JPH02295751A - インクジェット記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、インク粒子を記録媒体面に衝突させてその上
に任意の記録を行なうインクジェット記録装置に関する
。

〔従来の技術〕

インクジェット記録装置は、ノズルから大径および小径
のインク粒子を交互に発生させ、その一方に電荷を与え
て偏向させることにより、これをドラムに巻回した記録
紙上に衝突させ任意の記録を行なう装置である。上記の
ように、大径および小径のインク粒子を交互に発生させ
るには、ノズルに励振電圧を印加することによりなされ
るが、インク物性は温度等の環境条件によって変化し易
く、このため、ある環境条件下では適切であった励振電
圧も、環境条件の僅かな変化で不適切となって、大径イ
ンク粒子と小径インク粒子が確実に分離発生しなくなる
という事態を生じる。したがって、インクジエツ，ト記
録装置には、記録を行なう前に、その時点での環境条件
下において大径インク粒子と小径インク粒子を確実に分
離発生させる励振電圧を見出す手段が備えられているの
が通常である。このような手段は、例えば特開昭６１−
１９９９５９号公報に記載されている。以下、その概略
構成を図により説明する。

第６図は従来のインクジェット記録装置のブロック図で
ある。図で、１は加圧されたインクが供給されるノズル
、２はノズル１から噴射されるインク柱である。このイ
ンク柱２はノズル１に励振電圧Ｖｅが印加されることに
よりノズル１から噴射されると図示のようにくびれが発
生する。３、４はインク柱２のくびれが千切れることに
より生ずる大径インク粒子および小径インク粒子である
．これら各インク粒子３、４はノズル１に適切な励振電
圧Ｖｅが印加されることにより、交互に分離発生する。

５ａ、５ｂは対向する制御電極であり、前記各インク粒
子３、４の軌跡はそれらに電荷が与えられない場合、制
御電極５ａ、５ｂの中心を通る。

７は記録情報を入力しこれに応じてインク粒子に電荷を
与えるための荷電信号を作成する荷電信号作成回路、８
は励振電圧をテストするテスト信号を作成するテスト信
号作成回路である。９は荷電信号作成回路７とテスト信
号作成回路８のいずれかを選択するための荷電信号切換
回路、１０は各信号を増幅するビデオアンプ、１１は記
録の場合とテストの場合の制御電極５ａ、５ｂの切換え
を行なう電極切換回路である。１２はテストの場合にイ
ンク粒子の荷電量を検出するための誘導電流センス回路
、１３は検出された荷電量をデイジタル値に変換するＡ
／Ｄ変換器である。１４は所定周期の正弦波を発生する
正弦波励振器であり、荷電信号およびテスト信号はこの
正弦波励振器１４の正弦波に基づいて作成される。１５
は所要の演算制御を行なう制御装置である。１６は制御
装置１５で与えられた励振電圧指令値をアナログ値に変
換するＤ／Ａ変換器。１７はＤ／Ａ変換器１６からの信
号と正弦波励振器１４からの信号を乗算する乗算器、１
８は乗算器１７からの信号を増幅して励振電圧Ｖｅを出
力する励振増幅器である。

次に、上記装置の動作を説明する。記録を行なう場合、
制御装置１５は荷電信号切換回路９を荷電信号作成回路
７側に切換えるとともに、電極切換回路ｌ１と誘導電流
センス回路１２を切離し、制御電極５ａ、５ｂに絶対値
が等しく極性が逆である所定の電圧（例えば、±４００
Ｖ）を印加する。さらに、制御装置１５はＤ／Ａ変換器
１６に適切な励振電圧を発生させる値を出力し、励振増
幅器１８からノズル１に適切な励振電圧が与えられる。

