JPH0274848A - 基板検査装置における教示方法 - Google Patents
基板検査装置における教示方法Info
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- JPH0274848A JPH0274848A JP63226767A JP22676788A JPH0274848A JP H0274848 A JPH0274848 A JP H0274848A JP 63226767 A JP63226767 A JP 63226767A JP 22676788 A JP22676788 A JP 22676788A JP H0274848 A JPH0274848 A JP H0274848A
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
この発明は、例えば基板上に表面実装された部品につき
ハンダ付けの良否などの部品実装状態を検査するのに用
いられる基板検査装置に関連し、殊にこの発明は、この
種基板検査装置に対して部品の実装位置および実装部品
の種別を基板の検査に先立ち教示するための教示方法に
関する。
ハンダ付けの良否などの部品実装状態を検査するのに用
いられる基板検査装置に関連し、殊にこの発明は、この
種基板検査装置に対して部品の実装位置および実装部品
の種別を基板の検査に先立ち教示するための教示方法に
関する。
〈従来の技術〉
従来、基板上の表面実装部品につきその実装状態の良否
を検査するのに、目視による検査が行われており、殊に
ハンダ付は状態の良否は、ハンダの有無、 It、溶解
性、短絡、導通不良などをこの目視検査で判定している
。ところがこのような目視検査では、検査ミスの発生が
避けられず、判定結果も検査する者によりまちまちであ
り、また検査処理能力にも限界がある。
を検査するのに、目視による検査が行われており、殊に
ハンダ付は状態の良否は、ハンダの有無、 It、溶解
性、短絡、導通不良などをこの目視検査で判定している
。ところがこのような目視検査では、検査ミスの発生が
避けられず、判定結果も検査する者によりまちまちであ
り、また検査処理能力にも限界がある。
そこで近年、この種の検査が自動的に行える自動検査装
置が各種提案された。
置が各種提案された。
第13図は、3次元の形状情報を検出できる自動検査装
置の一例を示す。同図の装置は、レーザ光源からスリッ
ト光1を基板2上のハンダ付は部位へ照射して、ハンダ
付は部位を含む基板2の表面に表面形状に沿って歪を受
けた光切断線3を生成するものである。この光切断線3
の反射光像は撮像装置4で撮像され、その撮像パターン
の歪状態をチエツクすることにより、ハンダ付は部位の
立体形状が検出される。
置の一例を示す。同図の装置は、レーザ光源からスリッ
ト光1を基板2上のハンダ付は部位へ照射して、ハンダ
付は部位を含む基板2の表面に表面形状に沿って歪を受
けた光切断線3を生成するものである。この光切断線3
の反射光像は撮像装置4で撮像され、その撮像パターン
の歪状態をチエツクすることにより、ハンダ付は部位の
立体形状が検出される。
ところがこの検査方法の場合、スリット光1が照射され
た部分の形状情報が得られるのみで、それ以外の部分の
立体形状を把握するのは困難である。
た部分の形状情報が得られるのみで、それ以外の部分の
立体形状を把握するのは困難である。
この問題を解消する方法として、ハンダ付は部位の表面
へ入射角が異なる光を照射してハンダ付は部位の各反射
光像のパターンを撮像することにより、ハンダ付は部位
が有する曲面要素の配向性を検出するという方法が存在
している。
へ入射角が異なる光を照射してハンダ付は部位の各反射
光像のパターンを撮像することにより、ハンダ付は部位
が有する曲面要素の配向性を検出するという方法が存在
している。
この方法は、一定パターンの光束を検査対象に当てたと
き、その反射光束のパターンが検査対象の立体的形状に
応じた変形を受けることに着目したもので、その変形パ
ターンから検査対象の形状を推定するというものである
。
き、その反射光束のパターンが検査対象の立体的形状に
応じた変形を受けることに着目したもので、その変形パ
ターンから検査対象の形状を推定するというものである
。
第14図は、この方法の原理説明図であり、投光装置5
と撮像装置6とから成る検出系と、検査対象であるハン
ダ付は部位7との位置関係を示している。
と撮像装置6とから成る検出系と、検査対象であるハン
ダ付は部位7との位置関係を示している。
同図において、投光装置5よりハンダ付は部位7の表面
へ入射角iで光束8を投光すると、角度i’ (=i
)の反射光束9が真上位置の撮像装置6に入射して検出
される。これにより前記光束8で照明されたハンダ付は
部位7の曲面要素は基準面10に対してiの角度をなし
て配向していることが検出されたことになる。従って異
なる方向に配向する多数の曲面要素から成るハンダ付は
部位7に対して、入射角が異なる複数の投光装置による
投光を行えば、それぞれの入射角に対応する曲面要素の
群が撮像装置6により検出され、これによりハンダ付は
部位7の各曲面要素がそれぞれどんな配向をしているか
、すなわちハンダ付は部位の表面性状がどのよう・であ
るかを検出できる。
へ入射角iで光束8を投光すると、角度i’ (=i
)の反射光束9が真上位置の撮像装置6に入射して検出
される。これにより前記光束8で照明されたハンダ付は
部位7の曲面要素は基準面10に対してiの角度をなし
て配向していることが検出されたことになる。従って異
なる方向に配向する多数の曲面要素から成るハンダ付は
部位7に対して、入射角が異なる複数の投光装置による
投光を行えば、それぞれの入射角に対応する曲面要素の
群が撮像装置6により検出され、これによりハンダ付は
部位7の各曲面要素がそれぞれどんな配向をしているか
、すなわちハンダ付は部位の表面性状がどのよう・であ
るかを検出できる。
また投光装置5が、入射角がi+ΔiからiΔiまで2
Δiの幅をもつ光束8を投光するならば、その幅に対応
した幅を有する反射光束9が撮像装置6により検出され
ることになる。
Δiの幅をもつ光束8を投光するならば、その幅に対応
した幅を有する反射光束9が撮像装置6により検出され
ることになる。
すなわちこの場合は、基準面10となす傾斜角がi+Δ
jからi−Δjまでの幅の角度をもつ曲面要素を検出で
きることになる。
jからi−Δjまでの幅の角度をもつ曲面要素を検出で
きることになる。
さらに投光装置5が、第15図に示す如く、基準面10
に対して水平に設置されたリング状のものであれば、ハ
ンダ付は部位7の表面が基準面10に垂直な軸に対して
どのような回転角をもっていても、投光装置5とハンダ
付は部位7との距離は一定であり、曲面要素の回転角方
向の配向性は消去されるので、基準面10となす傾斜角
だけが検出されることになる。
に対して水平に設置されたリング状のものであれば、ハ
ンダ付は部位7の表面が基準面10に垂直な軸に対して
どのような回転角をもっていても、投光装置5とハンダ
付は部位7との距離は一定であり、曲面要素の回転角方
向の配向性は消去されるので、基準面10となす傾斜角
だけが検出されることになる。
またこの第15図に示すように、投光装置5をハンダ付
は部位7への入射角が異なる複数のリング状発光体11
,12.13をもって構成すれば、各発光体による光束
14,15.16の入射角に対応した配向をもつ曲面要
素がそれだけ詳細に検出できることは前述したとおりで
ある。
は部位7への入射角が異なる複数のリング状発光体11
,12.13をもって構成すれば、各発光体による光束
14,15.16の入射角に対応した配向をもつ曲面要
素がそれだけ詳細に検出できることは前述したとおりで
ある。
いま半径がrn (ただしn =1.2.3 )の3個
のリング状の発光体11.12.13を基準面10に対
して高さり、、(n=1.2.3 )の位置に水平に設
置すれば、ハンダ付は部位7への各光束14,15.1
6の入射角はそれぞれ17(n=1.2.3 )となり
、ハンダ付は部位7における傾斜角がそれぞれ17であ
