JPH0267942A - レンズ結像性能表示方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

［産業上の利用分野１ この発明は、格子状チャートの像のコントラストの値と
最良コントラストを示す被検レンズの光軸方向の位置を
測定することによりレンズの良否を判定するレンズテス
タに於るレンズ結像性能表示方法に関する。 〔従来の技術］ −ｍに、写真レンズ等の光学レンズは、その量産時にお
いて投影テストにより最終検査（性能検査）される、こ
の投影テストとは、検査対象レンズ（被検レンズ）によ
って投影されたチャート像を作業者が目視によりチエツ
クして当該被検レンズの解像力を確認検査するものであ
る。 第３１図に投影テストの概要を示し、１′は光源として
のハロゲンランプ等のランプ、２′はランプ１′からの
光線を集光するコンデンサレンズ、３′は透過型チャー
ト、４′は被検レンズ、５′は投影板である。 透過型チャート３′は、！！ｉ明なガラス板の表面に、
大小様々なピッチの縦線列と横線列を組合せた所定のパ
ターンを、クロム等の蒸着によって光線不透過として複
数描いたものである。このパターンの線列の大小（線の
輻及びピッチ）が解像力と対応し、投影板５′上に投影
されたチャート像中で分離して見える最小ピッチの線列
から例えば１００本／■■の如く解像力が評価されるよ
うになっているものである。 ランプ１′からの光線は、コンデンサレンズ２′により
集光されて透過型チャート３′を前面から照光して透過
する。この透過光により形成される透過型チャート３′
の像を、被検レンズ４′によって該被検レンズ４′の焦
点距離の４０〜５０倍の位置に置かれた投影板５′上に
拡大投影する。尚、この時、被検レンズ４′によるチャ
ート像の光束の入射角度θ１に対してコンデンサレンズ
２′からのチャート３′への照光の入射角度θ２が図の
様に小さいと被検レンズ４′が絞られた結果となる為、
入射角θ２は充分大きくなければならないものである。 作業者は、被検レンズ４′の位置を光軸方向に微動調節
して上記チャート像の中心のピントを投影板５′上に合
わせた後、この投影板５′上に投影されたチャート像内
の所定位置に於る所定ピッチのチャートが分離されてい
るかどうか（換言すればチャート像内の所定位置に於て
所定の解像力を有するかどうか）を目視によって確認し
、被検レンズの良否を検査するものである。 しかし、こうした投影テストでは１作業を暗室内で行な
わなければならないために作業性が悪い、被検レンズの
焦点距離が長い場合には大きな暗室を必要として多大な
設備費を！する。コンデンサレンズに大口径且つ明るい
ものが必要、チャート像を目視によりチエツクするもの
であることから熟練した作業者であっても一定以上の精
度での安定した検査は望めない、といった数々の不具合
がある。これらの問題を解決するものとして本出願人は
先に、被検レンズを回転駆動可能に保持するレンズ保持
部と、該レンズ保持部に保持された被検レンズに軸上と
軸外から所定ピッチの格子状チャートを透過した光を入
射させる光学系と、該光学系による軸上及び軸外光のそ
れぞれの光路前方に被検レンズの光軸方向に移動駆動可
能に配置された検知手段により検知されたチャート像に
基づいてコントラストを算出するコントラスト測定手段
と、レンズ保持部の回転駆動及びコントラスト測定手段
の作動を制御して被検レンズの像の所定位置に於けるコ
ントラストを測定する作動制御手段と、コントラスト測
定手段により測定されたコントラストな予め定められた
判定基準と比較することにより被検レンズの良否を判定
する判定部と、該判定部による判定結果を表示する表示
部と、により構成され、被検レンズに軸上と軸外から所
定ピッチの格子状チャートを透過した光を入射させ、被
検レンズにより形成される軸上及び軸外の格子状チャー
トの像のコントラストを、複数の軸外位置に於て軸上光
の光軸方向の複数箇所で測定し、更に該測定結果から軸
上のコントラストが最大値を示す光軸上の位置の平均位
置に於て軸上及び軸外の格子状チャートの像のコントラ
ストを被検レンズを回転させて複数箇所測定し。 これらの測定結果から被検レンズの良否を判定するレン
ズテスタを提案した。 ［従来技術の課題］ しかし乍ら、このようなレンズテスタでは、不良原因や
最終的な判定結果の表示は可能ではあるものの、判定基
準に対する個々の測定点に於るコントラスト値や像面位
置の変化状態等は具体的に解らず、この為、これらのレ
ンズ結像性能を視覚的に一目瞭然で把握できる表示方法
の確立が望まれていた。 ［発明の目的〕 この発明は、上記のような背景に鑑みてなされたもので
あり、判定基準に対する個々の測定点に於るコントラス
ト値や像面位置の変化状態を視覚的に一目瞭然で把握で
きるレンズ結像性能表示方法の提供、をその目的とする
。 ［課題を解決するための手段］ そのため、本発明によるレンズ結像性能表示方法は、一
方の軸に測定点を取り他方軸にコントラストと像面位置
を取った直交座標に、軸上及び軸外のぞれぞれについて
各測定点のコントラストの最大値と像面位置及び設計像
面位置をグラフ表示し、一方の軸に測定点を取り他方軸
にコントラストを取った直交座標に、軸上及び軸外のぞ
れぞれについて軸上のコントラストが最大値を示す光軸
上の位置の平均位置に於る各測定点のコントラスト値と
良否判定基準コントラスト値をグラフ表示するものであ
る。又、それらのグラフ表示の内の任意の複数グラフ表
示を同一画面上に表示するようにしたものである。 ［発明の実施例］ 以下、この発明の実施例を添付図面を参照しながら説明
する。 第１図は、レンズを検査するレンズテスタＬＴのブロッ
ク図であり、その測定結果を本発明に係るレンズ結像性
能表示方法の一実施例により表示するものである。 「レンズテスタＬＴの概略」 （構　成） レンズテスタＬＴは、レンズ保持部としてのレンズプラ
ント部ｌＯ１光学系２、センサ部３１と演算回路３２と
により構成されるコントラスト測定手段としてのコント
ラスト測定部３１作動制御手段としての制御部４１１定
温５、表示部６．とにより構成されている。尚、制御部
４と判定部５は一つのマイクロコンピュータにより構成
されているものである。 尚、レンズテスタＬＴは第２６図の如くコンピュータ（
パソコン部ＰＣ）と接続されてレンズテスタシステムを
構成し、そのＣＲＴデイスプレィ７３に本発明に係るレ
ンズ結像性能表示方法の一実施例による測定結果の表示
され、又、プリンタ７４によりハードコピーを得られる
ようになっているが、これについては後に詳説する。 （作　用） レンズマウント部１０は、被検レンズｌを、該被検レン
ズｌの光軸を中心として回転駆動可能に所定位置に保持
する。 光学系２は、レンズマウント部１０に保持された被検レ
ンズ１に、該被検レンズ１の光軸に沿う軸上から所定格
子ピッチのチャー）ＣＡを透過した光（軸上光ＬＡ）を
入射させると共に、光軸と所定の角度を有する軸外から
所定格子ピッチのチャー）ＣＺを透過した光（軸上光Ｌ
Ｚ）を入射させる。 コントラスト測定部３では、光学系２からの軸上及び軸
外光ＬＡ−ＬＺがレンズマウント部１０に保持された被
検レンズｌを通過することにより形成されるチャートＣ
Ａ−ＣＺの像を、ＣＣＤセンサ部３１の各ＣＣＤセンサ
（軸上センサ３ＬＡ及び軸外センサ３１２）がチャート
像のピッチ方向に走査して該チャート像の明暗を電気信
号に変換し、この電気信号を演算回路３２（軸上演算回
路３２Ａ及び軸外演算回路３２Ｂ）により演算して軸上
及び軸外に於るチャート像のコントラストを算出（即ち
測定）する。 制御部４は、ＣＣＤセンサ部３１の各ＣＣＤセンサ３１
Ａ・３１２を被検レンズ１の光軸方向に移動させて被検
レンズｌの光軸方向の複数箇所に於いて軸上及び軸外に
於るチャート像のコントラストを測定すると共に、レン
ズマウント部１０を駆動することにより被検レンズ１を
その光軸を中心に回転させて軸外の測定点を変更すると
共に軸上に於る被検レンズｌに対するチャート像のピッ
チ方向を変更し、上記被検レンズｌの光軸方向の複数箇
所に於けるチャート像のコントラストの測定を所定の複
数の軸外位置について行ない、更に、上記測定により得
られた軸上のコントラスト測定結果から、各測定点に於
るコントラストが最大値を示す光軸上の位置の平均位置
に軸上及び軸外のＣＣＤセンサ３１Ａ・３１Ｚを固定し
く即ち、軸上の各測定点に於るコントラストが最大値を
示す被検レンズ１と軸上センサ３１Ａとの平均距離、と
等しい被検レンズｌからの距離に軸外センサ３１２も固
定し）、被検レンズ１を回転させて軸外の各測定点に於
るチャート像のコントラストを測定するよう、コントラ
スト測定部３のセンサ部３１の各ＣＣＤセンサ３１Ａ・
３１Ｚの移動駆動とコントラストの測定、及びレンズマ
ウント部１０の駆動（被検レンズｌの回転）を制御する
ものである。 判定部５は、上記作動制御部４に制御されてコントラス
ト測定部３により得られたチャート像のコントラストの
値を予め定められた判定基準値と比較すると共に、最大
のコントラスト値を示す軸上と軸外の各測定点の光軸方
向の相互のズレ量を予め定められた判定基準量と比較し
、判定基準を越えているものがあれば不良として被検レ
ンズｌの良否を判定する。更に、被検レンズ１が不良の
場合には、上記各測定点のコントラスト値又は最大のコ
ントラスト値を示す軸上と軸外の各測定点の光軸方向の
相互のズレの状態から、予め定められた解析演算方法に
よってその不良内容を導出する。 表示部６は、判定部５による判定結果と、導出された不
良内容を配置されたＬＥＤの点灯により表示するもので
ある。 次に、上記各構成部の構成及び作用を、順を追って詳細
に説明する。 「レンズマウント部１０Ｊ （構　成） 第２図は、レンズマウント部１０の平面図、第３図は　
そのｍ−ｍ断面図である。 図において、１００はレンズテスタＬＴのシャーシ（第
２図には示してない）、１１は被検レンズｌが位置決め
保持されるマウント、ｌｏｔはマウン）１１を回転自在
に支持するシャーシ１００に固定された軸受ボス、１５
は被検レンズｌをマウン）１１上に固定するロック機構
、１７はロック機構１５を駆動するエアシリンダ、１８
はマウントｌｌを回転駆動するＤＣモータである。 マウント１１は１円板状の基板１２の中心部に検査光通
過の為の開口部を形成すると共に、この基板１２の上面
に被検レンズｌを位置決め載置可能なレンズ載置部１３
、下面に軸受ボスｌｏｔとの嵌合部１４、をそれぞれ突
出形成した略円板状の外観を呈している。基板１２の外
周端部面には全周に亘ってギア１２Ａが形成されており
、又。 基板１２の上面のレンズ載量ｓ１３を中心とした対向す
る二箇所に、被検レンズ１をレンズ載置部１３に固定す
る為のロック機構１５が設けられている。 そして、嵌合部１４がベアリング１０２を介してシャー
シ１００に固定された軸受ボスｌｏ１に嵌合し、シャー
シ１００に回転自在に設置されている。 レンズ蔵置部１３は、その上面が基準面１３Ａとなって
いると共に図示しない前後・左右方向の位置決めが形成
されており、該基準面１３Ａ上に被検レンズ１の鏡筒の
フランジＩＡ（当該レンズをカメラ本体へ取付ける為の
フランジ）を当接させて載置すると、マウント１１に対
して被検レンズｌの上下番前後・左右の位置が決った（
即ち位置決めされた）状態となるよう構成されているも
のである。 ＤＣモータ１８は、マウン）１１配置位置の側方である
シャーシ１００の下側の面にそのスピンドル１８Ａを上
向きとして固定されている。 シャーシ１００を貫通して上側に突出するスピンドル１
８Ａの上端にはギア１８１が嵌合固定され、該ギア１８
１がアイドルギア１６と噛合すると共に該アイドルギア
１６がマウン）１１の基板１２の外周のギア１２Ａと噛
合しており、ＤＣモータ１８の回転によりマウン）１１
が回転駆動されるようになっている。 ロック機構１５は、基板１２の上面に立設されたポスト
１５１の側面に、リンクプレート１５２がその略中央部
で回動可能に軸支されると共に、該リンクプレート１５
２の先端に固定さられたビン１５２Ａがロックプレート
１５３の切り欠き１５３Ａに嵌合しており、リンクプレ
ート１５２の回動によりロックプレート１５３も回動す
るよう構成されている。ロックプレート１５３は、所定
厚さの板状で、上端部に切り欠き１５３Ａが開放形成さ
れると共に一方側端にツメ１５３Ｂが突山形成されてお
り、該ツメ１５３Ｂをレンズ蔵置部１３側としてその下
端側でポスト１５１に回動自在に軸支されているもので
ある。 又、リンクプレート１５２とロックプレート１５３とは
、その夫々の軸支位置の外側（レンズ載置部１３とは反
対の側）に於てスプリング１５４によって連結されてお
り、該スプリング１５４がロックプレート１５３をリン
クプレート１５２に対してそのツメ１５３Ｂをレンズａ
置部１３側に回動させる方向に引っ張り付勢している。 このロックプレート１５３の回動はツメ１５３Ｂがレン
ズ載置部１３の上面（基準面１３Ａ）に当接することで
規制されるが、この時ツメ１５３Ｂが基準面１３Ａを押
圧する力は、被検レンズ１を保持するに充分な所定の押
圧力となるよう設定されているものである。 エアシリンダ１７は、そのロッド１７Ａの位置をリンク
プレート１５２の軸支点より上側に対応させてリンクプ
レート１５２より外側のシャーシ１００上に設置されて
おり、該エアシリンダ１７を駆動してロッド１７Ａを伸
張させると、該ロッド１７Ａの先端がリンクプレート１
５２の上端を押圧して回動（上端がレンズ蔵置部１３側
に、下端がレンズ載置部１３と反対の側に移動するよう
回動）させ、ピン１５２Ａを介してロックプレート１５
３をそのツメ１５３Ｂがレンズ１２部１３から離れる方
向（図中矢印で示す）に回動させるようになっている。 尚、図中エアシリンダ１７は一方のロック機構１５に対
するものしか記載してないが、他方のロック機構１５に
対しても同様に配置するか、又は双方のロック機構１５
をリンク機構等により連結して同期作動するよう構成す
れば良いものである。 （作　用） そして、エアシリンダ１７を駆動してロックプレート１
５３をそのツメ１５３Ｂがレンズ載置部１３から離れる
方向に回動させると、レンズ載置部１３の基準面１３Ａ
上への被検レンズｌの蔵置（又は取り外し）が回部とな
る。この状態で、基準面１３Ａ上に被検レンズｌを位置
決め載置し、エアシリンダ１７を逆方向に駆動してリン
クプレート１５２の押圧を解除すると、スプリング１５
４の引っ張り力でロックプレート１５３が回動し、ツメ
１５３Ｂが被検レンズ１のフランジＩＡをレンズ載置部
１３上に押圧して被検レンズｌを基準面１３Ａ上に（即
ちマウントｌｌ上に）固定するものである。 又、ＤＣモータ１８を回転させてマウント１１を回転駆
動することにより、マウント１１上に固定された被検レ
ンズ１をその先軸を中心として回転させることができ、
且つ任意の位置（角度）で停止させることができるもの
である。 尚、上記エアシリンダ１７及びＤＣモータ１８の駆動制
御は、後述する制御部４により行なわれるものである。 「光学系２」 （構　成） 光学系２は、第１図に示す如く、軸上光及び軸外光の二
本の光束を形成する光源部２１と、該光源部からのそれ
ぞれの光束が透過する位置に配置された所定ピッチの透
過型格子であるそれぞれのチャートＣＡ−ＣＺ、該チャ
ートＣＡ−ＣＺ及び被検レンズ１を介したそれぞれの光
束（軸上光ＬＡ及び軸外光ＬＺ）の光路を反射屈折させ
て後述するコントラスト測定部３に導くミラー２２−２
３、それぞれの光束光路上に配置されたコリメータレン
ズ２４・２４、により構成されている。 光源部２工は、その概念構成図を第４図に示す如く、光
源としてのハロゲンランプ２１１．ｉｄハロゲンランプ
２１１からの光を所定の分光特性に整える為の二枚のフ
ィルタ２１２・２１３、コンダンサレンズ２１４．拡散
板２１５．軸上用固定ハーフミラ−２１６、軸外用可動
ミラー２１７、を上記記述類に配置して構成されている
。 ハロゲンランプ２１１の背面側（光線出射側とは反対の
側）には、パラボラ状の反射板２１１Ａが設けられ、ハ
ロゲンランプ２１１からの光を所定の位置（図中ｆで示
す）に集光するようになっている。そして、その焦光位
置ｆより光路前方に赤外吸収フィルタ２１２及び色補正
フィルタ２１３の二枚のフィルタが、次にコンデンサレ
ンズ２１４、拡散板２１５の順で配置されている。 拡散板２１５より光路前方には、軸上用固定ハーフミラ
−２１６が光路に対して４５°の傾きで固定配置され１
次に軸外用可動ミラー２１７が配置されている。軸外用
可動ミラー２１７は、その角度が調整可能となっている
と共に、ハロゲンランプ２１１からの光束と平行する方
向に前後に移動可能となっており、被検レンズｌの光軸
に対する軸外光の角度を調整可能に構成されている。 光源部２１から出射される軸上及び軸外光ＬＡ−ＬＺの
光路上の被検レンズｌの前（即ちマウント１１の光源部
２１側）に、別々のチャートＣＡ＠ＣＺがシャーシ１０
０に固定されて配置されている。 チャー）ＣＡ＠ＣＺは、第６図に示す如く、光線透過可
能な平坦なガラス基板上に一方方向に所定ピッチ（Ｐ）
で光線不透過の複数の線部をクロムを蒸着して形成した
矩形波格子である。 そして、軸上光ＬＡが透過する位置（即ち被検レンズ１
の光軸上）にはＰ　＝　１／２０龍の軸上チャートＣＡ
が、軸外光ＬＺが透過する位置にはＰ＝１／１０龍の軸
外チャー）ＣＺが、それぞれ配置されている。尚、各チ
ャートＣＡ−ＣＺの配置方向は、軸外チャー）ＣＺに於
て、そのピッチ方向（刻線と直交する方向）が被検レン
ズ１の中心から放射状となる方向とし、軸上チャートＣ
Ａもこの軸外チャー）ＣＺと同じ向さとして配置されて
いる。 ミラー２２・２３は６軸上チヤー）ＣＡ及び被検レンズ
ｌを介した軸上光ＬＡの光路延長上の所定位置に軸上ミ
ラー２２を固定すると共に、軸外チャー）ＣＺ及び被検
レンズｌを介した軸外光ＬＺの光路延長上の所定位置に
軸外ミラー２３を配置して構成される。 軸上ミラー２２は、被検レンズｌの光軸に沿う軸上光Ｌ
Ａを後述するコントラスト測定部３の軸上センサ３１Ａ
に向けて直角に反射するよう、被検レンズ１の光軸上の
所定位置に、該被検レンズｌの光軸に対して４５°Ｉｊ
ｌけて固定設置されている。 軸外ミラー２３は、第７図乃至第８図に示す如く、シャ
ーシ１００に固定されたガイドレール２３１に、スライ
ドベース２３２及びミラーホルダ２３３を介して被検レ
ンズ１の光軸からの距離及び設置角度を調整可能として
設置されているものである。 ガイドレール２３１は、その長手方向を後述するコント
ラスト測定部３の軸外センサ３１２に向けて水平にシャ
ーシ１００に固定されている。 スライドベース２３２は、その下面に於てガイドレール
２３１に摺動可能且つ離脱不能に嵌合し、ガイドレール
２３１の長手方向に沿って摺動移動可能であると共に、
図示しないロック機構によって所定位置に固定可能とな
っている。 ミラーホルダ２３３は、スライドベース２３２に離脱不
能に嵌合して一体となっており、七の嵌合部２３４に於
て摺動回転可能となっている。このスライドベース２３
２に対するミラーホルダ２３３の回転位置も１図示しな
い固定機構によって任意の角度で固定可能となっている
。ミラーホルダ２３３の回転軸方向は、当該軸外ミラー
２３の摺動移動方向（即ちガイドレール２３１の長手方
向）と直交する水平方向となっているものである。又、
ミラーホルダ２３３の上面にはミラー保持部２３３Ａが
立設されており、該ミラー保持部２３３Ａの上端近傍に
は、取付孔２３３Ｂが貫通形成されている。 軸外ミラー２３の裏面には、円柱状の取付バー２３Ａが
その端面で接着剤により接着固定されており、該取付バ
ー２３Ａをミラーホルダ２３３の取付孔２３３Ｂに嵌合
すると共にこの取付バー２３Ａを二本の止めネジ２３３
Ｃで直交する方向から締付けることで、ミラーホルダ２
３３に軸外ミラー２３が固定されている０本構成により
軸外ミラー２３を歪ませることなく固定することができ
るものである。 尚、第７図及び第８図では、軸該ミラー２３が光軸方向
と直交する角度となっているが、実際は第１図示の如く
所定の角度に傾けて設置されるものである。 コリメータレンズ２４は、上記軸上ミラー２２及び軸外
ミラー２３により屈折されてコントラスト測定部３に向
う光路上に、それぞれ後述するコントラスト測定部３の
センサ部３１のユニットベース３１３な介してシャーシ
１００に固定されて配置されている。 （作　用） そして、光源部２１では、ハロゲンランプ２１１からの