これにより、ノズル１からインク粒子３、４が分離して
交互に噴射される。

この状態で、荷電信号作成回路７に記録情報が入力する
と荷電信号が作成され、この荷電信号は荷電信号切換回
路９、ビデオアンプ１０および電極切換回路１１を介し
て制御電極５ａ、５ｂに印加され、これにより、インク
粒子３、４の一方が例えば正極性に荷電する。この荷電
されたインク粒子は、制ｍ電極５ａ、５ｂのうちの負極
側へ偏向せしめられ、図示しない記録紙上に衝突して記
録がなされる。

上記のような記録を行なうには、ノズル１に、大径イン
ク粒子３と小径インク粒子４を確実に分離発生させる励
振電圧を印加することが必要である。前述のように、こ
のような励振電圧の最適値は環境条件により変化するの
で、上記の記録を実行する前に適切な励振電圧を見出す
テストが行なわれる。このテスト動作を第７図に示す荷
電量特性図を参照しながら以下に述べる． 制御装置１５は、まず、荷電信号切換回路９をテスト信
号作成回路８側に切換えるとともに、電極切換回路１１
を切換えて制御電極５ａをビデオアンブ１０に接続し、
制御電極５ｂを接地する。

この状態で、制御装置１５はＤ／Ａ変換器１６へ順次所
定の値を出力する。これらの値は、励振増幅器１８から
出力される励振電圧の大きさを決定する値であり、大径
インク粒子３と小径インク粒子４が分離発生する可能性
のある励振電圧領域を含む充分に広い範囲の励振電圧（
例えば２０〜１５０Ｖ）を発生する値に選定されている
。

ここで、制御装置１５がＤ／Ａ変換器１６に上記値の・
うちの最小値を出力すると、この値はこれに応じたデイ
ジタル値に変換され、正弦波励振器１４からの正弦波電
圧に乗算され、乗算された電圧は励振増幅器１８で増幅
されて上記励振電圧範囲の最小値（例えば２０Ｖ）とな
ってノズル１に印加される。一方、制御電極５ａには、
テスト信号作成回路８からのテスト信号が印加される。

これにより、発生したインク粒子は正に荷電され、この
荷電に応じて接地されている制御電極５ｂには負の電荷
が蓄積される。制御装置１５はテスト信号が所定回数（
例えば３０回）発生したとき、制御電掻５ｂを誘導電流
センス回路１２に接続する。この結果、１つのテスト信
号毎に制御電極５ｂに蓄積されてきた電荷はすべて放電
され、その放電電流は誘導電流センス回路１２で検出さ
れる．この電流は荷電量に比例し、Ａ／Ｄ変換器１３に
おいてデイジタル値に変換された後、制御装置１５の記
憶部に荷電量データ■４としてとり込まれる。

即ち、１つの励振電圧ｖ１に対して１つの荷電量データ
■４が得られる。このような動作が、上記励振電圧の最
小値から最大値までの各値について順次実行される。

第７図は上記テスト動作により得られた荷電量の特性図
であり、横軸に励振電圧Ｖ１の対数が、縦軸に荷電量デ
ータＶ，がとられている。荷電量データｖ４はインク粒
子の大きさに比例するので、大きなピーク値を有する波
形は大径インク粒子３を示し、小さなピーク値を有する
波形は小径インク粒子４を示す。Ａは、テスト時の環境
条件において大径インク粒子３と小径インク粒子４とが
発生する励振電圧領域を示す。この図から、大径インク
粒子３により記録を行なう場合は励振電圧ｖ，，を、又
、小径インク粒子４により記録を行なう場合は励振電圧
ｖ７を選択すれば確実な記録を実施できることが判る。

なお、上記第６図に示す装置は、インク粒子に対する荷
電と偏向を同一電極で行なう型のインクジェット記録装
置であるが、これとは異なり、インク粒子の荷電と偏向
を別の電極により行なう型のインクジェット記録装置も
一般に使用されている。この後者の型のインクジェット
記録装置においてインク粒子の荷電量を検出する場合に
は、別途、検出電極を設け、この検出電極に電荷を蓄積
、放電させ、この放電電流を検出することにより荷電量
検出が行なわれる。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来のインクジェット記録装置は、適切な励振電圧
を見出すためのテスト手段を備え、テストにより見出さ
れた励振電圧を使用することにより確実な記録を行なう
ことができる。しかしながら、テスト手段により得られ
た結果（数値として現れた結果）をみながら適切な励振
電圧を見出すことは極めて面倒であるし、又、得られた
結果が常に第７図に示すような明確な特性を示すとは限
らないので、この場合適切な励振電圧の選定はさらに面
倒となる。