る各曲面要素を撮像装置6により検出することができる
。このとき各発光体11,12.13からハンダ付は部
位7の表面を経て撮像装置6に至る全光路長に比して曲
面要素の大きさが十分に小さいので、次式により入射角
、すなわち検出しようとする曲面要素の傾斜角を定めれ
ばよい。
のリング状の発光体11.12.13を基準面10に対
して高さり、、(n=1.2.3 )の位置に水平に設
置すれば、ハンダ付は部位7への各光束14,15.1
6の入射角はそれぞれ17(n=1.2.3 )となり
、ハンダ付は部位7における傾斜角がそれぞれ17であ
る各曲面要素を撮像装置6により検出することができる
。このとき各発光体11,12.13からハンダ付は部
位7の表面を経て撮像装置6に至る全光路長に比して曲
面要素の大きさが十分に小さいので、次式により入射角
、すなわち検出しようとする曲面要素の傾斜角を定めれ
ばよい。
上記の原理に基づきハンダ付は部位の外観を検査する方
法として、前記の各発光体11.12゜13に白色光源
を用いたものが提案されている(特開昭61−2936
57号)。この検査方法においては、ハンダ付は部位に
対する入射角の異なる3個の発光体11,12.13に
よる反射光像を相互に識別するために、それぞれ発光体
1112.13を時間的に異なったタイミングで点灯さ
せ、また消灯させている。
法として、前記の各発光体11.12゜13に白色光源
を用いたものが提案されている(特開昭61−2936
57号)。この検査方法においては、ハンダ付は部位に
対する入射角の異なる3個の発光体11,12.13に
よる反射光像を相互に識別するために、それぞれ発光体
1112.13を時間的に異なったタイミングで点灯さ
せ、また消灯させている。
ところがこの方法では、異なる投光タイミングで得た各
画像を貯蔵するためのメモリや、これら画像を同一視野
像として演算処理するための演算装置や、各発光体を瞬
間的に点灯動作させるための点灯装置などが必要であり
、技術面での煩雑さが多く、またそれがコスト面や信顛
性の面で問題となる。
画像を貯蔵するためのメモリや、これら画像を同一視野
像として演算処理するための演算装置や、各発光体を瞬
間的に点灯動作させるための点灯装置などが必要であり
、技術面での煩雑さが多く、またそれがコスト面や信顛
性の面で問題となる。
そこでこのタイム・シェアリング方式の課題を一挙に解
消するため、この発明の発明者は、先般、第1図に示す
構成の基板検査装置を提案した。この基板検査装置は、
その詳細は後述するが、ハンダ付は部位の表面へ入射角
が異なる赤色光、緑色光、青色光を照射するための投光
部24と、ハンダ付は部位の表面からの反射光像を各色
相側に撮像するための1最像部25と、撮像部25で得
た撮像パターンよりハンダ付は部位の有する各曲面要素
の性状を検出するための処理部26とで構成され、前記
投光部24には、赤色光、緑色光、青色光をそれぞれ発
生するリング状をなす3個の発光体2B、29.30が
用いである。各発光体2B、29.30はそれぞれの光
の合成により白色光となるような対波長発光エネルギー
分布を有しており、各発光体による光を合成したとき白
色光となるように各発光体の光量が調整可能としである
。
消するため、この発明の発明者は、先般、第1図に示す
構成の基板検査装置を提案した。この基板検査装置は、
その詳細は後述するが、ハンダ付は部位の表面へ入射角
が異なる赤色光、緑色光、青色光を照射するための投光
部24と、ハンダ付は部位の表面からの反射光像を各色
相側に撮像するための1最像部25と、撮像部25で得
た撮像パターンよりハンダ付は部位の有する各曲面要素
の性状を検出するための処理部26とで構成され、前記
投光部24には、赤色光、緑色光、青色光をそれぞれ発
生するリング状をなす3個の発光体2B、29.30が
用いである。各発光体2B、29.30はそれぞれの光
の合成により白色光となるような対波長発光エネルギー
分布を有しており、各発光体による光を合成したとき白
色光となるように各発光体の光量が調整可能としである
。
この基板検査装置によれば、ハンダ付は部位に対し異な
る入射角をもって各発光体2B、29゜30から赤色光
、緑色光、青色光を照射すると、ハンダ付は部位の表面
からの赤色、緑色、青色の各反射光像が撮像部25によ
り同時に分離して検出される。この場合に、各発光体2
B、29゜30による赤色光、緑色光、青色光は合成さ
れると白色光となるため、ハンダ付は部位の曲面性状に
関する情報に加えて、基板上の各部品に関する情報(例
えば部品番号、極性、カラーコードなど)や基板パター
ン情報(種々のマークなど)など、基板実装部品の自動
検査に不可欠な周辺情報が検出できる。
る入射角をもって各発光体2B、29゜30から赤色光
、緑色光、青色光を照射すると、ハンダ付は部位の表面
からの赤色、緑色、青色の各反射光像が撮像部25によ
り同時に分離して検出される。この場合に、各発光体2
B、29゜30による赤色光、緑色光、青色光は合成さ
れると白色光となるため、ハンダ付は部位の曲面性状に
関する情報に加えて、基板上の各部品に関する情報(例
えば部品番号、極性、カラーコードなど)や基板パター
ン情報(種々のマークなど)など、基板実装部品の自動
検査に不可欠な周辺情報が検出できる。
〈発明が解決しようとする問題点〉
このような基板検査装置を使用する場合、被検査基板の
検査に先立ち、所定の位置に所定の部品が正しく実装さ
れている基板(これを「基準基板」という)に関する各
種のデータをキーボードからキー人力する教示作業が必
要とされている。この教示作業は「ティーチング」と呼
ばれるもので、基準基板上に実装される部品の位置1種
類、検査領域などに関するデータや各部品の検査領域内
の実装状態(例えばハンダ付は状態)の特徴に関するデ
ータが教示される。
検査に先立ち、所定の位置に所定の部品が正しく実装さ
れている基板(これを「基準基板」という)に関する各
種のデータをキーボードからキー人力する教示作業が必
要とされている。この教示作業は「ティーチング」と呼
ばれるもので、基準基板上に実装される部品の位置1種
類、検査領域などに関するデータや各部品の検査領域内
の実装状態(例えばハンダ付は状態)の特徴に関するデ
ータが教示される。
しかしながらこのようなキー人力による教示方法では、
キー人力すべきデータが著しく多いため、その人力作業
に多大な時間と労力とが必要であり、その作業負担は大
変なものであった。
キー人力すべきデータが著しく多いため、その人力作業
に多大な時間と労力とが必要であり、その作業負担は大
変なものであった。
この問題を解消する教示方法として、基板の表面を黒色
塗料で着色し、実装部品の方は白色塗料で着色したもの
を位置決め基板として作製し、この位置決め基板を基板
検査装置で撮像させることにより、被検査基板を検査す
る際の基準となるデータ(部品位置など)を教示するよ
うにしたものが提案された(特開昭62−180251
号)。
塗料で着色し、実装部品の方は白色塗料で着色したもの
を位置決め基板として作製し、この位置決め基板を基板
検査装置で撮像させることにより、被検査基板を検査す
る際の基準となるデータ(部品位置など)を教示するよ
うにしたものが提案された(特開昭62−180251
号)。
しかしながらこの教示方法の場合、位置決め基板の作製
に塗装作業が必要となるばかりでな(、その基板は塗装
のためにもはや再利用が不可能となって甚だ不経済であ
る。また塗装箇所を正確に塗装しないと、部品位置など
を正しく教示できず、しかもこの方法では部品位置以外
の教示、例えば部品の種別などを教示するのは容易でな
いなどの問題がある。
に塗装作業が必要となるばかりでな(、その基板は塗装
のためにもはや再利用が不可能となって甚だ不経済であ
る。また塗装箇所を正確に塗装しないと、部品位置など
を正しく教示できず、しかもこの方法では部品位置以外
の教示、例えば部品の種別などを教示するのは容易でな
いなどの問題がある。
この発明は上記問題に着目してなされたもので、部品の
実装位置や実装部品の種別を教示するのにラベルを用い
