JPH0260752A - インクジェット記録装置 - Google Patents
インクジェット記録装置Info
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- JPH0260752A JPH0260752A JP21234988A JP21234988A JPH0260752A JP H0260752 A JPH0260752 A JP H0260752A JP 21234988 A JP21234988 A JP 21234988A JP 21234988 A JP21234988 A JP 21234988A JP H0260752 A JPH0260752 A JP H0260752A
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Links
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- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 45
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 5
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 4
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 3
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- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/005—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by bringing liquid or particles selectively into contact with a printing material
- B41J2/01—Ink jet
- B41J2/07—Ink jet characterised by jet control
- B41J2/115—Ink jet characterised by jet control synchronising the droplet separation and charging time
Landscapes
- Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はインク粒子を記録媒体面に衝突させ、その記録
媒体上に任意の記録を行なうインクジェット記録装置に
関する。
媒体上に任意の記録を行なうインクジェット記録装置に
関する。
〔従来の技術〕
インクジェット記録装置においては、温度等の環境条件
が変化するとインクの物性が変化し、良好な記録を行な
うことができなくなる。したがって、常に良好な記録を
行なうため、例えば特開昭62−191158号公報に
記載されているような手段が採用される。この手段を図
により説明する。
が変化するとインクの物性が変化し、良好な記録を行な
うことができなくなる。したがって、常に良好な記録を
行なうため、例えば特開昭62−191158号公報に
記載されているような手段が採用される。この手段を図
により説明する。
第3図は従来のインクジェット記録装置の系統図である
。図で、1はノズルであり、図示しない加圧装置により
所定の圧力でインクが供給されている。2はノズル1内
のインクを励振する圧電素子、3a、3bはノズル1か
ら噴出するインク柱から分離したインク粒子である。イ
ンク粒子3aは大径、インク粒子3bは小径のインク粒
子である。
。図で、1はノズルであり、図示しない加圧装置により
所定の圧力でインクが供給されている。2はノズル1内
のインクを励振する圧電素子、3a、3bはノズル1か
ら噴出するインク柱から分離したインク粒子である。イ
ンク粒子3aは大径、インク粒子3bは小径のインク粒
子である。
4a、4bはインク粒子3bを荷電しこれを偏向させる
荷電偏向電極(以下、単に電極という)であり、それぞ
れ板状で対抗して設置されている。
荷電偏向電極(以下、単に電極という)であり、それぞ
れ板状で対抗して設置されている。
5は回転ドラム、6はドラム5上に張設された記録用紙
、6gは張設された記録用i6の端縁間の間隙を示す。
、6gは張設された記録用i6の端縁間の間隙を示す。
7は偏向されないインク粒子を収集するガターである。
8は記録用紙6の間隙6gを検出するギャップ検出器、
9はギャップ検出器8の出力に応じてこれを高レベル又
は低レベル信号に変換するレベル変換回路、10は圧電
素子に印加する電圧(励振電圧)を任意の電圧に変更す
る励振電圧可変回路である。11は記録用紙6への記録
信号を出力する記録信号源、12は後述するテストを行
なうためのテスト信号を出力するテスト信号源、13は
記録信号源11とテスト信号源12の切換えを行なうス
イッチング回路、14は記録信号およびテスト信号の増
幅を行なうビデオアンプである。15はテスト時におけ
るインク粒子3bの荷電量を検出増幅するセンスアンプ
、16は記録時およびテスト時の電極4a、4bに対す
る接続を切換える電極切換回路である。17は上記イン
クジェット記録装置の動作を制御する制御装置である。
9はギャップ検出器8の出力に応じてこれを高レベル又
は低レベル信号に変換するレベル変換回路、10は圧電
素子に印加する電圧(励振電圧)を任意の電圧に変更す