なお、特性が明瞭に現れない原因については次のような
ことが考えられる。

ａ．制御電極５ａ、５ｂを支持する絶縁ホルダにインク
ミストが付着したり、制御電極５ａ、５ｂ間に繊維性の
ごみが付着している場合、テスト信号を出力したとき制
御電極５ｂに大きな電荷が蓄積される。ところで、誘導
電流センス回路１２で検出される電流はせいぜい数ナノ
アンペア程度であるから、上記インクミストやごみによ
る大きな電荷はノイズとして現れる。

ｂ．インク粒子が常に制御電極５ａ、５ｂ間の中心を通
るとは限らず、一方に僅かに偏っても蓄積される荷電量
が大きく変化する。

Ｃ．発生するインク柱２の長さによっても蓄積される荷
電量が変化する。

ｄ．誘導電流センス回路１２は前述のように微小電流を
検出する回路であるから、その回路素子に僅かな変化（
抵抗値や増幅率の変化）が生じても荷電量に大きく影響
する。

本発明の目的は、上記従来技術における課題を解決し、
容易かつ正確に適切な励振電圧を見出すことができるイ
ンクジェット記録装置を提供するにある． 〔課題を解決するための手段〕 上記の目的を達成するため、本発明は、励振電圧が印加
されることにより大径および小径のインク粒子を発生す
るノズルと、前記インク粒子の一方に荷電しこれを偏向
させる２つの制御電極と、前記励振電圧を変化させる励
振電圧可変手段と、所定範囲内の各励振電圧毎にこれら
各励振電圧に応じて発生するインク粒子の荷電量を測定
する測定手段と、この測定手段で得られたデータを記憶
するデータ記憶部とを備えたインクジェット記録装置に
おいて、前記記憶部に記憶されたデータを１又は複数の
閾値により閾値毎に２値化する２値化手段を設けたこと
を特徴とする。

〔作用〕

所定範囲内の各励振電圧毎に記憶されたデータに対して
、１つの閾値を適用し、当該データを２値化する。この
２値化により得られたデータについて、その幅又は周期
をチェックすることにより適切な励振電圧を見出す．又
、闇値を複数設定した場合、これら閾値を順に前記デー
タに適用してゆけば、どのようなデータに対しても適切
な励振電圧を見出すことができる。

〔実施例〕

以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する。

第１図は本発明の実施例に係るインクジェット記録装宜
のブロック図である。図で、第６図に示す部分と同一部
分には同一符号を付して説明を省略する。１５′はマイ
クロコンピュータより成る制御装置である．本実施例の
装置と第６図に示す装置とは、制御装置１５′が異なる
だけであり、その他の構成は両者同じである。

次に、本実施例の動作を説明する。本実施例の記録を行
なう動作は従来装置の記録動作と同じであるので説明を
省略し、以下、適切な励振電圧を見出すための処理動作
について、第２図（ａ）〜（ｂ）に示す波形図および第
３図に示すフローチャートを参照しながら説明する。本
実施例における処理動作においても、従来の動作と全く
同様にして誘導電流センス回路１３においてインク粒子
の荷電量が検出される。第２図（ａ）には、このように
して測定検出される荷電量ｖ４の波形図が示されている
。従来装置においては、当該波形図がデータとして記憶
されるが、本実施例では、これらデータに対してある閾
値Ｓが設定され、この閾値Ｓと当該データとが比較され
ることによりこれらデータの２値化が行なわれる。２値
化の結果が第２図（ｂ）に示されている。