ることにより、教示用の基準基板の作製が容易でありか
つその基板の再利用が可能な新規な基板検査装置におけ
る教示方法を提供することを目的とする。
実装位置や実装部品の種別を教示するのにラベルを用い
ることにより、教示用の基準基板の作製が容易でありか
つその基板の再利用が可能な新規な基板検査装置におけ
る教示方法を提供することを目的とする。
く問題点を解決するための手段〉
上記目的を達成するため、この発明では、基板上の実装
部品を検査する基板検査装置に対して部品の実装位置お
よび実装部品の種別を基板の検査に先立ち教示するのに
、前記基板検査装置に対し、基板上の部品実装位置にそ
れぞれラベルを貼付したものを供給して、各ラベルを撮
像させることにより、ラベルの貼付位置から部品の実装
位置を教示すると共に、ラベルの色彩または形状から部
品の種別を教示するようにしている。
部品を検査する基板検査装置に対して部品の実装位置お
よび実装部品の種別を基板の検査に先立ち教示するのに
、前記基板検査装置に対し、基板上の部品実装位置にそ
れぞれラベルを貼付したものを供給して、各ラベルを撮
像させることにより、ラベルの貼付位置から部品の実装
位置を教示すると共に、ラベルの色彩または形状から部
品の種別を教示するようにしている。
く作用〉
被検査基板の検査に先立ち、基板上の部品実装位置に部
品の種別に応じた色または形状のラベルを貼付して基準
基板を作製する。この基準基板は基板検査装置により撮
像されてラベルの貼付位置、形状9色彩が読み取られ、
これにより部品の実装位置や実装部品の種別が教示され
る。
品の種別に応じた色または形状のラベルを貼付して基準
基板を作製する。この基準基板は基板検査装置により撮
像されてラベルの貼付位置、形状9色彩が読み取られ、
これにより部品の実装位置や実装部品の種別が教示され
る。
この教示方法の場合、基準基板はラベルを貼付するだけ
で簡単に作製でき、またラベルを剥がせばその基板の再
利用が可能となり経済的である。しかもこの教示方法に
よると、部品位置以外の教示、例えば部品の種別を教示
するのも容易である。
で簡単に作製でき、またラベルを剥がせばその基板の再
利用が可能となり経済的である。しかもこの教示方法に
よると、部品位置以外の教示、例えば部品の種別を教示
するのも容易である。
〈実施例〉
第1図は、基板検査装置の概略構成を示している。
この基板検査装置は、基準基板203を撮像して得られ
た前記基準基板203上にある各部品21Sの検査領域
の特徴パラメータ(判定データ)と、被検査基板20T
を撮像して得られた前記被検査基板2OT上にある各部
品21Tの検査領域の特徴パラメータ(被検査データ)
とを比較して、これらの各部品21Tが正しく実装され
かつハンダ付けされているかどうかを検査するためのも
のであって、X軸テーブル部22、Y軸テーブル部23
.投光部24.撮像部25.処理部26などをその構成
として含んでいる。
た前記基準基板203上にある各部品21Sの検査領域
の特徴パラメータ(判定データ)と、被検査基板20T
を撮像して得られた前記被検査基板2OT上にある各部
品21Tの検査領域の特徴パラメータ(被検査データ)
とを比較して、これらの各部品21Tが正しく実装され
かつハンダ付けされているかどうかを検査するためのも
のであって、X軸テーブル部22、Y軸テーブル部23
.投光部24.撮像部25.処理部26などをその構成
として含んでいる。
X軸テーブル部22およびY軸テーブル部23は、それ
ぞれ処理部26からの制御信号に基づいて動作するモー
タ(図示せず)を備えており、これらモータの駆動によ
りX軸テーブル部22が撮像部25をX方向へ移動させ
、またY軸テーブル部23が基板2O3,20Tを支持
するコンベヤ27をX方向へ移動させる。
ぞれ処理部26からの制御信号に基づいて動作するモー
タ(図示せず)を備えており、これらモータの駆動によ
りX軸テーブル部22が撮像部25をX方向へ移動させ
、またY軸テーブル部23が基板2O3,20Tを支持
するコンベヤ27をX方向へ移動させる。
これら基板203,20Tは、投光部24がらの照射光
を受けっつ撮像部25により撮像される。
を受けっつ撮像部25により撮像される。
投光部24は、処理部26からの制御信号に基づき赤色
光、緑色光、青色光をそれぞれ発生して検査対象へ異な
る入射角で照射するためのリング状の発光体2B、29
.30を備えており、これら発光体2B、29.30を
発した三原色光の混合した光により前記基板203.2
07への投光を施して、その反射光像を撮像部25で得
て電気信号に変換する。この実施例の場合、前記の各発
光体2B、29.30は白色光源に赤色、緑色、青色の
各着色透明板を被せた構造のものを用いているが、三原
色の各色相光を発生させるものであれば、このような構
成に限らず3本のリング状のカラー螢光灯(赤、緑、青
)を用いたり、3本のリング状のネオン管(赤。
光、緑色光、青色光をそれぞれ発生して検査対象へ異な
る入射角で照射するためのリング状の発光体2B、29
.30を備えており、これら発光体2B、29.30を
発した三原色光の混合した光により前記基板203.2
07への投光を施して、その反射光像を撮像部25で得
て電気信号に変換する。この実施例の場合、前記の各発
光体2B、29.30は白色光源に赤色、緑色、青色の
各着色透明板を被せた構造のものを用いているが、三原
色の各色相光を発生させるものであれば、このような構
成に限らず3本のリング状のカラー螢光灯(赤、緑、青
)を用いたり、3本のリング状のネオン管(赤。
緑、青)を用いることもできる。
またこの投光部24は、その照明下で基板203.20
T上の部品に関する情報(部品番号、掻性、カラーコー
ドなど)や基板パターン情報(種々のマークなど)を検
出することを可能となすため、各発光体2B、29.3
0が発する各色相の光が混色されると完全な白色光とな
るような工夫を施しである。すなわち各発光体28.2
9.30は、混色により白色光となるような対波長発光
エネルギー分布を有する赤色光スペクトル、緑色光スペ
クトル、青色光スペクトルの光を発する発光体をもって
構成すると共に、各発光体28.29.30から照射さ
れた赤色光、緑色光、青色光が混色して白色光となるよ
うに、撮像コントローラ31により各色相光の光量の調
整を可能としている。
T上の部品に関する情報(部品番号、掻性、カラーコー
ドなど)や基板パターン情報(種々のマークなど)を検
出することを可能となすため、各発光体2B、29.3
0が発する各色相の光が混色されると完全な白色光とな
るような工夫を施しである。すなわち各発光体28.2
9.30は、混色により白色光となるような対波長発光
エネルギー分布を有する赤色光スペクトル、緑色光スペ
クトル、青色光スペクトルの光を発する発光体をもって
構成すると共に、各発光体28.29.30から照射さ
れた赤色光、緑色光、青色光が混色して白色光となるよ
うに、撮像コントローラ31により各色相光の光量の調
整を可能としている。
つぎに撮像部25は、前記投光部24の上方に位置させ
たカラーテレビカメラ32を備えており、前記基板2O
3または20Tからの反射光はこのカラーテレビカメラ
32によって三原色のカラー信号R,G、 Bに変換さ
れて処理部26へ供給される。
たカラーテレビカメラ32を備えており、前記基板2O
3または20Tからの反射光はこのカラーテレビカメラ
32によって三原色のカラー信号R,G、 Bに変換さ
れて処理部26へ供給される。
処理部26は、A/D変換部33.メモリ38゜ティー
チングテーブル351画像処理部34゜判定部36.X
、Yテーブルコントローラ37゜撮像コントローラ31
.CR7表示部41.プリンタ42.キーボード40.
フロッピディスク装置43.制御部(CPU)39など
から構成されるもので、ティーチングモードのとき、基
準基板20Sより後記する方法で各部品21Sの実装位
置、実装部品の種別や実装方向および。
チングテーブル351画像処理部34゜判定部36.X
、Yテーブルコントローラ37゜撮像コントローラ31
.CR7表示部41.プリンタ42.キーボード40.