る励振電圧可変回路である。11は記録用紙6への記録
信号を出力する記録信号源、12は後述するテストを行
なうためのテスト信号を出力するテスト信号源、13は
記録信号源11とテスト信号源12の切換えを行なうス
イッチング回路、14は記録信号およびテスト信号の増
幅を行なうビデオアンプである。15はテスト時におけ
るインク粒子3bの荷電量を検出増幅するセンスアンプ
、16は記録時およびテスト時の電極4a、4bに対す
る接続を切換える電極切換回路である。17は上記イン
クジェット記録装置の動作を制御する制御装置である。
次に、上記インクジェット記録装置の動作を第4図(a
)、(ハ)、(C)に示す電圧波形図、第5図に示すフ
ローチャート、および第6図に示すグラフを参照しなが
ら説明する。まず、インク粒子3bにより記録用紙6に
記録を行なう場合の動作を説明する。制御装置17から
励振電圧可変回路10に指令が与えられると、励振電圧
可変回路10はこれに応じた電圧を圧電素子2に印加す
る。これにより、加圧状態のインクは励振され、ノズル
1から噴出される。噴出されたインクは最初い(つかの
くびれをもつインク柱を形成し、そのインク柱の先端で
くびれが切れてインク粒子となる。このインク粒子の形
成の態様、即ち、インク粒子が千切れる時点、インク粒
子の径等は圧電素子に印加する励振電圧により定まる。
)、(ハ)、(C)に示す電圧波形図、第5図に示すフ
ローチャート、および第6図に示すグラフを参照しなが
ら説明する。まず、インク粒子3bにより記録用紙6に
記録を行なう場合の動作を説明する。制御装置17から
励振電圧可変回路10に指令が与えられると、励振電圧
可変回路10はこれに応じた電圧を圧電素子2に印加す
る。これにより、加圧状態のインクは励振され、ノズル
1から噴出される。噴出されたインクは最初い(つかの
くびれをもつインク柱を形成し、そのインク柱の先端で
くびれが切れてインク粒子となる。このインク粒子の形
成の態様、即ち、インク粒子が千切れる時点、インク粒
子の径等は圧電素子に印加する励振電圧により定まる。
上記インクジェット記録装置では、大径のインク粒子3
aと小径のインク粒子3bとが所定の時点で交互に発生
するように励振電圧が選定されている。
aと小径のインク粒子3bとが所定の時点で交互に発生
するように励振電圧が選定されている。
一方、電極4a、4bには、第4図(a)に示すように
、それぞれ絶対値が等しく極性が逆の電圧−V、および
十V、が印加されている。この状態では電極4a、4b
間の中心部C(第4図(a)。
、それぞれ絶対値が等しく極性が逆の電圧−V、および
十V、が印加されている。この状態では電極4a、4b
間の中心部C(第4図(a)。
(b)の中間において一点鎖線で示しである)の電位は
0であり、発生したインク粒子3a、3bは何等影響を
受けることなく真直に飛び、ガター7に収集される。電
極切換回路16は制御装置17の指令により、電極4a
、4bに上記電圧−V、、+Vが与えられるように切換
えられている。
0であり、発生したインク粒子3a、3bは何等影響を
受けることなく真直に飛び、ガター7に収集される。電
極切換回路16は制御装置17の指令により、電極4a
、4bに上記電圧−V、、+Vが与えられるように切換
えられている。
この状態で、制御装置17が記録信号源11に指令を与
えると、記録信号源11は記録信号を出力し、スイッチ
ング回路13(制御装置17により記録信号源ll側に
切換えられている)、ビデオアンプ14、電極切換回路
16を介して、第4図(a)、(b)に示される期間T
の間、電極4a、4bに記録信号を印加する。電極4a
に印加される記録信号の電圧は電圧−■1より絶対値が
大きく極性が同一である電圧−■2であり、又、電極4
bに印加される記録信号の電圧は電圧十v1より低い電
圧十■3である。このような記録信号が印加されている
とき小径のインク粒子3bがインク柱から離れると、こ
のインク粒子3bは正に荷電する。そして、この荷電イ
ンク粒子3bは期間T経過後の電極4a、4bの電圧−
V、、+V。
えると、記録信号源11は記録信号を出力し、スイッチ
ング回路13(制御装置17により記録信号源ll側に
切換えられている)、ビデオアンプ14、電極切換回路
16を介して、第4図(a)、(b)に示される期間T
の間、電極4a、4bに記録信号を印加する。電極4a
に印加される記録信号の電圧は電圧−■1より絶対値が
大きく極性が同一である電圧−■2であり、又、電極4
bに印加される記録信号の電圧は電圧十v1より低い電
圧十■3である。このような記録信号が印加されている
とき小径のインク粒子3bがインク柱から離れると、こ
のインク粒子3bは正に荷電する。そして、この荷電イ
ンク粒子3bは期間T経過後の電極4a、4bの電圧−
V、、+V。
により電極4a側に偏向され、記録用紙6に衝突する。
ドラム5は連続して回転しているので、記録指令にした
がって記録信号が出力されることにより、・ドラム5の
1回転間、記録用紙6の1ライン上の所望の個所にイン
ク粒子3bによるドツトが記録されることになる。
がって記録信号が出力されることにより、・ドラム5の
1回転間、記録用紙6の1ライン上の所望の個所にイン
ク粒子3bによるドツトが記録されることになる。
上記動作中、インク粒子3bが正しく偏向されるために
は、インク粒子3bに対して正しい量の荷電がなされね
ばならない。そして、このような荷電がなされるために
は、インク粒子3bが第4図(a)、(b)に示す記録
信号の平担期間ものほぼ中間でインク柱から分離するこ
