JPH0271129A - レンズ検査装置の制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

［産業上の利用分野］ この発明は、被検レンズにより形成されるチャト像のコ
ントラストを測定して該被検レンズの不良品の判別作業
を行なうレンズ検査装置の制御装置に関する。 ［従来の技術］ −・般に、写真レンズ等の光学レンズは、その量産時に
おいて投影テストにより最終検査（性能検査）される、
この投影テストとは、検査対象レンズ（被検レンズ）に
よって投影されたチャート像を作業者が１１視によりチ
エツクして当該被検レンズの解像力を確認検査するもの
である。 第３１図に投影テストの４１要を示し、１′は光源とし
てのハロゲンランプ等のランプ、２′はランプ１′から
の光線を集光するコンデンサレンズ、３′は透過型チャ
ート、４′は被検レンズ、５′は投影板である。 透過型チャート３′は、透明なカラス板の表面に、大小
様々なピッチのｍ線列と横線列を組合せた所定のパター
ンを、クロム等の！へ着によって光線不透過として複数
描いたものである。この、＜ターンの線列の大小（線の
幅及びピッチ）が解像力と対応し、投影板５′」−に投
影されたチャート像中で分離して見える最小ピッチの線
列から例えば１００本／ａｓの如く解像力が評価される
ようになっているものである。 ランプ１′からの光線は、コンデンサレンズ２′により
集光されて透過型チャート３′を背面から照光して透過
する。この透過光により形成される透過型チャート３′
の像を、被検レンズ４′によって該被検レンズ４′のｊ
、１％点距離の４０〜５０倍の位置に置かれた投影板５
′Ｊ−に拡大投影する。尚、この時、被検レンズ４′に
よるチャート像の光束の入射角度０１に対してコンデン
サレンズ２′からのチャート３′への照光の入射角度０
２が図の様に小さいと被検レンズ４′が絞られた結果と
なる為、入射角０２は充分大きくなければならないもの
である。 作業者は、被検レンズ４′の位置を光軸方向に微動副筒
して［−記チヤード像の中心のピントを投影板５′Ｆに
合わせた後、この投影板５′上に投影されたチャート像
内の所定位置に於る所定ピッチのチャートが分離されて
いるかどうか（換言すればチャート像内の所定位置に於
て所定の解像力を有するかどうか）を目視によって確認
し、被検レンズの良否を検査するものである。 しかし、こうした投影テストでは、作業を暗室内で行な
わなければならないために作業性が悪い、被検レンズの
焦点距離が長い場合には大きな暗室を必要として多大な
設備費を要する、コンデンサレンズに大１°１径且つ明
るいものが惑星。 チャート像を１］視によりチエツクするものであること
から熟線した作業者であっても一定以七の精度での安定
した検査は望めない、といった数々の不其合がある。こ
れらの問題を解決するものとして本出願人は先に、被検
レンズを回転駆動Ｏｆ能に保持するレンズ保持部と、該
レンズ保持部に保持された被検レンズに軸上と軸外から
所定ピッチの格子状チャートを透過した光を入射させる
光学系と、該光学系による軸上及び軸外光のそれぞれの
光路重力に被検レンズの光軸方向に移動駆動可能に配置
された検知手段により検知されたチャート像に基づいて
コントラストを算出するコントラスト測定−手段と２　
レンズ保持部の回転駆動及びコントラスト測定手段の作
動を制御して被検レンズの像の所定位置に於けるコント
ラストを測定する作動制御手段と、コントラス！・測定
子役により測定されたコントラストをｔめ定められた判
定基準と比較することにより被検レンズの良否を判定す
る判定部と、該判定部による判定結果を表示する表示部
と、により構成したレンズテスタを提案した。 ［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、こうした構成のレンズテスタでは、作動
が複雑で測定点も多いものである為、効＝Ｎ良く作動さ
せてレンズの検査を効率的に行なうことのできる制御装
置が望まれていた。 ［発明の［１的］ この発明は、。Ｌ記のような背景に鑑みてなされたもの
であり、合理的な作動によりレンズの検査を効率的に行
なうことのできるレンズ検査装置の制御装置の提供、を
その目的とする。 ［課題を解決するための手段］ そのため、本発明によるレンズ検査装置のＪｉｇ＃装置
線装置ントラス）ｆｌＮ定手段による軸上及び軸外のチ
ャート像のコントラストの測定をコントラスト測定手段
の検知手段を被検レンズの光軸方向に移動させて所定間
隔で複数箇所に於て行なうと共に、該被検レンズの光軸
方向の複数箇所に於るコントラストの測定をレンズ保持
部を駆動して被検レンズをその光軸を中心として回転さ
せて測定点を変更して行ない、各測定点に於て軸上のコ
ントラスト測定値が最大値を示す位置の平均位置に検知
り段を固定し、レンズ保持部の駆動により被検レンズを
回転させて所定軸外測定点に於るチャート像のコントラ
ストを測定するよう、コントラス）Ｊ［定［段の検知手
段の作動とチャート像のコントラストの測定及びレンズ
保持部の作動を制御するものである。 以ド余白 ［発明の実施例］ 以ド、この発１１の実施例を添付図面を参照しながら説
明する。 第１図は、本発明に係るレンズ検査装置の制御装置の一
実施例により制御されるレンズテスタＬＴのブロック図
である。 「レンズテスタＬＴの概略」 （構　成） レンズテスタＬＴは、レンズ保持部としてのレンズマウ
ント部１０、光学系２．センサ部３１と演算回路３２と
により構成されるコントラスト測定値定ト段としてのコ
ントラスト測定部３、制御装置としての制御部４、判定
部５１表示部６．とにより構成されている。尚、制御部
４と判定部５は一つのマイクロコンピュータにより構成
されているものである。 尚、本実施例に於てレンズテスタＬＴは第２６図の如く
コンピュータと接続されてレンズテスタシステムを構成
しているが、これについては後に詳説する。 （作　用） レンズマウント部ｌＯは、被検レンズｌを、該被検レン
ズｌの光軸を中心として回転駆動可能に所定位置に保持
する。 光学系２は、レンズマウント部ｌＯに保持された被検レ
ンズｌに、該被検レンズｌの光軸に沿う軸上から所定格
子ピッチのチャー）ＣＡを透過した光（軸−Ｌ光ＬＡ）
を入射させると共に、光軸と所定の角度を有する軸外か
ら所定格子ピッチのチャートＣＺを透過した光（軸−Ｅ
光ＬＺ）を入射させる。 コントラスト測定部３では、光学系２からの軸」−及び
軸外光ＬＡ−ＬＺがレンズマウント部１０に保持された
被検レンズｌを通過することにより形成されるチャート
ＣＡ−ＣＺの像を、ＣＣＤセンサ部３１の各ＣＣＤセン
サ（軸上センサ３１Ａ及び軸外センサ３１　Ｚ）がチャ
ート像のピッチ方向に走査して該チャート像の明暗を電
気材−二−に変換し、この電気信号を演算回路３２（軸
上演算回路３２Ａ及び軸外演算回路３２Ｂ）により演算
して輔に及び軸外に於るチャート像のコントラストを算
出（即ち測定）する。 制御Ｊ１部４は、ＣＣＤ　セｙ　サ？Ｂ　３１（７）各
ＣＣＤ−ｔ！ＣＣＤセンサ１２を被検レンズｌの光軸方
向に移動させて被検レンズｌの光軸方向の複数箇所に於
いて軸上及び軸外に於るチャート像のコントラストを測
定すると共に、レンズマウント部１０を駆動することに
より被検レンズｌをその光軸を中心に回転させて軸外の
測定点を変更すると共に軸］−に於る被検レンズ１に対
するチャート像のピッチ方向を変更し、上記被検レンズ
ｌの光軸方向の複数箇所に於けるチャート像のコントラ
ストの測定を所定の複数の軸外位置について行ない、更
に、上記測定により得られた軸上のコントラスト測定結
果から、各測定点に於るコントラストが最大値を示す光
軸上の位置の平均位置に軸上及び軸外のＣＣＤセンサ３
１Ａ・３１２を固定しく即ち、軸上の各測定点に於るコ
ントラストが最大値を示す被検レンズｌと軸上センサ３
１Ａとのモ均距離、と等しい被検レンズ１からの距離に
軸外センサ３１Ｚも固定し）、被検レンズｌを回転させ
て軸外の各測定点に於るチャート像のコントラストを測
定するよう、コントラスト測定部３のセンサ部３１の各
ＣＣＤセンサ３１Ａ・３１Ｚの移動駆動とコントラスト
の測定、及びレンズマウント部ｌＯの駆動（被検レンズ
ｌの回転）を制御するものである。 判定部５は、１−記作動制御部４に制御されてコントラ
スト測定部３により（すられたチャート像のコントラス
トの萌を予め定められた判定）＾準（／ｆと比較すると
共に、最大のコントラスト値を示す軸、１−と軸外の各
測定点の光軸方向の相互のズレノＩＸを予め定められた
判定基準Ｊ１Ｌと比較し、゛Ｉ定基塾を越えているもの
があれば不良として被検レンズｌの良否を判定する。更
に、被検レンズｌが不良の場合には、上記各測定点のコ
ントラスト値又は最大のコントラスト値を示す軸にと軸
外の各測定点の光軸方向の相互のズレの状態から、予め
定められた解析演算方法によってその不良内容を導出す
る。 表示部６は、判定部５による判定結果と、導出された不
良内容を配置されたＬＥＤの点灯により表示するもので
ある。 次に、］−記記構構成の構成及び作用を、順を追って詳
細に説明する。 「レンズマウント部１０Ｊ （構　成） 第２図は、レンズマウント部ｌＯの平面図、第３図は　
その■−■断面図である。 図において、１００はレンズテスタＬＴのシャーシ（第
２図には示してない）、１１は被検レンズｌが位置決め
保持されるマウント１０１はマウント１１を回転自在に
支持するシャーシ１００に固定された軸受ポス、１５は
被検レンズｌをマウン）１１上に固定するロック機構、
１７はロック機構１５を駆動するエアシリンダ、１８は
マウントｔｉを回転駆動するＤＣモータである。 マウン）１１は１円板状の基板１２の中心部に検査光通
過の為の開口部を形成すると共に、この基板１２の１−
面に被検レンズ１を位置決め載置＋−＋１能なレンズ載
置部１３．下面に軸受ポスｌｏｔとの嵌合部１４．をそ
れぞれ突出形成した略円板状の外観を１，１１．ている
、基板１２の外周端部面には全周にｌｉってギア１２Ａ
が形成されており、又、基板１２のに面のレンズ４１置
部１３を中心とした対向する三箇所に、被検レンズｌを
レンズ佐置部１３に固定する為のロック＠４１ｊｔｓが
設けられている。 そ゛して、嵌合ｉ’ｊｌｌ１４がベアリング１０２を介
してシャーシ１００に固定された軸受ポス１０１に嵌合
し、シャーシ１００に回転自在に設置されている。 レンズ載を部１３は、その」二面が、ｌ、（半面１３Ａ
となっていると共に図示しない前後・左右方向の位置決
めが形成されており、該基準面１３Ａ上に被検レンズ１
の鏡筒のフランジｔＡ（”Ｍ該しンズをカメラ本体へ取
付ける為の７ランジ）を当接させて載置すると、マウン
ト１１に対して被検レンズｌの上下・前後・左右の位置
が決った（即ち位置決めされた）状態となるよう構成さ
れているものである。 ＤＣモータ１８は、マウン）ＩＩＡ！ｆｆ１位置の側方
であるシャーシ１００の下側の面にそのスピンドル１８
Ａを上向きとして固定されている。 シャーシ１００をｒｔ通して上側に突出するスピンドル
１８Ａの上端にはギア１８１が嵌合固定され、該ギア１
８１がアイドルギア１６と噛合すると共に該アイドルギ
ア１６がマウン）１１のノふ板１２の外周のギア１２Ａ
と噛合しており、ＤＣモータ１８の回転によりマウン）
１１が回転駆動されるようになっている。 ロック機構１５は、基板１２の上面に立設されたポスト
１５１の側面に、リンクグレート１５２がその略中央部
で回動可能に軸支されると」（に、該リンクプレート１
５２の先端に固定さられたビン１５２Ａがロックプレー
ト１５３の！ｉｌｌり欠き１５３Ａに嵌合しており、リ
ンクプレート１５２の回動によりロックプレート１５３
も回動するよう構成されている。ロックプレート１５３
は、所定Ｊ１さの板状で、」；端部に切り欠き１５３Ａ
が開放形成されると共に一方側端にツメ１５３Ｂが突出
形成されており、該ツメ１５３Ｂをレンズ載置部１３側
としてその下端側でボス）１５１に回動自在に軸支され
ているものである。 又、リンクプレート１５２とロックプレート１５３とは
