーの能力の中に明らか
に存在する。この上述された発明において多くの
変更がなされ得るし、また実際はともかく見たと
ころではこの発明のはなはだしく異なる多くの実
施例がその範囲から外れることなしに作られる可
能性があるので、上に記述された内容に含まれ添
付の図面中に示されている全事柄は限定的な意味
ではなくて例証として解釈されるべきものである
ということを強調しておく。
第1図は本発明の取込みシステムのブロツク・
ダイヤグラムを示し、第2図は一実施例のFIFO
ワードの書式を図示する。 10……ホスト・コンピユータ、20……取込
みプロセツサー(SAP)、42……FIFOレジス
ター・スタツク、44……出力ラツチ。
ダイヤグラムを示し、第2図は一実施例のFIFO
ワードの書式を図示する。 10……ホスト・コンピユータ、20……取込
みプロセツサー(SAP)、42……FIFOレジス
ター・スタツク、44……出力ラツチ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 NMR分光器の状態の選ばれたシーケンスの
励起−データ取込みサイクルに対してNMR分光
器における同期を維持する方法であつて: (a) 対応するデジタル・ワードのシーケンス内で
前記の予め選ばれた状態のシーケンスを符号化
する段階であつて、前記の各ワードは一つの状
態選択部分と一つの持続時間部分から成る段
階; (b) 少なくとも、デジタル状態選択ワードの前記
シーケンスの一部をメモリー内の対応するシー
ケンスのアドレスにストアする段階であつて、
前記メモリーは該メモリーの各々のアドレスの
内容を出力位置へ連続して進めるようにされて
いるところの段階、 (c) 前記の出力位置を占める前記のデジタル・ワ
ードの前記状態選択部分に従つて前記の分光器
へ命令を出す段階; (d) 前記の出力位置を占める前記のデジタル・ワ
ードの前記持続時間の部分の内容に応じてタイ
ミング装置を初期設定し、指定された持続時間
の間前記出力位置内の前記のデジタル・ワード
を保持する段階;並びに、 (e) 前記の指定された持続時間の終了時に前記の
出力位置に対して前記各メモリー・アドレスの
内容を進める段階; から成るNMR分光器におけるデータ取込み方
法。 2 特許請求の範囲第1項に記載された方法であ
つて、 デジタル状態選択ワードの前記シーケンスの前
記部分の最後のワードの前記出力位置内に存在す
ることを指示するアンダーフロー信号を発生する
段階であつて、それによつて前記の選択されたシ
ーケンスのもう一つの別の部分がもしあるなら前
記の連続的に進み得るメモリーに対して伝送され
るところの段階を含むところの方法。 3 特許請求の範囲第2項に記載された方法であ
つて、 ストア、命令、初期設定と保存、及び進行とい
う前記段階の繰り返しを含むところの方法。 4 特許請求の範囲第2項に記載された方法であ
つて、 前記分光器の状態の前記の選ばれたシーケンス
の終了を指定する一個のデジタル・ワードに応じ
て前記のシーケンスを停止する段階を含むところ
の方法。 5 共鳴の励起と分光器のデータ取込み機能の制
御のためにゲート命令を発生するデジタル・プロ
セツサーを含むパルスNMR分光器において: (a) ゲート状態ワードのシーケンスを入れておく
ための一個のFIFOレジスター・スタツクであ
つて、前記各ワードは前記ゲート命令に応じた
ゲートの状態を選択する第一の部分と前記ゲー
ト状態ワードの持続のための時間間隔を指定す
る第二の部分とを持ち、前記のゲート状態ワー
ドのシーケンスは前記のデジタル・プロセツサ
ーによつて供給されるところのFIFOレジスタ
ー・スタツク、 (b) 前記FIFOレジスター・スタツクのその時点
で表明されているゲート状態ワードの第一部分
に応じて前記ゲート命令を表明するための出力
ラツチ機構;並びに、 (c) その時点で表明されているゲート状態ワード
の持続間隔の終了時に次の一連のゲート状態ワ
ードを前記出力機構へ進めるための前記ゲート
状態ワードの前記第2部分に応ずるタイミング
機構; を具備することを特徴とするパルスNMR分光器
におけるデータ取込み装置。 6 特許請求の範囲第5項に記載された装置であ
つて、 前記のゲート状態ワードの各々が32ビツトから
なる装置。 7 特許請求の範囲第5項に記載された装置であ
つて、 前記ゲート状態ワードの第2の部分が時間増分
の数を指定するための一つのカウント・フイール
ドとそのような増分の長さを定めるための一つの
タイム・ベース・フイールドを含むところの装
置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US05/907,650 US4191919A (en) | 1978-05-22 | 1978-05-22 | Fast NMR acquisition processor |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5529789A JPS5529789A (en) | 1980-03-03 |
| JPH0258595B2 true JPH0258595B2 (ja) | 1990-12-10 |
Family
ID=25424420
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6228579A Granted JPS5529789A (en) | 1978-05-22 | 1979-05-22 | Quick nmr intake processor |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4191919A (ja) |
| JP (1) | JPS5529789A (ja) |
| DE (2) | DE2954470A1 (ja) |
| GB (1) | GB2021780B (ja) |
Families Citing this family (24)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL7904986A (nl) * | 1979-06-27 | 1980-12-30 | Philips Nv | Werkwijze en inrichting voor het bepalen van een kernspindichtheidsverdeling in een deel van een lichaam. |
| US4375676A (en) * | 1979-12-26 | 1983-03-01 | Varian Associates, Inc. | Feedback FIFO for cyclic data acquisition and instrument control |
| US4525673A (en) * | 1979-12-26 | 1985-06-25 | Varian Associates, Inc. | NMR spectrometer incorporating a re-entrant FIFO |
| US4481608A (en) * | 1979-12-26 | 1984-11-06 | Varian Associates, Inc. | Reentrant asynchronous FIFO |