とが必要である。したがって、インクを励振させる励振
電圧は上記のタイミングでインク粒子3bが分離するよ
うに設定されている。しかしながら、前述のように、イ
ンク粒子3bの発生のタイミングは、温度等の環境条件
の変化により大きく左右され一定せず、励振電圧を固定
しておくとインク粒子3bの荷電量、したがって偏向量
が変化し、良好な記録は到底望み得ない。このため、前
記公報記載の装置は、上記記録動作中にもインク粒子3
bの荷電量のテストを行なう構成となっている。以下、
この構成を説明する。
は、インク粒子3bに対して正しい量の荷電がなされね
ばならない。そして、このような荷電がなされるために
は、インク粒子3bが第4図(a)、(b)に示す記録
信号の平担期間ものほぼ中間でインク柱から分離するこ
とが必要である。したがって、インクを励振させる励振
電圧は上記のタイミングでインク粒子3bが分離するよ
うに設定されている。しかしながら、前述のように、イ
ンク粒子3bの発生のタイミングは、温度等の環境条件
の変化により大きく左右され一定せず、励振電圧を固定
しておくとインク粒子3bの荷電量、したがって偏向量
が変化し、良好な記録は到底望み得ない。このため、前
記公報記載の装置は、上記記録動作中にもインク粒子3
bの荷電量のテストを行なう構成となっている。以下、
この構成を説明する。
上記インクジェット記録装置においては、記録に先立ち
励振電圧を大幅に変化させてゆき、各励振電圧毎に荷電
量をチエツクし、大径と小径のインク粒子3a、3bが
発生し、かつ、小径のインク粒子3bの発生タイミング
が期間tのほぼ中間付近になる量適の励振電圧を見出し
、この励振電圧を設定値として制御装置の記憶部に記憶
させる(第5図に示す手順S、)。次いで、上記記録動
作が開始される(手順S2)。この記録動作中、ギャッ
プ検出器8はレベル変換回路9を介してその検出結果を
常時制御装置17に出力する。制御装置17は当該検出
結果をみて記録用紙6の1ラインの記録が終了したか否
か、即ちギャップ検出器8が間隙6gを検出したか否か
を判断する(手11if(S3)。1ラインの記録が終
了したと判断されると、今度はその1ラインが記録のた
めの最後の1ラインであるか否かを判断しく手順S4)
、最後の1ラインであれば動作を停止する(手順S、)
。
励振電圧を大幅に変化させてゆき、各励振電圧毎に荷電
量をチエツクし、大径と小径のインク粒子3a、3bが
発生し、かつ、小径のインク粒子3bの発生タイミング
が期間tのほぼ中間付近になる量適の励振電圧を見出し
、この励振電圧を設定値として制御装置の記憶部に記憶
させる(第5図に示す手順S、)。次いで、上記記録動
作が開始される(手順S2)。この記録動作中、ギャッ
プ検出器8はレベル変換回路9を介してその検出結果を
常時制御装置17に出力する。制御装置17は当該検出
結果をみて記録用紙6の1ラインの記録が終了したか否
か、即ちギャップ検出器8が間隙6gを検出したか否か
を判断する(手11if(S3)。1ラインの記録が終
了したと判断されると、今度はその1ラインが記録のた
めの最後の1ラインであるか否かを判断しく手順S4)
、最後の1ラインであれば動作を停止する(手順S、)
。
最後の1ラインでなければ、荷電量データの採取が行な
われる(手順S6)。
われる(手順S6)。
この荷電量データの採取は次のように実施される。即ち
、制御装置17はスイッチング回路13をテスト信号源
12側に切換えるとともに、電極切換回路16を、電極
4aにテスト信号の電圧が印加され、かつ、電極4bが
接地およびセンスアンプ15に選択的に接続されるよう
に切換える。
、制御装置17はスイッチング回路13をテスト信号源
12側に切換えるとともに、電極切換回路16を、電極
4aにテスト信号の電圧が印加され、かつ、電極4bが
接地およびセンスアンプ15に選択的に接続されるよう
に切換える。
次いで、テスト信号源12から、第4図(C)に示すよ
うなテスト信号を出力し、スイッチング回路13.ビデ
オアンプ14.電極切換回路16を介して電極4aにテ
スト電圧を印加する。上記テスト信号は第4図(C)に
示すように記録信号と同期した信号である。このテスト
信号は、ギャップ検出器8が間隙6gを検出している期
間内(記録中止期間内)において複数(例えば30回)
出力され、この出力中、電極4bは電極切換回路16に
より接地される。これにより、テスト信号毎に発生して
いるインク粒子はその発生タイミングに応じて正に荷電
し、この荷電に応じた負の電荷がテスト信号出力毎に電
極4bに蓄積されてゆ(。制御装置17はテスト信号の
所定回数(30回)出力後、電極切換回路16に指令を
出力し、電極4bの接続を接地からセンスアンプ15に
切換える。
うなテスト信号を出力し、スイッチング回路13.ビデ
オアンプ14.電極切換回路16を介して電極4aにテ
スト電圧を印加する。上記テスト信号は第4図(C)に
示すように記録信号と同期した信号である。このテスト
信号は、ギャップ検出器8が間隙6gを検出している期
間内(記録中止期間内)において複数(例えば30回)
出力され、この出力中、電極4bは電極切換回路16に
より接地される。これにより、テスト信号毎に発生して
いるインク粒子はその発生タイミングに応じて正に荷電
し、この荷電に応じた負の電荷がテスト信号出力毎に電
極4bに蓄積されてゆ(。制御装置17はテスト信号の
所定回数(30回)出力後、電極切換回路16に指令を
出力し、電極4bの接続を接地からセンスアンプ15に
切換える。
このため、電極4bに蓄積された電荷はセンスアンプ1
