JPH03290258A - インクジエツト記録装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はインク粒子を記録媒体面に衝突させ、その記録
媒体上に任意の記録を行なうインクジェット記録装置に
関する。

〔従来の技術〕

インクジェット記録装置においては、温度等の環境条件
が変化するとインクの物性が変化し、良好な記録を行な
うことができなくなる。したがって、常に良好な記録を
行なうため、例えば特開昭６２−１９１１５８号公報に
記載されているような手段が採用される。この手段を図
により説明する。

第６図は従来のインクジェット記録装置の系統図である
。図で、１はノズルであり、図示しない加圧装置により
所定の圧力でインクが供給されている。２はノズル１内
のインクを励振する圧電素子、３ａ、３ｂはノズル１か
ら噴射するインク柱から分離したインク粒子である。イ
ンク粒子３ａは大径、インク粒子３ｂは小径のインク粒
子である。４ａ、４ｂはインク粒子３ｂを荷電しこれを
偏向させる荷電偏向電極（以下、単に電極という）であ
り、それぞれ板状で対抗して設置されている。

５は回転ドラム、６はドラム５上に張設された記録用紙
、６ｇは張設された記録用紙６の端縁間の間隙を示す。

７は偏向されないインク粒子を収集するガターである。

８は記録用紙６の間隙６ｇを検出するギャップ検出器、
９はギャップ検出器８の出力に応じてこれを高レベル又
は低レベル信号に変換するレベル変換回路、１０は圧電
素子に印加する電圧（励振電圧）を任意の電圧に偏向す
る励振電圧可変回路である。１１は記録用紙６への記録
信号を出力する記録信号源、１２は後述するテストを行
なうためのテスト信号を出力するテスト信号源、１３は
記録信号源１１とテスト信号源１２の切換えを行なうス
イッチング回路、１４は記録信号およびテスト信号の増
幅を行なうビデオアンプである。１５はテスト時におけ
るインク粒子３ｂの荷電量を検出増幅するセンスアンプ
、１６は記録時およびテスト時の電極４ａ、４ｂに対す
る接続を切換える電極切換回路である。１７は上記イン
クジェット記録装置の動作を制御する制御装置である。

次に、上記インクジェット記録装置の動作を第７図（ａ
）、　　（ｂ）、　　（Ｃ）に示す電圧波形図、第８図
に示すフローチャート、および第９図に示すグラフを参
照しながら説明する。まず、インク粒子３ｂにより記録
用紙６に記録を行なう場合の動作を説明する。制御装置
１７から励振電圧可変回路１０に指令が与えられると、
励振電圧可変回路１０はこれに応じた電圧を圧電素子２
に印加する。これにより、加圧状態のインクは励振され
、ノズル１から噴出される。噴出されたインクは最初い
くつかのくびれをもつインク柱を形成し、そのインク柱
の先端でくびれが切れてインク粒子となる。このインク
粒子の形成の態様、即ち、インク粒子がちぎれる時点、
インク粒子の径等は圧電素子に印加する励振電圧により
定まる。上記インクジェット記録装置では、大径のイン
ク粒子３ａと小径のインク粒子３ｂとが所定の時点で交
互に発生するように励振電圧が選定されている。

一方、電極４ａ、４ｂには、第７図（ａ）。

（ｂ）に示すように、それぞれ絶対値が等しく極性が逆
の電圧−ｖＩおよび＋ｖＩが印加されている。この状態
では電極４ａ、４ｂ間の中心部Ｃ（第７図（ａ）、　　
（ｂ）の中間において一点鎖線で示しである）の電位は
０であり、発生したインク粒子３．ｉ＋、３ｂは何等影
響を受けることなく真直に飛び、ガター７に収集される
。電極切換回路１６は制御装置１７の指令により、電極
４ａ、４ｂに上記電圧−Ｖ、、＋Ｖ、が与えられるよう
に切換えられている。

この状態で、制御装置１７が記録信号源１１に指令を与
えると、記録信号源１１は記録信号を出力し、スイッチ
ング回路１３　（制御装置１７により記録信号源１１側
に切換えられている）、ビデオアンプ１４、電源切換回
路１６を介して、第７図（ａ）、（ｂ）に示される期間
Ｔの間、電極４ａ、４ｂに記録信号を印加する。電極４
ａに印加される記録信号の電圧は電圧−Ｖｌより絶対値
が大きく極性が同一である電圧−■２であり、又、電極
４ｂに印加される記録信号の電圧は電圧子Ｖ。