制御装置１５′には、従来装置と同様に、予め所定範囲
内の多数の励振電圧を発生させる値（以下、これらを直
接、励振電圧Ｖ，，Ｖ，，Ｖ．，・・・・・・・・・で
表現する）が設定されている。制御装置１５′は、まず
、ｉ＝０　　（ｉは励振電圧およびそのとき得られる荷
電量データに付される番号）の初期設定を行なう（第３
図に示す手順ｐｉ。次いで、励振電圧をＶ．（この場合
Ｖｏ）に設定する（手順Ｐ２）。これにより、ノズル１
には励振電圧Ｖ０が印加され、インク粒子が発生する。

一方、テスト信号作成回路８で発生したテスト信号は制
御電極５ａに印加され、誘導電流センス回路１２により
インク端子の荷電量が検出される（手順Ｐ３）。この荷
電量はＡ／Ｄ変換器１３によりデイジタル値ｄ，（この
場合値ｄｏ）に変換される（手順Ｐ＃）。

次に、荷電量ｄ０と前記閾値Ｓとを比較し、荷電量ｄ０
が闇値Ｓ以上か否かを判断する（手順ｐ，）。閾値Ｓ未
満であれば荷電量ｄ０を「０」（デイジタル値）とし、
これを６　０７とじて（手順Ｐ＆）、メモリに記憶する
（手順Ｐ，）．そして、励振電圧が所定範囲内の最大値
Ｖ　Ｌｍ＊ｘ　（　ｔ　＝ｉ．ｍｘ）に達したか否かを
判断し（手順ｐｍ）、達していなければ数ｉに１を加え
（手順Ｐ，）、処理を手順Ｐ２に戻す。

このような処理が繰返えされ、第２図（ａ）に示すよう
に、ｉ＝α、即ち励振電圧Ｖαが印加されたとき、手順
Ｐ，では荷電量ｄαが闇値Ｓ以上であると判断され、ｄ
α′を「１」　（デイジタル値）とし（手順Ｐｌ０）、
メモリに記憶する（手順Ｐ７）。以後、励振電圧が値ｖ
Ｂまで、メモリには「１」が連続して記憶される。この
ようにしてメモリに記憶されるｚ値化されたデータ（荷
電励振領域マップ）が第２図（ｂ）に示されている。

以下、手順Ｐ８〜Ｐ９までの処理が繰返えされ、最後の
励振電圧Ｖ　ｉｓａヨによるテストが終了すると、処理
は手順Ｐ．に移る。手順Ｐ目では、メモリに格納されて
いる値に基づいて「１」が連続している領域ｒＫ　（ｋ
＝ｌ、２、・・・・・・・・・）を定め、各領域の幅（
データ数）ＷＫを算出する。以後、例えば小径インク粒
子により記録を行なう場合には、幅ＷＫが微小なものに
ついて、隣接する大きな幅までのデータ数を見出し、そ
のデータ数が多いものの中心に相当する電圧（第２図（
ｂ）に電圧■γで示されている）を励振電圧として選定
する。この選定された励振電圧を用いることにより、そ
の時点における環境条件下で、小径インク粒子が大径イ
ンク粒子から確実に分離発生している状態で小径インク
粒子に荷電させることができる。

このように、本実施例では、検出された荷電量データを
２値化して判断するようにしたので、容易かつ正確に適
切な励振電圧を見出すことができる。

上記実施例の手段では、闇値がある１つの値Ｓに定めら
れている。しかしながら、検出される荷電量の波形が常
に第２図（ａ）に示すような波形になるとは限らず、波
形自体、又は波形のレベル？異なる場合が生じることが
多い。このような場合、１つの閾値では対応できなくな
る．これを第２図（ｃ）、（ｄ）に示す。第２図（ｃ）
には、他の励振電圧決定時に使用された閾値Ｓ　’　（
Ｓ　’　＜　Ｓ）を第２図（ａ）に示す上記実施例のも
のに適用した場合を示す。この場合、闇値Ｓ′は小さ過
ぎて、結局、第２図（ｄ）に示すように幅の小さな部分
を見出すことはできなくなる。