フロッピディスク装置43.制御部(CPU)39など
から構成されるもので、ティーチングモードのとき、基
準基板20Sより後記する方法で各部品21Sの実装位
置、実装部品の種別や実装方向および。
検査領域を検出すると共に、基準基板20Sについての
カラー信号R,G、Bを処理しハンダ付は状態が良好な
各部品213の検査領域につき赤色、緑色、青色の各色
相パターンを検出して特徴パラメータを生成し、判定デ
ータファイルを作成する。また処理部26は、検査モー
ドのとき、被検査基板20Tについてのカラー信号R,
G、Bを処理し基板上の各部品21Tの検査領域につき
同様の各色相パターンを検出して特徴パラメータを生成
し、被検査データファイルを作成する。そしてこの被検
査データファイルと前記判定データファイルとを比較し
て、この比較結果から被検査基板2OT上の所定の部品
21Tにつきハンダ付は部分の良、不良を自動的に判定
する。
カラー信号R,G、Bを処理しハンダ付は状態が良好な
各部品213の検査領域につき赤色、緑色、青色の各色
相パターンを検出して特徴パラメータを生成し、判定デ
ータファイルを作成する。また処理部26は、検査モー
ドのとき、被検査基板20Tについてのカラー信号R,
G、Bを処理し基板上の各部品21Tの検査領域につき
同様の各色相パターンを検出して特徴パラメータを生成
し、被検査データファイルを作成する。そしてこの被検
査データファイルと前記判定データファイルとを比較し
て、この比較結果から被検査基板2OT上の所定の部品
21Tにつきハンダ付は部分の良、不良を自動的に判定
する。
第2図は、ハンダ付けが良好であるとき、部品が欠落し
ているとき、ハンダ不足の状態にあるときのそれぞれハ
ンダ44の断面形態と、各場合の撮像パターン、赤色バ
クーン、緑色パターン、青色パターンとの関係を一覧表
で示したものであり、いずれか色相パターン間には明確
な差異が現われるため、部品の有無やハンダ付けの良否
が判定できることになる。
ているとき、ハンダ不足の状態にあるときのそれぞれハ
ンダ44の断面形態と、各場合の撮像パターン、赤色バ
クーン、緑色パターン、青色パターンとの関係を一覧表
で示したものであり、いずれか色相パターン間には明確
な差異が現われるため、部品の有無やハンダ付けの良否
が判定できることになる。
第1図に戻って、A/D変換部33は前記撮像部25か
らカラー信号R,G、Bが供給されたときに、これをア
ナログ・ディジタル変換して制御部39へ出力する。メ
モリ38はRAMなどを備え、制御部39の作業エリア
として使われる。画像処理部34は制御部39を介して
供給された画像データを画像処理して前記被検査データ
ファイルや判定データファイルを作成し、これらを制御
部39や判定部36へ供給する。
らカラー信号R,G、Bが供給されたときに、これをア
ナログ・ディジタル変換して制御部39へ出力する。メ
モリ38はRAMなどを備え、制御部39の作業エリア
として使われる。画像処理部34は制御部39を介して
供給された画像データを画像処理して前記被検査データ
ファイルや判定データファイルを作成し、これらを制御
部39や判定部36へ供給する。
ティーチングテーブル35はティーチング時に制御部3
9から判定データファイルが供給されたとき、これを記
憶し、また検査時に制御部39が転送要求を出力したと
き、この要求に応じて判定データファイルを読み出して
、これを制御部39や判定部36などへ供給する。
9から判定データファイルが供給されたとき、これを記
憶し、また検査時に制御部39が転送要求を出力したと
き、この要求に応じて判定データファイルを読み出して
、これを制御部39や判定部36などへ供給する。
判定部36は、検査時に制御部39から供給された判定
データファイルと、前記画像処理部34から転送された
被検査データファイルとを比較して、その被検査基板2
0Tにつきハンダ付は状態の良否を判定し、その判定結
果を制御部39へ出力する。
データファイルと、前記画像処理部34から転送された
被検査データファイルとを比較して、その被検査基板2
0Tにつきハンダ付は状態の良否を判定し、その判定結
果を制御部39へ出力する。
撮像コントローラ31は、制御部39と投光部24およ
び撮像部25とを接続するインターフェースなどを備え
、制御部39の出力に基づき投光部24の各発光体2B
、29.30の光量を調整したり、撮像部25のカラー
テレビカメラ32゛の各色相光出力の相互バランスを保
つなどの制御を行う。
び撮像部25とを接続するインターフェースなどを備え
、制御部39の出力に基づき投光部24の各発光体2B
、29.30の光量を調整したり、撮像部25のカラー
テレビカメラ32゛の各色相光出力の相互バランスを保
つなどの制御を行う。
X、Yテーブルコントローラ37は制御部39と前記X
軸テーブル部22およびY軸テーブル部23とを接続す
るインターフェースなどを備え、制御部39の出力に基
づきX軸テーブル部22およびY軸テーブル部23を制
御する。
軸テーブル部22およびY軸テーブル部23とを接続す
るインターフェースなどを備え、制御部39の出力に基
づきX軸テーブル部22およびY軸テーブル部23を制
御する。
CR7表示部41はブラウン管(CRT)を備え、制御
部39から画像データ、判定結果、キー人力データなど
が供給されたとき、これを画面上に表示する。プリンタ
42は制御部39から判定結果などが供給されたとき、
これを予め決められた書式(フォーマット)でプリント
アウトする。キーボード40は操作情報、基準基板20
Sや被検査基準20Tに関するデータなどを入力するの
に必要な各種キーを備えており、このキーボード40か
ら入力された情報やデータなどは制御部39へ供給され
る。
部39から画像データ、判定結果、キー人力データなど
が供給されたとき、これを画面上に表示する。プリンタ
42は制御部39から判定結果などが供給されたとき、
これを予め決められた書式(フォーマット)でプリント
アウトする。キーボード40は操作情報、基準基板20
Sや被検査基準20Tに関するデータなどを入力するの
に必要な各種キーを備えており、このキーボード40か
ら入力された情報やデータなどは制御部39へ供給され
る。
制御部39は、マイクロプロセッサなどを備えており、
つぎに述べる手順に沿ってティーチングおよび検査にお
ける動作を制御する。
つぎに述べる手順に沿ってティーチングおよび検査にお
ける動作を制御する。
まずティーチングに際して、制御部39は、第3図のス
タート時点において、装置各部を制御して投光部24や
描像部25をオンし、また撮像条件やデータの処理条件
を整える。つぎにオペレータは、キーボード40を操作
して、ステップ1(図中「ST1」で示す)で教示対象
とする基板名の登録を行い、また基板のサイズをキー人
力した後、つぎのステップ2で、基準基板2O3をY軸
テーブル部23上にセットしてスタートキーを押操作す
る。そしてステップ3でその基準基板2O3の原点と右
上および左下の各角部の点がキー人力されると、制御部
39は入力データに基づきX軸テーブル部22およびY
軸テーブル部23を制御して基準基板20Sを初期位置
に位置出しする。
タート時点において、装置各部を制御して投光部24や
描像部25をオンし、また撮像条件やデータの処理条件
を整える。つぎにオペレータは、キーボード40を操作
して、ステップ1(図中「ST1」で示す)で教示対象
とする基板名の登録を行い、また基板のサイズをキー人
力した後、つぎのステップ2で、基準基板2O3をY軸
テーブル部23上にセットしてスタートキーを押操作す
る。そしてステップ3でその基準基板2O3の原点と右
上および左下の各角部の点がキー人力されると、制御部
39は入力データに基づきX軸テーブル部22およびY
軸テーブル部23を制御して基準基板20Sを初期位置
に位置出しする。
前記基準基板20Sは、部品実装位置に所定の部品21
Sを適正にハンダ付けして良好な実装状態が形成された
ものであって、各部品21Sの上面のほぼ中央には、第
6図および第7図に示すようなラベル50.51が貼付
されている。
Sを適正にハンダ付けして良好な実装状態が形成された
ものであって、各部品21Sの上面のほぼ中央には、第
6図および第7図に示すようなラベル50.51が貼付
されている。
これらラベル50.51は、それぞれ部品21Sの実装
位置、実装部品の種類および実装方向を教示するために
用いられており、この実施例の場合、両側面に多数のり
一ド52を備えたSOPのような長方形の部品21Sに
ついては黄色の半円形のラベル50を、円弧部を実装方
向に向けて貼付し、また周囲四面に多数のり−ド52を
備えたQFPのような正方形の部品21Sについては赤
色の円形ラベル51を貼付し、また図示しない角チップ
のようなチップ部品については色または形状を違えた他
のラベルを貼付する。この実施例の場合、ラベルの貼付
位置をもって部品の実装位置を、ラベルの色および形状
をもって部品の種別を、ラベルの貼付方向をもって部品
の実装方向を、それぞれ教示する。この実施例ではラベ
