JPH0271278U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図は、この考案の一実施例について、測定
作業に入る前の状態を示した正面図である。第２
図は、第１図に示す実施例について、測定時の状
態を示した正面図である。第３図は、従来例を示
す正面図である。 １……上側ユニツト、２……加圧板、３……上
側ピンボード、４……杆材、５……上面用テスト
プローブ、６……通孔、７……杆材、８……介装
板、９……通孔、１０……ストツパ、１１……押
圧棒、１２……軸受材、１３……鍔部、１４……
圧縮ばね材、１５……ブツシユ材、２１……下側
ユニツト、２２……下側ピンボード、２３……下
面用テストプローブ、２４……通孔、２５……穴
部、２６……ブツシユ材、２７……昇降板、２８
……突起材、３０……通孔、３１……案内杆、３
２……上側掛止部、３３……下側掛止部、３４…
…ナツト材、３５……圧縮ばね材、Ｐ……被測定
基板。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 装置本体に昇降可能に配置される上側ユニツト
   と、その下方に対向配置され、圧縮力が付与され
   て支持された昇降板を有する下側ユニツトとから
   なり、 前記上側ユニツトは、昇降可能な加圧板と、こ
   の加圧板に対し杆材を介して固着され、かつ、垂
   設された上面用テストプローブを有してなる上側
   ピンボードと、この上側ピンボードからそれぞれ
   の先端部を進退可能に突出させて設けた上側ユニ
   ツトの下降を停止させるためのストツパとこのス
   トリツパより短い前記昇降板を押し下げるための
   押圧棒とを有し、この押圧棒が前記昇降板を押し
   下げてその下降を停止した後、予め付与されてい
   る圧縮力に抗して上面用テストプロープが被測定
   基板の上面と接触するに至るまで前記上側ピンボ
   ードの相対下降を可能にして加圧板と上側ピンボ
   ードとの間に介装される介装板とで構成し、 前記下側ユニツトは、立設された下面用テスト
   プローブを有してなる下側ピンボードに対し、前
   記昇降板を被測定基板を水平載置するための突起
   材と前記下面用テストプローブを出没させるため
   の通孔とを設け、前記押圧棒を介して押圧されて
   下側ピンポードに当接し、かつ、下面用テストプ
   ローブが被測定基板の下面と接触するに至るまで
   の間その下降を可能にして支持させたこと、 を特徴とする回路基板検査装置におけるピンボ
   ード構造。