より低い電圧子■３である。このような記録信号が印加
されているとき小径のインク粒子３ｂがインク柱から離
れると、このインク粒子３ｂは正に荷電する。そして、
この荷電インク粒子３ｂは期間Ｔ経過後の電極４ａ、４
ｂの電圧−ｖ、、＋ｖ。

により電極４ａ側に偏向され、記録用紙６に衝突する。

ドラム５は連続して回転しているので、記録指令にした
がって記録信号が出力されることにより、ドラム５の１
回転間、記録用紙６の１ライン上の所望の個所にインク
粒子３ｂによるドツトが記録されることになる。

上記動作中、インク粒子３ｂが正しく偏向されるために
は、インク粒子３ｂに対して正しい量の荷電がなされね
ばならない。そして、このような荷電がなされるために
は、インク粒子３ｂが第７図（ａ）、　　（ｂ）に示す
記録信号の平坦期間ｔのほぼ中間でインク柱から分離す
ることが必要である。したがって、インクを励振させる
励振電圧は上記のタイミングでインク粒子３ｂが分離す
るように設定されている。しかしながら、前述のように
、インク粒子３ｂの発生のタイミングは、温度等の環境
条件の変化により大きく左右され一定せず、励振電圧を
固定しておくとインク粒子３ｂの荷電量、したがって偏
向量が変化し、良好な記録は到底望み得ない。このため
、前記公報記載の装置は、上記記録動作中にもインク粒
子３ｂの荷電量のテストを行なう構成となっている。以
下、この構成を説明する。

上記インクジェット記録装置においては、記録に先立ち
励振電圧を大幅に変化させてゆき、各励振電圧毎に荷電
量をチエツクし、大径と小径のインク粒子３ａ、３ｂが
発生し、かつ、小径のインク粒子３ｂの発生タイミング
が期間ｔのほぼ中間付近になる最適の励振電圧を見出し
、この励振電圧を設定値として制御装置の記憶部に記憶
させる（第８図に示す手順Ｓ＋）。次いで、上記記録動
作が開始される（手順ＳＺ）。この記録動作中、ギャッ
プ検出器８はレベル変換回路９を介してその検出結果を
常時制御装置１７に出力する。制御装置１７は当該検出
結果をみて記録用紙６の１ラインの記録が終了したか否
か、即ちギャップ検出器８が間隙６ｇを検出したか否か
を判断する（手順Ｓ３）。１ラインの記録が終了したと
判断されると、今度はその１ラインが記録のための最後
の１ラインであるか否かを判断しく手順Ｓ４）、最後の
１ラインであれば動作を停止する（手順ＳＳ）、：最後
の１ラインでなければ、荷電量データの採取が行なわれ
る（手順３６）。

この荷電量データの採取は次のように実施される。即ち
、制御装置１７はスイッチング回路１３をテスト信号源
１２側に切換えるとともに、電極切換回路１６を、電極
４ａにテスト信号の電圧が印加され、かつ、電極４ｂに
接地およびセンスアンプ１５に選択的に接続されるよう
に切換える。

次いで、テスト信号源１２から、第７図（Ｃ）に示すよ
うなテスト信号を出力し、スイッチング回路１３．ビデ
オアンプ１４．電源切換回路１６を介して電源４ａにテ
スト電圧を印加する。上記テスト信号は第７図（Ｃ）に
示すように記録信号と同期した信号である。このテスト
信号は、ギャップ検出器８が間隙６ｇを検出している期
間内（記録中止期間内）において複数（例えば３０回）
出力され、この出力中、電極４ｂは電極切換回路１６に
より接地される。これにより、テスト信号毎に発生して
いるインク粒子はその発生タイミングに応じて正に荷電
し、この荷電に応じた負の電荷がテスト信号出力毎に電
極４ｂに蓄積されてゆく。

制御装置１７はテスト信号の所定回数（３０回）出力後
、電極切換回路１６に指令を出力し、電極４ｂの接続を
接地からセンスアンプ１５に切換える。このため、電極
４ｂに蓄積された電荷はセンスアンプ１５に移行し、電
流として検出される。