ルの色と形状との両方を部品種別の識別に用意している
が、これは単独情報による誤識別を防止するためである
。
位置、実装部品の種類および実装方向を教示するために
用いられており、この実施例の場合、両側面に多数のり
一ド52を備えたSOPのような長方形の部品21Sに
ついては黄色の半円形のラベル50を、円弧部を実装方
向に向けて貼付し、また周囲四面に多数のり−ド52を
備えたQFPのような正方形の部品21Sについては赤
色の円形ラベル51を貼付し、また図示しない角チップ
のようなチップ部品については色または形状を違えた他
のラベルを貼付する。この実施例の場合、ラベルの貼付
位置をもって部品の実装位置を、ラベルの色および形状
をもって部品の種別を、ラベルの貼付方向をもって部品
の実装方向を、それぞれ教示する。この実施例ではラベ
ルの色と形状との両方を部品種別の識別に用意している
が、これは単独情報による誤識別を防止するためである
。
なおこの実施例では、部品実装位置に所定の部品21S
が適正にハンダ付けされた基準基板2O3を用いて、各
部品21Sの上面にそれぞれのラベル50.51を貼付
しているが、これに限らず、部品が実装されていない基
板を用いて各部品の実装位置に前記のラベル50.51
を直接貼付するようにしてもよい。後者による場合は、
部品位置教示用の基準基板の他に、後記する特徴パラメ
ータを教示するための基準基板を別に準備する必要があ
る。
が適正にハンダ付けされた基準基板2O3を用いて、各
部品21Sの上面にそれぞれのラベル50.51を貼付
しているが、これに限らず、部品が実装されていない基
板を用いて各部品の実装位置に前記のラベル50.51
を直接貼付するようにしてもよい。後者による場合は、
部品位置教示用の基準基板の他に、後記する特徴パラメ
ータを教示するための基準基板を別に準備する必要があ
る。
第3図に戻って、基準基板20Sが初期位置に位置決め
されると、つぎにステップ4において、部品の実装位置
や実装部品の種別などについての教示手順が開始される
。
されると、つぎにステップ4において、部品の実装位置
や実装部品の種別などについての教示手順が開始される
。
第4図はこの教示手順の詳細を示しており、同図のステ
ップ4−1において、制御部39の撮像領域計数用のカ
ウンタiに「1」が初期設定され、このカウンタiの内
容に対応する基準基板2O3上の領域が撮像されて最初
の画面が生成される(ステップ4−2)。
ップ4−1において、制御部39の撮像領域計数用のカ
ウンタiに「1」が初期設定され、このカウンタiの内
容に対応する基準基板2O3上の領域が撮像されて最初
の画面が生成される(ステップ4−2)。
第8図は、基板20S上の領域を縦横に8×2yの矩形
領域53に分割して、各矩形領域53を1画面の大きさ
に対応させたもので、まず最初に左下の領域の画面が生
成されて以下の手順(ステップ4−3〜4−10)が実
行され、それ以後は図中矢印に沿って各矩形領域53に
つき同様の処理が繰り返し実行される。
領域53に分割して、各矩形領域53を1画面の大きさ
に対応させたもので、まず最初に左下の領域の画面が生
成されて以下の手順(ステップ4−3〜4−10)が実
行され、それ以後は図中矢印に沿って各矩形領域53に
つき同様の処理が繰り返し実行される。
まずステップ4−3では、画像処理部34にて赤色領域
の抽出が行われる。
の抽出が行われる。
いま画像上の各画素位置を座標(x、y)で表し、座標
(x、y)の画素につき三原色の各カラー信号の灰色レ
ベル値をR(x、 y)、 G(x、 y)、 B
(x、 y)とすると、赤色、緑色、青色の各色相
値r (x、 y)、 g (x、 y)b (
x、y)はつぎの0〜0式で与えられる。
(x、y)の画素につき三原色の各カラー信号の灰色レ
ベル値をR(x、 y)、 G(x、 y)、 B
(x、 y)とすると、赤色、緑色、青色の各色相
値r (x、 y)、 g (x、 y)b (
x、y)はつぎの0〜0式で与えられる。
h十ty十b
ステップ4−3の赤色領域の抽出は、R(x。
y)≧T、かつr (x、y)≧T2 (ただしT1T
2は予め設定された固定値である)を満たす画素を抽出
することで実現する。
2は予め設定された固定値である)を満たす画素を抽出
することで実現する。
第9図(1)〜(3)は、画像54上で抽出された赤色
領域55を示しており、このうち第9図(1)は画像5
4の中央部位置で、第9図(2)(3)は画像54の端
部位置で、それぞれ赤色領域55が抽出されている。
領域55を示しており、このうち第9図(1)は画像5
4の中央部位置で、第9図(2)(3)は画像54の端
部位置で、それぞれ赤色領域55が抽出されている。
つぎにステップ4−4において、この赤色領域55の輪
郭追跡を行うことにより外接矩形abcdを生成し、こ
の外接矩形の2辺の長さがともに前記ラベル51の半径
!より大きいか否かを判定し、これによりこの赤色領域
55の大きさが一定以上か否か、すなわちこの赤色領域
55が赤色のラベル51の画像に相当するものであるか
否かを判定する。
郭追跡を行うことにより外接矩形abcdを生成し、こ
の外接矩形の2辺の長さがともに前記ラベル51の半径
!より大きいか否かを判定し、これによりこの赤色領域
55の大きさが一定以上か否か、すなわちこの赤色領域
55が赤色のラベル51の画像に相当するものであるか
否かを判定する。
もしステップ4−4の判定が“No”であれば、ステッ
プ4−5をスキップしてステップ4−6へ進むが、ステ
ップ4−4が“YES“のときは、制御部39はつぎの
ステップ4−5において、赤色領域55の中心座標を第
9図(1)〜(3)の各場合に応じて算出する。
プ4−5をスキップしてステップ4−6へ進むが、ステ
ップ4−4が“YES“のときは、制御部39はつぎの
ステップ4−5において、赤色領域55の中心座標を第
9図(1)〜(3)の各場合に応じて算出する。
すなわち第9図(1)は、抽出された赤色領域55が画
像54のいずれの辺にも接していない場合であり、この
場合は外接矩形abcdの中心位置をラベル51の中心
位置として算出する。
像54のいずれの辺にも接していない場合であり、この
場合は外接矩形abcdの中心位置をラベル51の中心
位置として算出する。
第9図(2)は、抽出された赤色領域55が画像54の
いずれか一辺に接する場合であり、この場合は外接矩形
abcdの一点aから線分abの方向へ21の長さをと
って矩形ab’ c’ dを作り、この矩形の中心位
置をラベル51の中心位置として算出する。
いずれか一辺に接する場合であり、この場合は外接矩形
abcdの一点aから線分abの方向へ21の長さをと
って矩形ab’ c’ dを作り、この矩形の中心位
置をラベル51の中心位置として算出する。
第9図(3)は、抽出された赤色領域55が画像54の
二辺に接する場合であり、この場合は外接矩形abcd
の一点aから線分ab、adの各方向へ21の長さをと
って矩形ab’ c’ d’を作り、この矩形の中心位
置をラベル51の中心位置として算出する。
二辺に接する場合であり、この場合は外接矩形abcd
の一点aから線分ab、adの各方向へ21の長さをと
って矩形ab’ c’ d’を作り、この矩形の中心位
置をラベル51の中心位置として算出する。
このラベル51の中心位置座標が求まると、制御部39
はこの座標を基準基板20Sにおける座標系に変換して
これを部品位置とする。
はこの座標を基準基板20Sにおける座標系に変換して
これを部品位置とする。
つぎに画像処理部34は、ステップ4−6において、黄
色領域の抽出を行う。この黄色領域の抽出は、R(x、
y)≧T、かつr (x、y)≧T4かつG(x、y)
≧T、かつg (x、y)≧T、かつB (x 、
V ) <T7かつb (x、y)<’rB (ただし
T、〜T、は予め設定された固定値である)を満たす画
素を抽出することで実現する。
色領域の抽出を行う。この黄色領域の抽出は、R(x、
y)≧T、かつr (x、y)≧T4かつG(x、y)
≧T、かつg (x、y)≧T、かつB (x 、
V ) <T7かつb (x、y)<’rB (ただし
T、〜T、は予め設定された固定値である)を満たす画
素を抽出することで実現する。
第10図は、画像56上で抽出された黄色領域57を示
しており、このうち第10図(1)は画像56の中央部
位置で、第10図(2)(3)は画像56の端部位置で
、それぞれ黄色領域57が抽出されている。
しており、このうち第10図(1)は画像56の中央部
位置で、第10図(2)(3)は画像56の端部位置で
、それぞれ黄色領域57が抽出されている。
つぎにステップ4−7において、この黄色領域57の輪
郭追跡を行うことにより外接矩形abcdを生成し、こ
の外接矩形の1辺の長さが前記ラベル50の半径!より
大きくかつ他の1辺の長さがf/2より大きいか否かを
判定し、これによりこの黄色領域57の大きさが一定以
上か否か、すなわちこの黄色領域57が黄色のラベル5
0の画像に相当するものであるか否かを判定する。