、その夫々の軸支位置の外側（レンズ載置部１３とは反
対の側）に於てスプリング１５４によって連結されてお
り、該スプリング１５４がロックプレート１５３をリン
クプレート１５２に対してそのツメ１５３Ｂをレンズ載
置部１３側に回動させる方向に中っ張り付勢している。 このロックプレート１５３の回動はツメ１５３Ｂがレン
ズ載置部１３の上面（基準面１３Ａ）に当接することで
規制されるが、この時ツメ１５３Ｂが基準面１３Ａを押
圧する力は、被検レンズｌを保持するに充分な所定の押
圧力となるよう設定されているものである。 エアシリンダ１７は、そのロッド１７Ａの位置をリンク
プレー）１５２の軸支点より」−側に対応させてリンク
プレート１５２より外側のシャーシ１００１−に設置さ
れており、該エアシリンダ１７を駆動してロッド１７Ａ
を伸張させると、詠ロッド１７Ａの先端がリンクプレー
ト１５２の上端を押圧して回動（上端がレンズ載置部１
３側に、ド端がレンズ載置部１３と反対の側に移動する
よう回動）させ、ピン１５２Ａを介してロックプレート
１５３をそのツメ１５３Ｂがレンズ載置部１３から離れ
る方向（図中矢印で示す）に回動させるようになってい
る。尚１図中エアシリンダ１７は一方のロック機構１５
に対するものしか記載してないが、他方のロック機構１
５に対しても同様に配置するか、又は双方のロック機構
１５をリンク機構笠により連結して同期作動するよう構
成すれば良いものである。 （作　用） そして、エアシリンダ１７を駆動してロックプレート１
５３をそのツメ１５３Ｂがレンズ載置部１３から離れる
方向に回動させると、レンズ載置部１３の基準面１３Ａ
上への被検レンズ１の載置（又は取り外し）が可能とな
る。この状態で、ノ、（帯面１３Ａ、ヒに被検レンズｌ
を位置決め位置し、エアシリンダ１７を逆方向に駆動し
てリンクプレート１５２の抑圧を解除すると、スプリン
グ１５４の引っ張り力でロックプレート１５３が回動し
、ツメ１５３Ｂが被検レンズｌのフランジＩＡをレンズ
依置部１３上に押圧して被検レンズｌをノフ半面１３Ａ
上に（即ちマウン）１１上に）固定するものである。 又、ＤＣモータ１８を回転させてマウント１１を回転駆
動することにより、マウントｌｌ上に固定された被検レ
ンズｌをその光軸を中心として回転させることができ、
且つ任意の位置（角度）で停止させることができるもの
である。 尚、上記エアシリンダ１７及びＤＣモータ１８の駆動制
御は、後述する制御部４により行なわれるものである。 「光学系２」 （構　成） 光学系２は、：ｊＳ１図に示す如く、軸ヒ光及び軸外光
の二本の光束を形成する光源部２１と、該光源部からの
それぞれの光束が透過する位置に配置された所定ピッチ
の透過型格子であるそれぞれのチャー）ＣＡ−ＣＺ、該
チャートＣＡ−ＣＺ及び被検レンズｌを介したそれぞれ
の光束（軸上光ＬＡ及び軸外光ＬＺ）の光路を反射Ｊｉ
＋ｉ折させて後述するコントラスト測定ｆｉ３に導くミ
ラー２２・２３、それぞれの光束光路上に配置されたコ
リメータレンズ２４・２４．により構成されている。 光源部２１は、その概念構成図を第４図に示す如く、光
源としてのハロゲンランプ２１１．該／＼ロゲンランプ
２１１からの光を所定の分光特性に整える為の二枚のフ
ィルタ２１２−２１３、コンデンサレンズ２１４．拡散
板２１５．軸上用固定ハーフミラー２１６．軸外川可動
ミラー２１７、を上記記述順に配置して構成されている
。 ハロゲンランプ２１１の背面側（光線出射側とは反対の
側）には、パラボラ状の反射板２１１Ａが設けられ、ハ
ロゲンランプ２１１からの光を所定の位置（図中ｆで示
す）に集光するようになっている。そして、その焦光位
Ｑ’？ｆより光路前方に赤外吸収フィルタ２１２及び色
補正フィルタ２１３の二枚のフィルタが、次にコンデン
サレンズ２１４．拡散板２１５の順で配置されている。 拡散板２１５より光路前方には、軸に用固定ハーフミラ
ー２１６が光路に対して４５°の傾きで固定配置され、
次に軸外用町動ミラー２１７が配置されている。軸外用
Ｌｆｆ動ミラー２１７は、その角度が調整１１丁濠とな
っていると共に、ハロゲンランプ２１１からの光束と平
行する方向に前後に移動ｒＩＩ能となっており、被検レ
ンズｌの光軸に対する軸外光の角度を調？！！可能に構
成されている。 光源部２１から出射される軸上及び軸外光しいＬＺの光
路」二の被検レンズｌの前（＋！ＩＩちマウント１１の
光源部２１側）に、別々のチャートＣＡ−ＣＺがシャー
シ１００に固定されて配置されている。 チャートＣＡ・ＣＺは、第６図に示す如く、光線透過＋
＋（能なｆＨ！なガラス基板−Ｌに−・力方向に所定ピ
ッチ（Ｐ）で光線不透過の複数の線部をクロムを蒸着し
て形成した矩形波格子である。 そして、軸上光ＬＡが透過する位置（即ち被検レンズｌ
の光軸−Ｆ、）にはＰ　＝　１／２０　ａｍの軸」ニチ
ャー）ＣＡが、軸外光ＬＺが透過する位置にはＰ　＝　
１／１０　ａｍの軸外チャー）ＣＺが、それぞれ配置さ
れている。尚、各チャートＣＡＩＩＣＺの配置方向は、
軸外チャートＣ２に於て、そのピッチ方向（刻線と直交
する方向）が被検レンズｌの中心から放射状となる方向
とし、軸−ヒチャートｃＡもこの軸外チャートＣＺと同
じ向きとして配置されている。 ミラー２２・２３は、軸ＬチャートＣＡ及び被検レンズ
１を介した軸上光ＬＡの光路延長上の所定位置に軸」ニ
ミラー２２を固定すると共に、軸外チャートＣＺ及び被
検レンズｌを介した軸外光ＬＺの光路延長上の所定位こ
に軸外ミラー２３を配置して構成される。 軸１ニミラー２２は、被検レンズｌの光軸に沿う１ｉ１
１１−光ＬＡを後述するコントラスト測定部３の軸Ｌセ
ンサ３１Ａに向けて直角に反射するよう、被検レンズｌ
の光＠］；の所定位置に、該被検レンズ１の光軸に対し
て４５°傾けて固定設置されている。 軸外ミラー２３は、第７図乃至第８図に示す如く、シャ
ーシ１００に固定されたガイドレール２３１に、スライ
ドベース２３２及びミラーホルダ２３３を介して被検レ
ンズ１の光軸からの距離及び設置角度を調整Ｏｆ能とし
て設置されているものである。 ガイドレール２３１は、その長子方向を後述するコント
ラスト測定部定部３の軸外センサ３１Ｚに向けて水懸に
シャーシ１００に固定されている。 スライドベース２３２は、そのド面に於てガイトレール
２３１に摺動ｉ＋７濠１１つ離脱４１歳に嵌合し、ガイ
ドレール２３１の長手方向に沿って摺動移動”ｒ　ｆ＋
ｔであると共に１図示しないロック機構によって所定位
置に固定可能となっている。 ミラーホルダ２３３は、スライドベース２３２に離脱不
能に嵌合して一体となっており。 その嵌合部２３４に於て摺動回転可使となっている。こ
のステイトベース２３２に対するミラーホルダ２３３の
回転位置も、図示しない固定機構によって任意の角度で
固定可能となっている。ミラーホルダ２３３の回転軸方
向は、当該軸外ミラー２３の摺動移動方向（即ちガイド
レール２３１の長手方向）と直交する水平方向となって
いるものである。又、ミラーホルダ２３３の−Ｌ面には
ミラー保持部２３３Ａがｔ設されており、該ミラー保持
部２３３Ａの上端近傍には、取付孔２３３Ｂがｒｔ通形
威されている。 軸外ミラー２３の裏面には、円柱状の取付バー２３Ａが
その端面で接着剤により接着固定されており、該取付バ
ー２３Ａをミラーホルダ２３３の取付孔２３３Ｂに嵌合
すると共にこの取付バー２３Ａを二本の１ヒめネジ２３
３Ｃで直交する方向から締付けることで、ミラーホルダ
２３３に軸外ミラー２３が固定されている０本構成によ
り軸外ミラー２３を歪ませることなく固定することがで
ｙるものである。 尚、第７図及び第８図では、軸頚ミラー２３が光軸方向
と直交する角度となっているが、実際は第１図示の如く
所定の角度に傾けて設置されるものである。 コリメータレンズ２４は、上記軸」−ミラー２２及び軸
外ミラー２３によりｈ１１折されてコントラスト測定部
３に向う光路上に、それぞれ後述するコントラス）Ａｌ
ｌ定部３のセンサ部３１のユニットヘース３１３を介し
てシャーシ１００に１７７１足されて配置されている。 （作　用） そして、光源部２１では、ハロゲンランプ２１１からの
光を赤外吸収フィルタ２１２及び色補正フィルタ２１３
によって第５図（ｄ）に示す如き所定の分光特性の光と
すると共に、軸上及び軸外光ＬＡ−ＬＺとして被検レン
ズｌに向けて出射する。 第５図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）、は光源部２１を構成す
る各構成要素の放射分光特性又は透過分光特性を示すグ
ラフであり、各図とも横軸が波長、縦軸が放射率あるい
は透過率となっている。それぞれのグラフを説ＩＪＩす
ると。 （＆）は、ハロゲンランプ２１１単体の放射分光特性で
ある。 （ｂ）は、色補正フィルタ２１２？ｉｉ体の透過分光特
性であり、諸色補正フィルタ２１２は中心透過波長４６
０ｎ纏となっている。 （ｅ）は、赤外吸収フィルタ２１３１．体の透過分光特
性であり、５０％カット波長７５０ｎ腸となっている。 （ｄ）は、ハロゲンランプ２１１．赤外吸収フィルタ２
１３９色補正フィルタ２１２を第３図の如＜Ｍｌみ合わ
せた場合の透過光の分光特性である。即ち、当該光源部
から出射される光は、この（ｄ）に示す如き分光特性を
有する光となっているものである。この分光特性の光は
、後述するコントラスト測定部３のＣＣＤセンサ３１Ａ
・３１２の受光分光特性（第５図（ｅ））とのＭｌ合わ
せにより視感度と略一致した分光特性となるものである
。 このような分光特性に加工された光は、ハロゲンランプ
２１１のフィラメント像をポヵす為に拡散板２１５によ
って拡散され、軸上用固定ハーフミラ−２１６によって
略５０％の光が軸」−光ＬＡとしてに方に向けて直角に
反射される。軸上用固定ハーフミラ−２１６を透過した
光は軸外用可動ミラー２１７によって路上方に向けて所
定の角度で反射され、軸外光ＬＺとなる。軸外用可動ミ
ラー２１７は、前述の如く光束と平行な方向に前後に移
動可能であると共に角度を変更調整することにより光軸
に対する軸外光ＬＺの角度を変更調整可１敞となってお
り、軸外の測定位置を変更できると共に被検レンズｌの
種類に対応できるようになっているものである。 光源部２１からの軸上及び軸外の光束ＬＡ・ＬＺは、そ
れぞれ軸ＦチャートＣＡ及び軸外チャートＣＺを透過し
て被検レンズｌに入射す被検レンズｌを通過した軸上及
び軸外の光束ＬＡ−ＬＺは、それぞれ軸−１−ミラー２
２及び軸外ミラー２３によって反射され、コリメータレ
ンズ２４により結像位置を短縮させられて後述するコン
トラスト測定部３に入射する。 尚、軸外ミラー２３の移動及び回転は、前述の光源、’
１２１に於る軸外用可動ミラー２１７の調整によって軸
外光ＬＺの光軸に対する角度を変更した際に、該軸外光
ＬＺがコントラスト測定部３のセンサ３１２に入射する
よう調節するものである。 以ド余白 ［コントラスト測定部３」 （構　成） コントラストΔＩＩＩ定部３は、軸上光ＬＡ及び軸外光
ＬＺの光路上のそれぞれにＣＣＤセンサ３１Ａφ３１Ｚ
を配したセンサｆｉ３１と、該センサ部３１からの軸」
−及び軸外二つの信号を演算処理する演算部３２とによ
り構成されている。 センサ部３１は、軸上及び軸外のＣＣＤセンサ３１Ａ・
３１Ｚを光線方向に移動可能として構成さ性るが、その
構成は、軸上と軸外では同一であり、軸上側を説明する
ことで軸外側の説明は省略する。 演算部３２は、センサ部３ＩのＣＣＤセンサ３１Ａから
の軸上側の信ｔ３を演算処理する演算回路３２Ａと、セ
ンサ部３１のＣＣＤセンサ３１２からの軸外側の信号を
演算処理する４１ｆ算回路３２Ｚとにより構成される。 そして、その構成は、に記センサ部３１と同様に軸上と
軸外では同一であり、軸上側を説明することで軸外側の
説明は省略する。 センサ部３１は、第９図、該第９図のＸ−Ｘ断面図であ
る：ｊＳＩＯ図及びＸ［−ＸＩ断面図である第１１図に
示す如く、光学系２によって当該コントラスト測定部３
に導入される軸」二元ＬＡを受光す６ＣＣＤ−１＝７ｔ
３１Ａ、該ＣＣＤセンサンｔ３１Ａを保持するセンサボ
ード３１１．該センサボード３１１が固定されたスライ