5に移行し、電流として検出される。この電流はインク
粒子3bの所定数(30個)の總荷電量に比例し、した
がってインク粒子3bの1個の荷電量にも比例する。
5に移行し、電流として検出される。この電流はインク
粒子3bの所定数(30個)の總荷電量に比例し、した
がってインク粒子3bの1個の荷電量にも比例する。
上記の荷電データの採取は、ある励振電圧、例えば手順
S1において設定された励振電圧についてなされたもの
である。そして、このようなデータの採取を、上記設定
された励振電圧の近辺の励振電圧についても実施し、そ
れら採取されたデータを比較することにより、適正な励
振電圧が決定される。このため、上記データの採取は複
数の異なる励振電圧についてなされねばならず、複数の
連続するラインで実行されることになる。制御装置17
はデータ採取が終了する毎にその回数をチエツクし、所
定数(例えば9回)のデータが揃つたか否かを判断する
(手順S7)。所定数に達していない場合、手順82〜
S、の処理が繰返される。
S1において設定された励振電圧についてなされたもの
である。そして、このようなデータの採取を、上記設定
された励振電圧の近辺の励振電圧についても実施し、そ
れら採取されたデータを比較することにより、適正な励
振電圧が決定される。このため、上記データの採取は複
数の異なる励振電圧についてなされねばならず、複数の
連続するラインで実行されることになる。制御装置17
はデータ採取が終了する毎にその回数をチエツクし、所
定数(例えば9回)のデータが揃つたか否かを判断する
(手順S7)。所定数に達していない場合、手順82〜
S、の処理が繰返される。
手順S7で所定回数のデータ採取が終了したと判断され
た場合、処理が手順S、に移る。手順SL+では、採取
されたすべてのデータ(例えば9つのデータ)について
それらのデータの最大値を探す。
た場合、処理が手順S、に移る。手順SL+では、採取
されたすべてのデータ(例えば9つのデータ)について
それらのデータの最大値を探す。
この状態が第6図に示されている。図で、横軸に励振電
圧、縦軸に粒子荷電量、即ち上記データがとられている
。最大値のデータを生じたときの励振電圧をvo、とす
ると、この励振電圧V mayは最適のタイミングでイ
ンク粒子3bを発生せしめる励振電圧であると考えるこ
とができ、以後、次のテスト期間中における記録動作の
励振電圧は、現在の励振電圧の如何にかかわらず、上記
励振電圧V n+axに修正される。即ち、手順S2に
おける記録は、前回のテストにより決定された励振電圧
を用いて実行される。
圧、縦軸に粒子荷電量、即ち上記データがとられている
。最大値のデータを生じたときの励振電圧をvo、とす
ると、この励振電圧V mayは最適のタイミングでイ
ンク粒子3bを発生せしめる励振電圧であると考えるこ
とができ、以後、次のテスト期間中における記録動作の
励振電圧は、現在の励振電圧の如何にかかわらず、上記
励振電圧V n+axに修正される。即ち、手順S2に
おける記録は、前回のテストにより決定された励振電圧
を用いて実行される。
上記の構成により、励振電圧は所定数(例えば9つ)の
ライン(ドラム5の所定回転数)毎にチエツク修正され
るので、記録動作中適正な励振電圧を保持することがで
き、良好な記録を行なうことができる。
ライン(ドラム5の所定回転数)毎にチエツク修正され
るので、記録動作中適正な励振電圧を保持することがで
き、良好な記録を行なうことができる。
上記インクジェット記録装置のテストにおいて、第5図
に示す手順S、のデータ採取は、前述のように1つの励
振電圧につき複数回(例えば30回)のテスト信号を出
力することにより行なわれる。
に示す手順S、のデータ採取は、前述のように1つの励
振電圧につき複数回(例えば30回)のテスト信号を出
力することにより行なわれる。
これは、1つのテスト信号でインク粒子3bが荷電する
量は極めて微小であり、センスアンプ15による検出が
事実上不可能であるからである。そして、例えば30個
のインク粒子3bの荷電の諸量によっても、センスアン
プ15で検出される量は数ナノアンペア程度である。上
記データ採取はこのような微小電流により行なわれるの
で、周辺から発生する電気的ノイズの影響が甚だ大きく
、厳重な電気的シールドを施しても避けることは困難で
ある。したがって、上記ノイズがデータとして採取され
、これが最大のデータとなったとき、多くの場合、適正
な励振電圧から大きく外れた電圧を適正な励振電圧とし
て採用することになり、テストの効果がなくなるばかり
でなく、却ってテストを行なわない方が良いという結果
を生じる。
量は極めて微小であり、センスアンプ15による検出が
事実上不可能であるからである。そして、例えば30個
のインク粒子3bの荷電の諸量によっても、センスアン
プ15で検出される量は数ナノアンペア程度である。上
記データ採取はこのような微小電流により行なわれるの
で、周辺から発生する電気的ノイズの影響が甚だ大きく
、厳重な電気的シールドを施しても避けることは困難で
ある。したがって、上記ノイズがデータとして採取され
、これが最大のデータとなったとき、多くの場合、適正
な励振電圧から大きく外れた電圧を適正な励振電圧とし
て採用することになり、テストの効果がなくなるばかり
でなく、却ってテストを行なわない方が良いという結果
を生じる。
さらに、上記のような一過性の不適切なデータは、電極
間の塵埃の混入やノズル1内に気泡が存在する場合にも
生じる。特に後者の場合、ノズルから気泡が飛び出した
とき、その間インク粒子は出なくなり總荷電量に大きな