郭追跡を行うことにより外接矩形abcdを生成し、こ
の外接矩形の1辺の長さが前記ラベル50の半径!より
大きくかつ他の1辺の長さがf/2より大きいか否かを
判定し、これによりこの黄色領域57の大きさが一定以
上か否か、すなわちこの黄色領域57が黄色のラベル5
0の画像に相当するものであるか否かを判定する。
もしステップ4−7の判定が”’NO”であれば、ステ
ップ4−8をスキップしてステップ4−9へ進むが、ス
テップ4−7が“YES”のときは、制御部39はつぎ
のステップ4−8において、黄色領域57の中心座標を
第10図(1)〜(3)の各場合に応じて算出する。
ップ4−8をスキップしてステップ4−9へ進むが、ス
テップ4−7が“YES”のときは、制御部39はつぎ
のステップ4−8において、黄色領域57の中心座標を
第10図(1)〜(3)の各場合に応じて算出する。
すなわち第1O図(1)は、抽出された黄色領域57が
画像56のいずれの辺にも接していない場合であり、こ
の場合は外接矩形abcdの中心位置をラベル50の中
心位置として算出する。
画像56のいずれの辺にも接していない場合であり、こ
の場合は外接矩形abcdの中心位置をラベル50の中
心位置として算出する。
第10図(2)は、抽出された黄色領域57が画像56
のいずれか一辺に接する場合であり、この場合は外接矩
形abcdの一辺が!、他の一辺が2/2となるような
矩形(図中破線で示す)を作り、この矩形の中心位置を
ラベル50の中心位置として算出する。
のいずれか一辺に接する場合であり、この場合は外接矩
形abcdの一辺が!、他の一辺が2/2となるような
矩形(図中破線で示す)を作り、この矩形の中心位置を
ラベル50の中心位置として算出する。
第1O図(3)は、抽出された黄色領域57が画像56
の二辺に接する場合であり、この場合も外接矩形abc
dの一辺が2、他の一辺が2/2となるような矩形(図
中破線で示す)を作り、この矩形の中心位置をラベル5
0の中心位置として算出する。
の二辺に接する場合であり、この場合も外接矩形abc
dの一辺が2、他の一辺が2/2となるような矩形(図
中破線で示す)を作り、この矩形の中心位置をラベル5
0の中心位置として算出する。
このラベル50の中心位置座標が求まると、制御部39
はこの座標を基準基板203における座標系に変換して
これを部品位置とする。
はこの座標を基準基板203における座標系に変換して
これを部品位置とする。
また制御部39は、黄色領域57についてはその重心位
置Gの座標を算出し、この重心位置Gと前記の中心位置
0との位置関係から黄色のラベル50の円弧部がいずれ
の方向に向いているかを検出する。例えば外接矩形ab
cdの中心位置座標が(XOI>’0)、黄色領域57
の重心位置座標が(xc、y+、)の場合、Yo=3’
c + Xo <Xaならば黄色のラベル50の円弧
部は左方向を向くものと判断される。
置Gの座標を算出し、この重心位置Gと前記の中心位置
0との位置関係から黄色のラベル50の円弧部がいずれ
の方向に向いているかを検出する。例えば外接矩形ab
cdの中心位置座標が(XOI>’0)、黄色領域57
の重心位置座標が(xc、y+、)の場合、Yo=3’
c + Xo <Xaならば黄色のラベル50の円弧
部は左方向を向くものと判断される。
このようにして赤色領域51や黄色領域50の抽出や中
心位置の算出が完了すると、ステップ4−9で前記カウ
ンタiを1加算し、このカウンタiの内容により基準基
板20S上の全ての矩形領域53についての処理が終了
したか否かを判定する(ステップ4−10)。その判定
が“NO”であればステップ4−2に戻り、前記カウン
タiの内容に対応する基準基板2O3上の矩形領域57
につき撮像が行われて、以下、同様の手順が実行される
。
心位置の算出が完了すると、ステップ4−9で前記カウ
ンタiを1加算し、このカウンタiの内容により基準基
板20S上の全ての矩形領域53についての処理が終了
したか否かを判定する(ステップ4−10)。その判定
が“NO”であればステップ4−2に戻り、前記カウン
タiの内容に対応する基準基板2O3上の矩形領域57
につき撮像が行われて、以下、同様の手順が実行される
。
第12図(1)は、上記手順の進行時におけるCRT表
示部41の表示画面を示しており、画面中の所定領域5
8には黄色ラベル50が貼付された長方形の部品20S
の検出位置59(図中子で示す)と、赤色ラベル51が
貼付された正方形の部品20Sの検出位置60(図中・
で示す)とが表示されている。
示部41の表示画面を示しており、画面中の所定領域5
8には黄色ラベル50が貼付された長方形の部品20S
の検出位置59(図中子で示す)と、赤色ラベル51が
貼付された正方形の部品20Sの検出位置60(図中・
で示す)とが表示されている。
かくしてステップ4−10の判定が“YES”になれば
、部品位置および種別の教示手順が完了し、第3図のス
テップ5に進んで基準基板20Sは搬出される。
、部品位置および種別の教示手順が完了し、第3図のス
テップ5に進んで基準基板20Sは搬出される。
つぎのステップ6でオペレータは、所定の位置に所定の
部品が適正に実装された基準基板20SをY軸テーブル
部23上にセットして、キーボード40のスタートキー
を押操作し、つぎに検査領域を設定するための教示手順
を開始する。なおこの実施例では、ここでの基準基板2
0Sとして先のステップ4の教示手順で用いたものを再
利用しているが、これに限らないことは勿論である。
部品が適正に実装された基準基板20SをY軸テーブル
部23上にセットして、キーボード40のスタートキー
を押操作し、つぎに検査領域を設定するための教示手順
を開始する。なおこの実施例では、ここでの基準基板2
0Sとして先のステップ4の教示手順で用いたものを再
利用しているが、これに限らないことは勿論である。
まずステップ7において、制御部39の部品計数用のカ
ウンタjに「1」が初期設定され、制御部39は先の教
示で得られた部品位置データに基づきX軸テーブル部2
2およびY軸テーブル部23を制御して、1番目の部品
203をテレビカメラ32の視野内に位置決めしてその
部品を撮像させる。
ウンタjに「1」が初期設定され、制御部39は先の教
示で得られた部品位置データに基づきX軸テーブル部2
2およびY軸テーブル部23を制御して、1番目の部品
203をテレビカメラ32の視野内に位置決めしてその
部品を撮像させる。
第11図は、この撮像で得たSOP部品の画像61につ
き検査領域の設定方法を具体的に示しである。この方法
は、画像61に対し、SOP部品の両側部に対応して第
11図(1)中、鎖線で示す矩形領域62A 、62
Bを設定して、各矩形領域62A、62B内につき基板
上のランド部の像63を自動抽出した後、各矩形領域6
2A、62B内につき各ランド部の像63を含む外接矩
形を求め、さらにそれを一定幅拡大して第11図(2)
に示す矩形領域64A、64Bを求めて、これを検査領
域に設定するものである。なおここではSOP部品につ
いての検査領域の設定方法を例示したが、他の部品につ
いてもこれに準じた方法で検査領域の設定を行うことは
勿論である。
き検査領域の設定方法を具体的に示しである。この方法
は、画像61に対し、SOP部品の両側部に対応して第
11図(1)中、鎖線で示す矩形領域62A 、62
Bを設定して、各矩形領域62A、62B内につき基板
上のランド部の像63を自動抽出した後、各矩形領域6
2A、62B内につき各ランド部の像63を含む外接矩
形を求め、さらにそれを一定幅拡大して第11図(2)
に示す矩形領域64A、64Bを求めて、これを検査領
域に設定するものである。なおここではSOP部品につ
いての検査領域の設定方法を例示したが、他の部品につ
いてもこれに準じた方法で検査領域の設定を行うことは
勿論である。
このようにして1番目の部品につき検査領域の設定が完
了した後、つぎのステップ9でオペレータがキーボード
40のネキストキーを押すと、前記カウンタjは1加算
され、このカウンタjの内容に基づき全ての部品につき
検査領域の設定が行われたか否かが判定される(ステッ
プ10.11)。もしステップ11の判定がNO″であ
れば、つぎの部品が撮像されて、上記と同様の手順が実
行されることになる。
了した後、つぎのステップ9でオペレータがキーボード
40のネキストキーを押すと、前記カウンタjは1加算
され、このカウンタjの内容に基づき全ての部品につき
検査領域の設定が行われたか否かが判定される(ステッ
プ10.11)。もしステップ11の判定がNO″であ
れば、つぎの部品が撮像されて、上記と同様の手順が実
行されることになる。
第12図(2)は上記手順の進行時におけるCRT表示
部41の表示画面を示しており、領域58には部品検出
位置59.60でその部品の検査領域が設定される毎に
、その部品の形状および大きさに応じた表示65.66
に切り換わってゆく。
部41の表示画面を示しており、領域58には部品検出
位置59.60でその部品の検査領域が設定される毎に