ドベース３１２、等をユニットベース３１３に所定の位
置関係に配置して一体化したユニットとなっている。 ユニットベース３１３には、リニアベアリング３１４の
スライドシャフト３１４Ａが二本、輔」二元ＬＡの光路
（光軸）と一行に固定されており、１偵スライドシヤツ
）　３１４Ａには夫々二個のスライドピース３１４Ｂが
摺動移動自在に嵌合されている。 スライドベース３１２は、その下面に夫々のスライドピ
ース３１４Ｂが嵌合［−４定されることによってユニッ
トベース３１３に設置され、軸上光ＬＡの光路方向に移
動自在となっている。 又、ドｍ１の略中火に、酸ネジ３１５が固定されており
、該酸ネジ３１５には、ユニットベース３１３の軸上光
ＬＡ入射側とは反対の側の端面に１）、Ｉ定されたパル
スモータ３１６のスピンドルと連結されたスクリュウシ
ャフト３１７が螺合している。 センサボード３１１は、被検レンズ１を通過した軸ｌ；
光ＬＡによる軸上チャー）ＣＡの像の光！１」をアナロ
グ信号として検出（測定）する゛１ｔ！：気回路基板で
あり、軸１；光ＬＡを感知してその光間：に対応した１
を気信号を出力するＣＣＤセンサ３１Ａと、図示しない
該ＣＣＤセンサ３１Ａの駆動回路およびサンプル及ホー
ル１回路等の周辺回路とにより構成される。 ＣＣＤセンサ３１Ａは、画素を一行に並べたラインセン
サであり、センサボード３１１の前面側に固定されるが
、軸上光ＬＡに対して受光面が直角となりＩ［つそのラ
イン方向を軸上チャートＣＡのピッチ方向に一致させて
スライドベース３１２にＩＫ立固定される。つまり、そ
の画素配列方向を軸上光ＬＡによる軸上チャートＣＡの
像の格イ方向と直交させてセンサボード３１１前面に設
けられる。 尚、ユニットベース３１３の前端部には、前述の光学系
２のコリメータレンズ２４が固定されている。 演算回路３２Ａは、第１２図に示すブロック図の如く構
成されており、センサ部３１のＣＣＤセンサ３１Ａが感
知した光像信号Ｓｏつまり被検レンズｌを透過した軸上
チャー）ＣＡの光像の感知信号Ｓｏを演算処理して、軸
上チャー）ＣＡの像のコントラストを出力する。 つまり、この演算回路３２Ａでは、ＣＣＤセンサ３１Ａ
が前述した図示しないサンプル及ホール１回路を介して
バイパスフィルタ３２１および積分回路３２２に接続さ
れており、バイパスフィルタ３２１は絶対１４回路３２
３に接続される。そして、絶対値回路３２３は積分回路
３２４に接続され、積分回路３２４はサンプル及ホール
１回路３２５に接続される。さらに、一方の積分回路３
２２はサンプル及ホール１回路３２６に接続されており
、これらのサンプル及ホール１回路３２５・３２６は共
に除算回路３２７に接続される。 （作　用） センサ１３１は、パルスモータ３１６の回転によりスラ
ートベース３１２がスライドシャフト３１４Ａに沿って
スライド移動する。即ち、ＣＣＤセンサ３１Ａは軸上光
ＬＡの光軸方向に移動駆動されるものである。 演算回路３２Ａは、センサ部３１のＣＣＤセンサ３１Ａ
から送られる光像信号ＳＯを交流成分と直流成分に分解
し、その両者を各々所定時間積分して、それら交流成分
と直流成分の互いの積分値の比を被検レンズｌのコント
ラストとして出力する。 バイパスフィルタ３２１は、上記光像信号Ｓ。 内の交流成分を取り出す。 絶対値回路３２３は、バイパスフィルタ３２１によるＬ
記交流成分の絶対イ１、つまり負側の交ｍｆｆ１分を正
側に整流した値を出力する。 積分回路３２４は、絶対イメ１回路３２３がら送られる
！二記絶対イメ１を所定の時間について積分する。 つまり、積分回路３２４では、光像信号Ｓｏ内の交流成
分が積分される。 ・方、もう・つの積分回路３２２は、センサ部３１のＣ
ＣＤセンサ３１Ａから送られた光像信号Ｓｏをそのまま
所定の時間について積分しており、該積分回路３２２で
は、光像信−’ｆ　Ｓ　Ｏの直流成分が積分される。 なお、積分回路３２２−３２４の各々は、リセット信号
Ｔｏによってリセットされ、積分値ｔ′ｆＴ＋によって
その積分時間が制御される。 サンプル及ホール１回路３２５は積分回路３２４の積分
値をサンプリングして除算回路３２７に送出しており、
同様に、サンプル及ホール１回路３２６は積分回路３２
２の積分値をサンブリ、ソゲして除算回路３２７に送出
している。そして、そのサンプリングのタイミングは、
サンプル信号Ｔ２によって制御される。 除算回路３２７は、積分回路３２４による光像信ｔ３．
　Ｓｏ内の交流成分の積分値を、積分回路３２２による
光像信号ＳＯの直流成分の積分（／ｉで、１．する除算
を実行し、その除算結果を被検レンズ１のコントラスト
として出力する。 光像信ｉ′ｆＳｏは、軸上チャー）ＣＡが矩形格子なの
で矩形波信号となっている（該矩形波信号は直流成分を
含んでげた七げされている）、シかし、フーリエ変換す
れば、上記矩形波信号は１周波数がｑいに異なるいくつ
かの正弦波を複数合成したものとして表現できる。そこ
で、演算回路３２Ａによる一Ｆ記演算出力が被検レンズ
ｌのコントラストとなる旨、光像信号Ｓｏを第１３図に
示すｉＦ弦波信−＋３１に置き抑えて説明する。 同図において、ａは正弦波信号Ｓ１の最大ｉｆｆつまり
最大光−１，、ｂは正弦波信号Ｓ１の最小値つまり最小
光＋、、４はは正弦波信号Ｓ１の周期である。 この正弦波信号Ｓｌの交流成分は、角速度をωとすれば
。 と表わされる。 また、その直流成分は。 と表わされる。 ここで、上記交流成分の一周期に注目して、交流成分と
直流成分を積分し、互いの積分値の比をとれば、 となり、に記（５）式は、前述した（２）式と違って２
／πという定数が乗ぜられているものの、コントラスト
そのものとなる。 すなわち、ｒｒｒｔ　ｎ回路３２Ａでは、センサ部３１
のＣＣＤセンサ３１Ａから送られる光像信号ＳＯは、バ
イパスフィルタ３２１．絶対値回路３２３を介してその
交流成分が積分回路３２４により所定の時間について請
分され、他方の積分回路３２２によりその直流成分が積
分される。そして、除算回路３２７により交流成分の積
分値が直流成分の積分値で；１られ、すなわち（５）式
に示す除算が実行されて該除算結果が被検レンズｌのコ
ントラストとなる。 以上、演算回路３２Ａによる演算出力が被検レンズｌの
コントラストとなる旨、光像信号Ｓｏを第１３図に示す
正弦波４１壮Ｓｌに置き替えて説明したが、上記コント
ラストのｆｌｉｔ算が積分回路３２２・３２４を用いた
光像信号Ｓｏの交１ｉ、成分対直流成分の面積比計算と
なっているため、光像’ｕ？　’；Ｓ　ｏが高調正弦波
を多数含んだ矩形波信号−であっても同様であり、何ら
かまわないものである。 なお、に記センサ部３１の駆動制御及び演算回路３２Ａ
の演算制御は後述する制御部により行なわれる。 「制御部４］ （構　ｉ＆、） 制’ｓＫＢ＋は、後述する判定部５と共にＣＰＵおよび
メモリとによるマイクロコンピュータによって構成され
る。 この制御部４は、上記メモリ内の所定の制御プログラム
４Ａ（第１７図に示す）に従ってレンズテスタＬＴの各
部（レンズテスタ）　部ｔ　ｏ及びコントラスト測定部
３）を作動制御するものであり、コントラストＡｌｌ定
動作全ての動作を制御するものである。 （作　用） 該、制御部４は、コントラスト測定部３のＣＣＤセンサ
３ＬＡを駆動制御して被検レンズｌの光軸方向に移動さ
せ、輔ヒ及び軸外について被検レンズｌの光軸方向の複
数箇所に於いてチャート像のコントラストを測定すると
共に、レンズ保持部ｌＯを駆動して被検レンズをその光
軸を中心として回転させて軸外の測定点を変更してに記
被検レンズの光軸方向の複数箇所に於けるチャート像の
コントラストの測定を所定の複数の軸外位置で行なう、
（測定ｌ） 該測定１の測定結果からは、下記の如き被検レンズｌの
光学特性を知ることができる。（これらの測定結果を基
準値と比較しての良否判定は後述する゛ｒ１定部５によ
り行なう） （１）軸上の各測定点に於るコントラストが最大値を示
す光軸上の位ｔ、の変化から、軸上に於る非点収差の程
度を検知できる。 （２）軸上の各測定点に於てコントラストが最大値を示
す光軸上の位置の平均位５！１（平均像面位置）を、当
該被検レンズｌの基準像面位置と比較することにより被
検レンズｌのバックフォーカスのオーバー乃至アンダー
を察知できる。 （３）軸外の各測定点に於てコントラストが最大値を示
す光軸方向の位置の変化により軸外に於る非点収差の程
度を検知できる。 （４）軸外の測定点に於いてコントラストが最大４４を
示す位ｉｉ！２（即ち像面位置）と軸上の像面位置とを
比較することにより像面の湾曲・倒れを察知できる。 （５）軸上の各測定点に於るコントラストの最大値の差
から、軸」二コマ収差の程度を検知できる。 （６）軸上の各測定点に於るコントラストの最大ｆ内の
ｆ均値から、軸Ｌコントラスト不足を判断できる。 （７）軸上の各測定点に於るコントラストの最大値のう
ちで最小のもののイ４から１、軸−Ｈに於る一部のコン
トラスト不足を判断できる。 （８）軸外の各測定点に於るコントラストの最大値のＶ
均イ１から、軸外コントラスト不足を判断できる。 （９）軸外の各測定点に於るコントラストの最大値の差
から、軸外コマ収差の程度を検知できる。 このような検知をｉｉｆ　ｔｍとする測定点は、例えば
被検レンズｌが３５膳■フィルム使用のカメラ用のレン
ズの場合、像面位置に於て３５ｍ■フィルムの写角（３
６−Ｘ２４鵬層）の対角線角度の４方位（第１４図に於
る■、■、　（５）　、■）とし、軸外位置は軸上位置
から判定に必要な所定の距ａｈの位置（本実施例ではｈ
＝１５＋ａｍ）に於て測定すれば良い。尚、軸外の測定
点に於ける像面位置と軸上の像面位置との比較により湾
曲・倒れを察知することのみを［１的とするのであれば
、軸外の測定点は三箇所で良いものである。 次に、上記測定によりｌｉられた軸上のコントラス）　
？１１１定結果から、各測定点に於るコントラストが最
大値を示す光軸上の位置の平均位置にＣＣＤセンサ３１
Ａを固定し、レンズ保持部１０を駆動することにより被
検レンズｌをその光軸を中心として回転させて軸外の所
定測定点に於るチャート像のコントラストを測定するよ
う、コントラスト測定手段３のＣＣＤセンサ３１Ａの移
動駆動とチャート像のコントラストの測定、及びレンズ
保持部１０の駆動（被検レンズｌの回転）を制御する。 （測定２） 該測定２の測定結果からは。 （１）軸上の各測定点に於るコントラストのイ１の差か
ら、軸」−に於る非点収差を検知できる。 （２）軸］二の各測定点に於るコントラストの平均ｆ１
から軸１ニコントラスト不足を検知できる。 （３）軸Ｉ−の各測定点に於るコントラストの最小イ〆
１から軸−１−コントラストの一部不足を検知できる。 （４）軸外の各測定点に於るコントラストの１１均値か
ら、軸外コントラスト不足を判断できる。 （５）軸外の各測定点に於るコントラスト（／ｉの差か
ら、軸外コントラストの変動不良を判定で５る。 この検知に於る軸外の測定点は、例えば被検レンズｌが
３５＋＊−フィルム使用のカメラ用のレンズで直進へリ
コイド等フォーカシングに伴なってレンズが回転しない
タイプである場合、像面位置に於てｍ１４図示の如く、
３５ｍｍフィルムの写角（３６＋＊ｍＸ２４膿■）の対
角線と軸」−位置（光軸中心）を中心とした水ｆ線及び
垂直線りの８方位（第１４図に於る■〜■）で、軸上位
置から所定の距離りの位ｔ（本実施例では前述の測定ｌ
の際と同じｈ＝１５鵬層の位置）に於て測定すれば良い
、但し、３５膳■フィルムの場合で垂直線上の測定点（
図中α）及び■）が軸、Ｅ位置から１５ｍ濡の位置では
写角から外れるが、像面の湾曲等のデータをｆｊるには
有効なものである。又、回転へリコイト等フォーカシン
グに伴なってレンズが回転してレンズの方位が一定しな
い被検レンズｌの場合には、第１５図示の如く３００間
隔で１２方位（■〜ａｓ）　ＡＨ定すれば良い、尚、像
面に於る軸上位置から測定位置迄の距離は、当該被検レ
ンズｌの写角に応じて適宜設定すれば良いものである。 次に、フローチャートに基づいて具体的な作動制御を説
明する。 第１６図は、制御部４の制御プログラム４Ａおよび後述