光を赤外吸収フィルタ２１２及び色補正フィルタ２１３
によって第５図（ｄ）に示す如き所定の分光特性の光と
すると共に、軸上及び軸外光ＬＡ−ＬＺとして被検レン
ズ１に向けて出射する。 第５図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）、は光源部２１を構成す
る各構成要素の放射分光特性又は透過分光特性を示すグ
ラフであり、各図とも横軸が波長、縦軸が放射率あるい
は透過率となっている。それぞれのグラフを説明すると
。 （ａ）は、ハロゲンランプ２１１単体の放射分光特性で
ある。 （ｂ）は、色補正フィルタ２１２単体の透過分光特性で
あり、該色補正フィルタ２１２は中心透過波長４８０１
１ｍとなっている。 （ｅ）は、赤外吸収フィルタ２１３単体の透過分光特性
であり、５０％カット波長７５０ｎ■となっている。 （ｄ）は、ハロゲンランプ２１１．赤外吸収フィルタ２
１３９色補正フィルタ２１２を第３図の如く組み合わせ
た場合の透過光の分光特性である。即ち、当該光源部か
ら出射される光は、この（ｄ）に示す如さ分光特性を有
する光となっているものである。この分光特性の光は、
祷述するコントラスト測定部３のＣＣＤセンサ３１Ａ・
３１Ｚの受光分光特性（第５図（ｅ））との組合わせに
より視感度と略一致した分光特性となるものである。 このような分光特性に加工された光は、ハロゲンランプ
２１１のフィラメント像をボカす為に拡散板２１５によ
って拡散され、軸上用固定ハーフミラ−２１Ｂによって
略５０％の光が軸上光ＬＡとして上方に向けて直角に反
射される。軸上用固定ハーフミラ−２１６を透過した光
は軸外用可動ミラー２１７によって路上方に向けて所定
の角度で反射され、軸外光ＬＺとなる。軸外用可動ミラ
ー２１７は、前述の如く光束と平行な方向に前後に移動
可能であると共に角度を変更調整することにより光軸に
対する軸外光ＬＺの角度を変更調整可能となっており、
軸外の測定位置を変更できると共に被検レンズｌの種類
に対応できるようになっているものである。 光源部２１からの軸上及び軸外の光束ＬＡ−ＬＺは、そ
れぞれ軸上チャー）ＣＡ及び軸外チャートＣＺを透過し
て被検レンズ１に入射する。 被検レンズｌを通過した軸上及び軸外の光束ＬＡ−ＬＺ
は、それぞれ軸上ミラー２２及び軸外ミラー２３によっ
て反射され、コリメータレンズ２４により結像位置を短
縮させられて後述するコントラスト測定部３に入射する
。 尚、軸外ミラー２３の移動及び回転は、前述の光源部２
１に於る軸外用可動ミラー２１７の調整によって軸外光
ＬＺの光軸に対する角度を変更した際に、該軸外光ＬＺ
がコントラスト測定部３のセンサ３１Ｚに入射するよう
ｌ１ｊｌｆするものである。 以下余白 「コントラスト測定部３」 （構　成） コントラスト測定部３は、軸上光ＬＡ及び軸外光ＬＺの
光路上のそれぞれにＣＣＤセンサ３１Ａ−３１Ｚを配し
たセンサ部３１と、該センサ部３１からの軸上及び輔外
二つの信号を演算処理する演算部３２とにより構成され
ている。 センサ部３１は、軸上及び軸外のＣＣＤセンサ３１Ａ・
３１２を光線方向に移動可能として構成されるが、その
構成は、軸上と軸外では同一であり、軸上側を説明する
ことで軸外側の説１３は省略する。 演算部３２は、センサ８１３１のＣＣＤセンサ３１Ａか
らの軸上側の信号を演算処理する演算回路３２Ａと、セ
ンサ部３１のＣＣＤセンサ３１Ｚからの軸外側の信号を
演算処理する演算回路３２Ｚとにより構成される。そし
て、その＠威は、上記センサ部３１と同様に軸上と軸外
では同一であり、軸上側を説ＩＩすることで軸外側の説
す１は省略する。 センサ部３１は、第９図、該第９図のｘ−Ｘ断面図であ
る第１Ｏ図及びＸＩ−ＸＩ断面図である第１１図に示す
如く、光学系２によって当該コントラスト測定部３に導
入される軸上光ＬＡを受光するＣＣＤセンサ３１Ａ、該
ＣＣＤセンサ３１Ａを保持するセンサボード３１１．ｉ
ｌセンサボード３１１が固定されたスライドベース３１
２、等をユニットベース３１３に所定の位置関係に配置
して一体化したユニ７トとなっている。 ユニットベース３１３には、リニアベアリング３１４の
スライドシャツ）３１４Ａが二本、軸上光ＬＡの光路（
光軸）と平行に固定されており、該スライドシャフト３
１４Ａには夫々二個のスライドピース３１４Ｂが摺動移
動自在にに合されている。 スライドベース３１２は、その下面に夫々のスライドピ
ース３１４ＢがｉＮ合固定されることによってユニット
ベース３１３に設置され、軸上光ＬＡの光路方向に移動
自在となっている。 又、下面の略中央に、酸ネジ３１５が固定されており、
該酸ネジ３１５には、ユニットベース３１３の軸上光Ｌ
Ａ入射側とは反対の側の端面に固定されたパルスモータ
３１６のスピンドルと連結されたスクリュウシャツ）３
１７が螺合している。 センサボーｙ３ｉｉは、被検レンズｌを通過した軸上光
ＬＡによる軸上チャートＣＡの像の光量をアナログ信号
として検出（測定）する電気回路基板であり、軸上光Ｌ
Ａを感知してその光量に対応した電気信号を出力するＣ
ＣＤセンサ３１Ａと１図示しない該ＣＣＤセンサ３１Ａ
の躯動回路およびサンプル＆ホールド回路等の周辺回路
とにより構成される。 ＣＣＤセンサ３１Ａは、画素を一行に並べたラインセン
サであり、センサボード３１１の前面側に固定されるが
、軸上光ＬＡに対して受光面が直角となり且つそのライ
ン方向を軸上チャートＣＡのピッチ方向に一致させてス
ライドベース３１２に垂立固定される。つまり、その画
素配列方向を軸上光ＬＡによる軸上チャートＣＡの像の
格子方向と直交させてセンサボード３１１前面に設けら
れる。 尚、ユニットベース３１３の前端部には、前述の光学系
２のコリメータレンズ２４が固定されている。 演算回路３２Ａは、第１２図に示すブロック図の如く構
成されており、センサ部３１のＣＣＤセンサ３１Ａが感
知した光像信号Ｓｏつまり被検レンズｌを透過した軸上
チャートＣＡの光像の感知信号ＳｏをｒｉＪＩ算処理し
て、軸上チャートＣＡの像のコントラストを出力する。 つまり、この演算回路３２Ａでは、ＣＣＤセンサ３１Ａ
が前述した図示しないサンプル＆ホールド回路を介して
バイパスフィルタ３２１および積分回路３２２に接続さ
れており、バイパスフィルタ３２１は絶対値回路３２３
に接続される。そして、絶対値回路３２３は積分回路３
２４に接続され、積分回路３２４はサンプル＆ホールド
回路３２５に接続される。さらに、一方の積分回路３２
２はサンプル＆ホールド回路３２６に接続されており、
これらのサンプル及ホール１回路３２５・３２６は共に
除算回路３２７に接続される。 （作　用） センサ部３１は、パルスモータ３１６の回転によりスラ
ートベース３１２がスライドシャフト３１４Ａに沿って
スライド移動する。即ち、ＣＣＤセンサ３１Ａは軸上光
ＬＡの光軸方向に移動駆動されるものである。 演算回路３２Ａは、センサ部３１のＣＣＤセンサ３１Ａ
から送られる光像信号Ｓｏを交流成分と直流成分に分解
し、その両者を各々所定時間積分して、それら交流成分
と直流成分の互いの積分値の比を被検レンズｌのコント
ラストとして出力する。 バイパスフィルタ３２１は、上記光像信号Ｓ。 内の交流成分を取り出す。 絶対値回路３２３は、バイパスフィルタ３２１による上
記交流成分の絶対値、つまり負側の交流成分を正側に！
！流した値を出力する。 積分回路３２４は、絶対値回路３２３から送られる」−
記絶対値を所定の時間について積分する。 つまり、積分回路３２４では、光像信号３０内の交Ｉｉ
、Ｊ＆分が積分される。 一方、もう一つの積分回路３２２は、センサ部３１のＣ
ＣＤセンサ３１Ａから送られた光像信号ＳＯをそのまま
所定の時間について積分しており、該積分回路３２２で
は、光像信号ＳＯの直流成分が積分される。 なお、積分回路３２２・３２４の各々は、リセット信号
Ｔｏによってリセットされ、積分信号Ｔ１によってその
積分時間が制御される。 サンプル及ホール１回路３２５は積分回路３２４の積分
値をサンプリングして除算回路３２７に送出しており、
同様に、サンプル及ホール１回路３２６は積分回路３２
２の積分値をサンプリングして除算回路３２７に送出し
ている。そして、そのサンプリングのタイミングは、サ
ンプル信号Ｔ２によって制御される。 除算回路３２７は、積分回路３２４による光像信号Ｓｏ
内の交流成分の積分値を、積分回路３２２による光像信
号Ｓｏの直流成分の積分値で割る除算を実行し、その除
算結果を被検レンズ１のコントラストとして出力する。 光像信号３０は、軸上チャー）ＣＡが矩形格子なので矩
形波信号となっている（該矩形波信号は直流成分を含ん
でげた上げされている）、シかし、フーリエ変換すれば
、上記矩形波信号は、周波数が互いに異なるいくつかの
、正弦波を複数合成したものとして表現できる。そこで
、演算回路３２Ａによる上記演算出力が被検レンズ１の
コントラストとなる旨、光像信号ＳＯを第１３図に示す
正弦波信号Ｓｌに置き替えて説明する。 同図において、ａは正弦波信号Ｓ１の最大値つまり最大
光量、ｂは正弦波信号Ｓｔの最小値つまり最小光量、Ｔ
はは正弦波信号Ｓ１の周期である。 この正弦波信号Ｓ１の交流成分は、角速度をωとすれば
。 と表わされる。 また、その直ｔｌｔ成分は、 と表わされる。 ここで、上記交流成分の一周期に注目して、交流成分と
直流成分を積分し、互いの積分値の比をとれば、 となり、上記（５）式は、前述した（２）式と違って２
／πという定数が乗ぜられているものの、コントラスト
そのものとなる。 すなわち、演算回路３２Ａでは、センサ部３１のＣＣＤ
センサ３１Ａから送られる光像信号Ｓｏは、バイパスフ
ィルタ３２１．絶対値回路３２３を介してその交流成分
が積分回路３２４により所定の時間について積分され、
他方の積分回路３２２によりその直流Ｊ＆／／）が積分
される。そして、除算回路３２７により交流成分の積分
値が直流成分の積分値で割られ、すなわち（５）式に示
す除算が実行されて該除算結果が被検レンズｌのコント
ラストとなる。 以上、演算回路３２Ａによる演算出力が被検レンズ１の
コントラストとなる旨、光像信号Ｓｏを第１３図に示す
正弦波信号Ｓ１に２１き妊えて説明したが、上記コント
ラストの演算が積分回路３２２φ３２４を用いた光像信
号ＳＯの交流成分対直流成分の面積比計算となっている
ため、光像信号Ｓｏが高調正弦波を多数含んだ矩形波信
号であっても同様であり、何らかまわないものである。 なお、上記センサ部３１の駆動制御及び演算回路３２Ａ
の演算制御は後述する制御部により行なわれる。 「ルＩｇ９ｆｆｉ４」 （横　成） 制御部４は、後述する判定部５と共にＣＰＵおよびメモ
リとによるマイクロコンピュータによって構成される。 この制御部４は、上記メモリ内の所定の制御プログラム
４Ａ（第１７図に示す）に従ってレンズテスタＬＴの各
部（レンズマウントｆｉｌｏ及びコントラスト測定ｆｉ
３）を作動制御するものであり、コントラスト測定動作
全ての動作を制御するものである。 （作　用） 該制御Ｊ１部４は、コントラスト測定部３のＣＣＤセン
サ３１Ａを駆動制御して被検レンズｌの光軸方向に移動
させ、軸上及び軸外について被検レンズｌの光軸方向の
複数箇所に於いてチャート像のコントラストを測定する
と共に、レンズ保持部１０を駆動して被検レンズをその
光軸を中心として回転させて軸外の測定点を変更して上
記被検レンズの光軸方向の複数箇所に於けるチャート像
のコントラストの測定を所定の複数の軸外位置で行なう
、（測定ｌ） 該測定１の測定結果からは、下記の如き被検レンズｌの
光学特性を知ることができる。（これらの測定結果を基
準値と比較しての良否判定は後述する判定部５により行
なう） （１）軸上の各測定点に於るコントラス：・が最大値を
示す光軸上の位置、の変化から、軸上に於る非点収差の
程度を検知できる。 （２）軸上の各測定点に於てコントラストが最大値を示
す光軸上の位置の平均位置（平均像面位置）を、当該被
検レンズｌの基準像面位置と比較することにより被検レ
ンズｌのバックフォーカスのオーバー乃至アンダーを察
知できる。 （３）軸外の各測定点に於てコントラストが最大値を示
す光軸方向の位置の変化により軸外に於る非点収差の程
度を検知できる。 （４）軸外ノ測定点に於いてコントラストが最大値を示
す位１１１（即ち像面位と）と軸上の像面位置とを比較
することにより像面の湾曲・倒れを察知できる。 （５）軸上の各測定点に於るコントラストの最大値の差
から、軸上コマ収差の程度を検知できる。 （６）軸上の各測定点に於るコントラストの最大値の平
均値から、軸上コントラスト不足を判断できる。 （７）軸上の各測定点に於るコントラストの最大値のう
ちで最小のものの値から、軸上に於る一部のコントラス
ト不足を判断できる。 （８）軸外の各測定点に於るコントラストの最大値の平
均値から、軸外コントラスト不足を判断できる。 （９）軸外の各測定点に於るコントラストの最大値の差
から、軸外コマ収差の程度を検知できる。 このような検知を可能とする測定点は、例えば被検レン
ズ１が３５−ｌフィルム使用のカメラ用のレンズの場合
、像面位置に於て３５層鵬フィルムの写角（３６ｍｓ＋
Ｘ２４■１）の対角線角度の４方位（第１４図に於る■
、■、■、■）とし、軸外位とは軸上位置から判定に必
要な所定の距離りの位置（本実施例ではｈ＝１５＋ｕ＋
）に於て測定すれば良い、尚、軸外の測定点に於ける像
面位置と軸上の像面位置との比較によ、り湾曲・倒れを
察知することのみを目的とするのであれば、軸外の測定
点は三箇所で良いものである。 次に、上記測定により得られた軸上のコントラス）１１
１１定結果から、各測定点に於るコントラストが最大値
を示す光軸上の位置の平均位置にＣＣＤセンサ３１Ａを
固定し、レンズ保持部１０を駆動することにより被検レ
ンズｌをその先軸を中心として回転させて軸外の所定測
定点に於るチャート像のコントラストを測定するよう、
コントラスト測定手段３のＣＣＤセンサ３１Ａの移動Ｗ
ＩＡＩ！ｌ＋とチャート像のコントラストの測定、及び
レンズ保持部ｌＯの駆！（被検レンズｌの回転）を制御
する。（測定２） 該測定２の測定結果からは。 （１）軸上の各測定点に於るコントラストの値の差から
、軸上に於る非点収差を検知できる。 （２）軸上の各測定点に於るコントラストの平均値から
軸上コントラスト不足を検知できる。 （３）軸上の各測定点に於るコントラストの最小値から
軸上コントラストの一部不足を検知できる。 （４）軸外の各測定点に於るコントラストの平均値から
、軸外コントラスト不足を判断できる。 （５）軸外の各測定点に於るコントラスト値の差から、
軸外コントラストの変動不良を判定できる。 この検知に於る軸外の測定点は１例えば被検レンズｌが
３５ｍ謬フィルム使用のカメラ用のレンズで直進へリコ
イド等フォーカシングに伴なってレンズが回転しないタ
イプである場合、像面位置に於て第１４図示の如く、３
５１１フイルムの写角（３６■ｓＸ２４ｇ＋■）の対角
線と軸上位置（光軸中心）を中心とした水平線及び垂直
線上の８方位（第１４図に於る■〜■）で、軸上位置か
ら所定の距離りの位置（本実施例では前述の測定ｌの際
と同じｈ＝１５１■の位置）に於て測定すれば良い、但
し、３５龍フイルムの場合で垂直線上の測定点（図中■
及び■）が軸上位置から１５ｍ−の位置では写角から外
れるが、像面の湾曲等のデータを得るには有効なもので
ある。又１回転へリコイド等フォーカシングに伴なって
レンズが回転してレンズの方位が一定しない被検レンズ
１の場合には、第１５図示の如く３０°間隔で１２方位
（■〜０）測定すれば良い、尚、像面に於る軸上位置か
ら測定位置迄の距離は、当該被検レンズｌの写角に応じ
て適宜設定すれば良いものである。 次に、フローチャートに基づいて具体的な作動１ｔｉｌ
Ｎ御を説明する。 ｔ５１６図は、制御部４の制御プログラム４Ａおよび後
述する判定プログラム５Ａのフローチャートである。 この制御プログラム４Ａは、前述の如く制御部４を構成
するメモリ内に記憶されており、複数のサブプログラム
（サブルーチン）から成る。 つまり、この制御プログラム４Ａは、初期設定サブルー
チン４１．Ｊｌｌ定準備サブルーチン４２゜コントラス
ト測定サブルーチン４３．コントラスト４一定サブルー
チン４４．各部復帰＆データ転送サブルーチン４５によ
り構成される。 以下、同図の流れに従って各サブルーチンを説明する。 初期設定サブルーチン４１は、光学系２およびコントラ
スト測定部３の各駆動機構部１表示部６、制御部４が構
成されるマイクロコンピュータ内のメモリ等を夫々の初
期状態にセットする。なお、この初期設定サブルーチン
４１は電源投入時にのみ一回実行される。 測定準備サブルーチン４２は、各空圧機構部の空圧をチ
エツクし、被検レンズｌのレンズマウント部ｌＯへのセ
ットを確認し、不良および不良項目を表示する表示部を
クリヤし、センサ部３１のセンサボード３１１をイニシ
ャルセットつまりその走査開始位置（基準位置）に移動
、停止させ、被検レンズの透過光量を測定して各チャー
トＣＡ　、ＣＺのよごれおよび光学系の大きな異常（例
えば、絞り込まれている）等をチエツクする。 コントラスト１定サブルーチン４３は、センサ部３１の
センサボード３１１を上記走査開始位置（基準位置）か
ら所定距離毎にコントラストを測定しながら被検レンズ
ｌに接近して光路を短縮する方向に走査（移動）させる
、尚、本実施例ではｌ走査ステップの走査幅（移動圧！
ａ）は１／１２龍に設定されており、その走査スピード
は約２４０Ｓｔｅｐ／Ｓｅｅ　　となっている、また、
この走査の動力源はパルスモータ３１６を用いているが
、エンコーダ付きのモータ等を利用しても良い。 この結果、第１７ｒｆ４に示すようなデイフォーカス量
に対するコントラスト値の特性曲線が得られ、数値計算
によりコントラストのピーク値とその位置が軸上、軸外
共に得られる。さらに、該コントラスト測定サブルーチ
ン４３では、被検レンズを回転させてその測定点を変更
してコントラスト測定を４回実行する。（前述の測定ｌ
）コントラスト測定サブルーチン４４は、平均軸上像面
位置に軸上、軸外の各センサボードをセットさせる。こ
れは、中心にピントの合ったフィルム面（設計値）に軸
上、軸外の各ＣＣＤセンサをセットすることに相当する
。 そして、軸上、軸外のコントラストを数方位の所定方位
について測定（前述の測定？）する、つまり、直線へり
コイＦ等レンズが回転しないタイプの被検レンズではｔ
ｊＳ１４図に示す８方位について１回転へリコイド等レ
ンズの方位が一定しないタイプの被検レンズでは第１５
図に示す１２方位について測定する。み一定方位は、上
記被検レンズｌのタイプに応じてレンズマウント部１０
の回転を制御して変更する。 各部復帰＆データ転送サブルーチン４５は、レンズマウ
ント部１０の停止位置を所定の初期位置に復帰させ、そ
のロック機構１５を解除して被検レンズｌをレンズテス
タＬＴから取り外せる状態にすると共に、コントラスト
の測定値を後述するパソコン部ＰＣに出力し、更に、測
定したコントラストが胸回測定した値よりも低い場合、
チャートＣＡ、ＣＺに空気を一方から吹きつけかつ他方
より吸引して該チャー）ＣＡ、ＣＺを清掃する。 つざに、主要な各サブルーチンについて詳細に説明する
。 コントラスト０定サブルーチン４３は軸上と軸外のピン
ト位置（像面位置）を探しだすサブルーチンである。コ
ントラストの測定は、第１図に示すように被検レンズｌ
に対して軸上、軸外の二つの光路ＬＡ−ＬＺにそれぞれ
について軸上、軸外の各センサボード（ＣＣＤセンサ３
１Ａ。 ３１２）により行なわれる。各ＣＣＤセンサ３１Ａ・３
１２はコントラストを−・度計測する毎にｌ走査ステッ
プ移動する。これにより、第１８図に示すコントラスト
１〜コントラストＶＳＳ（デイフォーカス量に対するコ
ントラスト（ａの特性曲線）が得られる。このコントラ
スト値は全てメモリ内に記憶され、所定の走査４１ｇｗ
５Ｓ　　走査終了後、コントラストのピーク値とその像
面位置が後述する判定部５にて計算される。 さらに、被検レンズｌを回転させて軸外光束ＬＺに対す
るレンズの方位を変更して上記測定がｔｊＩＪ１４図に
示す４方位について行なわれる。これにより、所定方位
についてコントラストのピーク値とその最良像面位置が
求められる。 ｉ１８図は、第１６図に示すコントラスト測定サブルー
チン４３のフローチャートである。以下、同図フローチ
ャートの流れに従って各処理（手順）を説明する。 処理［１１では、センサ部３１および演算部３２によっ
て軸上および軸外のコントラストを計Δ−する。 処理

