JPH026271U - - Google Patents

Info

Publication number
JPH026271U
JPH026271U JP8549088U JP8549088U JPH026271U JP H026271 U JPH026271 U JP H026271U JP 8549088 U JP8549088 U JP 8549088U JP 8549088 U JP8549088 U JP 8549088U JP H026271 U JPH026271 U JP H026271U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
base plate
probe
semiconductor device
support member
periphery
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8549088U
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP8549088U priority Critical patent/JPH026271U/ja
Publication of JPH026271U publication Critical patent/JPH026271U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案装置の一具体例の一部分を断面
にした正面図、第2図および第3図はターミナル
の整列パターンを例示するベースプレートの上面
図、第4図および第5図はプローブの形状を例示
する正面図である。また第6図は半導体装置の一
般的な形状と構造を例示する斜視図、第7図は半
導体装置を特性検査する装置の一具体例を示す部
分断面図である。 1……フラツトパツケージ型半導体装置、10
……プローブ、11……ターミナル、12……コ
イルスプリング、13……ベースプレート、14
……吸着支持部材、15……プリント基板。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. ベースプレートの下面周縁に、フラツトパツケ
    ージ型半導体装置の各リードと対応して接触する
    複数本のプローブを下方に向けて突設し、各プロ
    ーブを測定装置に電気的に接続する複数本のター
    ミナルを、上記ベースプレート上面周縁に整列さ
    せて突設すると共に、前記プローブならびにター
    ミナルを前記半導体装置のリードに対して位置決
    め固定するための吸着支持部材を、前記ベースプ
    レートの下面に設けたことを特徴とするフラツト
    パツケージ型半導体装置の特性検査装置。
JP8549088U 1988-06-27 1988-06-27 Pending JPH026271U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8549088U JPH026271U (ja) 1988-06-27 1988-06-27

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8549088U JPH026271U (ja) 1988-06-27 1988-06-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH026271U true JPH026271U (ja) 1990-01-16

Family

ID=31310158

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8549088U Pending JPH026271U (ja) 1988-06-27 1988-06-27

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH026271U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54181005U (ja) * 1978-06-12 1979-12-21

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54181005U (ja) * 1978-06-12 1979-12-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6447042U (ja)
JPH026271U (ja)
JPS6236139Y2 (ja)
JPH0416367U (ja)
JPS62108874U (ja)
JPH069134U (ja) 斜め直線状のプローブを備えたプローブ基板
JPH0457773U (ja)
JPS63109674U (ja)
JPS61157367U (ja)
JPH0128466Y2 (ja)
JPS62162676U (ja)
JPS63161372U (ja)
JPS6251277U (ja)
JPH02106858U (ja)
JPS6373672U (ja)
JPH0270441U (ja)
JPH0328464U (ja)
JPH0754814B2 (ja) Icチツプの試験測定方法
JPS6251278U (ja)
JPH0381573U (ja)
JPH068853B2 (ja) Ic検査用コンタクタ
JPH0227578U (ja)
JPS6417474U (ja)
JPH0166078U (ja)
JPS6314173U (ja)