、その部品の形状および大きさに応じた表示65.66
に切り換わってゆく。
かくして全ての部品につき同様の処理が繰り返し実行さ
れて、ステップ11の判定が“YES”になると、基準
基板20Sが搬出されて、つぎに特徴パラメータの教示
手順へ移行する。
れて、ステップ11の判定が“YES”になると、基準
基板20Sが搬出されて、つぎに特徴パラメータの教示
手順へ移行する。
まずステップ13で制御部39の基板枚数計数用のカウ
ンタnに「1」が初期設定された後、つぎのステップ1
4でオペレータが、1枚目の基準基板20S(所定位置
に所定の部品が適正に実装されかつハンダ付けされたも
の)をY軸テーブル部23上にセットして、キーボード
40のスタートキーを押操作すると、ステップ15にお
いて、制御部39は先の教示で得られた部品位置データ
に基づきX軸テーブル部22およびY軸テーブル部23
を制御して、テレビカメラ32の視野を順次各部品に位
置決めして撮像を行わせる。
ンタnに「1」が初期設定された後、つぎのステップ1
4でオペレータが、1枚目の基準基板20S(所定位置
に所定の部品が適正に実装されかつハンダ付けされたも
の)をY軸テーブル部23上にセットして、キーボード
40のスタートキーを押操作すると、ステップ15にお
いて、制御部39は先の教示で得られた部品位置データ
に基づきX軸テーブル部22およびY軸テーブル部23
を制御して、テレビカメラ32の視野を順次各部品に位
置決めして撮像を行わせる。
それぞれの撮像動作で得られた三原色のカラー信号R,
G、 BはA/D変換部33でA/D変換され、その変
換結果はメモリ38にリアルタイムで記憶される。つい
で制御部39は、先の教示で得られた各部品の検査領域
につき前記メモリ38より各色相に対応する画像データ
を画像処理部34へ転送させ、この画像処理部34にて
各色相の画像データを各色相側の適当なしきい値で2値
化するなどし′ζ、各ランド部の正常なハンダ付は状態
を赤色、緑色、青色のパターンとして検出した後、これ
らパターンの特徴を特徴パラメータとして算出する。
G、 BはA/D変換部33でA/D変換され、その変
換結果はメモリ38にリアルタイムで記憶される。つい
で制御部39は、先の教示で得られた各部品の検査領域
につき前記メモリ38より各色相に対応する画像データ
を画像処理部34へ転送させ、この画像処理部34にて
各色相の画像データを各色相側の適当なしきい値で2値
化するなどし′ζ、各ランド部の正常なハンダ付は状態
を赤色、緑色、青色のパターンとして検出した後、これ
らパターンの特徴を特徴パラメータとして算出する。
1枚目の基準基板20Sにつき各部品毎に特徴パラメー
タの抽出が完了すると、その基板が搬出された後、前記
カウンタnが1加算されて2枚目の基準基板20Sが指
定され、前記と同様の手順で特徴パラメータの抽出処理
が実行される。
タの抽出が完了すると、その基板が搬出された後、前記
カウンタnが1加算されて2枚目の基準基板20Sが指
定され、前記と同様の手順で特徴パラメータの抽出処理
が実行される。
このようにして所定枚数(n枚)の基準基板20Sにつ
き特徴パラメータの抽出処理が終了すると、ステップ1
6の判定が“YES”となってステップ■8へ進む。ス
テップ18では、制御部39は、各部品についての平均
的な特徴量を得るため、n枚の基準基板203について
の特徴パラメータを統計処理して平均値データを得、こ
の平均値データに基づき判定データファイルを作成して
、これをティーチングテーブル35に記憶させ、必要に
応じてデータの修正を施してティーチングを終了する。
き特徴パラメータの抽出処理が終了すると、ステップ1
6の判定が“YES”となってステップ■8へ進む。ス
テップ18では、制御部39は、各部品についての平均
的な特徴量を得るため、n枚の基準基板203について
の特徴パラメータを統計処理して平均値データを得、こ
の平均値データに基づき判定データファイルを作成して
、これをティーチングテーブル35に記憶させ、必要に
応じてデータの修正を施してティーチングを終了する。
以上でティーチングが完了すると、この基板検査装置は
ハンダ付は後の被検査基板20Tの自動検査が可能な状
態となる。
ハンダ付は後の被検査基板20Tの自動検査が可能な状
態となる。
か(してオペレータは、第5図に示す検査モードに移行
し、ステップ1.2で検査すべき基板名を選択して基板
検査の開始操作を行うことになる。
し、ステップ1.2で検査すべき基板名を選択して基板
検査の開始操作を行うことになる。
つぎのステップ3は、基板検査装置への被検査基板20
Tの供給をチエツクしており、°“YES″の判定でコ
ンベヤ27が作動して、Y軸テーブル部23に被検査基
板20Tが搬入され、基板検査が開始される(ステップ
4,5)。
Tの供給をチエツクしており、°“YES″の判定でコ
ンベヤ27が作動して、Y軸テーブル部23に被検査基
板20Tが搬入され、基板検査が開始される(ステップ
4,5)。
ステップ5において、制御部29はX軸テーブル部22
およびY軸テーブル部23を制御して、被検査基板上の
1番目の部品21Tに対しテレビカメラ32の視野を位
置決めして撮像を行わせ、検査領域内の各ランド領域を
自動抽出すると共に、各ランド領域の特徴パラメータを
算出して、被検査データファイルを作成する。
およびY軸テーブル部23を制御して、被検査基板上の
1番目の部品21Tに対しテレビカメラ32の視野を位
置決めして撮像を行わせ、検査領域内の各ランド領域を
自動抽出すると共に、各ランド領域の特徴パラメータを
算出して、被検査データファイルを作成する。
ついで制御部39は、前記被検査データファイルを判定
部36に転送させ、この被検査データファイルと前記判
定データファイルとを比較させて、1番目の部品21T
につきハンダ付けの良否を判定させる。
部36に転送させ、この被検査データファイルと前記判
定データファイルとを比較させて、1番目の部品21T
につきハンダ付けの良否を判定させる。
このような検査が被検査基板20T上の全ての部品21
Tにつき繰り返し実行され、その結果、ハンダ付は不良
があると、その不良部品と不良内容とがCRT表示部4
1に表示され或いはプリンタ42に印字された後、被検
査基板20Tは検査位置より搬出される(ステップ7゜
8)。
Tにつき繰り返し実行され、その結果、ハンダ付は不良
があると、その不良部品と不良内容とがCRT表示部4
1に表示され或いはプリンタ42に印字された後、被検
査基板20Tは検査位置より搬出される(ステップ7゜
8)。
第12図(3)は、判定結果を表示したCR7表示部4
1の表示画面を示している。
1の表示画面を示している。
同図の画面において、領域58には前記の部品表示65
.66が行われると共に、ハンダ付は不良の部品65′
が特定の色彩で着色表示されており、またその下の画面
領域67には、オペレータが指定したハンダ付は不良の
部品65′についての不良内容が具体的に表示されてい
る。
.66が行われると共に、ハンダ付は不良の部品65′
が特定の色彩で着色表示されており、またその下の画面
領域67には、オペレータが指定したハンダ付は不良の
部品65′についての不良内容が具体的に表示されてい
る。
なおオペレータによる指定部品は、ハンダ付は不良の部
品65′を示す色彩とは異なる色彩をもってこの画面上
で明示される。
品65′を示す色彩とは異なる色彩をもってこの画面上
で明示される。
〈発明の効果〉
この発明は上記の如く、基板上の部品実装位置にそれぞ
れラベルを貼付したものを基板検査装置へ供給して、各
ラベルを盪像させることにより、ラベル貼付位置から部
品の実装位置を教示し、またラベル色彩または形状から
部品の種別を教示するようにしたから、教示用の基板の
作成が容易であり、しかもラベルを剥がせばその基板の
再利用が可能であって経済的である。
れラベルを貼付したものを基板検査装置へ供給して、各
ラベルを盪像させることにより、ラベル貼付位置から部
品の実装位置を教示し、またラベル色彩または形状から
部品の種別を教示するようにしたから、教示用の基板の
作成が容易であり、しかもラベルを剥がせばその基板の
再利用が可能であって経済的である。
またこの発明の教示方法によれば、部品位置のみならず
、部品の種別も教示できるなど、発明目的を達成した顕
著な効果を奏する。
、部品の種別も教示できるなど、発明目的を達成した顕
著な効果を奏する。
第1図は基板検査装置の全体構成を示す説明図、第2図
はハンダ付は状態の良否とパターンとの関係を示す説明
図、第3図および第4図はティーチングの手順を示すフ
ローチャート、第5図は検査の手順を示すフローチャー
ト、第6図および第7図はラベルの貼付状態を示す部品
の平面図、第8図は基板上の分割領域と処理の順序を示
す説明図、第9図および第10図は画像上で抽出された
ラベルの画像とその外接矩形とを示す説明図、第11図
は検査領域の設定方法を示す説明図、第12図はCRT
表示部の表示画面を示す説明図、第13図は従来の自動
検査装置を示す原理説明図、第14図および第15図は