【２］では、処理［１］で計測したコントラストを
演算部３２の後段に配した図示しないＡＩロコンバータ
でディジタル量に変換する。 処理［３］では、制御ｆｓ４内に設けられた走査平均レ
ジスタ群のｎｏに処理【２１でディジタル量に変換した
コントラストを転送する。 処理【４１では、制御部４内の走査平均レジスタ群にて
走査平均を計算し、計算結果をメモリ内の所定場所に記
憶させる。 処理［５１では、走査平均レジスタ群にて、各走査平均
レジスタ上の各データを夫々となりのレジスタにシフト
させる。 処理［６］では、各ＣＣＤセンサを１走査ステツプ移動
させる。 処理間では、各ＣＣＤセンサの走査（移動）量を検査す
る。つまり、走査、！ｉ（走査による移動量）が設定し
た走査ステップ数に達したかどうか検査し、走査終了の
場合は次の処理【８１に移り、走査未終了の場合は処理
［１１に戻る。 処理［１３］では、所定走査幅分のコントラストから、
コントラストのピーク値とその位置を演算する。 処理［９１では、レンズマウントを所定角度回転させて
被検レンズの測定方位を変更する。 処理【１０１では、設定方位（４方位）の全てについて
コントラストを測定終了したかどうか検査する。測定終
了の場合は該コントラスト測定サブルーチン４３から抜
は出してメインのｒｒＡ御プログラム４Ａに復帰する。 測定未終了の場合は処理［１１１を実行する。 処理［１１１では、走査ステップ数を条件により変更設
定し、処ＦＰ［１］に戻る。これは所定の条件が成立し
たときに走査ステー、プ数を減少させて、走査時間の短
縮化を図るものである。 なお、処理［１１から処理【７］　までで構成されるル
ープが１走査ステツプとなり１本実施例ではｌ走査ステ
ップの処理時間は４．０９６■Ｓに設定されている。 当該制御部４では、コントラスト測定に際して走査平均
レジスタ群を利用して走査平均計算が行なわれるように
なっており、次に、この走査平均の動作について説明す
る。 （走査平均の動作について） ｔｊＳ１９図は、走査平均レジスタ群の概念図である。 走査平均レジスタ群は、８個の所定ビット数のレジスタ
ＤＯ”Ｄ７で構成され、制御部４内に設けられる。 その動作は、まず、前述したディジタル信号が制御部４
内の走査平均レジスタ群のＤｏに転送されてレジスタＤ
Ｏ”Ｄ７の平均が計算される。そして、この平均値がコ
ントラストとしてメモリに転送、記憶される。その後、
走査平均レジスタ群の各データが夫々隣りのレジスタに
シフトされる。つまり　１）６−＊ＤＩ　、ＤＩ→Ｄ　
２　　＊　””Ｄ６→Ｄ７とシフトされるのである。す
なわち、２進法で８で割るロジックが簡単なため、こう
した処理により高速演算が回部となる。さらに、レジス
タ内のデータシフトは、制御部４を構成したマイクロコ
ンピュータでは容易である。などの理由により走査平均
計算は、容易かつ高速に処理できる。なお、上記方法で
は、レジスタ　ＤＯ〜Ｄ１の和が最大となるコントラス
トのピーク位置はＤｏにデータを取り込む時点のセンサ
ボード位置と４走査ステツプのズレを生ずる。しかし、
このズレは常に一定なので４走査ステツプズした位置を
ピーク位置とすればよい。 レジスタｎｏに泡り込むデータの最初の１個から７個目
まで、つまり、走査平均レジスタ群Ｄ＠”ＤＩが全てＦ
ＵＬＬになるまでは、走査平均を取ったコントラストは
実際に測定したコントラストよりもかなり低くでる。し
かし、この部分の測定値は、第１７図に示すコントラス
ト曲線の裾野の部分に相当するので問題ない、また、走
査平均を取ったコントラストは、実際の測定値より必ず
低い値となり誤差を生ずる。しかし、この実際の測定値
との誤差は、走査ステップのステップ数を多くすること
により減少させることができ、これによりその影響を無
視できる。 実際には、走査幅ｗＳＳ　　における走査ステップ数は
３００〜１０００ステツプに達する。ｌ走査ステップは
４．０９６　ｍｓなので約１秒強〜４秒を必要とする。 コントラストのピーク値とその位置は、メモリ内に記憶
させた各ステップ毎のコントラストデータ全てについて
コントラストの大小比較をくり返し行なうことで捜しだ
す、走査ステップのステップ数にもよるが、最大約１０
００回比較をくり返すことになり、本実施例では制御部
４が２　ＭＨｚクロックで作動しているので該大小比較
の処理時間に約１００１必要となる。 （走査時間の短縮化について） コントラスト測定サブルーチン４３では、第１４図に於
る■、■、■１．■に示す所定の４方位についてコント
ラストを測定し、コントラストのピーク値とその位置を
演算するものであるが、下記の条件を満足する場合には
走査幅ｗＳＳ全幅の走査を行なわずに、所定手順に基い
て走査幅を減少させる。これにより走査時間の短縮化を
図るものである。 その条件とは。 （１）複数の被検レンズを検査する時のｆｂのバラツキ
と個々の被検レンズ内の像面の測定点の変化による変化
量に大差があり、前者の方が大きい場合。 （２）被検レンズの軸外像面の倒れが小さいか、または
調べる必要がない場合。 （３）被検レンズの中心像面の方位による変化を調べ、
平均軸上像面のみを測定すればよい場合、である。 ｔ５２０図は、走査時間の短縮化を説明する概念図であ
る。同図において、横軸はセンサボードの走査方向を示
し、縦軸は下方に向って走査時間の経過を示している。 センサボードの走査は所定の４方位について４回行なわ
れるが、まず−回目の方位のでセンサボードの走査を例
えば８００走査ステツプで行なったとすると、つざの方
位■では方位■で見つけたピーク位置プラス所定走査幅
ＷＳＩ（（これを例えば２００走査ステツプとする）走
査する。−回目の方位■でのピーク位置が４００走査ス
テツプ目であったとすると、二回目の方位■での走査は
６００走査ステツプで済むことになる。同様に三回目の
方位■では４００走査ステツプ、四回口の方位■でも４
００走査ステツプとなる。こうすると４方位４回の走査
は合計２２００走査ステツプとなり、こうした方法を取
らずに４方位４回全てについて所定の８００走査ステツ
プ走査した場合の合計３２００走査ステツプと比較して
、１ｏｏｏ走査ステツプ、つまり時間にして約４秒短縮
される。 「判定部５」 （構　成） 判定部５は、前述の制御部４と共にＣＰＵおよびメモリ
とによるマイクロコンピュータによって構成される。又
、該判定部５内には１判定結果を一時格納するための各
々８ビツトで構成された二つの判定レジスタＯ５Ｏおよ
びＤＳＩ　（図示しない）が設けられている。尚１判定
レジスタをＤＳＯおよびＤＳＩの二つとしたのは、一つ
では処理データ数に対応しきれないことによる。 更に、制御部４と共に該判定部５を構成するマイクロコ
ンピュータのメモリを、後述する表示部６を制御する為
の表示制御メモリとして使用するようになっている。 （作　用） 該判定部５では、前述の制御部４により作動制御されて
測定された被検レンズｌの各測定点に於るコントラスト
の値を、第１６図に示す制御プログラム５Ａに従って予
め定められた判定基準と比較することにより良否判定を
行なう、制御プログラム５Ａは２判定部５を構成するメ
モリ内に記憶されており、複数のサブプログラム（サブ
ルーチン）から成る。つまり、この制御プログラム５Ａ
は、二つの判定サブルーチン５１．５２により構成され
る。 ここでは、 １、測定ｌ（コントラスト測定サブルーチン４３）の測
定結果を判定基準と比較することにより。 （１）軸上に於る非点収差不良（軸上ピークの異常変化
による不良（Ａ−ＡＳＵ　）　） （２）バックフォーカスのオーバー乃至アンダー不良（
機械的なバックフォーカスの不良、過大不良（ｆｂ大）
及び不足不良（ｆｂ小）） （３）軸外に於る非点収差不良（軸外像面かたおれてい
る不良（Ｚ−ＡＳＵ）） （４）像面の湾曲・倒れ不良（アンダー不良つまり軸外
像面が軸上像面よりもレンズ側に寄りすぎている不良（
ＵＮＤ）　、及びオーバー不良つまり軸外像面が軸上像
面よりもレンズ側から離れている不良（０ＶＥＲ）） （５）軸上コマ収差不良（最良軸上コントラストの異常
変化による不良（Ａ−ＣＯＮ　）　）（６）軸上コント
ラスト不足不良（平均軸上コントラスト値が小さすぎる
不良（Ａ−）ＩＴＦＬＯ）　）（７）軸上一部コントラ
スト不足不良（（Ｊ−）ＩＴＦＰＬ（８）軸外コントラ
スト不足不良（平均軸外コントラスト値が小さすぎる不
良（Ｚ−ＮＴＦＬＯ）　）（９）軸外コマ収差不良（最
良軸外コントラストの異常変化（Ｚ−ＣＯＭ　）　） を判定する。 ２、測定２（コントラスト測定サブルーチン４４）の測
定結果を判定基準と比較することにより。 （１）軸上に於る非点収差不良（Ａ−ＡＳＵ　）（２）
軸上コントラスト不足不良（Ａ−ＭＴＦＬＯ）（３）軸
上コントラストの一部不足不良（軸外コントラストの一
部が小さく、かつアンダー不良である場合（υ÷Ｈ）の
不良、軸外コントラストの一部が小さく、かつオーバー
不良である場合（０＋Ｈ（４）軸外コントラスト不足不
良（Ｚ−ＭＴＦＬＯ）（５）軸外コントラストの変動不
良（軸外のＭＴＦが激しく変化シテイル不良（Ｚ−ＨＥ
Ｎ　＞　）を判定する。 上記項目別の判定の結果は、それぞれ判定レジスタＤＳ
ＯおよびＤＳＩの予め定められたピッ）１〜８の状ｌｉ
を変化（良の場合：０．不良の場合：ｌ）することによ
り記録され、該判定レジスタＤＳＯ・ＤＳｌに記録され
た判定結果は各判定サブルーチン５１−５２毎に表示ｒ
ｔＪ制御メモリに転送される。 そして、この表示制御メモリに転送記憶された判定結果
に基いて、後述する表示部６に設けられた各ＬＥＤが点
滅制御されるようになっている。 即ち、表示ｍ６の各ＬＥＤは、表示制御メモリの内容、
つまり判定レジスタＯ５ＯおよびＤＳＩの各ビットの状
ｍ（Ｏまたはｌ）に対応して点滅制御される構成となっ
ており、各ＬＥＤは、その各々と対応するビットの状態
が０の場合は消灯され、１の場合には点灯されるように
なっている。又上記判定に用いられたデータは、＃＆述
するパソコン部ＰＣにも送られるようになっている。 以下、フローチャートに基づいて具体的ム説明する。 まず、制御プログラム５Ａを構成する二つの判定サブル
ーチン５１．５２を第１６図の流れに従って説明する。 判定サブルーチン５１は、前述したコントラスト測定サ
ブルーチン４３の結果から軸上アス（非点収差）、コマ
、軸外アス（偏心）、コマの程度を計算する。さらに、
軸上の平均像面位Ｗ１（ＨＫＮＰＰＡ）と、軸外の平均
像面位置（）ＩＫＮＰＰＺ）との差から像面湾曲を計算
する。そして、これらの計算結果と後述する各基準値と
の比較から被検レンズ１の良否および不良内容を判定し
、その判定結果を判定レジスタＤＳＯおよび［］Ｓ１に
記録する。 判定サブルーチン５２は、軸」；、軸外のコントラスト
およびコントラストの変化の様子を計算し、判定サブル
ーチン５１と同様に、これらの計算結果と後述する各基
準値との比較から被検レンズｌの良否および不良内容を
判定し、その判定結果を判定レジスタＯ８Ｏおよび口Ｓ
ｌに記録する。 判定レジスタＤＳＯおよび［ｌＳ＋に記録された判定結
果は、前述の如くその都度（判定サブルーチン５１・５
２毎に）表示制御メモリに転送記憶され、ＰＡ表示制御
メモリの記憶内容に基づいて後述する表示部６の各ＬＥ
Ｄを点滅制御するものである。 （判定基準について） 被検レンズの種類によってレンズ良書の判定基準が異な
るため、レンズテスタＬＴでは、制御プログラム５Ａ上
に多くの判定基準を持っている。 これらの判定基準には、その全てに制御プログラム５Ａ
上でＳ７口を冠した基準値基が付けられている。 像面についての基準値には。 ５ＴＯＰＰＡ　　：基準軸上像面 ５ＴＤＰＰＺ　　：基準軸外像面 ５ＴＤＰＰＡＵ　ｒ　Ｍ上アンダー側リミット５ＴＯＰ
ＰＡＯ：軸上オーバー側リミット５ＴＯＰＰＧＵ　：軸
外アンダー側リミット５ＴＤＰＰＧＯｎ軸外オーバー側
リミットがあり、上記各リミットから外れる被検レンズ
ｌは、バックフォーカスｆｂ　　（Ｉ械的なピント位ｇ
ｎ）不良と判定される。 像面変化についての基２Ｉ値には、 ８ＴＤＰＰＳＡ　ｎ軸上像面変化リミット５ＴＯＰＰＳ
Ｚ　：軸外像面変化リミットがあり、上記各像面変化リ
ミットをオーバーする被検レンズは、アメ（非点収差）
不良と判定される。 コントラストの変化についての基準値には。 ５ＴＤＮ）ＩｓＡ　：最良軸上コントラストの変化リミ
ットＳＴＤＭＭＳＺ　：最良軸外コントラストの変化リ
ミットがあり、上記各変化リミットをオーバーする被検
レンズは、コマ収差不良と判定される。 コントラストの最小値についての基準値には。 ＳＴＤＭＩＮＡ　：最良軸上コントラストリミット５Ｔ
ｆｌＮｆＮＺ　：最良軸外コントラストリミットＳＴＤ
ＭＮＬＡ　：平均軸上像面における軸上コントラストリ
ミット ＳＴＤＭＮＬＺ　：平均軸上像面における軸外コントラ
ストリミット ＳＴＤＭＮ）１２　：平均軸上像面における軸外コント
ラストの平均値のリミー２ト があり、上記各リミットに満たない被検レンズは、コン
トラストアンダー不良と判定される。なお、平均軸上像
面における軸外コントラストの平均値のリミッ）　（Ｓ
ＴＤＭＮ）ＩＺ　）に満たない被検レンズは、特定方位
のみの不良ではなく、平均値も不良な不良の程度の大き
いレンズとＩ定される。 （判定動作について） 第２１図１／４〜４／４は、第１６図に示す判定サブル
ーチン５１のフローチャートである。以下、同図に示す
各処理（手順）の流れに従って説明する。 処理［１］では、４方位について測定した４個の軸上像
面位置（ｐｐ＾）から、 ＰＰＡＭＡＸ　：最大値 ＰＰＡＮＩＮ　：最小値 ＨＫＮＰＰＭ　：平均値 ５ＡＰＰＡ　　：最大値と最小値との差を求める。 処理【２】では、軸上像面変化リミ７　）　（５ＴＤＰ
ＰＳＡ）と処理［１１で計算した最大値と最小値との差
（５ＡＰＰＡ　）とを比較する。軸上像面変化リミット
（ＳテロＰＰ５Ａ　）よりも最大値と最小値との差（５
ＡＰＰＡ）の方が大きい場合は、軸上アメｏｈ点収差）
不良と判定し、判定レジスタの所定ビット（判定レジス
タＤＳＯの３ビツト目）を１とする。 設計上回転対称になっているカメラレンズは、一般に光
軸上に非点収差を発生しない、しかし。 カメラレンズが心取り不良の玉により組み立てられた場
合等には、光軸上に非点収差が現われるので、上記処理
［２］にて軸上像面位置が所定量以上変動している被検
レンズを軸上７ス不良とするものである。 ここで、該処理