| US4452250A (en) * | 1982-04-29 | 1984-06-05 | Britton Chance | NMR System for the non-invasive study of phosphorus metabilism |
| US4689562A (en) * | 1983-10-11 | 1987-08-25 | Elscint Ltd. | NMR Imaging method and system |
| JPS60174415A (ja) * | 1984-02-20 | 1985-09-07 | Nakajima Doukoushiyo:Kk | 液化ガスを用いた熱ごて |
| JPS60174414A (ja) * | 1984-02-20 | 1985-09-07 | Nakajima Doukoushiyo:Kk | 液化ガスを用いた熱ごて |
| JPS6137370A (ja) * | 1984-07-30 | 1986-02-22 | Nakajima Doukoushiyo:Kk | 液化ガスを用いた熱ごて |
| JPS61154766A (ja) * | 1984-12-28 | 1986-07-14 | Kuroi Electric Ind Co | 半田ゴテ |
| US4888553A (en) * | 1985-01-16 | 1989-12-19 | Varian Associates, Inc. | Multiple FIFO NMR acquistion system |
| EP0188052B1 (en) * | 1985-01-16 | 1991-05-15 | Varian Associates, Inc. | A multiple fifo nmr acquisition system |
| US4718004A (en) * | 1985-02-25 | 1988-01-05 | Honeywell Inc. | Sample data acquisition system using microprocessor controlled sequence having FIFO buffer, DAM controller |
| JPS622143A (ja) * | 1985-06-28 | 1987-01-08 | Yokogawa Electric Corp | Nmr撮像装置の自動利得調整装置 |
| JPS6281855U (ja) * | 1985-11-12 | 1987-05-25 | ||
| JPH0731525B2 (ja) * | 1986-03-31 | 1995-04-10 | 株式会社東芝 | シ−ケンス制御回路 |
| JPS63183047A (ja) * | 1987-01-26 | 1988-07-28 | 株式会社東芝 | 磁気共鳴イメ−ジング装置 |
| NL8700266A (nl) * | 1987-02-04 | 1988-09-01 | Philips Nv | Werkwijze en inrichting voor het onderdrukken van coherente storingen bij magnetische resonantiesignalen. |
| US5041789A (en) * | 1989-01-03 | 1991-08-20 | Bruker Analytische Messtechnik Gmbh | Magnetic-resonance instrument employing barcode experiment specification |
| US5144242A (en) * | 1990-08-23 | 1992-09-01 | The Regents Of The University Of California | Continually loadable microcode store for MRI control sequencers |
| US5206593A (en) * | 1990-10-31 | 1993-04-27 | Joel Ltd. | Real-time control system for NMR spectrometer |
| US7081750B1 (en) * | 2000-05-11 | 2006-07-25 | Fonar Corporation | Dynamic real-time magnetic resonance imaging sequence designer |
| US7053614B2 (en) * | 2004-04-08 | 2006-05-30 | Varian, Inc. | Optimized channel controller for NMR apparatus |
| US7457484B2 (en) * | 2004-06-23 | 2008-11-25 | Creative Technology Ltd | Method and device to process digital media streams |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US3735360A (en) | 1971-08-25 | 1973-05-22 | Ibm | High speed buffer operation in a multi-processing system |
| JPS5066293A (ja) * | 1973-10-12 | 1975-06-04 | ||
| JPS51147142A (en) * | 1975-06-13 | 1976-12-17 | Hitachi Ltd | Control system of machine cycle of micro instruction |
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1978
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-
1979
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- 1979-05-15 GB GB7916894A patent/GB2021780B/en not_active Expired
- 1979-05-22 JP JP6228579A patent/JPS5529789A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| GB2021780B (en) | 1982-10-27 |
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| DE2918424C2 (ja) | 1987-11-12 |
| JPS5529789A (en) | 1980-03-03 |
| GB2021780A (en) | 1979-12-05 |
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