この電流はインク粒子３ｂの所定数（３０個）の０ 總荷電量に比例し、したがってインク粒子３ｂの１個の
荷電量にも比例する。

上記の荷電データの採取は、ある励振電圧、例えば手順
Ｓ１において設定された励振電圧についてなされたもの
である。そして、このようなデータの採取を、上記設定
された励振電圧の近辺の励振電圧についても実施し、そ
れら採取されたデータを比較することにより、適正な励
振電圧が決定される。このため、上記データの採取は複
数の異なる励振電圧についてなされねばならず、複数の
連続するラインで実行されることになる。制御装置１７
はデータ採取が終了する毎にその回数をチエツクし、所
定数（例えば９回）のデータが揃ったか否かを判断する
（手順３７）。所定数に達していない場合、手順３２〜
Ｓ６の処理が繰返される。

手順Ｓ、で所定回数のデータ採取が終了したと判断され
た場合、処理は手順Ｓ８に移る。手順Ｓ８では、採取さ
れたすべてのデータ（例えば９つのデータ）についてそ
れらのデータの最大値を探す。

１ この状態が第９図に示されている。図で、横軸に励振電
圧、縦軸に粒子荷電量、即ち上記データがとられている
。最大値のデータを生じたときの励振電圧をＶ　ＩＩ　
ａ　Ｘとすると、この励振電圧ＶイａＸは最適のタイミ
ングでインク粒子３ｂを発生せしめる励振電圧であると
考えることができ、以後、次のテスト期間中における記
録動作の励振電圧は、現在の励振電圧の如何にかかわら
ず、上記励振電圧Ｖ　ｍａｘに修正される。即ち、手順
Ｓ２における記録は、前回のテストにより決定された励
振電圧を用いて実行される。

上記の構成により、励振電圧は所定数（例えば９つ）の
ライン（ドラム５０所定回転数）毎にチエツク修正され
るので、記録動作中適正な励振電圧を保持することがで
き、良好な記録を行なうことができる。

〔発明が解決しようとする課題〕

前述のように、インク粒子の粘度等は温度の変化により
大きな影響を受ける。このため、同−励振電圧において
も、温度が変化するとインク柱か２ ら小径粒子がちぎれるタイミングの系列が大径粒子のタ
イミングに対して変化する。これを第１０図（ａ）　〜
（Ｃ）に示す。第１０図（ａ）　〜（ｃ）は励振電圧に
対する荷電量の変化を表わすグラフである。各図で、横
軸には励振電圧■。の対数が、又、縦軸には荷電量デー
タがとっである。各図にり、〜Ｌ３は種々の励振電圧に
おいて発生する大径粒子のうちの３つの大径粒子の波形
、ｓ、’ｗｓ４は同じく４つの小径粒子の波形である。

第１０図（ａ）はある温度における大径粒子と小径粒子
の発生状態を示し、この場合、励振電圧として値Ｖｅｌ
が選定されると、小径粒子Ｓ３のみが荷電されることに
なる。第１０図（ｂ）は、温度が変化したときの発生状
態の変化を示し、大径粒子および小径粒子は第１０図（
ａ）に示す場合より小さい励振電圧で発生する。この場
合、大径粒子に比較して小径粒子の励振電圧の変移が大
きい。即ち、波形Ｌｌ　＋　　ＳＩ　＋　　Ｌ２　＋　
　Ｓｚは第１０図（ａ）に示す接触した状態から完全に
分離し、波形Ｓ３は波形Ｌ２に接近し、波形Ｓ４は波形
Ｌ３と一体になっている。第１０図（Ｃ）はさらに温度
の変化が大きくなったときの状態を示し、各大径粒子、
小径粒子とも第１０図（ｂ）に示す場合よりさらに小さ
な励振電圧で発生する。この場合も小径粒子の励振電圧
の変移が大きい。これら各図から、温度が変化すると、
各粒子がインク柱からちぎれるタイミングが変化するが
、大径粒子と小径粒子とでは、その変化の大きさが異な
ることが判る。