【２】　に於て軸上アメ（非点収差）不
良と判定された場合を例として不良表示を説１１する。 処理「２】に於て軸上アメ（非点収差）不良と判定され
ると１判定レジスタのそれと対応するビット（判定レジ
スタＤＳＯの３ビー２ト目）が１となる。そして、当該
判定サブルーチン５１の終了時に判定レジスタの内容が
表示制御メモリに転送記憶される（後述の処理［２３］
　）と、該表示制御メモリに記憶された軸上アメ不良を
示すデータに基づいて、表示部６（第２５図示）の当該
不良の表示であるＬＥＤ６４Ａ　（Ａ−ＡＳＵ）を点灯
させるものである。 処Ｆ［！　［３］では、軸上アンダー側すミウト（５Ｔ
ＤＰＰＡＵ）　ト処理［１１テ計算シタ平均値（ＨＫＮ
ＰＰＭ）　、！：を比較する。軸上アンダー側すミッ）
　（５ＴＤＰＰＡＵ）よりも平均値（ＨＫＮＰＰＭ）の
方が大きい場合は１機械的な、＜ツクフォーカス「ｂの
アンダー側異常と判定し、判定レジスタの対応ビット（
判定レジスタ口ＳＯの１ビツト目）を１とする。これに
より、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送
記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６のＬＥ
Ｄ６３Ａ　（Ｆｂ大）を点灯させる。 処理