誤差を生じたり、又は、気泡の飛び出しによりタイミン
グが狂い大径のインク粒子3aに荷電してしまう事態も
生じる。
間の塵埃の混入やノズル1内に気泡が存在する場合にも
生じる。特に後者の場合、ノズルから気泡が飛び出した
とき、その間インク粒子は出なくなり總荷電量に大きな
誤差を生じたり、又は、気泡の飛び出しによりタイミン
グが狂い大径のインク粒子3aに荷電してしまう事態も
生じる。
このように、従来の装置にあっては、一過性の誤ったデ
ータにより、テストが無意味となるだけでなく、逆に大
きく外れた励振電圧を決定してしまい、記録にずれを生
じるという事態を生じていた。
ータにより、テストが無意味となるだけでなく、逆に大
きく外れた励振電圧を決定してしまい、記録にずれを生
じるという事態を生じていた。
本発明の目的は、上記従来技術における課題を解決し、
確実に適正なタイミングでインク粒子を発生させること
ができ、ひいては良好な記録を行なうことができるイン
クジェット記録装置を提供するにある。
確実に適正なタイミングでインク粒子を発生させること
ができ、ひいては良好な記録を行なうことができるイン
クジェット記録装置を提供するにある。
上記の目的を達成するため、本発明は、インクを噴出さ
せてインク粒子を生成させるノズルと、インク粒子を荷
電偏向させる電極と、インク粒子の荷電量を検出する荷
電量検出手段と、記録動作の中止期間に前記荷電量検出
手段により検出された荷電量に基づいてインク粒子の最
適発生タイミングを制御するタイミング制御手段とを備
えたインクジェット記録装置において、前記タイミング
制御手段は、検出された荷電量に基づいて第1のタイミ
ング値を求める第1のテスト手段と、前記第1のタイミ
ング値を前回テストで設定した設定値と比較する第1の
比較手段と、この第1の比較手段で得られた偏差が所定
範囲外のとき再び荷電量に基づくテストを繰返して第2
のタイミング値を求める第2のテスト手段と、前記第2
のタイミング値と前記設定値とを比較する第2の比較手
段と、ごの第2の比較手段で得られた偏差が所定範囲外
のとき第1のタイミング値と第2のタイミング値とを比
較する第3の比較手段と、各比較手段の比較の結果に基
づき新たなタイミング値を設定する設定手段とで構成さ
れていることを特徴とする。
せてインク粒子を生成させるノズルと、インク粒子を荷
電偏向させる電極と、インク粒子の荷電量を検出する荷
電量検出手段と、記録動作の中止期間に前記荷電量検出
手段により検出された荷電量に基づいてインク粒子の最
適発生タイミングを制御するタイミング制御手段とを備
えたインクジェット記録装置において、前記タイミング
制御手段は、検出された荷電量に基づいて第1のタイミ
ング値を求める第1のテスト手段と、前記第1のタイミ
ング値を前回テストで設定した設定値と比較する第1の
比較手段と、この第1の比較手段で得られた偏差が所定
範囲外のとき再び荷電量に基づくテストを繰返して第2
のタイミング値を求める第2のテスト手段と、前記第2
のタイミング値と前記設定値とを比較する第2の比較手
段と、ごの第2の比較手段で得られた偏差が所定範囲外
のとき第1のタイミング値と第2のタイミング値とを比
較する第3の比較手段と、各比較手段の比較の結果に基
づき新たなタイミング値を設定する設定手段とで構成さ
れていることを特徴とする。
第1のテスト手段により、インク粒子の荷電量に基づく
当該インク粒子の生成の第1のタイミング値を求め、こ
の第1のタイミング値を前回設定したタイミング値(設
定値)と比較する。両者の偏差が所定範囲内にあるとき
は第1のタイミング値が一過性のデータに基づく値では
ないと判断し、両者いずれかの値又はその中間の値を新
たなタイミング値として設定する。上記偏差が所定範囲
外にあるときは第2のテスト手段により再度テストを繰
返して第2のタイミング値を求める。そして、この第2
のタイミング値と前記設定値とを比較し、両者の偏差が
所定範囲内にあるときは第1のタイミング値は一過性デ
ータによるものであったと判断してこれを排除し、第2
のタイミング値又は前記設定値あるいは両者の中間の値
をタイミング値として設定する。上記比較で両者の偏差
が所定範囲外にあるとき、第1のタイミング値と第2の
タイミング値とを比較し、両者の偏差が所定範囲内にあ
るとき、環境条件の変化等により設定すべきタイミング
値が変化したと判断し、両者いずれかの値又はその中間
の値を新たなタイミング値として設定する。
当該インク粒子の生成の第1のタイミング値を求め、こ
の第1のタイミング値を前回設定したタイミング値(設
定値)と比較する。両者の偏差が所定範囲内にあるとき
は第1のタイミング値が一過性のデータに基づく値では
ないと判断し、両者いずれかの値又はその中間の値を新
たなタイミング値として設定する。上記偏差が所定範囲
外にあるときは第2のテスト手段により再度テストを繰
返して第2のタイミング値を求める。そして、この第2
のタイミング値と前記設定値とを比較し、両者の偏差が
所定範囲内にあるときは第1のタイミング値は一過性デ
ータによるものであったと判断してこれを排除し、第2
のタイミング値又は前記設定値あるいは両者の中間の値
をタイミング値として設定する。上記比較で両者の偏差
が所定範囲外にあるとき、第1のタイミング値と第2の
タイミング値とを比較し、両者の偏差が所定範囲内にあ
るとき、環境条件の変化等により設定すべきタイミング
値が変化したと判断し、両者いずれかの値又はその中間
の値を新たなタイミング値として設定する。
以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する。