そこで、本発明の第２の実施例では、最初に荷電量の全
データを記憶しておき、これに対して予め定められた複
数の閾値を順次適用してゆく手段が採用される。以下、
上記第２の実施例の動作を第４図および第５図に示すフ
ローチャートを参照しながら説明する。制御装置１５′
には、複数の閾値Ｓｊ　（ｊ＝ｏ，１，２．・・・・・
・・・・）が設定されている。制御装置１５′はまずｊ
＝０の初期設定を行なう（手順Ｐｚ＋）。次に、閾値を
値Ｓｊ　（この場合値ＳＯ）に設定する（手順Ｐ２■）
。そして、従来例で述べたと同様の手法で、各励振電圧
についての荷電量データをすべて記憶し、これらデー？
に対して闇値Ｓ０を適用し２値化を行なう（手順Ｐ。）
。この２硫化されたデータ（荷電励振領域マップ）Ｍ（
Ｓｏ）は第２図（ｂ）、（ｄ）に示されたものと類似の
データとなる．次に、当該荷電励振領域マップＭ　（ｓ
ｏ　）をみて、闇値Ｓ０が適正値であったか否かを判定
する（手順Ｐｚ４）．この判定手段については後述する
。

もし、手順ｐｚ４で，適用した闇値Ｓ０が適切であった
と判断されると、各領域の中央部の励振電圧値を導出す
る。そして、記録に使用するインク粒子５に応じて励振
電圧を決定する。又、手順ＰＺ４で閾値Ｓ０が不適切で
あったと判断されると、Ｊ＝Ｊｓａｘｓ即ち、全閾値が
適用されたか否かが判断され（手順Ｐｔ６）、未適用の
闇値があれば、現在適用した闇値（Ｓ０）の次の閾値（
Ｓ＋　）を定めるべく、数ｊに１を加えて（手順Ｐｚ？
）、処理を手順ｐｘｔに戻す。さらに、手順ｐｚｂで、
ｊ＝ｊ■．と判断された場合、即ち、全闇値が不適切で
あると判断された場合、定められた異常処理が実行され
る（手順Ｐ２８）。

ここで、手順ｐｉｎにおける閾値の通、不適の判断手段
を第５図のフローチャートに基づいて説明する．この判
断を行なうに際し、本実施例では予め以下の５−つの基
準が設定される。

（１）その闇値により得られた荷電励振領域マップにお
いて、直前の領域ｒｋ−１の領域幅ｗｋ−，に比し極め
て小さい領域幅ＷＫを有する領域ｒＫが存在しなければ
ならない。このような領域ｒＫが存在しない場合、その
閾値は不適とする（エラー１）。

（２）上記（１）における幅の狭い領域は、荷電励振領
域マップの上限付近に出現してはいけない。

本来、テストの場合の励振電圧の範囲は大きくとってあ
るので（前述の例にしたがうと２０〜１５０ｖ）、幅の
狭い領域が上限付近に出現することはなく、この場合、
その闇値は不適とする（エラー２）。

（３）幅の狭い領域は連続して出現してはならない。こ
れは、大径インク粒子と小径インク粒子は交互に発生す
るのであるから当然であり、この場合、ノズル不良等の
故障も考えられる（エラー３）．（４）幅の狭い領域が
出現しなくなった後に、少な《とも２つの幅の広い領域
が存在しなければならない。これは上記（２）と同義で
ある。これがｉ認できなければその閾値は不適とする（
エラー４）。