【４１では、軸上オーバー側リミット（ＳＴＩＩＰ
ＰＡＯ）と処理［１］で計算した平均値（ＨＫＮＰＰＡ
）とを比較する。そして、軸上オーバー側リミット（５
ＴＯＰＰＡＯ）よりも平均値（）ＩＫＮＰＰＡ）の方が
小さい場合は、機械的なパックフォーカスｒｂのオーバ
ー側異常と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レ
ジスタ口ＳＯの２ビツト目）を１とする。 これにより、−ｈ記判定レジスタの内容が表示制御メモ
リに転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部
６のＬＥＤ６３Ｂ　（ｆｂ小）を点灯させる。 処理［５１では、基準軸上像面（ＳＴ口ＰＰＡ）つまり
軸上像面位置の設計値と、処理【！】で計算した平均値
（ＨＫＮＰＰＭ）つまり平均軸上像面位置との像面位置
の差（５ＡＨＫＮＡ　）を求める。すなわち、（５ＴＤ
ＰＰＡ　）　−（ＨＫＮＰＰＡ）　＝　（５ＡＨＫＮＡ
　）という計算が行なわれる。 処理［６］では、平均軸上像面（）［ＫＮＰＰＡ）に相
当（一致）する軸外像面（５ＫＰＰＺ）を求める。これ
は、軸外コントラストの測定を平均軸上像面（）ＩＫＮ
ＰＰＭ）に相当（一致）する軸外像面（５ＫＰＰＺ）で
行なう必要があるためである。 第２２図は、基準となる像面位置と、処理［ＩＪで計算
した平均の像面位置との関係を示す説ｒｊＪ図である。 同図に示すように軸外像面の設計値からのズレ量は、処
理

【５１で計算した像面位置の差（５Ａ）ＩＫＮＡ　）
から（５ＡＨＫＮＡ　）　／　Ｇｏｓ　Ｏとなる。 すなわち、基準軸外像面（５ＴＤＰＰＺ　）からと、求
められる。 なお、上記のような三角関数の計算は、判定部５を構成
したマイクロコンピュータでは計算プログラムが繁雑と
なり、いたずらにプログラムステップ数が増大する傾向
にある。そこで１本実施例では上記計算をまるめ計算と
しである。 処理【７】では、軸外像面のアンダ一方向リミッ）　（
５ＫＰＰＺｔｌ　）ト、オーバ一方向’Ｊ　ミー／　ト
（５ＫＰｐｚｏ　）を求める。すなわち、処理［６］で
計算した軸外像面（５ＫＰＰＺ）　　、軸外像面のアン
ダ一方向許容量（５ＴＤＷＵ）　　、軸外像面のオーバ
一方向許容量（５ＴＩ）冒０）から （５ＫＰＰＺＵ　）　＝　（５ＫＰＰＺ）　＋　（５Ｔ
ＤＷ）（５ＫＰＰＺＯ）　＝　（ＳＫＰＰＺ）　−（５
ＴＤＷＯ）と、求められる。 処理［８１では、処理