第1図は本発明の実施例に係るインクジェット記録装置
の系統図である。図で、第3図に示す部分と同一部分に
は同一符号を付して説明を省略する。18は第3図に示
す制御装置17に相当する制御装置である。本実施例が
従来装置と異なるのは制御装置の構成のみであり、他の
構成は第3図に示す従来装置と同じである。
の系統図である。図で、第3図に示す部分と同一部分に
は同一符号を付して説明を省略する。18は第3図に示
す制御装置17に相当する制御装置である。本実施例が
従来装置と異なるのは制御装置の構成のみであり、他の
構成は第3図に示す従来装置と同じである。
次に、本実施例の制御装置18の動作を第2図に示すフ
ローチャートを参照しながら説明する。
ローチャートを参照しながら説明する。
第5図に示す手順31〜S7の処理は本実施例において
も同じであり、第2図でも同一符号が付しである。従来
装置においては、手順S8で最大荷電量を与える励振電
圧を見出し、この励振電圧を適正な励振電圧として設定
していた。これに対して本実施例では、新たな励振電圧
M1を見出すだけであり(手順SI+′)、これを直ち
に適正な励振電圧として設定せず、次の処理を行なう。
も同じであり、第2図でも同一符号が付しである。従来
装置においては、手順S8で最大荷電量を与える励振電
圧を見出し、この励振電圧を適正な励振電圧として設定
していた。これに対して本実施例では、新たな励振電圧
M1を見出すだけであり(手順SI+′)、これを直ち
に適正な励振電圧として設定せず、次の処理を行なう。
まず、見出された励振電圧M1を今回のテスト前に設定
されていた励振電圧(この励振電圧をM。
されていた励振電圧(この励振電圧をM。
とする)と比較する(手順S9)。もし、励振電圧Mo
、M+がほぼ等しければ、今回のテストで得られた励
振電圧M、は一過性の値ではなく信頼し得る値であると
判断しても差し支えない。したがって、値M。又は値M
1あるいは両者の中間の値を新たな励振電圧として設定
しく手順S1゜)、再び処理は手順S2に戻されて新し
いテストが開始される。なお、値M0と値M1は厳密に
一致しなくてもよい。これは、テストする励振電圧の刻
みを細かくとった場合、最適とみなし得る値が一点以上
存在し得ること、検出された荷電量は一定範囲内の誤差
を含むことによる。したがって、値M、と値M1との偏
差がある所定範囲内であれば両者は等しいとみなすこと
ができ、新たに設定する励振電圧も上記手順SIOに示
すように定めることができる(以下の手順5lff〜S
I6においても同じ)。
、M+がほぼ等しければ、今回のテストで得られた励
振電圧M、は一過性の値ではなく信頼し得る値であると
判断しても差し支えない。したがって、値M。又は値M
1あるいは両者の中間の値を新たな励振電圧として設定
しく手順S1゜)、再び処理は手順S2に戻されて新し
いテストが開始される。なお、値M0と値M1は厳密に
一致しなくてもよい。これは、テストする励振電圧の刻
みを細かくとった場合、最適とみなし得る値が一点以上
存在し得ること、検出された荷電量は一定範囲内の誤差
を含むことによる。したがって、値M、と値M1との偏
差がある所定範囲内であれば両者は等しいとみなすこと
ができ、新たに設定する励振電圧も上記手順SIOに示
すように定めることができる(以下の手順5lff〜S
I6においても同じ)。
次に、手順S、で値M0と値M、の偏差が所定範囲外に
あると判断された場合について考える。
あると判断された場合について考える。
このように両値M0.M+が相違する理由として、環境
条件等の変化により最適励振電圧が変化したこと、およ
び値M1が前述のような一過性の値であることが考えら
れる。したがって、ここで、値M0又は値M−,を適正
な励振電圧として設定するのは適切でない。そこで本実
施例では次の処理を実行して適正な励振電圧を定める。
条件等の変化により最適励振電圧が変化したこと、およ
び値M1が前述のような一過性の値であることが考えら
れる。したがって、ここで、値M0又は値M−,を適正
な励振電圧として設定するのは適切でない。そこで本実
施例では次の処理を実行して適正な励振電圧を定める。
即ち、さきに見出した値M、を一旦メモリに記憶させ(
手順Sz) 、次に再度手順82〜3.+の処理を行な
い新たな励振電圧M2を見出す(手順s、2)。そして
、値M0と値M2とを比較する(手順5Iff)。
手順Sz) 、次に再度手順82〜3.+の処理を行な
い新たな励振電圧M2を見出す(手順s、2)。そして
、値M0と値M2とを比較する(手順5Iff)。
手順SI!で値M0と値M2とがほぼ等しいと判断され
た場合には、さきに見出された値MIは一過性の値であ
ったとみることができ、これを排除しても差支えない。
た場合には、さきに見出された値MIは一過性の値であ
ったとみることができ、これを排除しても差支えない。
したがって、値M0又は値M2あるいはそれらの中間の
値を適正な励振電圧として設定しく手順314)、再び
手順S2から次回のテストが開始される。一方、手順s
rsで値M0と値M2との偏差が所定範囲外である場合
には、値M、が有意な値である可能性が高く、これを排
除することはできない。それ故、記憶されている値M1
をとり出し、値M2と比較する(手順S+s)。
値を適正な励振電圧として設定しく手順314)、再び
手順S2から次回のテストが開始される。一方、手順s
rsで値M0と値M2との偏差が所定範囲外である場合
には、値M、が有意な値である可能性が高く、これを排
除することはできない。それ故、記憶されている値M1