する判定プログラム５Ａのフローチャートである。 この制御プログラム４Ａは、前述の如く制御部４を構成
するメモリ内に記憶されており、複数のサブプログラム
（サブルーチン）から成る。 つまり、この制御プログラム４Ａは、初期、設定サブル
ーチン４１．ＪＮ定ｉｓサブルーチン４２゜コントラス
ト測定サブルーチン４３．コントラスト測定サブルーチ
ン４４．各部復帰＆データ転送サブルーチン４５により
構成される。 以ド、同図の流れに従って各サブルーチンを説Ｉｌｌす
る。 初期設定サブルーチン４１は、光学系２およびコントラ
スト測定部３の各駆動機構部９表示部６、制御部４が構
成されるマイクロコンピュータ内のメモリ等を夫々の初
期状態にセットする。なお、この初期１没定サブルーチ
ン４１は電源投入時にのみ一回実行される。 測定準備サブルーチン４２は、各空圧機構部の空圧をチ
エツクし、被検レンズｌのレンズマウント部ｌＯへのセ
ットを確認し、不良および不良項目を表示する表示部を
クリヤし、センサ部３１のセンサボード３１１をイニシ
ャルセットつまりその走査開始位置（基準位置）に移動
、停止させ。 被検レンズの透過光埴を測定して各チャートＣＡ　、Ｃ
Ｚのよごれおよび光学系の大さな異常（例えば、絞り込
まれている）等をチエツクする。 コントラストΔ１１定サブルーチン４３は、センサ部３
１のセンサボード３１１を上記走査開始位置（基へ６位
置）から所定距離毎にコントラストを測定しながら被検
レンズ１に接近して光路を短縮する方向に走査（移動）
させる、尚、本実施例ではｌ走査ステップの走査幅（移
動圧ｇｌ）は１／＋２　ｔｘ■に、；９定されており、
その走査スピードは約２４０Ｓｔｅｐ／Ｓｅｅ　　とな
っている、また、この走査の動力源はパルスモータ３１
６を用いているが、エンコーダ付きのモータ笠を利用し
ても良い。 この結果、第１７図に示すようなデイフォーカスｊ−に
対するコントラスト値の特性曲線が得られ、数値計算に
よりコントラストのピーク値とその位置が軸上、軸外共
に得られる。さらに、該コントラス）ｆｌｌｌ定サブル
ーチン４３では、被検レンズを回転させてその測定点を
変更してコントラスト測定を４回実行する。（前述の測
定ｌ）コントラスト測定サブルーチン４４は、平均軸上
像面位置に軸上、軸外の各センサボードをセットさせる
。これは、中心にピントの合ったフィルム而（設計値）
に軸］二、軸外の各ＣＣＤセンサをセットすることに相
当する。 そして、軸上、軸外のコントラストを数方位の所定力位
について測定（前述の測定２）する、つまり、直線へリ
コイド等レンズが回転しないタイプの被検レンズでは第
１４図に示す８方位について１回転へリコイド等レンズ
の方位が一定しないタイプの被検レンズでは第１５図に
示す１２方位について測定する。測定方位は、上記被検
レンズ１のタイプに応じてレンズテスタＢｆＢ１０の回
転を制御して変更する。 各部復帰＆データ転送サブルーチン４５は、レンズマウ
ント部ｌＯの停止位置を所定の初期位置に復帰させ、そ
のロック機構１５を解除して被検レンズｌをレンズテス
タＬＴから取り外せる状ＩＢにすると共に、コントラス
トの測定値を後述するパソコン部ＰＣに出力し、更に、
測定したコントラストが前回測定した値よりも低い場合
、チャートＣＡ、ＣＺに空気を一方から吹きつけかつ他
方より吸引して該チャートＣＡ、ＣＺを清掃する。 つぎに、主要な各サブルーチンについて詳細に説明する
。 コントラスト測定サブルーチン４３は軸上と軸外のピン
ト位置（像面位置）を探しだすサブルーチンである。コ
ントラストの測定は、第１図に示すように被検レンズｌ
に対して軸上、軸外の二つの光路ＬＡ−ＬＺにそれぞれ
について軸上、軸外の各センサボード（ＣＣＤセンサ３
１Ａ。 ３１２）により行なわれる。各ＣＣＤセンサ３１Ａ・３
１Ｚはコントラストを−・度計測する毎にｌ走査ステッ
プ移動する。これにより、第１８図に示すコントラスト
１〜コントラストＷＳＳ（デイフォーカス量に対するコ
ントラスト（／ｊの特性曲線）が得られる。このコント
ラスト値は全てメモリ内に記憶され、所定の走査幅ＷＳ
Ｓ　　走査終了後、コントラストのピーク値とその像面
位置が後述する判定部５にて計算される。 さらに、被検レンズｌを回転させて軸外光束ＬＺに対す
るレンズの方位を変更して上記測定が第１４図に示す４
方位について行なわれる。これにより、所定方位につい
てコントラストのピーク値とその最良像１ｎｉ位置が求
められる。 第１８図は、第１６図に示すコントラストＡｌｌ定サブ
ルーチン４３のフローチャートである。以下、同図フロ
ーチャートの流れに従って各処理（ｒ−順）を説明する
。 処理［１］　では、センサ部３１および演算部３２によ
って軸上および軸外のコントラストを計測する。 処理［２１では、処理［１］で計測したコントラストを
演算部３２の後段に配した図示しないＡ／Ｄコンバータ
でディジタル騒に変換する。 処理

【３１では、　ｆＪＩ御部４内に設けられた走査モ
均しジスタ群のＤｏに処理［２］でディジタルｌＩ′Ｅ
に変換したコントラストを転送する。 処理］４】では、制御Ｊ１部４内の走査モ均しジスタ群
にて走査平均を計算し、訝算結果をメモリ内の所定場所
に記憶させる。 処理【５１では、走査平均レジスタ群にて、各走査平均
レジスタ上の各データを夫々となりのレジスフにシフト
させる。 処理［６］では、各ＣＣＤセンサを１走査ステツプ移動
させる。 処理１７１では、各ＣＣＤセンサの走査（移動）１．１
．を検査する。つまり、走査、ｌｉｔ　（走査による移
動州）が設定した走査ステップ数に達したかどうか検査
し、走査終了の場合は次の処理【８１に移り、走査未終
了の場合は処理［１１に戻る。 処理［８］では、所定走査幅分のコントラストから、コ
ントラストのピークｆ〆１とその位置を演算する。 処理［９１では、レンズマウントを所定角度回転させて
被検レンズの測定方位を変更する。 処理［１０１では、設定方位（４方位）の全てについて
コントラストを測定終了したかどうか検査する。測定終
了の場合は該コントラスト測定サブルーチン４３から抜
は出してメインの制御プログラム４Ａに復帰する。　Ｊ
Ｍ定未終ｒの場合は処理［１１１を実行する。 処理［１１］では、走査ステップ数を条件により変更設
定し、処理［１１に戻る。これは所定の条件が成☆、し
たときに走査ステー２プ数を減少させて、走査時間の短
縮化を図るものである。 なお、処理［＋１から処理［７］　までで構成されるル
ープが１走査ステツプとなり、本実施例ではｌ走査ステ
ップの処理時間は４．０９６　ｍｓに設定されている。 当該制御部４では、コントラスト測定に際して走査ｆ均
しジスタ群を利用して走査モ均１；１算が行なわれるよ
うになっており、次に、この走査を均の動作について説
明する。 （走査１・均の動作について） 第１９図は、走査平均レジスタＩＴのＪｌｌ同図ある。 走査刊均レジスタ群は、８個の所定ピッｌのレジスタｎ
ｏ”Ｄ＋で構成され、制御部４内に設けられる。 その動作は、まず、前述したディジタル信号−が制御部
４内の走査モ均しジスタ群のＤＯに転送されてレジスタ
Ｄｏ”ＤＩのモ均が計算される。そして、このモ均イ〆
ｉがコントラストとしてメモリに転送、記憶される。そ
の後、走査ｆ均しジスタ群の各データが夫々隣りのレジ
スタにシフトされる。つまり、Ｄｏ　ｍＤ＋　　、Ｄ＋
　４Ｄ２　　＋−Ｄ６−〇ｌとシフトされるのである。 すなわち。 ２進法で８で割るロジックが筒中なため、こうした処理
により高速演算が可能となる。さらに、レジスタ内のデ
ータシフトは、制御部４を構成したマイクロコンピュー
タでは容易である。などの理由により走査モ均計算は、
容易かつ高速に処理できる。なお、１−記方法では、レ
ジスタ　ＤＯ〜Ｄ、の和が最大となるコントラストのピ
ーク位置はＤｏにデータを取り込む時点のセンサボード
位置と４走査ステツプのズレを生ずる。しかし、このズ
レは常に一定なので４走査ステツプズレだ位置をピーク
位置とすればよい。 レジスタＤｏに取り込むデータの最初の１個から７個目
まで、つまり、走査モ均しジスタ群Ｄｏ”Ｄ＋が全てＦ
ＵＬＬになるまでは、走査モ均を取ったコントラストは
実際に測定したコントラストよりもかなり低くでる。し
かし、この部分の測定値は、第１７図に示すコントラス
ト曲線の裾デ？の部分に相当するので問題ない、また、
走査を均を取ったコントラストは、実際の測定値より必
ず低い値となり誤差を生ずる。しかし、この実際の測定
イ〆１との誤差は、走査ステップのステップ数を多くす
ることにより減少させることができ、これによりその影
響を無視できる。 実際には、走査幅−５Ｓ　　における走査ステップ数は
３００〜１０００ステツプに達する。ｌ走査ステップは
４．０９６　ｔａｓなので約１秒強〜４秒を必實とする
。 コントラストのピークｆ向とその位置は、メモリ内に記
憶させた各ステップ毎のコントラストデータ仝てについ
てコントラストの大小比較をくり返し行なうことで捜し
だす、走査ステップのステップ数にもよるが、最大約１
０００回比較をくり返すことになり１本実施例では制御
部４が２　ＭＨｚクロックで作動しているので該大小比
較の処理時間に約１００ＩＩｓ必要となる。 （走査時間の短縮化について） コントラスト８１４定サブルーチン４３では、第１４図
に於る■、■、くっ、■に示す所定の４方位についてコ
ントラストを測定し、コントラストのピーク値とその位
置を演算するものであるが、下記の条件を満足する場合
には走査幅留ＳＳ全幅の走査を行なわずに、所定ｒ−１
ぼ１に基いて走査幅を減少させる。これにより走査時間
の短縮化を図るものである。 その条件とは、 （１）複数の被検レンズを検査する時のｆｂのバラツキ
と個々の被検レンズ内の像面の測定点の変化による変化
！、Ｈ１に大差があり、前者の方が大きい場合。 （２）被検レンズの軸外像面の倒れが小さいか、または
調べる必要がない場合。 （３）被検レンズの中心像面の方位による変化を調べ、
モ均軸上像面のみをａＩｌｌ定すればよい場合、である
。 ：１Ｓ２０図は、走査時間の短縮化を説明する概念図で
ある。同図において、横軸はでンサボードの走査方向を
示し、縦軸は下方に向って走査時間の経過を、！セして
いる。 センサボードの走査は所定の４方位について４回行なわ
れるが、まず−回１１の方位（０でセンサボードの走査
を例えば８００走査ステツプで行なったとすると、つざ
の方位■では方位■で見つけたピーク位置プラス所定走
査４１ｆｌｉＷＳＩ＋　（これを例えば２００走査ステ
ツプとする）走査する。−回１ｊの方位（Ωでのピーク
位置が４００走査ステツプ［１であったとすると、二回
１１の方位■での走査は６００走査ステツプで済むこと
になる。同様に三回１１の方位（５）では４００走査ス
テツプ、四回１１の方位■でも４００走査ステツプとな
る。こうすると４方位４回の走査は合計２２００走査ス
テツプとなり、こうした方法を取らずに４方位４回全て
について所定の８００走査ステツプ走査した場合の合計
３２００走査ステー２プと比較して、１ｏｏｏ走査ステ
ツプ、つまり時間にして約４秒短縮される。 「判定部５」 （構　成） ｒ４定部５は、前述の制御部４と共にＣＰＵおよびメモ
５ノとによるマイクロコンピュータによって構成される
。又、該ｒ１定部５内には、’Ｎ定結果を一時格納する
ための各々８ビツトで構成された二つの判定レジスタＤ
ＳＯおよびＯＳ＋　（図示しない）が設けられている。 尚、判定レジスタをＤＳＯおよび［］Ｓｌの二つとした
のは、一つでは処理データ数に対応しきれないことによ
る。 更に、制御部４と共に該判定部５を構成するマイクロコ
ンピュータのメモリを、後述する表示部６を制御する為
の表示制御メモリとして使用するようになっている。 （作　用） 該判定部５では、前述の制御部４により作動制御されて
測定された被検レンズｌの各測定点に於るコントラスト
の値を、第１６図に示す、′ｖＪ御プログラム５Ａに従
って予め定められた判定ノ＾準と比較することにより良
否判定を行なう。制御プログラム５Ａは、胸定部５を構
成するメモリ内に記憶されており、複数のサブプログラ
ム（サブルーチン）から成る。つまり、この制御プログ