【７］で計算した軸外像面のオー
バ一方向リミット（５ＫＰＰＺＯ）を検査してその値が
負の場合に（５ＫＰＰＺＯ）　＝　０とする。これは、
負の値をなくして判定８１１５での演算処理を容易にす
るためのものである。 処理［９］では、４方位について測定した４個の軸外像
面位置（ｐｐｚ　＞から。 ＰＰＺＭＡＸ　：最大値 ＰＰＺＭＩＮ　　：最小値 ）ＩＫＮＰＰＺ　：平均値 ５ＡＰＰＺ　、最大値と最小値との差 を求める。 処理［１０］では、軸外像面変化リミッ’ｈ（ｓｔｏｐ
ｐｓ２）と処理【９１で計算した最大イ４と最小値との
差（５ＡＰＰＺ　）とを比較する。軸外像面変化リミッ
ト（５ＴＯＰＰＳＺ　）よりも最大値と最小値との差（
５ＡＰＰ２）の方が大きい場合は、軸外アメ（非点収差
）不良と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レジ
スタＤＳＩの１ビツト目）を１とする。これにより、上
記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶され
たとき、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ｃ
（Ｚ−ＡＳＵ）を点灯させる。 処理〔１１１では、処理［７］で計算したｉ外電面のア
ンダ一方向リミット（５ＫＰＰＺＵ　）と処理（９］で
計算した平均値（ＨＫＮＰＰＺ）とを比較す占、軸外像
面のアンダ一方向リミット（５ＫＰＰＺＵ　）よりも平
均値（ＨＫＮＰＰＺ）の方が大きい場合は、像面がアン
ダー側に湾曲したアンダー異常と判定し、判定レジスタ
の対応ビット（判定レジスタＤＳＯの７ビツト目）を１
とする。これにより、上記判定レジスタの内容が表示制
御メモリに転送記憶されたとき、当該不良の表示である
表示部６のＬＥＤ６５Ａ　（ＵＮＤ）を点灯させる。 処理［１２］では、処理【７】で計算した軸外像面のオ
ーバ一方向リミット（５ＫＰＰＺＯ）と処理

【９１で計
算した平均値（）ＩＫＮＰＰＺ）とを比較する。軸外像
面のオーバ一方向すミッ）　（５ＫＰＰＺＯ）よりも平
均値（ＨＫＮＰＰＺ）の方が小さい場合は、像面がオー
バー側に湾曲したオーバー異常と判定し１判定レジスタ
の対応ビット（判定レジスタ口ＳＯの８ビツト目）を１
とする。これにより、上記判定レジスタの内容が表示制
御メモリに転送記憶されたとき、当該不良の表示である
表示部６のｔｐ：ｎｅ５Ｂ　（ＯＶＥＲ）を点灯させる
。 処理［１３１では、処理［９］で計算した平均値（ＦＩ
ＫＮＰＰＺ）つまり平均軸外像面位置と、処理【６】で
計算した輛装置面位ｉｔ　（５ＫＰＰＺ）との像面位置
の差（５Ａ）ＩＫＮＺ　’）を求める。すなわち。 （）ＩＫＮＰＰＺ）　−（５ＫＰＰＺ）　＝　（５ＡＨ
ＫＮＺ　）という計算が行なわれる。 処理

【１４】では、処理

【１３】で計算した軸外像面の
差（５ＡＨＫＮＺ　）を検査する。つまり、軸外像面の
差（５Ａ）ＩＫＮＺ　）の正負を検査する。 軸外像面の差（５ＡＩ（ＫＮＺ　）が正の値の場合は、
軸外像面が軸上像面よりもアンダー側にあると考えられ
る。この場合、ｔｈｌＩ外アンダー量（ＰＰＺＧＵ）は
、 （ＰＰＺＧＵ）　−（５ＡＨＫＮＺ　）　Ｘ　２　＋　
（５ＡＰＰＺ　）と計算される。この軸外アンダーｆｆ
ｉ　（ＰＰＺＧＵ）は、平均軸上像面（ＨＫＮＰＰＡ）
からの軸外像面のデイフォーカス量の２倍に相当し、該
軸外アンダー量が大きいほどコントラスト低下の原因と
なる０次に、この軸外アンダーｉ　（ＰＰＺＧＵ）と軸
外アンダー側リミット（９ＴＤＰＰＺＯ）とを比較する
。 そして、軸外アンダー側すミッ）　（５ＴＤＰＰＺＩＪ
）よりも軸外アンダー１　（ＰＰＺＣＵ）の方が大きい
場合は、像面のアンダー側への湾曲と共に偏心も考えら
れるため、アンダー異常と偏心異常の合成不良と判定し
、判定レジスタの対応ビット（判定レジスタＤＳＩの５
ビツト目）を１とする。これにより、上記判定レジスタ
の内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、当該不
良の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ｇ　（Ｕ＋１（）
を点灯させる。 一方、軸外像面の差（５Ａ）ＩＫＮＺ　）が負の値の場
合は、軸外像面が軸上像面よりもオーバー側にあると考
えられる。この場合、軸外オーバー量（ＰＰＺＧＯ）は
。 （ＰＰＺＧＯ）　＝　（５ＡＨＫＮＺ　）　　Ｘ　２　
＋　（５ＡＰＰＺ　＞と計算される。この軸外オーバー
量（ＰＰＺ（ｉｏ）は、前記軸外アンダー量の場合と同
様、平均軸上像面（ＨＫＮＰＰＭ）からの軸外像面のデ
イフォーカス量の２倍に相当し、該軸外オーバー量が大
きいほどコントラスト低下の原因となる０次に、この軸
外オーバー量（ｐｐｚｃｏ）と軸外オーバｍ個すミフ）
　（５ＴＤＰＰＺＯ）とを比較する。そして、軸外オー
バｍ個すミッ）　（５ＴＤＰＰＺＯ）よりも軸外オーバ
ー量（ｐｐｚｃｏ）の方が大きい場合は、像面のオーバ
ー側への湾曲と共に偏心も考えられるため、オーバー異
常と偏心異常の合成不良と判定し１判定レジスタの対応
ビット（判定レジスタ口Ｓｌの６ビツト目）を１とする
。これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メモ
リに転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部
６のＬＥＤ６５Ｈ（０＋Ｈ）を点灯させる。 処理］１５】では、４方位について測定した軸上像面位
置における４個の軸上コントラス）　（ＭＴＦＡ）から
、 ＸτＦＭＡＸ＾：最大値 に↑ＦＭＩＮＡ　、最小値 ＨＫＮＭＴＦＡ　：平均値 ＳＡＭＴＦＡ　：最大値と最小値との差を求める。 処理

【１６１では、最良軸上コントラストの変化リミッ
ト（ＳＴＤＭＭＳＡ　）と、処理１１５】で計算した最
大値と最小値との差（ＳＡＭＴＦＡ）とを比較する。こ
こで、最良軸上コントラストの変化リミット（ＳＴＯＭ
ＭＳＡ　）よりも最大イ１と最小値との差（５Ａ）ＩＴ
ＦＡ）の方が大きい場合は、軸上コントラストのコマ不
良と判定し、判定Ｉ／ジスタの対応ビット（判定レジス
タ口ＳＯの４ビツト目）を１とする。これにより、上記
判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶された
とき、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６４Ｂ　
（Ａ−ＣＯＭ）を点灯させる。 処理

【１７】では、最良軸上コントラストリミット（Ｓ
ＴＤＭＩＮＡ）と処理［１５］で計算した平均値（ＨＫ
ＮＭＴＦＡ　）とを比較する。ここ＜、　＠長軸上コン
トラストリミット（ＳＴＤＭｒＮＡ）よりも平均値（Ｉ
（ＫＮＮＴＦＡ）の方が小さい場合は２軸上コントラス
トの値不足と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定
レジスタＤＳＯの５ビツトＥｌ）を１とする。これによ
り、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記
憶されたとき、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ
６４Ｃ（Ａ−ＭＴＦ−ＬＯＷ）を点灯させる。 処理１１８Ｉでは、最良軸上コントラストリミット（Ｓ
ＴＤＭＩＮＡ）と処理

【１５１で計算した最小値（Ｊ４
ＴＦＭＩＳＡ　）とを比較する。ここで、最良軸上コン
トラストリミット（ＳＴＤＭＩＮＡ）よりも最小値（Ｍ
ＴＦＭＩＮＡ）の方が小さい場合は、軸上コントラスト
の一部の値不足と判定し１判定レジスタの対応ビット（
判定レジスタＤＳ（ｌの６ビツト目）を１とする。 これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６
のＬＥＤ６４Ｄ　（Ａ−ＭＴＦ＠ＰＬ）を点灯させる。 処理［１９］では、４方位について測定した軸外像面位
置における４個の軸外コントラスト（にＴＦＺ）から、 ＭＴＦ）ＩＡＸＺ　：最大値 ＭＴＦＭＩＮＺ　：最小値 ＨＫＮ訂ＦＺ：平均値 ５Ａ）ＩＴＦＺ　：最大値と最小値との差を求める。 処理【２０１では、最良軸外コントラストリミット（Ｓ
ＴＤＭＩＮＺ）と処理【１９１で計算した平均値（ＨＫ
ＮＭＴＦＺ　）とを比較する。ここで、最良軸外コント
ラストリミット（ＳＴＤＭＩＮＺ）よりも平均値（ＨＫ
ＮＭＴＦＺ）の方が小さい場合は、軸外コントラストの
値不足と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レジ
スタＤＳＩの３ビツト目）を１とする。これにより、上
記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶され
たとき、当該不良の表示である表示部６１７）ＬＥＤ６
５Ｅ　（Ｚ−ＭＴＦ−ＬＯＷ）　を点灯させる。 処理【２１１では、最良軸外コントラストの変化リミッ
ト（ＳＴＤ）ＩＭｓＺ　）と、処Ｊ！ｌ［１９］で計算
した最大値と最小値との差（５Ａ）ＩＴＦＺ）とを比較
する。ここで、最良軸外コントラストの変化リミット（
ＳＴＤＭＭＳＺ　）よりも最大値と最小値との差（ＳＡ
ＭＴＦＺ）の方が大きい場合は、軸外のコマ不良と判定
し、判定レジスタの対応ビット（判定レジスタＤＳＩの
２ビツト目）を１とする。これにより、上記判定レジス
タＯＳ＋の内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき
、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ｄ　（Ｚ
−ＣＯＭ）を点灯させる。 処理［２２１では、当該判定サブルーチン５１に於る個
々の°ｒ１定に基づいて総合判定を行なうものであり、
゛Ｐ１第１定レジスタＤＳＯおよびＤＳｌの全てのビッ
トを検査する。つまり、被検レンズｌに何らかの不良が
ある場合は、上記処理［２１１までの各処理が実行され
ることで、判定レジスタＯ５ＯあるいはＤＳｌの何れか
のビー、トが１になっているはずである。このため、判
定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの全てのビットについて
、その状態を検査すれば被検レンズｌの各不良の有無を
知ることができる。 すなわち、判定レジスタ口ＳＯおよびＤＳＩの全てのビ
ットが０の場合は、被検レンズｌを良品と判定し、判定
サブルーチン５１の総合良判定対応レジスタ（判定レジ
スタＤＳＩの８ビツト［１）を１とする。これにより、
上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶さ
れたとき、良品の表示となる表示部６のＬＥ０６２Ｂ　
（良）を点灯させる。一方、判定レジスタＤＳＯ５よび
ＤＳＩの全てのビットを検査して、ｌのビットが一つで
もある場合には、被検レンズ１には当該ビットに対応し
た何らかの不良があるということなので、被検レンズｌ
を不良品と判定し、判定サブルーチン５１の総合不良判
定対応レジスタ（判定レジスタＯ５１の７ビツト目）を
１とする。これにより、上記判定レジスタＤＳＩの内容
が表示制御メモリに転送記憶されたとき、不良品の表示
である表示部６のＬＥＤ６２Ａ　（不良）を点灯させる
。 処理［２３）では１判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの
内容をメモリ内の表示制御メモリに記憶させる。すなわ
ち、該処理］２３】を実行することで１判定結果である
各不良内容が表示制御メモリに記憶され、その内容が表
示部６の各ＬＥＤに点灯表示される。この処理は、判定
レジスタＯ８Ｏおよび口Ｓｌが判定部５内の演算処理用
のレジスタであって、後述する判定サブルーチン５２等
でも使用するなどの取り扱い上の理由による処理である
。 判定サブルーチン５１は１以上の２３項目の処理を記述
順に実行するものである。 次に、判定サブルーチン５２について説明する。 この判定サブルーチン５２では、前述したコントラス）
Ａｌｌ定サブルーチン４４で測定したコントラストによ
る被検レンズｌの判定、つまり平均軸上像面にて測定し
たコントラストによる被検レンズｌの判定が行なわれる
。ここでの判定基準は、判定サブルーチン５１で用いた
前述したＳ１Ｄを冠した基準値が用いられる。 ｔ５２４図１７２〜２／２は、第１６図に示す判定サブ
ルーチン５２のフローチャートである。以下、同図に示
す各処理（手順）の流れに従って説すＪする。 処理［１１では、平均軸上像面位置において測定した、
所定の８方位または１２方位における８個または１２個
の軸上コントラストから、ＮＴＦ）ＩＸＬＡ　：最大値 ＭＴＦＭＮＬ＾二最小値 ＨＫＮ）ＩＦＬ＾：平均値 ＳＡＭＴＦＬＡ　：最大値と最小値との差を求める。 処理１２］では、最良軸上コントラス１の変化リミｙ　
ト（ＳＴＤＭＭＳＡ　）　ト、処理ｆｌｌ　テ計Ｘした
最大値と最小値との差（ＳＡＭＴＦＬＡ）とを比較する
。ここで、最良軸上コントラストの変化リミット（ＳＴ
ＤＭＭＳＡ　）よりも最大値と最小イ４との差（５Ａ）
ＩＴＦＡ）の方が大きい場合は軸上コントラストのアメ
不良と判定し１判定レジスタの対応ビット（判定レジス
タＤＳＯの３ビツト目）を１とする。これにより、上記
判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶された
とき、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６４Ａ　
（Ａ−ＡＳＵ）を点灯させる。 処理］３１では、平均軸上像面における軸上コントラス
トリミット（ＳＴＤＭＮＬＡ）と、処理［１］で計算し
た平均値（ＨＫＮＭＦＬＡ）とを比較する。平均軸上像
面における軸上コントラストリミット（ＳＴＩ）ＭＮＬ
Ａ）よりも平均値（ＨＫＮＭＦＬＡ　）の方が小さい場
合は、軸上コントラストの値不足と判定し１判定レジス
タの対応ビット（判定レジスタＤ≦０の５ビツト目）を
１とする。これにより、上記一定レジスタの内容が表示
制御メモリに転送記憶されたとき、当該不良の表示であ
る表示部６のＬＥＤ６４Ｃ（Ａ−ＭＴＦ・ＬＯＷ）を点
灯させる。 処理