（５）幅の狭い領域は幅の広い領域を間にはさんで複数
（例えば３つ以上）連続して出現しなければならない。

定められた数未満の出現であれば、その闇値は不適とす
る（エラー５）． 第５図に示すフローチャートは上記５つの判断基準のす
べてを満しているか否かをみるための処理手順となって
いる。以下、これを説明する。まず、第４図に示す手順
Ｐｔｓである閾値による荷電励振領域マップが作成され
ると、次に、当該荷電励振領域マップにおける領域数ｋ
（総数ｋｍｍｘ）を数えるとともに、ｋ＝１　（第１番
目の領域の設定）、Ｃ＝０（幅の狭い領域の番号の設定
）とする（手順ｐｚａ。１）。次いで、ある領域ｒｘの
幅Ｗｌとその領域ｒｈの直前の領域ｒ１−，の幅Ｗ，−
，とを？較して、ｗ　，　−　Ｉ＞　ｗ　ｋであるか否
かを判断する（手順ｐｚ４．２）。ｗｋ−，＞ｗｋでな
ければ、ｋに１を加え（手順Ｐｔ４。，）、ｋがｋ■８
に達したか否かを判断し（手順Ｐｔ４。，）、達してい
なければ処理は手順Ｐｚａ。２に戻る。以上の手順によ
る処理の繰返しにおいて、ｋ，３。に達するまで幅の狭
い領域が見出されなければ、前述の判断基＊（１）−を
満していないこととなり、「エラー１」と判断され、処
理は第４図に示す手順ｐｚｂへ移行せしめられる（手順
Ｐｚａ。，）。

手順Ｐｔ４。２で、ｗｋ−，＞ｗｋと判断されたとき、
即ち幅の狭い領域が見出されたとき、当該領域の数に１
を加え（手順Ｐｔ４。６）、さらに次の領域を定め（手
順Ｐｚａ。７）、ｋがｋ．■に達しているか否かを判断
する（手順Ｐｔ４。８）。ｋ　ＩＩＩＩＸに達していれ
ば、幅の狭い領域が荷電励振領域マップの上限に現れて
いることとなるので、前述の判断基準（２）を満たして
おらず、「エラー２」と判断し＼て処理は第４図に示す
手順ｐｚｂへ移される（手順Ｐｔ４。，）。ｋがｋ■８
に達していない場合、手順？ｚａ。７で定められた次の
領域、即ち幅の狭い領域の次の領域の幅Ｗ１とその２つ
前の領域、即ち幅の狭い領域の直前の領域の幅ｗ　ｋ−
　２とが比較される（手順　Ｐ２４，。）。ｗｋ−■》
Ｗｋであれば、幅の狭い領域が２つ連続していることと
なり、判断基準（３）を満足しないので、「エラー３」
と判断され、処理は第４図に示す手順ｐｚｈに移される
（手順Ｐｚｉ＋＋）。

手順Ｐ２■。で幅の狭い領域が連続していないと判断さ
れると、さらに次の領域が指定され（手順Ｐｚｎ＋ｚ）
、ｋ＝ｋ，．ｘが判断される（手順Ｐ！４１３）＊ｋ＝
ｋ，．ｘであれば、幅の狭い領域の後に幅の広い領域が
１つしか存在しないこととなるので、判断基準（４）を
満足せず、「エラー４」と判断され、処理は第４図に示
す手順ｐｔｂに移される。手順Ｐ！４１：ｌで、ｋ＝ｋ
，■でないと判断されると、今度は手順Ｐ！４１２で定
められた領域の幅Ｗｋとその直前の領域（幅の広い領域
）の幅Ｗｌ−１　とが比較され（手順Ｐｚ４＋ｓ）　、
もし、Ｗｈ−，＞ｗ１ｌであれば幅の狭い領域が再び現
れたことになるので、再度幅の狭い領域の存在をみるべ
く、処理は手順ｐｚａ。６に戻る。手順Ｐｚａ。６〜手
順Ｐ　７４＋５の処理の繰返し毎に、手順ＰＺ４。，に
おいて幅の狭い領域の数Ｃがカウントされてゆく。