ラム５Ａは、二つの゛Ｉ定ササブルーチン５１．５２よ
り構成される。 ここでは。 １、ＪＮ定ｌ（コントラスト８１４定サブルーチン４３
）の測定結果を判定基準と比較することにより、 （１）軸上に於る非点収差不良（軸」ニピークの異常変
化による不良（Ａ−ＡＳＵ　）　） （２）パックフォーカスのす一パー乃至アンダー不良（
機械的なバックフォーカスの不良、過大不良（ｆｂ大）
及び不足不良（ｆｂ小）） （３）軸外に於る非点収差不良（軸外像面かたおれてい
る不良（Ｚ−ＡＳＵ　）　） （４）像面の湾曲・倒れ不良（アンター不良つまり軸外
像面が軸上像【ｍよりもレンズ側に寄りすぎている不良
（ＵＮＤ）　、及びオーバー不良つまり軸外像面が軸」
二像面よりもレンズ側から離れている不良（０ＶＥＲ）
） （５）袖−にコマ収差不良（最良軸」：コントラストの
異常変化による不良（Ａ−Ｃ：ＯＮ　）　）（６）軸上
コントラスト不足不良（＋均輔上コントラスト値が小さ
すぎる不良（Ａ−ＭＴＦＬＯ）　）（７）軸上一部コン
トラスト不足不良（（Ａ−ＭＴＦＰＬ（８）軸外コント
ラスト不足不良（モ均軸外コントラスト値が小さすぎる
不良（Ｚ−に↑ＦＬＵ　）　）（９）軸外コマ収差不良
（最良軸外コントラストの異常変化（Ｚ−Ｃ：ＯＮ　）
　） を判定する。 ２　、　Ｊｉｍ定２（コントラスト測定サブルーチン４
４）の測定結果をｔ４定基準と比較することにより （１）軸にに於る非点収差不良（Ａ−ＡＳＵ　）（２）
軸上コントラスト不足不良（Ａ−ＭＴＦＬＯ）（３）軸
−Ｌコントラストの一部不足不良（軸外コントラストの
一部が小さく、かつアンダー不良である場合（Ｕ＋Ｈ）
の不良、軸外コントラストの一部が小さく、かつオーバ
ー不良である場合（０＋Ｈ（４）軸外コントラスト不足
不良（Ｚ−ＭＴＦＬＯ’）（５）　４ｉ１＋外コントラ
ストの変動不良（軸外のＭＴＦが激しく変化している不
良（Ｚ−ＨＥＮ　）　）をｒ１定する。 記ダ１１１別の判定の結果は、それぞれ判定レジスタＤ
ＳＯおよびＯＳＩのｐめ定められたピント１〜８の状ｊ
Ｅを変化（良の場合二〇、不良の場合＝１）することに
より記録され、該判定レジスタＤＳＯ・ＤＳＬに記録さ
れた判定結果は各判定サブルーチン５１ａ５２１＋ｊに
表示制御メモリに転送される。 そして、この表示制御メモリに転送記憶された１定結果
にノ、（いて、後述する表示部６に設けられた各ＬＥＤ
が点滅制御されるようになっている。 １ｊｌｌち、表示部６の各ＬＥＤは、表示制御メモリの
内容、つまり判定レジスタＤＳＯおよび［ｌＳ１の各ビ
ットの状Ｊ、ｌ（Ｑまたはｌ）に対応して点滅制御され
る構成となっており、各ＬＥＤは、その各々と対応する
ビットの状態がＯの場合は消灯され、１の場合には点灯
されるようになっている。又１一記判定に用いられたデ
ータは、後述するパソコン部ＰＣにも送られるようにな
っている。 以ド、フローチャートにノ５（づいて具体的に説明する
。 まず、制御プログラム５Ａを構成する一つの１４定サブ
ルーチン５１．５２を第１６図の流れに従って説明する
。 判定ナブル−チン５１は、前述したコントラストＪｌｌ
ｌ定サブルーチン４３の結果から軸Ｉニアス（非点収差
）、コマ、軸外アス（偏心）、コマの程度を計算する。 さらに、軸上のモ均像面位置（ＨＫＮＰＰＡ）と、軸外
のｆ均像面位置（ＨＫＮＰＰＺ　）との差から像面湾曲
を計算する。そして、これらの計算結果と後述する各）
＆　？Ｆ＝値との比較から被検レンズ１の良否および不
良内容を判定し、その判定結果を判定レジスタＤＳＯお
よびＤＳＩに記録する。 ■定すブルーチン５２は、軸」二、軸外のコントラスト
およびコントラストの変化の様子を計算し、判定サブル
ーチン５１と同様に、これらの計算結果と後述する各ノ
１（準伯との比較から被検レンズｌの良否および不良内
容を判定し、そのＦ４定結果を判定レジスタＤＳＯおよ
びＯＳＩに記録する。 ｒｌＩ定レジスタ［ＩＳＯおよびＤＳＬに記録された判
定結果は、　＋ｆｉｉ述の如くその都度（判定サブルー
チン５１・５２４に）表示制御メモリに転送記憶され、
該表示制御メモリの記ｔＱ内容にノ１（づいて後述する
表示部６の各ＬＥＤを点滅制御するものであｇ。 （判定基準について） 被検レンズの種類によってレンズ良否のｒ１１’＜基べ
れが異なるため、レンズテスタＬＴでは、制御プログラ
ム５ＡＬに多くのｒ１定ノ、（準を持っている。 これらの判定）１（ベハには、その全てに制御プログラ
ム５Ａｌ−でＳＴＤを冠した基準（（＋４名が付けられ
ている。 像面についての基べれ値には。 ５ＴＤＰＰＡ　　：基ぺれ軸ト像面 ５ＴＤＰＰＺ　　：］、（べれ軸外像面５ＴＯＰＰＡＵ
　　：軸上アンダー側リミット５ＴＤＰＰＡＯ：輔１−
オーバー側リミ、ト５ＴＯＰＰＧＵ　　：　’ｉｌｌ外
アンダー側リミット５ＴＯＰＰＧＯ：軸外オーバー側す
ミントかあり、１、記各すミントから外れる被検レンズ
■は、パンクフォーカスｒｂ　　＜機械的なピント位置
）不良と判定される。 像面変化についての基準＆ｉには、 ５ＴＤＰＰＳＡ　　：袖ｌ−像面変化リミツトＳ丁ＤＰ
ＰＳＺ　　：　＋ｌ＋ＪＡ像面変化リミットすかあり、
」―記各像面変化リミットをオー／へ−する被検レンズ
は、アス（，１１点収差）不良と判定される。 コントラストの変化についての基？ｔ’ｉ　伯には、Ｓ
ＴＤＭＭＳＡ　：最良軸上コントラストの変化リミット
ＳＴＤＭＭＳＺ　：最良軸外コントラストの変化リミッ
トがあり、−に記各変化リミットをオーバーする被検レ
ンズは、コマ収差不良と１１定される。 コントラストの最小ｉｆｆについてのノ、（べＩｉ（〆
ｉには、ＳＴＤ旧ＮＡ：最良軸、１−コントラストリミ
ントＳＴ［］ＭＩＮＺ　：最良軸外コントラストリミン
トＳＴ［］ＭＮＬＡ　：　ＶＩｉ均軸に像面における＋
ｈＬ、コントラストリミット ＳＴＩＩＭＮＬＺ　：　＋−均輔−１−像面における軸
外コントラストリミット ５ｒｖｐｑｕｚ　ニー＋均ＩｋｌＩに像面における軸外
コントラストのｆ均値のリミット があり、上記各リミットに満たない被検レンズは、コン
トラストアンダー不良と判定される。なお、平均軸上像
面における軸外コントラストのｆ均伯のリミット（ＳＴ
ＤＭＮＨ２）に満たない被検レンズは、特定方位のみの
不良ではなく、モ均値も不良な不良の程度の大きいレン
ズと判定される。 （判定動作について） ｍ２１図１／４−４／４は、第１６図Ｌ：　示ｔ　’ｒ
４定サブルーチン５１のフローチャートである。以ド、
同図に示す各処理（、Ｔ−１町１）の流れに従って説１
５１する。 処理［１１では、４万位についてａ１４定した４個の軸
上像面位置（ＰＰＡ　）から ＰＰＡＭＡＸ　：最大値 ＰＰＡＭＩＮ　：最小値 ＋１ＫＮＰＰＡ　：　＋’均値 ５ＡＰＰＡ　　＋最大イｌｌ′１と最小値との差を求め
る。 処理１２］では、輛し：像面変化リミット（５ＴＤＰＰ
ＳＡ）と処ＰＮｍ　で計算した最大ｈ／ｆと最小Ｍａｒ
との差（５ＡＰＰＡ　）とを比較する。軸に像面変化リ
ミット（５ＴＤＰＰＳＡ　）よりも最大値と岐小イ〆１
との差（５ＡＰＰＡ）の方が大きい場合は、輛１ニアス
（非点収差）不良と判定し、ｒ（定レジスタの所定ビッ
ト（判定レジスタＤＳＯの３ビット１−１）を１とする
。 設計−１］回転対称になっているカメラレンズは、・般
に光軸］−に非点収差を発生しない。しかしカメラレン
ズが心取り不良のｋにより組み台、てられた場合等には
、光軸上に非点収差が現われるので、１−記処理［２］
にて軸Ｊ−像面位置が所定ｊ、ｉ：以に変動している被
検レンズを軸上アス不良とするものである。 ここで、該処理［２］　に於て輛１−アス（非点収差）
不良と判定された場合を例として不良表示を説明する。 処理「２１に於て軸」ニアス（非点収差）不良と判定さ
れると、判定レジスタのそれと対応するビット（判定レ
ジスタＯ５Ｏの３ビットｌ−Ｄが１となる。そして、当
該判定サブルーチン５１の終了時に′ｌ′４定レジスタ
の内容が表示制御メモリに転送記憶される（後述の処理
［２３］　）と、該表示制御メモリに記憶された軸上ア
ス不良を示すデータに基づいて、表示部６（第２５図示
）の当該不良の表示であるＬＥＤ６４Ａ　（Ａ−ＡＳＵ
）を点灯させるものである。 処理［３］では、軸上アンダー側リミット（５ＴＤＰＰ
Ａｔｌ）　、！−ＭＪ！ｌ！【ＩＩ　−１’計算シタ＋
均イ（ｉ（ＨＫＮＰＰＡ）　トを比較する。軸上アンダ
ー側すミッ）　（５ＴＤＰＰＡＵ）よりもモ均値（ＨＫ
ＮＰＰＡ）の方が大きい場合は、機械的なバックフォー
カスｆｂのアンダー側異常上判定し１判定レジスタの対
応ビット（判定レジスタＤＳＯの１ビツト目）を１とす
る。これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メ
モリに転送記憶されたとき、８該不良の表示である表示
部６（７）ＬＥＤ６３Ａ　（ｆｂ大）を点灯させる。 処理［４］では、軸上オーバー側すミッ）　（５ＴＤＰ
ＰＡＯ）と処理［１］で計算したモ均値（）ＩＫＮＰＰ
Ａ）とを比較する。そして、軸ヒオーバー側リミット（
５ＴＯＰＰＡＯ）よりもモ均値（）ＩＫＮＰＰＡ）の方
が小さい場合は、機械的なバックフォーカスｆｂのオー
バー側異常と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定
レジスタＤＳＯの２ビット１−１）を１とする。 これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、′Ｌ′Ｉ該不良の表示である表
示部６のＬＥ０６３Ｂ　（ｆｂ小）を点灯させる。 処理［５］　では、ノ＾準軸」二像面（ＳＴＤＰＰＡ）
つまり軸に像面位置の設計値と、処理［１１で計算した
モ均値（ＨＫＮＰＰＡ）つまりｆ均軸上像面位置との像
面位置の差（５ＡＨＫＮＡ　）を求める。すなわち。 （５ＴＯＰＰＡ　）　−（ＨＫＮＰＰＡ）　＝　（５Ａ
ＨＫＮＡ　）という計算が行なわれる。 処理［６］では１平均軸上像面（ＨＫＮＰＰＡ）に相当
（・致）する軸外像面（５ＫＰＰＺ）を求める。これは
、軸外コントラストの測定をト均軸］二像面（ＨＫＮＰ
ＰＭ）に相当（一致）する軸外像面（５ＫＰＰＺ）で行
なう必要があるためである。 第２２図は、ノ、（準となる像面位置と、処理【１］で
１；１算したモ均の像面位置との関係を示す説ＩＪ図で
ある。同図に示すように軸外像面の設計値からのズレ州
は、処理［５１で計算した像面位置の差（５ＡＨＫＮＡ
　）から（５ＡＨＫＮＡ　）　／　Ｃｏｓ　Ｏとなる。 すなわち、基準軸外像面（５ＴＤＰＰＺ　）からと、求
められる。 なお、に記のような三角関数の計算は、　’Ｉ’ＪＩ定
部５を構部５たマイクロコンピュータでは計算プログラ
ムが繁雑となり、いたずらにプログラムステップ数が増
大する傾向にある。そこで、本実施例ではに記計算をま
るめ計算としである。 処理［７］では、軸外像面のアング一方向リミ・ン）　
（５ＫＰＰＺＵ　）　ト、オーバ一方向’）　ミー／　
ト（５ＫＰｐｚｏ　）を求める。すなわち、処理［６］
で計算した軸外像面（５ＫＰＰＺ）　　、軸外像面のア
ンタ一方向詐容！１）　（５ＴＤＷＵ）　　、軸外像面
ノオーバ一方向許容！１１゜（ＳＴＤ冒０）から （５ＫＰＰＺＵ　）　＝　（５ＫＰＰＺ）　＋　（５Ｔ
ＤＷＵ）（５ＫＰＰＺＯ）　＝　（５ＫＰＰＺ）　−（
５ＴＩＩＷＯ）と、求められる。 処理［８１では、処理［７］で計算した軸外像面のオー
バ一方向リミット（５ＫｐＰＺＯ）を検査してその伯が
負の場合に（５ＫＰＰＺＯ）　＝　０とする。これは、
負のイｆｔをなくして判定部５での演算処理を容易にす
るためのものである。 処理［９］では、４万位について測定した４個の軸外像
面位置（ＰＰＺ　）から、 ＰＰＺＭＡＸ　：最大値 ＰＰＺＭＩＮ　：最小値 ＨＫＮＰＰＺ：ｘｐ均イ〆【 ５ＡＰＰＺ　：最大値と最小値との差 を求める。 処理［１０］では、軸外像面変化リミッ）　（５ＴＤＰ
ＰＳＺ）と処理〔９１で計算した最大値と最小値との差
（５ＡＰＰＺ　）とを比較する。軸外像面変化リミット
（５ＴＤＰＰＳＺ　）よりも最大値と最小値との差（５
ＡＰＰ２）の方が大きい場合は、軸外アス（非点収差）
不良と判定し、判定レジスタの対応ピッＦ（′ｌ′Ｉｌ