自動検査装置の原理を示す原理説明図である。 20S・・・・基準基板 21S・・・・部品5
0、51・・・・ラベル
はハンダ付は状態の良否とパターンとの関係を示す説明
図、第3図および第4図はティーチングの手順を示すフ
ローチャート、第5図は検査の手順を示すフローチャー
ト、第6図および第7図はラベルの貼付状態を示す部品
の平面図、第8図は基板上の分割領域と処理の順序を示
す説明図、第9図および第10図は画像上で抽出された
ラベルの画像とその外接矩形とを示す説明図、第11図
は検査領域の設定方法を示す説明図、第12図はCRT
表示部の表示画面を示す説明図、第13図は従来の自動
検査装置を示す原理説明図、第14図および第15図は
自動検査装置の原理を示す原理説明図である。 20S・・・・基準基板 21S・・・・部品5
0、51・・・・ラベル
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 基板上の実装部品を検査する基板検査装置に対し、部
品の実装位置および実装部品の種別を基板の検査に先立
ち教示するための教示方法であって、 前記基板検査装置に対し、基板上の部品実装位置にそれ
ぞれラベルを貼付したものを供給して、各ラベルを撮像
させることにより、ラベルの貼付位置から部品の実装位
置を教示すると共に、ラベルの色彩または形状から部品
の種別を教示することを特徴とする基板検査装置におけ
る教示方法。
Priority Applications (15)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63226767A JP2629880B2 (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 基板検査装置における教示方法 |
| EP95113579A EP0685732B1 (en) | 1988-05-09 | 1989-05-02 | Printed circuit board inspecting apparatus |
| DE68929481T DE68929481T2 (de) | 1988-05-09 | 1989-05-02 | Vorrichtung und Verfahren zur Anzeige der Ergebnisse einer Leiterplattenprüfung |
| AT89905170T ATE135110T1 (de) | 1988-05-09 | 1989-05-02 | Substrat-prüfungsvorrichtung |
| EP89905170A EP0413817B1 (en) | 1988-05-09 | 1989-05-02 | Substrate examining apparatus |
| PCT/JP1989/000470 WO1989011093A1 (fr) | 1988-05-09 | 1989-05-02 | Appareil de controle de substrats et procede d'utilisation |
| SG1996003498A SG66545A1 (en) | 1988-05-09 | 1989-05-02 | Apparatus for inspecting printed circuit boards and the like and method of operating the same |
| SG1996003459A SG47652A1 (en) | 1988-05-09 | 1989-05-02 | Apparatus for and method of displaying results of printed circuit board inspection |
| AU35436/89A AU3543689A (en) | 1988-05-09 | 1989-05-02 | Substrate examining apparatus and method of operating same |
| DE68925901T DE68925901T2 (de) | 1988-05-09 | 1989-05-02 | Substrat-prüfungsvorrichtung |
| EP95113574A EP0687901B1 (en) | 1988-05-09 | 1989-05-02 | Apparatus for and method of displaying results of printed circuit board inspection |
| DE68929062T DE68929062T2 (de) | 1988-05-09 | 1989-05-02 | Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten |
| SG1996004112A SG47736A1 (en) | 1988-05-09 | 1989-05-02 | Printed circuit board inspecting apparatus |
| KR1019900700025A KR920006031B1 (ko) | 1988-05-09 | 1989-05-02 | 기판등의 검사장치 및 그 동작방법 |
| US07/601,722 US5245671A (en) | 1988-05-09 | 1989-05-02 | Apparatus for inspecting printed circuit boards and the like, and method of operating same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63226767A JP2629880B2 (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 基板検査装置における教示方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0274848A true JPH0274848A (ja) | 1990-03-14 |
| JP2629880B2 JP2629880B2 (ja) | 1997-07-16 |
Family
ID=16850296
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63226767A Expired - Lifetime JP2629880B2 (ja) | 1988-05-09 | 1988-09-09 | 基板検査装置における教示方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2629880B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1376454A4 (en) * | 2001-03-16 | 2007-06-27 | Tani Electronics Corp | IDENTIFICATION LABEL AND IDENTIFIED ARTICLE |
| JP2019015654A (ja) * | 2017-07-10 | 2019-01-31 | ファナック株式会社 | 機械学習装置、検査装置及び機械学習方法 |
| JP2020034489A (ja) * | 2018-08-31 | 2020-03-05 | 株式会社ナベル | パック詰めされた卵の検査装置 |
-
1988
- 1988-09-09 JP JP63226767A patent/JP2629880B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1376454A4 (en) * | 2001-03-16 | 2007-06-27 | Tani Electronics Corp | IDENTIFICATION LABEL AND IDENTIFIED ARTICLE |
| JP2019015654A (ja) * | 2017-07-10 | 2019-01-31 | ファナック株式会社 | 機械学習装置、検査装置及び機械学習方法 |
| US10891520B2 (en) | 2017-07-10 | 2021-01-12 | Fanuc Corporation | Machine learning device, inspection device and machine learning method |
| JP2020034489A (ja) * | 2018-08-31 | 2020-03-05 | 株式会社ナベル | パック詰めされた卵の検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2629880B2 (ja) | 1997-07-16 |
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