ところで、従来装置では、第１０図（ａ）、（ｂ）。

（ｃ）に示すような変化が生じたとき、励振電圧は値Ｖ
ｅｌから値ｖ８□、値■。３と選定されることになる。

ここで、第１０図（Ｃ）に示す状態をみると、小径粒子
の波形Ｓ３は大径粒子の波形Ｌ２に極めて近傍した状態
にある。このように近接した状態にあると、励振電圧が
値Ｖａ３に・固定されている期間の温度変化によりさら
に大径粒子Ｌ２との接近が大きくなって大径粒子Ｌ２に
も荷電がなさ３ ４ れ、小径粒子の荷電量が小さくなり、小径粒子の正確な
飛跡が得られなくなり、又、大径粒子の荷電量の如何に
よっては両者間にクーロン力が働き、この場合、小径粒
子の飛跡はでたらめなものとなる。この結果、インク粒
子による記録は不可能となる。さらに励振電圧Ｖ。３が
固定されている期間、適正な励振電圧のサーチが行なわ
れるが、このサーチにおいて、大径粒子Ｌ２をサーチし
てこれを適正励振電圧としてしまうおそれもある。

本発明の目的は、上記従来技術における課題を解決し、
確実に適正なタイミングでインク粒子を発生させること
かでき、ひいては良好な記録を行なうことができるイン
クジェット記録装置を提供するにある。

〔課題を解決するための手段〕

上記の目的を達成するため、発明者等は、小径粒子と大
径粒子の発生の励振電圧（タイミング（ｌりが極めて近
接している場合、他の小径粒子のタイミング値、例えば
第１０図（Ｃ）に示す状態の場合には小径粒子Ｓ２のタ
イミング値Ｖ　ｐ　４を新たなタイミング値とすればよ
いことに想到した。

このため、本発明は、インクを噴出させてインク粒子を
生成させるノズルと、前記インク粒子を荷電偏向させる
電極と、前記インク粒子の荷電量を検出する荷電量検出
手段と、記録動作の中止期間に前記荷電量検出手段によ
り検出された荷電量に基づいて前記インク粒子の最適発
生タイミングを制御するタイミング制御手段とを備えた
インクジェット記録装置において、前記タイミング制御
手段は、検出された前記荷電量に基づいて前記インク粒
子のうちの大径粒子と小径粒子とのタイミング値の近接
を判断する近接判断手段と、この近接判断手段により近
接が判断されたとき前記小径粒子が近接した方向におけ
る所定数のタイミング値に対する荷電量を検出してゆく
掃引手段と、この掃引手段により見出された２つの大径
粒子のタイミング値の間の荷電量データを解析して両者
間に存在する小径粒子のタイミング値を見出すデータ解
析手段と、このデータ解析手段により得られた前記小径
粒子のタイミング値を新たなタイミン５ ６ グ値とするタイミング値再設定手段とにより構成されて
いることを特徴とする。

〔作用〕

近傍判断手段により、小径粒子と大径粒子の発生のタイ
ミング値が近接していることが判断されると、小径粒子
が大径粒子に近接した方向に所定数のタイミング値を掃
引し、これら各タイミング値における荷電量データを採
取する。次いで、この掃引により得られた荷電量データ
から、２つの大径粒子のタイミング値の間に存在する小
径粒子のタイミング値を見出し、このタイミング値を新
らしいタイミング値として、それまでのタイミング値に
代えて設定する。

〔実施例〕 以下、本発明を図示の実施例に基づいて説明する。

第１図は本発明の実施例に係るインクジェット記録装置
の系統図である。図で、第３図に示す部分と同一部分に
は同一符号が付しである。本実施例が第３図に示す装置
と異なるのは、制御袋Ｗ１８のみであり、他の部分の構
成は同じである。制御装置１８は、励振電圧の修正処理
手段が第３図に示す制御装置１７と異なる。以下、本実
施例の制御装置１８の励振電圧修正処理手段を、第２図
（ａＬ　　（ｂ）に示すグラフ、第３，４図に示すフロ
ーチャートおよび第５図に示すグラフを参照しながら説
明する。

第２図（ａ）、（ｂ）は励振電圧に対する荷電量のグラ
フである。Ｌ、、、Ｌ□１は大径粒子の荷電量をプロッ
トした波形、ｓｎ　ｌ　　ｓ　ｎｉｌ・　ｓｎ・２は小
径粒子の荷電量をプロットした波形を示す。