【４】では、平均軸上像面における軸上コントラス
トリミー７　）　（ＳＴＤＭＮＬＡ）と、処理１０　で
計算した最小値（ＭＴＦＭＮＬＡ　）とを比較する。平
均軸上像面における軸上コントラストリミット（ＳＴＤ
ＭＮＬＡ）よりも最小値（ＭＴＦＭＮＬＡ）の方が小さ
い場合は、軸上コントラストの一部の値不足と判定し、
判定レジスタの対応ビット（判定レジスタＤＳＯの６ビ
ツト目）を１とする。これにより、上記判定レジスタの
内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、当該不良
の表示である表示部６のＬＥＤ６４Ｄ　（Ａ−ＭＴＦ−
ＰＬ）を点灯させる。 処理

【５】では、軸外コントラストの測定値（データ）
を一部移し換えて、データの退避を実行する。８個また
は１２個の軸外コントラストの測定値は、各々専用の退
避レジスタ（ＭＴＦＺＬＯ〜ＭＴＦＺＬ７またはＭＴＦ
ＺＬＯ−ＭＴＦＺＬＩＩ　　）に格納される。そこで、
８力位について軸外コントラストを測定した場合は、第
４方位の測定値、つまり退避レジスタ（ＭＴＦＺＬＯ）
の内容をｔｊＳ８方位の退避レジスタ（ＭＴＦＺＬ７　
）に転送する。その後、第７方位の測定値、つまり退避
レジスタ（ＭＴＦＺＬ６）の内容をｍ４方位の退避レジ
スタ（）ＩＴＦＺＬ３）に転送する。この測定値の移し
換えは、つざの処理［６］での計算処理を簡単するため
の準備であり、第４方位の測定値が後述するパソコン部
ＰＣへの転送データとなっていることによるデータ退避
作業である。また、１２方位について軸外コントラスト
を測定した場合は、測定データ全てを利用するので該処
理

【５１は行なわずに、そのままつどの処理【６１に移
る。 処理［６］　では、軸外コントテストの測定値から、 ＭＴＦＭＸＬＺ　ｅ　ｆｉ大値 ＭＴＦＭＮＬＺ　：最小値 ｕｕｘＦＬｚ　：　Ｗ均ｆ６ ＳＡＭＴＦＬＺ　：最大値と最小値との差を求める。な
お、８方位について軸外コントラストを測定した場合は
、退避レジスタ（Ｍ〒ＦＺＬＯ〜にＴＦＺＬ５　）の内
容から上記各偵を求める。また、１２方位について軸外
コントラストを測定した場合は、退避レジスタ（ＭＴＦ
ＺＬＯ〜ＭＴＦＺＬＩＩ　　）　ノ内容から上記各画を
求める。 処理【７】では、処理（５１で退避させた軸外コントラ
ストの測定値を元に戻す、つまり、８方位について軸外
コントラストを測定した場合は退避レジスタ（ＭＴＦＺ
Ｌ７　）に退避させた第４方位の測定値を本来の退避レ
ジスタ（ＭＴＦＺＬ３　）に転送し、元の状愈に戻す、
さて、第８方位の測定値は、前記処理１５】のデータ退
避作業で消滅しているが、これと対称な位置の第４方位
の測定値が確保されているので問題はない、また、１２
方位について軸外コントラストを測定した場合は、該処
理

【７】を実行する必要はなく、処理１６】を実行後直
ちにつどの処理

【８】　に移る。 処Ｊ！ｌ！　［８］では、平均軸上像面における軸外コ
ントラストリミット（ＳＴＤＭＮＬＺ）と処理

【６１で
計算した最小値（ＭＴＦＭＮＬＺ）とを比較する。平均
軸上像面における軸外コントラストリミット（ＳＴＤＭ
ＮＬＺ）よりも最小値（ＭＴＦＭＮＬＺ　）の方が小さ
い場合は、像面の湾曲と偏心の合成不良が考えられるの
で像面湾曲の方向を検査する。また、平均軸上像面にお
ける軸外コントラストリミット（ＳＴＤＭＮＬＺ）より
も最小値（）ＩＴＦ）［ＮＬＺ　）の方が小さくない場
合は、直ちに処理【１０】の処理に移る。 像面湾曲の方向は１判定サブルーチン５１によりすでに
検査されている。つまり、（ＰＰＺＧＯ）　＞（ｐｐｚ
ｃＵ）ならばオーバ一方向、　ｃｐｐｚｃｏ）　＜　（
ｐｐｚｃＵ）ならばアンダ一方向である。したがって、
被検レンズの像面がアンダ一方向に湾曲している場合は
、アンダーと偏心の合成による軸外コントラストの異常
と判定し１判定レジスタの対応ビット（判定レジスタＤ
ＳＩの５ビツト目）を１とする。 これにより、上記判定レジスタの内容が表示制御メモリ
に転送記憶されたとき、当該不良の表示である表示部６
のＬＥＤ６５Ｇ　（Ｕ＋Ｈ）を点灯させる。 一方、被検レンズ１の像面がオーバ一方向に湾曲してい
る場合は、オーバーと偏心の合成による軸外コントラス
トの異常と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レ
ジスタＤＳＩの６ビツト目）を１とする。これにより、
上記判定レジスタの内容が表示制御メモリに転送記憶さ
れたとき、当該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６５
Ｈ（０十Ｈ）を点灯させる。 処理〔９１では、平均軸上像面における軸外コントラス
トの平均値のリミット（Ｓ丁ＤＭＮＨ２）と処理［６］
　で計算した平均値（）ＩＫＮＭＦＬＺ）とを丸較する
。そして、平均軸上像面における軸外コントラストの平
均値のリミット（ＳＴＤＭＮＨ２）よりも平均値（ＨＫ
ＮＮＦＬＺ）の方が小さい場合は、＠外コントラストの
値不足と判定し、判定レジスタの対応ビット（判定レジ
スタＤＳＩの３ビツト目）を１とする。これにより、上
記判定レジスタの内容が表示制御メ七りに転送記憶され
たとき、出該不良の表示である表示部６のＬＥＤ６５Ｅ
　（Ｚ−ＭＴＦ・ＬＯＷ）を点灯させる。 処理