上記処理の繰返しにおいて、手順ｐｇ４＋ｓで、幅の狭
い領域が存在しないと判断されると、次に、数Ｃが３未
満か以上か、即ち、幅の狭い領域が３つ以上あったか否
かが判断される（手順ＰＺ４１６）ａ３つ以上なければ
、前述の判断基準（５）を満足していないので、「エラ
ー５」と判断され、処理は第４図に示す手順ｐｚａに移
される。又、３つ以上あると判断されると、、前述の判
断基準（１）〜（５）のすべてが満足されたこととなり
、そのとき用いられた闇値が適切であったと判断され、
処理は第４図に示す手碩ｐｚｓへ移行せしめられる。

このように、本実施例では、検出された荷電量データを
２値化したので、さきの実施例と同じ効果を奏するとと
もに、２値化に用いる閾値を複数設定し、それら閾値を
順次適用することができる構成としたので、検出された
荷電量データが多少不明確であっても容易かつ正確に適
切な励振電圧を見出すことができ、さらに、異なるイン
クジェット記録装置に対しても適用可能である。

なお、各実施例ともモノクロームおよびカラーに適用可
能であるのは当然であり、特に、カラーの場合、最初の
実施例では各色毎に適宜異なる闇値を用いればよいし、
又、後の実施例では各色すべてに同一処理手順を適用す
ることができる。さらに、適切な励振電圧を見出すテス
トは、記録用紙が変更される毎に実行してもよいし、又
、記録の１ライン毎に実行してもよい。さらに又、検出
された荷電量データと闇値との比較は、１つの荷電量デ
ータの検出毎に行ってもよいし、一旦全荷電量データを
採取した後に行ってもよい。

〔発明の効果〕

以上述べたように、本発明は、荷電量データを闇値を用
いて２値化したので、容易かつ正確に適切な励振電圧を
見出すことができる。又、闇値を複数設定しておくこと
により、何等かの理由により荷電量データが不明瞭であ
っても支障なく適切な励振電圧を見出すことができ、又
、異なるインクジェット記録装置に対しても適用するこ
とができる．

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例に係るインクジェット記録装置
のブロック図、第２図（ａ）、（ｂ）は荷電量データお
よびこれにある闇値を適用したときの２値化データの波
形図、第２図（Ｃ）　、（ｄ）は荷電量データおよびこ
れに他の闇値を適用したときの２値化データの波形図、
第３図、第４図および第５図はそれぞれ第１図に示す装
置の動作を説明するフローチャート、第６図は従来のイ
ンクジェット記録装置のブロック図、第７図は荷電量デ
ータの波形図である。 ■・・・・・・・・・ノズル、３・・・・・・・・・大
径インク粒子、４・・・・・・・・・小径インク粒子、
５ａ，５ｂ・・・・・・・・・制御電極、８・・・・・
・・・・テスト信号作成回路、１１・・・・・・・・・
電極切換回路、１２・・・・・・・・・誘導電流センス
回路、１４・・・・・・・・・正弦波励振器、１５′・
・・・・・・・・制御装置、ｌ８・・・・・・・・・励
振増幅器。 第 図 ：ノズル ２：インクネ主 ３：太径インク粒予 ４：小径イシク粒子 ５ａ　５ｂ　：利郊電雁 １４：ｌＥ弦波励徹器 ５’：ｆｉｌ厠技置 ８゜励撮増幅器 艷 図 鵬 ６図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 励振電圧が印加されることにより大径および小径のイン
   ク粒子を発生するノズルと、前記インク粒子の一方に荷
   電しこれを偏向させる２つの制御電極と、前記励振電圧
   を変化させる励振電圧可変手段と、所定範囲内の各励振
   電圧毎にこれら各励振電圧に応じて発生するインク粒子
   の荷電量を測定する測定手段と、この測定手段で得られ
   たデータを記憶するデータ記憶部とを備えたインクジェ
   ット記録装置において、前記記憶部に記憶されたデータ
   を１又は複数の閾値により閾値毎に２値化する２値化手
   段を設けたことを特徴とするインクジェット記録装置。