定レジスタしＳＩのｌピッ）１１）を１とする。これに
より、」二記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転
送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６のＬ
ＥＤ６５Ｃ（Ｚ−ＡＳＵ）を点灯させる。 処理［１１３では、処理［７１で計算した軸外像面のア
ンダ一方向リミッ）　（５ＫＰＰＺＵ　）と処理［９１
で計算したｆ均値（ＨＫＮＰＰＺ）とを比較する。軸外
像面のアンダ一方向リミット（５ＫＰＰＺＵ　）よりも
１Ｌ均値（ＨＫＮＰＰＺ）の方が大きい場合は、像面が
アンダー側に湾曲したアンダー異常と判定し、判定レジ
スタの対応ビット（判定レジスタＤＳＯの７ビツト１１
）を１とする。これにより、」二記判定レジスタの内容
が表示制御メモリに転送記憶されたとき、当該不良の表
示である表示部６のＬＥＤ６５Ａ　（ＵＮＤ）を点灯さ
せる。 処理［１２］では、処理［７］で計算した軸外像面のオ
ーへ一方向リミツト（５ＫＰＰＺＯ）と処理［９］　で
１；１算した平均値（ＨＫＮＰＰＺ）とを比較する。軸
外像面のオーバ一方向リミット（５ＫＰＰＺＯ）よりも
ｆ均（ｔｒｉ（ＨＫＮＰＰＺ＞の方が小さい場合は、像
面がオバー側に湾曲したオーバー異常と判定し、゛Ｉ判
定レジスタ対応ヒツト（判定レジスタＤＳＯの８ヒフ１
−１１）を１とする。これにより、Ｉ−記判定レジスタ
の内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、ち該不
良の表示である表示部６のＬＥ０６５Ｂ　（ＯＶＥＲ）
を点灯させる。 処理［１３１では、処理［９］で計算した１１−均値（
ＨＫＮＰＰＺ）つまり平均軸外法面位１νｔと、処理［
６１で計算した軸外像面位置（５ＫＰＰＺ）との像面位
置の差（５ＡＨＫＮＺ　）を求める。すなわち（ＨＫＮ
ＰＰＺ）　−（５ＫＰＰＺ）　＝　（５ＡＨＫＮＺ　）
という計算が行なわれる。 処理［１４１では、処理［１３］で計算した軸外像面の
差（５ＡＨＫＮＺ　）を検査する。つまり、軸外像面の
差（５ＡＨＫＮＺ　）の正負を検査する。 軸外像面の差（５Ａ）ＩＫＮＺ　）が正のイ〆（の場合
は。 軸外像面が軸ｌ−像面よりもアンダー側にあると考えら
れる。この場合、軸外アンダーｊ、ｊ、　（ＰＰＺＧＵ
）は、 （ＰＰＺＧＵ）　＝　（５ＡＨＫＮＺ　）　　Ｘ　２　
＋　（５ＡＰＰＺ　）と６；１算される。この軸外アン
ダー州（ｐｐｚｃ口）は、ｆ均輔１−像面（ＨＫＮＰＰ
Ａ）からの軸外像面のデイフォーカス量の２倍に相当し
、該軸外アンダー星が大きいほどコントラスト低下の原
因となる０次に、この軸外アンダー量（ＰＰＺＧＵ）と
軸外アンダー側リミット（５ＴＩＩＰＰＺＵ）とを比較
する。 そして、軸外アンター側リミッ）　（５ＴＤＰＰＺＵ）
よりも軸外アンダー量（ＰＰＺＧＵ）の方が大きい場合
は、像面のアンダー側への湾曲と共に偏心も考えられる
ため、アンダー異常と偏心異常の合成不良と判定し、判
定レジスタの対応ビット（判定レジスタＤＳＩの５ピツ
トロ）を１とする。これにより１．上記判定レジスタの
内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、当該不良
の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ｇ　（Ｕ＋Ｈ）を点
灯させる。 力、軸外像面の差（５ＡＨＫＮＺ　）が負の値の場合は
、軸外像面が軸上像面よりもオーバー側にあると考えら
れる。この場合、軸外オーバー＋、Ｈ（ｐｐｚｃｏ）は （ＰＰＺＧＯ）　＝　（５ＡＨＫＮＺ　）　Ｘ　２　＋
　（５ＡＰＰＺ　）と１：１算される。この軸外オーバ
ーｉ１ｉ：　（ＰＰＺＧＯ）は、前記軸外アンター１．
）の場合と同様、イｉ均輔に像面（ＨＫＮＰＰＭ）から
の軸外像面のデイフォーカス州の２倍に相当し、該軸外
オーバー量が大きいほどコントラスト低ドの原因となる
０次に、この軸外オーバーｒｌｒ　（ＰＰＺＧＯ）と軸
外オーバｍ個すミッ）　（５ＴＤＰＰＺＯ）とを比較す
る。そして、軸外オーバー側リミット（５ＴＤＰＰＺＯ
）よりも軸外オーバー：ｓｉ　（ＰＰＺＧＯ）の方が大
きい場合は、像面のオー７へ一側への湾曲と共に偏心も
考えられるため。 オーバー異常と偏心異常の合成不良と判定し１判定レジ
スタの対応ビット（判定レジスタＤＳＩの６ビツト］１
）を１とする。これにより、上記エサレジスタの内容が
表示制御メモリに転送記憶されたとき、′ｌ該不良の表
示である表示部６のＬＥＤ６５Ｈ（０＋Ｈ）を点灯させ
る。 処理［１５］では、４方位について測定した軸上像面位
置における４個の軸ヒコントラスト（ＭＴＦＡ）から。 ＭＴＦＭＡＸＡ　：最大値 ＭＴＦＭＩＮＡ　：最小値 ＨＫＮＭＴＦＡ　：平均イｌｌ′Ｉ ＳＡＭＴＦ＾　：最大値と最小値との差を求める。 処理］１６Ｊでは、最良軸−Ｆコントラストの変化リミ
ット（ＳＴＤＭＭＳＡ　）と、処理１１５１で計算した
最大イ〆１と最小値との差（５ＡＮＴＦＡ）とを比較す
る。ここで、最良軸−１−コントラストの変化リミット
（Ｓ丁ＤＭＭＳＡ　）よりも最大（１と最小値との差（
ＳＡＭＴＦＡ）の方が大きい場合は、軸上コントラスト
のコマ不良と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定
レジスタＤＳＯの４ピツトロ）を１とする。これにより
、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶
されたとき、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６
４Ｂ　（Ａ−ＣＯＭ）を点灯させる。 処理［１７１では、最良軸上コントラストリミット（Ｓ
ＴＤＭＴＮＡ）と処理［１５］で計算した平均値（ＨＫ
ＮＭＴＦＡ　）とを比較する。ここで、最良軸上コント
ラストリミット　（ＳＴＤＭｒＮＡ）よりもモ均イｌ’
ｊ（ＨＫＮＭＴＦＡ）の方が小さい場合は、軸上コント
ラストの値不足と判定し、判定レジスタの対応ビット（
判定し・シスタＤＳＯの５ビンＮＵ）を１とする。これ
により、ｉ：、記判定レジスタの内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６
のＬＥ０６４Ｃ（Ａ−ＭＴＦ−ＬＯＷ）を点灯させる。 処理［１８１では、最良軸」−コントラストリミント（
ＳＴＤＭＩＮＡ）と処理〔１５１で計算した最小値（Ｍ
ＴＦＭＩＮＡ　）とを比較する。ここで、最良軸上コン
トラストリミット（ＳＴ［１ＭＩＮＡ）よりも最小値（
ＭＴＦＭＩＮＡ〕の方が小さい場合は、軸上コントラス
トの一部の値不足と判定し１判定レジスタの対応ビット
（判定レジスタＤＳＯの６ビツト目）を１とする。 これにより、１−記゛ｒｑ定レジスタの内容が表示制御
メモリに転送記憶されたとき、′！′Ｉ該不良の表示で
ある表示部６のＬＥＤ６４Ｄ　（Ａ−ＭＴＦ・ＰＬ）を
点灯させる。 処理［！９］では、４方位について測定した軸外像面（
☆置における４個の軸外コントラスト（にＴＦＺ）から
。 ＭＴＦＭＡＸＺ　：最大イｆＩ ＭＴＦＭＩＮＺ　：最小値 ＨＫＮＭＴＦＺ　：平均値 ＳＡＭＴＦＺ　：最大値と最小値との差を求める。 処理［２０］では、最良軸外コントラストリミット（Ｓ
Ｔ［］ＭＬＮＺ）と処理［１９１で計算したｆ均値（）
ＩＫＮにＴＦＺ　）とを比較する。ここで、最良軸外コ
ントラストリミット　（ＳＴＤＭＩＮＺ）よりもｆ均イ
メｉ（ＨＫＮＭＴＦＺ）の方が小さい場合は、軸外コン
トラストの値不足と判定し、判定レジスタの対応ビット
（判定レジスタＤＳＩの３ビツト目）を１とする。これ
により、」−記判定レジスタの内容が表示制御メモリに
転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６の
ＬＥ０６５Ｅ　（Ｚ−ＭＴＦ−ＬＯＷ）　を点灯させる
。 処理［２１１では、最良軸外コントラストの変化リミッ
ト（ＳＴＤＭＭＳＺ　）と、処理［１９］で計算した最
大値と最小値との差（５Ａ）ＩＴＦＺ）とを比較する。 ここで、最良軸外コントラストの変化リミッ）　（ＳＴ
ＤＭＭＳＺ　）よりも最大値と最小値との差（５ＡＩＩ
ＩＴＦＺ）の方が大きい場合は、軸外のコマ不良と判定
し１判定レジスタの対応ビット（判定レジスタＯ３＋の
２ビツト１１）を１とする。これにより、上記判定レジ
スタＤＳＩの内容が表示制御メモリに転送記憶されたと
き、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ｄ　Ｃ
Ｚ−ＣＯＭ）を点灯させる。 処理］２２１では、当該判定サブルーチン５１に於る個
々の判定に基づいて総合判定を行なうものであり、判定
レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの全てのビットを検査する
。つまり、被検レンズ１に何らかの不良がある場合は、
上記処理［２１１までの各処理が実行されることで、判
定レジスタ口ＳＯあるいはＤＳＩの何れかのビｙ）が１
になっているはずである。このため１判定レジスタＤＳ
ＯおよびＤＳＩの全てのビットについて、その状態を検
査すれば被検レンズｌの各不良の有無を知ることができ
る。 すなわち、ｌ’ｌ定レジしタＤＳＯおよびＤＳＩの全て
のピントが０の場合は、被検レンズ１を良品と判定し、
ｒ４定サブルーチン５１の総合良判定対応レジスタ（判
定レジスタｌｌ５Ｉの８ビツト［１）を１とする。これ
により、■二足判定レジスタの内容が表示制御メモリに
転送記憶されたとき、良品の表示となる表示部６のＬＥ
Ｄ６２Ｂ　（良）を点灯させる。−・方、判定レジスタ
ＤＳＯおよびＤＳＩの全てのビットを検査して、ｌのビ
ットが一つでもある場合には、被検レンズｌには当該ビ
ー２トに対応した何らかの不良があるということなので
、被検レンズｌを不良品と判定し、判定サブルーチン５
１の総合不良判定対応レジスタ（判定レジスタＤＳＩの
７ビント［１）を１とする。これにより上記判定レジス
タＤＳＬの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき
、不良品の表示である表示部６のＬＥＤ６２Ａ　（不良
）を点灯させる。 処理［２３１では、判定レジスタＯ５ＯおよびＤＳＩの
内容をメモリ内の表示制御メモリに記憶させる。すなわ
ち、該処理［２３１を実行することで、判定結果である
各不良内容が表示制御メモリに記憶され、その内容が表
示部６の各ＬＥＤに点灯表示ｙれる。この処理は、■定
しジスタＤＳＯおよびＤＳｌが同定部５内の演算処理用
のレジスタであって、後述する判定サブルーチン５２等
でも使用するなどの取り扱い上の理由による処理である
。 判定サブルーチン５１は、以］−の２３項「Ｉの処理を
記述順に実行するものである。 次に１判定サブルーチン５２について説明する。 このｒ１定サブルーチン５２では、前述したコントラス
ト測定サブルーチン４４で測定したコントラストによる
被検レンズｌの判定、つまり４ｉ均軸上像面にて測定し
たコントラストによる被検レンズｌのｒ１定が行なわれ
る。ここでの判定ノ！準は。 判定サブルーチン５１で用いた前述したＳＴＩ］を冠し
たノ、Ｉｉ　’ｔ’ｉ　ｆｄｉが用いられる。 第２４図１／２〜２／２は、第１６図に示す１定サブル
ーチン５２のフローチャートである。以下、同図に示す
各処理（ｒ−１ｆｆ＋）の流れに従って説明する。 処理］１１では、＋均軸上像面位置において測定した。 所定の８方位または１２方位における８個または１２個
の軸Ｌコントラストから、ＭＴＦＭＸＬＡ　：　　最大
イｌＩｌｉＭＴＦＭＮＬＡ　：最小値 １（ＫＮ肚ＬＡ：（’均イメｌ ５ＡＷ↑ＦＬＡ　：最大値と最小値との差を求める。 処理［２］では、最良軸Ｌコントラストの変化リミット
（ＳＴ［ＩＭＭＳＡ　）と、処理［１１でＡ１算した最
大値と最小値との差（ＳＡＭＴＦＬＡ）とを比較する。 ここで、最良軸」；コントラストの変化リミット（ＳＴ
ＤＭＭＳＡ　）よりも最大値と最小値との差（ＳＡＭＴ