【！０１では、最良軸外コントラストの変化リミッ
ト（ＳＴＤＭ）ＩｓＺ）と処理【６】で計算した最大値
と最小値との差（ＳＡＭＴＦＬＺ）とを比較する。ここ
で、最良軸外コントラストの変化リミット（ＳＴＤＭＭ
ＳＺ）よりも最大イ１と最小値との差（ＳＡＭＴＦＬＺ
）の方が大きい場合は、軸外コントラストの変動異常と
判定し、判定レジスタの対応ビット（判定ジスタＤＳｌ
の４ビツト目）を１とする。これにより、上記判定レジ
スタの内容が表示制御メモリに転送記憶されたとき、当
該不良の表示である表示部６のＬＥ０６５Ｆ　（Ｚ−Ｈ
ＥＮ）を点打させる。 処理［１！Ｊでは１判定レジスタロＳＯおよびＤＳＩの
全てのビットを検査する。これは、判定サブルーチン５
１に於る処理［２２１の場合と同様に１判定サブルーチ
ン５２に於る個々の判定に基づいて総合判定を行なうも
のであり、判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの各ビット
の全てのビットを検査する。すなわち、判定レジスタＯ
５ＯおよびＤＳＩの全てのビットがＯの場合は、被検レ
ンズｌを良品と判定し、判定サブルーチン５２の総合良
判定対応レジスタ（判定レジスタＤＳＩの８ビツト目）
を１とする。これにより、上記判定レジスタの内容が表
示制御メモリに転送記憶されたとき、良品の表示である
表示部６のＬＥＤ６２Ｂ　（良）を点灯させる。一方、
判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの全てのビットを検査
して、ｌのビットが一つでもある場合には、被検レンズ
ｌに当該ビットに対応した何らかの不良があるというこ
となので、被検レンズｌを不良品と判定し、被検レンズ
ｌを不良品と判定し１判定サブルーチン５１の総合不良
判定対応レジスタ（判定レジスタＤＳＩの７ビツト目）
を１とする。これにより、上記判定レジスタの内容が表
示制御メモリに転送記憶されたとき、不良品の表示であ
る表示部６のＬＥＤ６２Ａ　（不良）を点灯させる。 処理【１２１では、判定レジスタＤＳＯオよびｌｌ５Ｉ
の内容をメモリ内の表示制御メモリに記憶させる。すな
わち、該処理［１２１を実行することで１判定結果であ
る各不良内容が表示制御メモリに記憶され、その内容が
表示部６の各ＬＥＤに点灯表示される。この処理も、前
述した判定サブルーチン５１の処理【２３］と同様、取
り扱い上の理由による処理である。 判定サブルーチン５２は１以上の１２項目の処理を記述
順に実行するものである。 「表示部６」 （構　成） 表示部６は、第２５図示の如く、前記判定部５による判
定結果を表示パネル６１に配置された発光ダイオード（
ＬＥＤ）の点灯により表示するものである。 表示パネル６１には、総合判定のＬＥＤ８２Ａ−６２Ｂ
と、判定部５による判定と対応する各判定項目別のＬＥ
Ｄ　（６３Ａ−６３Ｂ−６４Ａ−６４も一６４Ｃ・８４
Ｄ・６５Ａ・６５Ｂ・６５Ｃ−６５Ｄ・６５Ｅ′・６５
Ｆ−６５Ｇ・６５Ｈ）が、第２６図示の如く所定の位置
に配置されている。尚、該表示パネル６１丙にはレンズ
テスタＬＴの電源スィッチ６６および麹定動作の起動ス
イッチ等も一緒に配置されるものである。 （作　用） 表示パネル６１に配置された各ＬＥＤは、前述の判定部
５の所で説明した如く、制御部４と共に判定部５を構成
するマイクロコンピュータ内に設けられた表示制御メモ
リにより点滅制御される。 すなわち１表示制御メモリには、判定部５による判定結
果が一時格納される前述した判定レジスタＯ８Ｏおよび
Ｏ５１の内容が記憶される。そして、表示パネル６１の
各ＬＥＤは１表示制御メモリの内容、つまり判定部５内
の判定レジスタＤＳＯおよび口Ｓｌの各ビットと各々対
応しており、各ビットの状態（０またはｌ）に対応して
点滅制御される構成となっている。つまり、各ＬＥＤは
、その各々と対応するビットの状態がＯの場合は消灯さ
れ、ｌの場合には点灯される。 この各ＬＥＤと判定レジスタＤＳＯおよびＤＳＩの各ビ
ットとの対応、つまりどのＬＥＤが判定レジスタＯ５Ｏ
およびＤＳＩの何れのビットに対応しているかについて
は１判定サブルーチン５１および５２の説明の項にてそ
の都度説明しであるので、ここでは省略する。 次に、各ＬＥＤによる具体的な表示内容を説明する。 総合判定のＬＥＤ６２Ａ−６２Ｂは、６２Ａが被検レン
ズｌが不良品の時（即ち種々の判定基準の一つでも外れ
た時、この場合後述する各検査項目別ＬＥＤの何れかが
必ず点灯する）に点灯し、６２Ｂが被検レンズ１が良品
の場合（種々の判定基準すべてを満足した場合）に点灯
する。 各判定項目別のＬＥＤは、６３Ａ・６３Ｂが機械的なバ
ックフォーカスの不良、６４Ａ〜６４Ｄがレンズ軸上つ
まり中心部の不良。 ６５Ａ〜６５Ｈがレンズ軸外つまり周辺部の不良を示す
ものであり１点灯した場合が当該不良を表わすものであ
る。 以下、各判定項目別のＬＥＤによる表示（点灯）を個々
に説明する。 被検レンズ１が判定基準を全てクリアすると。 良品表示である８２Ｂが点灯。 不良の場合は不良品であることを示す６２Ａが点灯し、
その不良内容（理由）が６３Ａから６５８までの判定項
目別のＬＥＤの点灯によって表示される。 ６３Ａは、機械的なバックフォーカスの過大不良（ｒｂ
大）時に点灯。 ６３Ｂは、機械的なフォーカスバックの不足不良（ｒｂ
小）時に点灯。 ６４Ａは、軸上アメ不良、つまり軸上ビークの異常変化
による不良（Ａ−ＡＳＩＪ　”）時に点灯する。この不
良の原因としては、被検レンズｌを構成する構成レンズ
の偏心、研磨不良が考えられる。 ６４Ｂは、軸上コマ不良つまり最良軸上コントラストの
異常変化による不良（Ａ−ＣＯＮ　）時に点灯する。こ
の不良の原因としては、被検レンズｌを構成する構成レ
ンズの偏心、研磨不良が考えられる。 ６４Ｃは、軸上コントラストの不足不良つまり平均軸上
ＭＴＦ値が小さすぎる不良（Ａ−ＭＴＦＬ、０　）時に
点灯する。この不良の原因としては、被検レンズｌを構
成する構成レンズの研磨不良が考えられる。 ６４Ｄは、軸上コントラストの一部が値不足な不良（Ａ
−ＭＴＦＰＬ　）時に点灯する。これは６４Ｇより示さ
れる不良の中で不良程度が軽いものである。従って、６
４Ｃが点灯すれば必ず６４Ｄも点灯する。 ６５Ａは、アンダー不良つまり軸外像面が軸上像面より
もレンズ側に寄りすぎている不良（０８０）時に点灯す
る。この不良の原因としては、被検レンズ１を構成する
構成レンズの間隔不良あるいは大きな偏心が考えられる
。 ６５Ｂは２オーバー不良つまり軸外像面が軸上像面より
もレンズ側から離れている不良（０ＶＥＲ）時に点灯す
る。この不良の原因としては、被検レンズｌを構成する
構成レンズの間隔不良あるいは大きな偏心が考えられる
。 ６５Ｃは、軸外アメ不良つまり軸外徐面が倒れている不
良（Ｚ−Ａ！Ｊｕｌ　）時に点灯する。この不良の原因
としては、被検レンズｌを構成する構成レンズの偏心が
考えられる。 ６５Ｄは、軸外コマ不良つまり最良軸外コントラストの
異常変化（Ｚ−ＣＯＷ　）時に点灯する。この不良の原
因としては、被検レンズ１を構成する構成レンズの研磨
不良、著しい偏心が考えられる。 ６ｇＥは、軸外コントラストの値不足つまり平均軸外コ
ントラスト値が小さす′ざる不良（Ｚ−ＮＴＦＩ。 ０）時に点灯する。この不良の原因としては、被検レン
ズ１を構成する構成レンズの偏心、玉間隔の変化等の調
心不良が考えられる。 ６５Ｆは、軸外コントラスト変動つまり軸外のコントラ
ストが激しく変化している不良（Ｚ−ＨＥＮ）時に点灯
する。 ６５Ｇは、軸外コントラストの一部が小さく、かつアン
ダー不良である場合（Ｕ◆Ｈ）の不良時に点灯する。こ
の不良の原因としては、被検レンズｌを構成する構成レ
ンズの調心不良が考えられる。 ６５Ｍは、軸外コントラストの一部が小さくかつオーバ
ー不良である場合（０◆Ｈ）の不良時に点灯する。この
不良の原因としては、被検レンズエを構成する構成レン
ズの調心不良が考えられる。 以との不良判定を表示することにより、被検レンズｌの
不良判定と共に不良原因別の分別も併せて行なうことが
可能となり、検査作業の効率化を図ることができるもの
である。 ［レンズテスタＬＴのシステム化１ 本実施例では、第２６図示の如くレンズテスタＬＴにパ
ソコン部ＰＣを接続してレンズテスタシステムを構成し
、レンズテスタＬＴからの情報（ｌｌ１ｍ定及び判定デ
ータ）の加工処理と本発明に係るレンズ結像性能表示方
法の一実施例であるそのグラフ表示を可能としている。 （構　成） パソコン部ＰＣは、所謂パーソナルコンピュータであり
、コンピュータ７１．キーボード７２、ＣＲＴデイスプ
レィ７３及びプリンタ７４により構成される。 パソコン部ＰＣのコンピュータ７１はレンズテスタＬＴ
の制御部４及び判定部５を構成するマイクロコンピュー
タとデータバスＤＢにより接続されており、レンズテス
タＬＴからの測定値及びパソコン部ＰＣからのコマンド
が互いに受は渡されるようになっている。 （作　用） ソシて、パソコン部ＰＣでは、レンズテスタＬＴから入
力されるデータを統計処理して被検レンズｌに対する不
良対策１品質管理等に有用な二次データを作ることがで
き、このデータはプリンタ７４によりプリントアウトす
ることもできる。 又、測定データ及び二次データをＣＲＴデイスプレィ７
３上にグラフ表示できると共にプリンタ７４によりプリ
ントアウトすることができる。これにより測定データを
視覚化することができ、レンズテストＬＴの表示部６に
よる判定表示では解らないより詳細な像面状態等を一目
で把握できるようになるものである。 第２７図は測定データのＣＲＴデイスプレィ７３上への
グラフ表示の一例である。 図示表示は、−画面中に４種のグラフ（画面左上のグラ
フをＧ１、画面左下のグラフを０２、画面右上のグラフ
をＧ３．画面右下のグラフをＧ４．と呼称する）が同時
に表示され、これらが被検レンズ１の特性を如実に表わ
すものである。 各グラフの座標は、グラフＧｌ、Ｇ２の縦軸はコントラ
ストと像面位置を、グラフＧ３．Ｇ４の縦軸はコントラ
ストを表わすと共に、横軸は各グラフとも方位を表わす
、但し、横軸の目盛は、グラフＧｌ、Ｇ２ではコントラ
ストｎ定サブルーチン４３における４方位を、グラフＧ
３．Ｇ４ではコントラスト測定サブルーチン４４におけ
る８方位または１２方位を表わすようになっている。 次に、各グラフについて個々に説明する。 グラフＧｌは、コントラスト測定サブルーチン４３で測
定された各方位における軸上コントラストのピーク値と
その像面位置（最良軸上像面位置）を示し、軸上各側定
点のコントラストのピーク値を実線で、その位Ｍ（最良
像面位Ｒ）を−点鎖線で示している。なお、設計像面位
置も併せて表示してあり、被検レンズの像面状態の変化
を把握しやすいようになっている。 グラフＧ２は、コントラスト測定サブルーチン４３で測
定された各方位における軸外コントテストのピーク値と
その像面位Ｍ（最良軸外像面位置）を、軸外の各測定点
コントラストのピーク値を実線で、その位置（最良像面
位置）を−点鎖線で示す、なお、グラフＧ１と同様に設
計像面位置も併せて表示しである。 グラフＧ３は、コントラスト測定サブルーチン４４で測
定した平均軸上像面位置における各方位についての軸上
のコントラストをグラフ化したものであり、軸上コント
ラストを実線で示し、併せて当該被検レンズに対する良
否判定の基準値を一点鎖線で示している。従って、当該
グラフ３Ｇにおいて、実線で示されるコントラストが良
否判定の基準値を越えていれば、軸上コントラストに関
しては良品レンズと判定されているものである。 グラフＧ４は、コントラスト測定サブルーチン４４で測
定した平均軸上像面位置における各方位についての軸外
のコントラストをグラフ化したものであり、軸外コント
ラストを実線で示し、併せて当該被検レンズに対する良
否判定の基準値を一点鎖線で示している。従って、グラ
フ３Ｇと同様に当該グラフ４Ｇにおいて、実線で示され
るコントラストが良否判定の基準値を越えていれば、軸
外コントラストに関しては良品レンズと判定されている
ものである。 上記のグラフ表示から、例えば下記の如く被検レンズの
光学特性の不具合及びその原因を読み取ることができる
。 （１）グラフＧ２に於て、第２８図の如く各測定点の軸
外の像面位置のグラフが設計像面位置と交差して表わさ
れる場合には、第３０図（ａ）に示すように像面に倒れ
を生じていることが解る。このような状態は、被検レン
ズｌの構成レンズが偏心している場合に発生するもので
ある。 （２）第２９図の如く、グラフＧｌでは各測定点の軸上
の像面位置のグラフは設計像面位置付近にあるが、グラ
フＧ２では各測定点の軸外の像面位置のグラフが設計像
面位置から上下何れか一方側（図では下方即ちレンズに
近づく側）に略平行に離れている場合には、第３０図（
ｂ）に示すように像面が湾曲（図ではアンダー側に湾曲
）していることが解る。このような状態は、被検レンズ
１の構成レンズの玉間隔に変化がある場合に発生する。 ［発明の効果］ 本発明に係るレンズ結像性能表示方法によれば、判定基
準に対する個々の測定点に於るコントラスト値や像面位
置の変化状態を視覚的に一目瞭然で把握できるものであ
る。 その結果、判定基準はクリアして良品と判定されて被検
レンズでも、その結像傾向や潜在的な不良を察知するこ
とができ、その情報を製造工程へフィードバックするこ
とにより品質向上に寄与できるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるレンズ結像性能表示方法の一実施
例を適用したレンズテスタの概略構成を示すブロック図
、第２図はレンズマウントの平面図、１８３図はその■
−■断面断面図番第４図源部の構成図、第５図は光源部
の各構成要素の放射又は透過分光特性を示すグラフ、第
６図はチャートの平面図、第７図は軸外ミラ一部の平面
図、第８図はその左側面図、第９図はセンサ部の平面図
、第１０図はそのｘ−ｘ断面図、第１１図は第９図のＸ
Ｉ−ＸＩ断面図、第１２図は演算回路のブロック図、第
１３図は演算回路に於るコントラスト演算に係る正弦波
信号の説明図、第１４図及び第１５図は軸外測定点位置
を示す図、第１６図は制御部及び判定部のフローチャー
ト、第１７図は測定により得られるデイフォーカス量に
対するコントラスト値の特性曲線、第１８図はコントラ
スト測定のサブルーチンのフローチャート、第１９図は
走査平均レジスタ群の概念図、第２０図は走査時間短縮
化を説明する概念図、第２１図は判定サブルーチンの７
０−チャート、第２２図は基準像面位置と平均像面位置
との関係を示す説明図、第２４図は判定サブルーチンの
フローチャート、第２５図は表示パネルの平面図、第２
６図はレンズテスタシステムの構成ブロック図、第２７
図はパソコン部による測定結果の表示の一実施例を示す
図、第２８図及び第２９図は第２７図の表示の説明図、
第３０図は第２８図及び第２９図と対応した像面変化の
説明図、第３１図は従来例である投影テストの説明図で
ある。 ｌ・・・被検レンズ　　　　　２・・・光学系３・・・
コントラスト測定部 ３１・・・ＣＣＤセンサ部 ３２・・・演算部 ４・・・制御部　　　　　　　５・・・判定部６・・・
表示部 ＩＯ・・・レンズマウント ＣＡ・・・軸上チャート ＣＺ・・・軸外チャート グラフ表示ン

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）回転駆動可能なレンズ保持部に保持された被検レ
   ンズに軸上と軸外から所定ピッチの格子状チャートを透
   過した光を入射させ、前記被検レンズにより形成される
   軸上及び軸外の前記格子状チャートの像のコントラスト
   を、複数の軸外位置に於て軸上光の光軸方向の複数箇所
   で測定し、更に該測定結果から軸上のコントラストが最
   大値を示す光軸上の位置の平均位置で軸上及び軸外の前
   記格子状チャートの像のコントラストを前記被検レンズ
   を回転させて複数箇所測定し、これらの測定結果から前
   記被検レンズの良否を判定するレンズテスタに於て、一
   方の軸に測定点を取り他方軸にコントラストと像面位置
   を取った直交座標に、軸上及び軸外のぞれぞれについて
   各測定点のコントラストの最大値と像面位置及び設計像
   面位置をグラフ表示し、一方の軸に測定点を取り他方軸
   にコントラストを取った直交座標に、軸上及び軸外のぞ
   れぞれについて軸上のコントラストが最大値を示す光軸
   上の位置の平均位置に於る各測定点のコントラスト値と
   良否判定基準コントラスト値をグラフ表示すること、を
   特徴とするレンズ結像性能表示方法。
2. （２）前記グラフ表示の内の任意の複数のグラフ表示を
   同一画面上に表示すること、を特徴とする請求項（１）
   のレンズ結像性能表示方法。