JPH0464784U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図は、この考案の一実施例を示す概略説明
図、第２図イ，ロは、この考案により被測定基板
に対して行なわれる検査状態を示すものであり、
このうち、イは、フアンクシヨンテスト時を、ロ
は、インサーキツトテスト時をそれぞれ示す説明
図、第３図は、従来例を示す説明図である。 １１……棒材ユニツト、１２……長杆棒材、１
３……先端面、１４……短杆棒材、１５……先端
面、２１……ピンボードユニツト、２２……昇降
板、２３……上面、２４……下面、２５……基板
用支杆、２６……基端部、２７……ストツパー、
２８……前段コンタクトプローブ、２９……基端
部、３０……挿通孔、３１……ピンボード、３２
……上面、３３……下面、３４……後段コンタク
トプローブ、３５……先端部、３６……凹部、３
７……通孔、３８……ブツシユ、３９，４０……
挿通孔、４１……案内杆、４２……ボルト頭、４
３……バネ材介装部、４４……突出部、４５……
ナツト材、４６……バネ材、４７……通孔、Ｐ…
…被測定基板、Ｒ_１，Ｒ_２……電子部品。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 装置本体の上部側に配設される基材に長杆棒材
   と短杆棒材とを植設してなる棒材ユニツトと、こ
   の棒材ユニツトに対向して装置本体の下部側に配
   設される昇降板とピンボードとを備えたピンボー
   ドユニツトとが相互の相対的な加圧接触を可能に
   して構成され、前記棒材ユニツトは、長杆棒材が
   前記昇降板との接触を、短杆棒材が前記被測定基
   板との接触をそれぞれ可能に配置して形成され、
   前記ピンボードユニツトにおける昇降板の側は、
   被測定基板を沈降可能に水平載置する基板用支杆
   と、被測定基板の下降を制御するストツパーと、
   このストツパーの突出長さより長い突出長さを有
   する前段コンタクトプローブとをそれぞれ立設さ
   せて形成し、ピンボードの側は、被測定基板を下
   支えする側の総支持力よりも大きな総圧縮力を保
   持し得るスプリング材を介装させた案内杆により
   前記昇降板を昇降可能に定位置にて支持させた際
   、前記ストツパーよりも短い突出長さを有して昇
   降板からその先端部の表出を可能にして立設させ
   た後段コンタクトプローブを設けて形成するとと
   もに、棒材ユニツトとピンボードユニツトとは、
   短杆棒材に支承させた被測定基板がストツパーに
   当接する際、長杆棒材も同時に昇降板に当接する
   位置関係のもとで配置させたことを特徴とする回
   路基板検査装置におけるピンボード構造。