ＦＡ）の方が大きい場合は軸上コントラストのアス不良
とｒ１定し、＋１定レジスタの対応ビット（判定レジス
タ　ＤＳＯの３ピント［１）を１とする。これにより、
」：記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶
されたとき、″′Ｉ該不良不良示である表示部６のＬＥ
Ｄ６４Ａ　（Ａ−ＡＳＵ）を点灯させる。 処理［３１では、ｆ均軸上像面におけるＩｈｌ＋−１ニ
コントラストリミツト（ＳＴＤＭＮＬＡ）と、処理［１
で計算したモ均値（ＨＫＮＭＦＬＡ）とを比較する。モ
均輔１−像面における軸上．コントラストリミント（Ｓ
ＴＤＭＮＬＡ）よりもモ均値（ＨＫＮＭＦＬＡ　）の方
が小さい場合は、輔１ニコントラストの値不足と判定し
、判定レジスタの対応ビット（判定レジスタＤＳＯの５
ビツト１１）を１とする。これにより、に記゛Ｉ定レジ
スタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、当
該不良の表示である表示部６のＬＥＤ　６４Ｃ（Ａ−Ｍ
ＴＦ・ＬＯＷ）を点灯させる。 処理［４１では、ｆ均軸上像面における軸上コントラス
トリミヅト（ＳＴＤＭＮＬＡ）と、処理［１］　で計算
した最小値（ＭＴＦＭＮＬＡ　）とを比較する。ｆ均軸
上像面における輔１−コントラストリミット（ＳＴＤＭ
ＮＬＡ）よりも最小イ１ｌｌｉ　（ＭＴＦＭＮＬＡ）の
方が小さい場合は、輔Ｌコントラストの一部の値不足と
判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レジスタＤＳ
Ｏの６ビツトＬｌ）を１とする。これにより、に記判定
レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき
、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６４Ｄ　（Ａ
−ＭＴＦ・ＰＬ）を点灯させる。 処理［５］　では、軸外コントラストの測定値（データ
）を一部移し換えて、データの退避を実行する。８個ま
たは１２個の軸外コントラストの測定値は、各々専用の
退避レジスタ（ＭＴＦＺＬＯ〜ＭＴＦＺＬ７またはＮＴ
ＦＺＬＯ〜ＭＴＦＺＬ１１　　）に格納される。そこで
、８方位について軸外コントラストを測定した場合は、
第４方位の測定ｆ〆１、つまり退避レジスタ（ＭＴＦＺ
Ｌ３　）の内容を第８方位の退避レジスタ（ＭＴＦＺＬ
７　）に転送する。その後、第７方位の測定値、つまり
退避レジスタ（ＭＴＦＺＬ６）の内容を第４方位の退避
レジスタ（ＭＴＦＺＬ３）に転送する。この測定値の移
し換えは、つざの処理［６１での計算処理を簡単するた
めの準備であり、第４方位の測定値が後述するパソコン
部ＰＣへの転送データとなっていることによるデータ退
避作業である。また、１２方位について軸外コントラス
トをＪ１１定した場合は、測定データ全てを利用するの
で該処理［５］は行なわずに、そのままつぎの処理［６
１に移る。 処理［６］　では、軸外コントラストのΔＩＩＩ定値か
ら、 ＭＴＦＭＸＬＺ　：最大値 ＭＴＦＭＮＬＺ　：最小値 ＨＫＮＭＦＬＺ：ＭしＬ均イメＩ ＳＡＭＴＦＬＺ　：岐大イ１と最小値との差を求める。 なお、８方位について軸外コントラストを７１′４定し
た場合は、退避レジスタ（ＭＴＦＺＬＯ〜ＭＴＦＺＬ５
　）の内容からＬ記各イｒｔｉを求める。また、１２方
位について軸外コントラストを測定した場合は、退避レ
ジスタ（１４ＴＦＺＬＯ〜ＭＴＦＺＬＩＩ　　）の内容
から−に記各値を求める。 処理［７］　では、処理［５１で退避させた軸外コント
ラストの測定値を元に戻す、つまり、８方位について軸
外コントラストを測定した場合は退避レジスタ（ＭＴＦ
ＺＬ７　）に退避させた第４方位の測定イＩｌ′１を本
来の退避レジスタ（ＭＴＦＺＩ、３　）に転送し。 元の状！Ｅに戻す、さて、第８方位の測定値は、前記処
理［５１のデータ退避作業で消滅しているが、これと対
称な位置の第４方位の測定値が確保されているので問題
はない、また、１２方位について軸外コントラストを測
定した場合は、該処理［７１を実行する必要はなく、処
理［６］を実行後直ちにつぎの処理【８１に移る。 処理［８］では、平均軸上像面における軸外コントラス
トリミット（ＳＴＤＭＮＬＺ）と処理［６］　で計算し
た最小値（ＭＴＦＭＮＬＺ）とを比較する。平均軸上像
面における軸外コントラストリミット（ＳＴＤにＮＬＺ
）よりも最小値（ＭＴＦＭＮＬＺ　）の方が小さい場合
は、像面の湾曲と偏心の合成不良が考えられるので像面
湾曲の方向を検査する。また、平均軸上像面における軸
外コントラストリミット（ＳＴＩ］ＭＮＬＺ）よりも最
小値（ＭＴＦＭＮＬＺ　）の方が小さくない場合は、直
ちに処理［１０１の処理に移る。 像面湾曲の方向は、ｒ１定サブルーチン５１によりすで
に検査されている。つまり、（ＰＰＺＧＯ）　＞（ＰＰ
ＺＧＵ）ならばオーバ一方向、（ＰＰＺＧＯ）　＜　（
ＰＰＺＧＵ）ならばアンダ一方向である。したがって、
被検レンズの像面がアンタ一方向に湾曲している場合は
、アンダーと偏心の合成による軸外コントラストの異常
とｒ１定し、判定レジスタの対応ビット（判定レジスタ
ＤＳｌの５ビツト［１）を１とする。 これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６
のＬＥＤ６５Ｇ　（Ｕ＋Ｈ）を点灯させる。 一方、被検レンズｌの像面がオーバ一方向に湾曲してい
る場合は、オーバーと偏心の合成による軸外コントラス
トの異常と判定し１判定レジスタの対応ビット（判定レ
ジスタＤＳＩの６ビツト目）を１とする。これにより、
上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶さ
れたとき、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６５
Ｈ（０＋Ｈ）を点灯させる。 処理［９］では、平均軸上像面における軸外コントラス
トのｆ均値のリミット（ＳＴＤＭＮＨ２）と処理［６］
　で計算したモ均値（ＨＫＮＭＦＬＺ）とを比較する。 そして、平均軸」−像面における軸外コントラストのｆ
均イ内のリミット（ＳＴＤＭＮＨ２）よりも平均（１（
ＨＫＮＭＦＬＺ）の方が小さい場合は、軸外コントラス
トの値不足と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定
レジスタＯＳ＋の３ビツト目）を１とする。これにより
、Ｉ：記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記
憶されたとき、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ
６５Ｅ　（Ｚ−ＭＴＦ・ＬＯＷ）を点灯させる。 処理［１０１では、最良軸外コントラストの変化リミッ
ト（ＳＴＤＭＭＳＺ）と処理［６］で計算した最大イｌ
′ｉと最小値との差（ＳＡＭＴＦＬＺ）とを比較する。 ここで、最良軸外コントラストの変化リミッ）　（ＳＴ
ＤＭＭＳＺ）よりも最大値と最小値との差（ＳＡＭＴＦ
ＬＺ）の方が大きい場合は、軸外コントラストの変動異
常と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定ジスタＤ
ＳＩの４ビツト１１）を１とする。これにより、に記判
定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたと
き、′５該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ｆ　
（Ｚ−ＨＥＮ）を点灯させる。 処理［１１１では、判定レジスタＤＳＯおよびｌｌ５Ｉ
の全てのビットを検査する。これは、判定サブルーチン
５１に於る処理［２２１の場合と同様に、判定サブルー
チン５２に於る個々の判定に）、（づいて総合判定を行
なうものであり、判定レジスタＩ］Ｓ。 およびＤＳＩの各ビットの全てのビットを検査する。す
なわち、　ｒ４定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの全ての
ビットが０の場合は、被検レンズｌを良品と判定し、判
定サブルーチン５２の総合不判定対応レジスタ（判定レ
ジスタＤＳＩの８ビツト１１）を１とする。これにより
、上記判定レジスタの内容が表示；１７１ｕ４メモリに
転送記憶されたとき、良品の表示である表示部６のＬＥ
０６２Ｂ　（良）を点灯させる。一方１判定レジスタＤ
ＳＯおよびＯ９Ｌの全てのビットを検査して、ｌのビッ
トが一つでもある場合には、被検レンズ１に当該ピント
に対応した何らかの不良があるということなので、被検
レンズｌを不良品と７１定し、被検レンズ１を不良品と
判定し、判定サブルーチン５１の総合不良判定対応レジ
スタ（判定レジスタＤＳＩの７ビント１１）を１とする
。これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メモ
リに転送記憶されたとき、不良品の表示である表示部６
のＬＥＤ６２Ａ　（不良）を点灯させる。 処理［１：）］では、判定レジスタＤＳＯおよび［）Ｓ
ｌの内容をメモリ内の表示ＪＩＩＪＩメモリに記憶させ
る。すなわち、該処理［１２］を実行することで、判定
結果である各不良内容が表示制御メモリに記憶され、そ
の内容が表示部６の各ＬＥＤに点灯表示される。この処
理も、前述した判定サブルーチン５１の処理［２３１と
同様、取り扱い七の理由による処ＰＰである。 判定サブルーチン５２は、以上の１２項目の処理を記述
順に実行するものである。 「表示部６Ｊ （構　成） 表示部６は、第２５図示の如く、ｌｌ１Ｉ記判定部５に
よる判定結果を表示パネル６１に配置された発光ダイオ
ード（ＬＥＤ）の点灯により表示するものである。 表示パネル６１には、総合判定のＬＥＤ６２Ａ・６２Ｂ
と、判定部５による判定と対応する各判定ダ１１１別の
ＬＥＤ　（６３Ａ−６３Ｂ・６４Ａ・６４Ｂ・６４Ｃ・
６４Ｄ・６５Ａ・６５Ｂ・６５Ｃ−６５Ｄ・６５Ｅ・６
５Ｆ争６５Ｇ・６５Ｈ）が、第２６図示の如く所定の位
置に配置されている。尚、該表示パネル６１内にはレン
ズテスタＬＴの電源スィッチ６６および測定動作の起動
スイッチ等も一緒に配置されるものである。 （作　用） 表示パネル６１に配置された各ＬＥＤは、前述の判定部
５の所で説明した如く、制御部４とノ（に判定部５を構
成するマイクロコンピュータ内に設けられた表示制御メ
モリにより点滅制御される。 すなわち、表示制御メモリには、判定部５による判定結
果が一１１ν格納される前述したｒ１定レジスタＤＳＯ
およびＤＳＩの内容が記憶される。そして、表示パネル
６１の各ＬＥＤは、表示制御メモリの内容、つまり判定
部５内の判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの各ビットと
各々対応しており、各ビットの状ＩＥ（０またはｌ）に
対応して点滅制御される構成となっている。つまり、各
ＬＥＤは、その各々と対応するビットの状ＩＦｆｊがＯ
の場合は消灯され。 １の場合には点灯される。 この各ＬＥＤと判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの各ビ
ットとの対応、つまりどのＬＥＤが判定レジスタＤＳＯ
およびＯ５１の何れのビットに対応しているかについて
は、゛ｉ定ササブルーチン５１よび５２の説’Ｊ１のダ
１にてその都度説明しであるので、ここでは省略する。 次に、各ＬＥＤによる具体的な表示内容を説明する。 総合判定のＬＥＤ６２Ａ・６２Ｂは、６２Ａが被検レン
ズｌが不良品の時（即ち種々の判定）、（準の一つでも
外れた時、この場合後述する各検査項］１別ＬＥＤの何
れかが必ず点灯する）に点灯し、６２Ｂが被検レンズ１
が良品の場合（種々の判定）１（べれすべてを満足した
場合）に点灯する。 各判定り１！１別のＬＥＤは、６３Ａ・６３Ｂが機械的
なバンクフォーカスの不良、６４Ａ〜６４Ｄがレンズ軸
１ユつまり中心部の不良、６５Ａ〜６５Ｈがレンズ軸外