をとり出し、値M2と比較する(手順S+s)。
値M+ と値M2とがほぼ等しければ、環境条件の変化
等により値M0が適正な励振電圧ではなくなったと考え
ることができ、値M、又は値M2あるいはそれらの中間
の値を適正な励振電圧として新たに設定しく手11pS
za)、再び手順S2から次回のテストが開始される。
等により値M0が適正な励振電圧ではなくなったと考え
ることができ、値M、又は値M2あるいはそれらの中間
の値を適正な励振電圧として新たに設定しく手11pS
za)、再び手順S2から次回のテストが開始される。
手順SI5で値M1と値M2との偏差が所定範囲外にあ
ると判断された場合、即ち、値M、、M、。
ると判断された場合、即ち、値M、、M、。
M2のすべてが異なる値であった場合であるが、このよ
うな事態はほとんど発生することはない。
うな事態はほとんど発生することはない。
そして、それが発生する場合としては、一過性のデータ
が偶然に連続して発生した場合、又は装置に何等かの事
故が発生した場合が考えられる。前者の場合は、再度手
順S2に戻って上記の処理を繰返えすことにより対応で
きる。又、事故の発生が明らかな場合には、図示しない
停止手段により装置を停止させる。
が偶然に連続して発生した場合、又は装置に何等かの事
故が発生した場合が考えられる。前者の場合は、再度手
順S2に戻って上記の処理を繰返えすことにより対応で
きる。又、事故の発生が明らかな場合には、図示しない
停止手段により装置を停止させる。
このように、本実施例では、テストにより最初に得られ
た励振電圧をそのまま次の適正な励振電圧として設定せ
ず、それまでの設定値と比較し、両者の偏差が所定範囲
外のときさらにテストを行なって励振電圧を得、この励
振電圧を設定値および第1回のテストにより得られた励
振電圧と比較して新たな励振電圧を設定するようにした
ので、一過性のデータに基づく励振電圧を排除すること
ができ、適正なタイミングでインク粒子を発生させるこ
とができる。
た励振電圧をそのまま次の適正な励振電圧として設定せ
ず、それまでの設定値と比較し、両者の偏差が所定範囲
外のときさらにテストを行なって励振電圧を得、この励
振電圧を設定値および第1回のテストにより得られた励
振電圧と比較して新たな励振電圧を設定するようにした
ので、一過性のデータに基づく励振電圧を排除すること
ができ、適正なタイミングでインク粒子を発生させるこ
とができる。
なお、上記実施例の説明では、各比較手段(手順S1.
S+!、S’s)における比較の結果、偏差が所定範囲
外であるとき、次の所定の処理を実行する例について説
明したが、適宜の警報9表示等を行なうようにしてもよ
い。又、上記実施例の説明では、適正なインク粒子発生
タイミングを得るため、励振電圧を変化させる例につい
て説明したが、励振電圧に躍ることはなく、インクを加
圧する圧力を変化させても上記タイミングを制御するこ
とができる。
S+!、S’s)における比較の結果、偏差が所定範囲
外であるとき、次の所定の処理を実行する例について説
明したが、適宜の警報9表示等を行なうようにしてもよ
い。又、上記実施例の説明では、適正なインク粒子発生
タイミングを得るため、励振電圧を変化させる例につい
て説明したが、励振電圧に躍ることはなく、インクを加
圧する圧力を変化させても上記タイミングを制御するこ
とができる。
以上述べたように、本発明では、第1のテスト手段で得
た第1のタイミング値を直ちに新たなタイミング値とし
て設定せず、これを前回テストの設定値と比較し、両者
の偏差が大きい場合第2のテスト手段で第2のタイミン
グ値を求め、これを上記設定値と比較し、両者の偏差が
大きい場合第1のタイミング値と第2のタイミング値と
を比較し、これら比較の結果に基づいて新たなタイミン
グ値を設定するようにしたので、一過性データに基づく
タイミング値を排除することができ、常に適正なタイミ
ングでインク粒子を発生させることができ、良好な記録
を行なうことができる。
た第1のタイミング値を直ちに新たなタイミング値とし
て設定せず、これを前回テストの設定値と比較し、両者
の偏差が大きい場合第2のテスト手段で第2のタイミン
グ値を求め、これを上記設定値と比較し、両者の偏差が
大きい場合第1のタイミング値と第2のタイミング値と
を比較し、これら比較の結果に基づいて新たなタイミン
グ値を設定するようにしたので、一過性データに基づく
タイミング値を排除することができ、常に適正なタイミ
ングでインク粒子を発生させることができ、良好な記録
を行なうことができる。
第1図は本発明の実施例に係るインクジェット記録装置
の系統図、第2図は第1図に示す制御装置の動作を説明
するフローチャート、第3図は従来のインクジェット記
録装置の系統図、第4図(a)。 (b)は電極電圧、第4図(C)はテスト電圧の波形図
、第5図は第3図に示す制御装置の動作を説明するフロ
ーチャート、第6図は検出された粒子荷電量のグラフで
ある。 1−−−−−−ノズル、2−−−−−一圧電素子、3
a 、 3 b−・−インク粒子、4 a 、 4
b−−−−−・−電極、5−・・−・−ドラム、6・
−・・・・−記録用紙、6g−・−一一一一間隙、8−
・−・−・−ギャップ検出器、10−・・−・−・励振
電圧可変回路、11−・・−記録信号源、12・−・・
−・テスト信号源、13−・−スイッチング回路、15
−−−−一・・センスアンプ、16−−−−−電極切換
回路、18−・−・制御装置第4図 第6B max #h後電電 圧294− 第5区
の系統図、第2図は第1図に示す制御装置の動作を説明