第２図（ａ）は波形ｓ、、。２が温度変化により波形Ｌ
　ｎ　＋　１の方に接近してきて接触した状態を示す図
である。このような状態においては、励振電圧を値■８
□２に設定するのは前述の理由により不適切であり、本
実施例では、波形ｓ９゜２の接近方向に存在する大径粒
子の波形ＬＨ，Ｌｌ’ｌ＋＋間にある小径粒子の波形Ｓ
　ｎｉｌを発生するような励振電圧ｖ、、１　を求める
制御がなされる。又、第２図（ｂ）は波形Ｓ、が温度変
化により波形Ｌ７の方に接近７ ８ してきて接触した状態を示す図であり、この場合は、設
定されている励振電圧Ｖ＠。に代えて波形Ｓイの接近方
向に存在する波形Ｌ　ｎ　＋　　Ｌｒ１４１間の波形Ｓ
□１を発生させる励振電圧Ｖ。１を求める制御がなされ
る。

ここで、励振電圧修正処理手段を第３．４図に示すフロ
ーチャートにしたがって説明する。

まず、記録に先立ち従来と同様の手段で見出した適正な
励振電圧を設定する（第３図に示す手順５１１）。次に
、フラグ（このフラグについては後述する）をクリアし
く手順ＳＩ□）、記録用紙６上の１つのラインの記録が
開始される（手順５Ｉ３）。

そして、そのラインの記録を終了したか否かが判断され
（手順５１４）、終了した場合にはそれが全ラインの終
了であるか否かを判断する（手順Ｓ＋ｓ）。

全ラインの記録が終了していない場合には、記録用紙６
の間隙６ｇにおいて、従来と同じ手段により、前記適正
な励振電圧の近傍の励振電圧における荷電量のデータを
採取する（手順５１６）。次に、前述のフラグがセット
されているか否かをみて（手順ｓ、７Ｌセットされてい
ない場合には通常の微修正に必要なデータが揃ったか否
か判断し、（手順Ｓ＋ｓ）、揃うまで、手順ＳＩ４〜５
ｌ１１の処理が繰返えされる。

必要なデータが揃ったと判断されると、次に、小径粒子
を発生させる励振電圧の領域（以下小径領域という）が
大径粒子を発生させる励振電圧の領域（以下大径領域と
いう）に近接しているか否かが判断される（手順Ｓ３．
）。この判断は、手順Ｓ１６で採取した各荷電量データ
に基づいてなされる。例えば、第２図（ａ）に示す状態
の場合、手順Ｓ１６の処理による荷電量データの採取は
、励振電圧Ｖ　ｅ　ｎ　２を中心とする小径領域Ａ７□
の励振電圧についてなされる。この場合、小径領域Ａゎ
２における励振電圧が小さい側の端部Ａ７□′は荷電量
データが上昇を示す。又、第２図（ｂ）に示す状態の場
合、小径領域Ａ７における励振電圧が大きい側の端部Ａ
ア′が荷電量データの上昇を示す。このように小径領域
の端部で荷電量データの上昇が現われたとき、小径領域
が大径領域に近接してい９ ０ ると判断される。

小径領域が大径領域に近接していないと判断されたとき
、励振電圧は採取された荷電量データに基づいて微修正
されて新たな励振電圧として設定され（手順５２ｏ）、
この設定された励振電圧が次のライン以降の記録に使用
される。手順Ｓ１９で小径領域が第２図（ａ）、　　（
ｂ）に示すように大径領域に接近していると判断された
場合、フラグをセットして（手順Ｓｚ＋）　、処理は手
順ＳＩ３に戻る。

このフラグのセットは、例えばメモリの所定アドレスを
高レベル「１」とすることによりなされる。

この状態において、処理が手順Ｓ１３から手順Ｓｌ’ｌ
に進むと、この手順Ｓ、７ではフラグセットと判断され
るので、処理は手順Ｓ２２へ移行する。手順Ｓ２２では
、小径領域の接近方向への励振電圧の掃引処理が実行さ
れる。例えば、第２図（ａ）に示す場合、小径粒子の波
形Ｓ７，２の接近方向は左方（励振電圧が減少する方向
）であるので、掃引処理もその方向へなされ、かつ、そ
の掃引は近接した波形Ｌ７゜、から次の大径粒子の波形
Ｌ７が現ねれるまで実施される。第２図（ａ）では、励
振電圧の当該掃引の区間が符号Ｂ１で示されている。