つまり周辺部の不良を示すものであり、点灯した場合が
ｈｌＩＡ不良を表わすものである。 以ド、各゛Ｉ定ケ］１１別のＬＥＤによる表示（点灯）
を個々に説明する。 被検レンズ１が判定基べ峠を全てクリアすると、良品表
示である６２Ｂが点灯。 不良の場合は不良品であることを示す６２Ａが点灯し、
その不良内容（理由）が６３Ａから６５Ｈまでの判定用
１４別のＬＥＤの点灯によって表示される。 ６３Ａは１機械的なパックフォーカスの過大不良（ｆｂ
大）時に点灯。 ６３Ｂは、機械的なフォーカスパックの不足不良（ｆｂ
小）時に点灯。 ６４Ａは、軸−１−アス不良、つまり軸上ピークの異常
変化による不良（Ａ−ＡＳＵ　）時に点灯する。この不
良のＤ；（因としては、被検レンズｌを構成する構成レ
ンズの偏心、研磨不良が考えられる。 ６４Ｂは、軸上コマ不良つまり最良軸Ｌコントラストの
異常変化による不良（Ａ−ＣＯＮ　）時に点灯する。こ
の不良の原因としては、被検レンズｌを構成する構成レ
ンズの偏心、研磨不良が考えられる。 ６４Ｃは、袖−［−コントラストの不足不良つまり１ｉ
、均軸にＭＴＦイ１１１が小さすぎる不良（Ａ−ＭＴＦ
ＬＯ）時に点灯する。この不良の原因としては、被検レ
ンズｌを構成する構成レンズの何台不良が考えられる。 ６４Ｄは、軸］ニコントラストの一部が値不足な不良（
Ａ−ＭＴＦＰＬ　）時に点灯する。これは６４Ｃより示
される不良の中で不良程度が軽いものである。従って、
６４Ｃが点灯すれば必ず６４Ｄも点灯する。 ６５Ａは、アンダー不良つまり軸外像面が軸」−像面よ
りもレンズ側に寄りすぎている不良（ＵＮ口）時に点灯
する。この不良の原因としては、被検レンズｌを構成す
る構成レンズの間隔不良あるいは大きな偏心が考えられ
る。 ６５Ｂは、オーへ−不良つまり軸外像面が軸−Ｌ像面よ
りもレンズ側から離れている不良（０ＶＥＲ）時に点灯
する。この不良の原因としては、被検レンズｌを構成す
る構成レンズの間隔不良あるいは大きな偏心が考えられ
る。 ６５Ｃは、軸外アス不良つまり軸外像面が倒れている不
良（Ｚ−ＡＳＵ　）時に点灯する。この不良の原因とし
ては、被検レンズｌを構成する構成レンズの偏心が考え
られる。 ６５Ｄは、軸外コマ不良つまり最良軸外コントラストの
異常変化（Ｚ−ＣＯＮ　）時に点灯する。この不良の原
因としては、被検レンズｌを構成する構成レンズの研磨
不良、′Ａしい偏心が考えられる。 ６５Ｅは、軸外コントラストの値不足つまりモ均軸外コ
ントラスト値が小さすぎる不良（Ｚ−ＭＴＦＬＯ）時に
点灯する。この不良の原因としては、被検レンズｌを構
成する構成レンズの偏心、［間隔の変化等の調心不良が
考えられる。 ６５Ｆは、軸外コントラスト変動つまり軸外のコントラ
ストが激しく変化している不良（Ｚ−）ＩＥＮ）時に点
灯する。 ６５Ｇは、軸外コントラストの一部が小さく、かつアン
ダー不良である場合（Ｕ＋）ｌ　）の不良時に点灯する
。この不良の原因としては、被検レンズｌを構成する構
成レンズの調心不良が考えられる。 ６５Ｈは、軸外コントラストの一部が小さく、かつオー
バー不良である場合（０＋Ｈ）の不良時に点灯する。こ
の不良の原因としては、被検レンズｌを構成する構成レ
ンズの調心不良が考えられる。 以りの不良判定を表示することにより、被検レンズｌの
不良判定と共に不良原因別の分別も併せて行なうことが
Ｉｉ（能となり、検査作業の効率化を１Δることができ
るものである。 ［レンズテスタＬＴのシステム化１ 本実施例では、レンズテスタＬＴに後述するパソコン部
ＰＣを第２６図示の如く接続してレンズテスタシステム
を構成し、レンズテスタＬＴからの情報（測定及び判定
データ）の加工処理をＩＩ）能としている。 （構　成） パソコン部ＰＣは、所謂パーソナルコンピュータであり
、コンピュータ７１．キーボード７２、ＣＲＴデイスプ
レィ７３及びプリンタ７４により構成される。 パソコン部ＰＣのコンピュータ７１はレンズテスタＬＴ
の制御部４及び判定部５を構成するマイクロコンピュー
タとデータバスＤＢにより接続されており、レンズテス
タＬＴからの測定値及びパソコン部ＰＣからのコマンド
が１いに受は渡されるようになっている。 （作　用） そして、パソコン部ＰＣでは、レンズテスタＬＴから入
力されるデータを統計処理して被検レンズｌに対する不
良対策１品質管理等に有用な二次データを作ることがで
き、このデータはプリンタ７４によりプリントアウトす
ることもできる。 又、測定データ及び二次データをＣＲＴデイスプレィ７
３ｋにグラフ表示できると共にプリンタ７４によりプリ
ントアウトすることができる。これにより測定データを
視覚化することができ、レンズテストＬＴの表示部６に
よる判定表示では解らないより詳細な像面状態等を−Ｉ
Ｉで把握できるようになるものである。 第２７図は測定データのＣＲＴデイスプレィ７３−）：
へのグラフ表示の一例である。 図示表示は、−画面中に４種のグラフ（画面左上のグラ
フをＧ１．画Ｃｈｉ左下のグラフを０２．画面名［、の
グラフをＧ３．画面右下のグラフをＧ４、と呼称する）
が同時に表示され、これらが被検レンズｌの特性を如実
に表わすものである。 各グラフの座標は、グラフＧｌ　、Ｇ２の縦軸はコント
ラストと像面位置を、グラフＧ３．Ｇ４の縦軸はコント
ラストを表わすと共に、横軸は各グラフとも方位を表わ
す、但し、横軸の目盛は、グラフＧｌ、Ｇ２ではコント
ラスト測定サブルーチン４３における４方位を、グラフ
Ｇ３．Ｇ４ではコントラストａ定サブルーチン４４にお
ける８方位または１２方位を表わすようになっている。 次に、各グラフについて個々に説明する。 グラフＧｌは、コントラスト測定サブルーチン４３で測
定された各方位における軸上コントラストのピーク値と
その像１ｍ位置（最良軸上像面位１どυを示し、軸上各
側定点のコントラストのピーク値を実線で、その位置（
最良像面位置）を−点鎖線で示している。なお、設計像
面位置も併せて表示してあり、被検レンズの像面状態の
変化を把握しやすいようになっている。 グラフＧ２は、コントラスト測定サブルーチン４３で測
定された各方位における軸外コントテストのピーク値と
その像面位置（最良軸外像面位置）を、軸外の各測定点
コントラストのピーク値を実線で、その位２１（最良像
面位置）を−点鎖線で示す、なお、グラフＧｌと同様に
設計像面位置も併せて表示しである。 グラフＧ３は、コントラストｉｌｌ幡定すブル−チン４
４で測定した１ｉ均軸に像面位置における各方位につい
ての軸トのコントラストをグラフ化したものであり、軸
Ｌコントラストを実線で示し、併せて当該被検レンズに
対する良否判定の基準値を一点鎖線で示している。従っ
て、当該グラフ３Ｇにおいて、実線で示されるコントラ
ストが良否ｒ１定のノｉＧ　？Ｆ−＠Ｑを越えていれば
、軸上コントラストに関しては良品レンズと判定されて
いるものである。 グラフＧ４は、コントラストＪＩｌ定サブルーチン４４
で測定したモ均軸上像面位置における各方位についての
軸外のコントラストをグラフ化したものであり、軸外コ
ントラストを実線で示し、併せて″Ｉ該被検レンズに対
する良否゛ｒ（定の基準値を＝・点鎖線で示している。 従って、グラフ３Ｇと同様に当該グラフ４Ｇにおいて、
実線で示されるコントラストが良否判定の基準値を越え
ていれば、軸外コントラストに関しては良品レンズと′
Ｉ定されているものである。 上記のグラフ表示から１例えば下記の如く被検レンズの
光学特性の不具合及びその原因を読み取ることができる
。 （１）グラフＧ２に於て、第２８図の如く各測定点の軸
外の像面位置のグラフが設計像面位置と交差して表わさ
れる場合には、第３０図（ａ）に示すように像面に倒れ
を生じていることが解る。このような状ｙムは、被検レ
ンズｌの構成レンズが偏心している場合に発生するもの
である。 （２）第２９図の如く、タラ７Ｇｌでは各測定点の軸−
Ｌの像面位置のグラフは設計像面位置付近にあるが、グ
ラフＧ２では各測定点の軸外の像面位置のグラフが１没
計像面位とから上下向れか一方側（図では下方即ちレン
ズに近づく側）に略平行に離れている場合には、第３０
図（ｂ）に示すように像面が湾曲（図ではアンター側に
湾曲）していることが解る。このような状！島は、被検
レンズｌの構成レンズの玉間隔に変化がある場合に発生
する。 ［９：、明の効果］ 本発明に係るレンズ検査装置の制御装置によれば、複雑
な作動と多数の測定を合理的に行なうことがｒ’＋（能
となり、レンズの検査を効率的に行なうことができるも
のである。 その結果、検査作業を自動化でき、検査コストを低減で
きるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるレンズ検査装この制御装置の一実
施例を適用したレンズテスタの概略構成を示すブロック
図、第２図はレンズマウントの平面図、第３図はその■
−■断面断面図番第４図源部の構成図、第５図は光源部
の各構成要素の放射又は透過分光特性を示すグラフ、第
６図はチャートの平面図、第７図は軸外ミラ一部の平面
図、第８図はその左側面図、第９図はセンサ部の平面図
、第１Ｏ図はそのＸ−Ｘ断面図、第１１図は第９図のＸ
Ｉ−ＸＩ断面図、第１２図は演算回路のブロック図、第
１３図はかｆ算回路に於るコントラスト演算に係る正弦
波信号の説明図、第１４図及び第１５１ｆｆｌは軸外測
定点位置を示す図、第１６図は制御部及び判定部のフロ
ーチャート、第１７図は測定によりス１１られるデイフ
ォーカス量に対するコントラスト値の特性曲線、第１８
図はコントラスト測定のサブルーチンのフローチャー）
、ｍ１９図は走査モ均しジスタ群の概念図、第２０図は
走査時間短縮化を説明する４１Ｑ−図、第２１図は判定
サブルーチンのフローチャート、第２２図は基準像面位
置とモ均像面位置との関係を示す説明図、第２４図は判
定サブルーチンのフローチャート、第２５図は表示パネ
ルの平面図、第２６図はレンズテスタシステムの構成ブ
ロック図、第２７図はパソコン部による測定結果の表示
の一例を示す図、第２８図及び第２９図は第２７図の表
示の説明図、第３０図は第２８図及び第２９図と対応し
た像面変化の説明図、第３１図は従来例である投影テス
トの説明図である。 ｌ・・・被検レンズ ２・・・光学系 ３・・・コントラスト測定部 ３１・・・ＣＣＤセンサ部（検知り段）４・・・制御部
（制御装置） ｌＯ・・・レンズマウント（レンズ保持部）ＣＡ・・・
翁Ｌｌニチャート ＣＺ・・・軸外チャート

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 回転駆動可能なレンズ保持部に保持された被検レンズに
   軸上と軸外から所定ピッチの格子状チャートを透過した
   光を入射させ、前記被検レンズにより形成される軸上及
   び軸外の面記格子状チャートの像のコントラストを、軸
   上及び軸外光のそれぞれの光路前方に前記被検レンズの
   光軸方向に移動駆動可能に配置された検知手段を有する
   コントラスト測定手段により測定し、前記コントラスト
   測定手段による測定値を予め定められた判定値と比較す
   ることにより前記被検レンズの良否判定を行なうよう構
   成されたレンズ検査装置に於て、前記コントラスト測定
   手段による軸上及び軸外のチャート像のコントラストの
   測定を前記コントラスト測定手段の検知手段を前記被検
   レンズの光軸方向に移動させて所定間隔で複数箇所に於
   て行なうと共に、該被検レンズの光軸方向の複数箇所に
   於るコントラストの測定を前記レンズ保持部を駆動して
   前記被検レンズをその光軸を中心として回転させて測定
   点を変更して行ない、各測定点に於て軸上のコントラス
   ト測定値が最大値を示す位置の平均位置に前記検知手段
   を固定し、前記レンズ保持部の駆動により前記被検レン
   ズを回転させて所定軸外の測定点に於るチャート像のコ
   ントラストを測定するよう、前記コントラスト測定手段
   の検知手段の作動とチャート像のコントラストの測定及
   び前記レンズ保持部の作動を制御すること、を特徴とす
   るレンズ検査装置の制御装置。