するフローチャート、第3図は従来のインクジェット記
録装置の系統図、第4図(a)。 (b)は電極電圧、第4図(C)はテスト電圧の波形図
、第5図は第3図に示す制御装置の動作を説明するフロ
ーチャート、第6図は検出された粒子荷電量のグラフで
ある。 1−−−−−−ノズル、2−−−−−一圧電素子、3
a 、 3 b−・−インク粒子、4 a 、 4
b−−−−−・−電極、5−・・−・−ドラム、6・
−・・・・−記録用紙、6g−・−一一一一間隙、8−
・−・−・−ギャップ検出器、10−・・−・−・励振
電圧可変回路、11−・・−記録信号源、12・−・・
−・テスト信号源、13−・−スイッチング回路、15
−−−−一・・センスアンプ、16−−−−−電極切換
回路、18−・−・制御装置第4図 第6B max #h後電電 圧294− 第5区
Claims (6)
- (1)インクを噴出させてインク粒子を生成させるノズ
ルと、前記インク粒子を荷電偏向させる電極と、前記イ
ンク粒子の荷電量を検出する荷電量検出手段と、記録動
作の中止期間に前記荷電量検出手段により検出された荷
電量に基づいて前記インク粒子の最適発生タイミングを
制御するタイミング制御手段とを備えたインクジェット
記録装置において、前記タイミング制御手段は、検出さ
れた前記荷電量に基づいて新たなタイミング値を求める
テスト手段と、前記新たなタイミング値を前回テストで
設定した設定値と比較する比較手段と、この比較手段で
得られた偏差が所定範囲内のとき前記設定値および前記
新たなタイミング値を含む前記所定範囲内の値を設定値
として選択する選択手段とを設けたことを特徴とするイ
ンクジェット記録装置 - (2)特許請求の範囲第(1)項において、前記比較手
段で得られた偏差が所定範囲外のとき前記荷電量に基づ
くテストを再度実行して他の新たなタイミング値を求め
る他のテスト手段と、前記他の新たなタイミング値と前
記設定値とを比較する他の比較手段と、この他の比較手
段で得られた偏差が所定範囲内のとき前記設定値および
前記他の新たなタイミング値を含む前記所定範囲内の値
を設定値として選択する他の選択手段とを設けたことを
特徴とするインクジェット記録装置 - (3)特許請求の範囲第(2)項において、前記他の比
較手段で得られた偏差が所定範囲外のとき前記新たなタ
イミング値と前記他の新たなタイミング値とを比較する
さらに他の比較手段と、このさらに他の比較手段で得ら
れた偏差が所定範囲内のとき前記新たなタイミング値お
よび前記他の新たなタイミング値を含む前記所定範囲内
の値を設定値として選択するさらに他の選択手段とを設
けたことを特徴とするインクジェット記録装置 - (4)特許請求の範囲第(3)項において、前記さらに
他の比較手段で得られた偏差が所定範囲外のとき再度前
記テスト手段を実行する繰返し手段を設けたことを特徴
とするインクジェット記録装置 - (5)特許請求の範囲第(1)項又は第(2)項あるい
は第(3)項もしくは第(4)項において、前記タイミ
ング値は、前記インクを励振させる励振電圧であること
を特徴とするインクジェット記録装置 - (6)特許請求の範囲第(1)項又は第(2)項あるい
は第(3)項もしくは第(4)項において、前記タイミ
ング値は、前記インクを加圧する加圧手段の圧力である
ことを特徴とするインクジェット記録装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21234988A JPH0260752A (ja) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | インクジェット記録装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21234988A JPH0260752A (ja) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | インクジェット記録装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0260752A true JPH0260752A (ja) | 1990-03-01 |
Family
ID=16621068
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21234988A Pending JPH0260752A (ja) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | インクジェット記録装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0260752A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04144753A (ja) * | 1990-10-08 | 1992-05-19 | S R Technos Kk | 連続噴射型インクジェット記録装置 |
-
1988
- 1988-08-29 JP JP21234988A patent/JPH0260752A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04144753A (ja) * | 1990-10-08 | 1992-05-19 | S R Technos Kk | 連続噴射型インクジェット記録装置 |
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