なお、第２図（ｂ）に示す場合、掃引方向は励振電圧が
上昇する方向であり、掃引区間は次の大径粒子の波形Ｌ
　ｎｉｌまでの区間Ｂｂｌである。この手順３２２の掃
引処理は、所定大きさの励振電圧を１単位として記録用
紙６の間隙６ｇ毎に１単位ずつ実行されてゆく。

１単位の掃引処理が実行され、その励振電圧における荷
電量データが採取されると、当該荷電量データに基づい
て次の大径粒子を検出したか否かの判断がなされる（手
順５２３）。次の大径粒子が検出されない場合には、そ
れが検出されるまで手順Ｓ＋４．ＳＩ５．　　Ｓ１６．
ＳＩ７．　　ＳＲ□、Ｓ３３の処理が繰返えされる。次
の大径粒子が検出された場合には、掃引中に採取された
各荷電量データに基づいて、２つの大径粒子（第２図（
ａＬ　　（ｂ）に示す場合、波形り、、Ｌゎ＋１）の間
に小径領域が存在するか否かをみるデータ解析が実行さ
れる（手順５２４）。このデータ解析については後述す
る。

１ ２ 次いで、当該データ解析の結果小径領域が見出されたか
否か判断され（手順５２５）、見出された場合にはその
小径領域における適正な励振電圧を新たな励振電圧とし
て再設定しく手順５２６）　、フラグをクリア（低レベ
ル「０」とする）して（手順５２７）、処理は手順５１
３に戻る。

手順Ｓ２Ｓで、小径領域が見出されないと判断されたと
きには、警報を出力し、記録動作を停止させ（手順８２
８）、処理を終了する。即ち、２つの大径領域の間に小
径領域が存在しないということは、異常状態であると判
断され、記録動作を中止して必要なチエツクを行なうこ
ととなる。

次に、手順ＳＺａにおけるデータ解析を第４図に示すフ
ローチャートおよび第５図に示すグラフを参照して説明
する。第５図は２つの大径領域間における励振電圧に対
する荷電量データのグラフであり、横軸に励振電圧、縦
軸に荷電量データがとっである。

まず、第３図に示す手順Ｓ２□の処理の繰返しにより得
られた原データが多い場合には、連続する所定数のデー
タを１ブロツクとし、これら各ブロック毎の平均値を演
算する（第４図に示す手順５３１）。このようにして得
られたデータが第５図に示されている。これらデータの
うち、両端近傍の極大値から外側のデータを捨てる（手
順５３２）。

即ち、第５図で矢印■の外側のデータが除去されること
になる。さらに、残ったデータのうち、両端部分におい
て、第５図の破線矢印で示されるように単調に減少して
いる部分のデータを捨てる（手順５３３）。この部分の
データが第５図に矢印■で示されている。残ったデータ
は第２図（ａ）（ｂ）に示す領域Ｂ８□、Ｂ、２のデー
タに相当する。

次に、残ったデータを連続する所定数毎にブロックに分
割し、各ブロック毎にブロック内のデータを加算する（
手順５３４）。第５図では、各ブロックが符号Ｂ、〜Ｂ
７で示されている。これらブロックのうち加算値が最大
となるブロックを見出す（手順５３５）。第５図ではブ
ロックＢ、のデータの加算値が最大となる。次いで、見
出されたブロックの中の最大値に対応する励振電圧Ｖ、
を見３ ４ 出す（手順５３６）。第２図＜ａ＞　、（ｂ）　では、
この値■８は値Ｖ８□に相当する。次に、手順Ｓｌｌの
処理により残ったデータのうち、当該励振電圧Ｖえの荷
電量データが極大値であるか否かの判断をしく手順５ｓ
ｔ）、極大値であれば２つの大径領域の間に小径領域が
存在すると判断しく手順３３Ｂ）。

一方、極大値でなければ、小径領域は存在しない異常状
態であると判断する（手順Ｓ３．）。

手順Ｓ’ＪＲの判断がなされたとき、第３図に示す手順
Ｓ２６により励振電圧ＶＸが新らしい励振電圧として設
定され、次の１ラインの記録から所望電圧として新らし
い励振電圧ＶＸが使用される。したがって、大径領域と
小径領域が近接したとき生じる不都合を免れることがで
き、良好な記録を行なうことができる。

〔発明の効果〕

以上述べたように１本発明では、記録動作中に大径領域
と小径領域が近接した場合にこれを判断し、近接した大
径領域と次の大径領域との間に存在する小径領域を見出
し、この小径領域の励振電圧を新たな励振電圧として設
定するようにしたので、適切なタイミングによるインク
粒子の発生および荷電を確保することができ、ひいては
良好な記録を行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例に係るインクジェット記録装置
の系統図、第２図（ａ）、　　（ｂ）は荷電量データの
グラフ、第３図および第４図は第１図に示す制御装置の
動作を説明するフローチャート、第５図は荷電量データ
のグラフ、第６図は従来のインクジェット記録装置の系
統図、第７図（ａ）。 （ｂ）は電極電圧、第７図（Ｃ）はテスト電圧の波形図
、第８図は第６図に示す制御装置の動作を説明するフロ
ーチャート、第９図は検出された粒子荷電量のグラフ、
第１０図（ａ）、　　（ｂ）。 （ｃ）は荷電量データのグラフである。 １・・・・・・・・・ノズル、２・・・・・・・・・圧
電素子、３ａ、３ｂ・・・・・・・・・インク粒子、４
ａ、４ｂ・・・・・・・・・電極、５・・・・・・・・
・ドラム、６・・・・・・・・・記録用紙、６ｇ・・・
・・・・・・間隙、８・・・・・・・・・ギャップ検出
器、１０・・・・・・・・・励振型５ ６ 圧可変回路、１１・・・・・・・・・記録信号源、１２
・・・・・・・・・テスト信号源、１３・・・・・・・
・・スイッチング回路、１５・・・・・・・・・センス
アップ、１６・・・・・・・・・電極切換回路、１８・
・・・・・・・・制御装置。 ７ １回１［１Ｎ国゛１′トーへ

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）インクを噴出させてインク粒子を生成させるノズ
   ルと、前記インク粒子を荷電偏向させる電極と、前記イ
   ンク粒子の荷電量を検出する荷電量検出手段と、記録動
   作の中止期間に前記荷電量検出手段により検出された荷
   電量に基づいて前記インク粒子の最適発生タイミングを
   制御するタイミング制御手段とを備えたインクジェット
   記録装置において、前記タイミング制御手段は、検出さ
   れた前記荷電量に基づいて前記インク粒子のうちの大径
   粒子と小径粒子とのタイミング値の近接を判断する近接
   判断手段と、この近接判断手段により近接が判断された
   とき前記小径粒子が近接した方向における所定数のタイ
   ミング値に対する荷電量を検出してゆく掃引手段と、こ
   の掃引手段により見出された２つの大径粒子のタイミン
   グ値の間の荷電量データを解析して両者間に存在する小
   径粒子のタイミング値を見出すデータ解析手段と、この
   データ解析手段により得られた前記小径粒子のタイミン
   グ値を新たなタイミング値とするタイミング値再設定手
   段とにより構成されていることを特徴とするインクジェ
   ット記録装置。
2. （２）請求項（１）において、前記近接判断手段は、前
   記荷電検出手段により検出された使用中のタイミング値
   の前後の所定数のタイミング値に対する荷電量のうち当
   該タイミング値の一方の端部における荷電量が増加を示
   すか否かを判断する判断手段より成ることを特徴とする
   インクジェット記録装置。
3. （３）請求項（１）において、前記データ解析手段は、
   掃引したタイミング値のうちその両端近傍でデータが減
   少している部分およびその外側のタイミング値を排除す
   る排除手段と、残余のタイミング値を各タイミング値の
   順に所定の同数ずつのブロックに分け各ブロックの各デ
   ータを加算する加算手段と、この加算手段により得られ
   た値が最大のブロックを選択する選択手段と、この選択
   手段により選択されたブロック内で最大のデータに対応
   するタイミング値を決定する最適タイミング値決定手段
   とを備えていることを特徴とするインクジェット記録装
   置。