JPH0276040A - エラー判定方式 - Google Patents
エラー判定方式Info
- Publication number
- JPH0276040A JPH0276040A JP63228964A JP22896488A JPH0276040A JP H0276040 A JPH0276040 A JP H0276040A JP 63228964 A JP63228964 A JP 63228964A JP 22896488 A JP22896488 A JP 22896488A JP H0276040 A JPH0276040 A JP H0276040A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- buffer storage
- shift register
- shift
- storage section
- latch group
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、データ処理装置におけるエラー内容の判定
方式に関するものである。
方式に関するものである。
[従来の技術]
第4図は従来のサービスプロセッサからLSI内のラッ
チ群を読み書きするためのハードウェアを示すブロック
図である。図において、1は後記のサービスプロセッサ
12を制御する演算処理装置、2は演算処理装置1より
書込みデータをあらかじめ保持せしめるためのバッファ
記憶部、3はバッファ記憶部2のアクセスアドレスを保
持するアドレスレジスタ、9及びlOはLSI(大規模
集積回路)、4はLSI9及び10からのシフトデータ
を一定ビット幅だけ保持するシフトレジスタ、12はサ
ービスプロセッサ、11はサービスプロセッサ12内の
データパス、13はLSIQ内のラッチ群、14はシフ
トレジスタ4のデータをLSIQ内のラッチ群13へ供
給するためのシフトパスである。
チ群を読み書きするためのハードウェアを示すブロック
図である。図において、1は後記のサービスプロセッサ
12を制御する演算処理装置、2は演算処理装置1より
書込みデータをあらかじめ保持せしめるためのバッファ
記憶部、3はバッファ記憶部2のアクセスアドレスを保
持するアドレスレジスタ、9及びlOはLSI(大規模
集積回路)、4はLSI9及び10からのシフトデータ
を一定ビット幅だけ保持するシフトレジスタ、12はサ
ービスプロセッサ、11はサービスプロセッサ12内の
データパス、13はLSIQ内のラッチ群、14はシフ
トレジスタ4のデータをLSIQ内のラッチ群13へ供
給するためのシフトパスである。
第5図は第4図の従来例における動作時の各部のタイミ
ングを示す図である。
ングを示す図である。
次に、上記従来例の動作について説明する。まず、サー
ビスプロセッサ12からLSI9及びlOのラッチ群1
3に値をセットする場合について述べる。サービスプロ
セッサ12の演算処理装置1はラッチ群13に設定すべ
き全データをバッファ記憶部2に書き込む。書込みアド
レスはアドレスレジスタ3により逐次に演算処理装置1
からデータパス11を経由してセットされる。バッファ
記憶部2へのデータ蓄積の完了後、演算処理装置1はシ
フト動作を起動せしめる。このシフト動作は、シフトレ
ジスタ4によりバッファ記憶部2から書込みデータを取
り込みつつ自動的に、かつ高速に行われる。
ビスプロセッサ12からLSI9及びlOのラッチ群1
3に値をセットする場合について述べる。サービスプロ
セッサ12の演算処理装置1はラッチ群13に設定すべ
き全データをバッファ記憶部2に書き込む。書込みアド
レスはアドレスレジスタ3により逐次に演算処理装置1
からデータパス11を経由してセットされる。バッファ
記憶部2へのデータ蓄積の完了後、演算処理装置1はシ
フト動作を起動せしめる。このシフト動作は、シフトレ
ジスタ4によりバッファ記憶部2から書込みデータを取
り込みつつ自動的に、かつ高速に行われる。
第5図は上記のような従来例の動作時における各部のタ
イミングを示している。シフトクロック「1」に先立っ
てインクリメントクロックによってアドレスレジスタ3
の内容が+1され、新しい書込みデータDoがバッファ
記憶部2から読み出され、シフトレジスタ4に同時に設
定される。シフトレジスタ4のモードは当該タイミング
中は並列セットモードに切り換えである。次に、シフト
レジスタ4のモードをシフトモードにした後、シフトレ
ジスタ4のビット長の8ビット分のシフトクロックを発
生せしめる。
イミングを示している。シフトクロック「1」に先立っ
てインクリメントクロックによってアドレスレジスタ3
の内容が+1され、新しい書込みデータDoがバッファ
記憶部2から読み出され、シフトレジスタ4に同時に設
定される。シフトレジスタ4のモードは当該タイミング
中は並列セットモードに切り換えである。次に、シフト
レジスタ4のモードをシフトモードにした後、シフトレ
ジスタ4のビット長の8ビット分のシフトクロックを発
生せしめる。
以上のように、シフトレジスタ4の内容はシフトパス1
4を経由してLSIQ内のラッチ群13へ順次に書き込
まれる。8ビット分のシフト完了後は、再びシフトレジ
スタ4のモードを並列セットモードに切り換えインクリ
メントクロックを発生せしめることにより、バッファ記
憶部2内の新しい8ビツトデータがシフトレジスタ4ヘ
ロードされる。
4を経由してLSIQ内のラッチ群13へ順次に書き込
まれる。8ビット分のシフト完了後は、再びシフトレジ
スタ4のモードを並列セットモードに切り換えインクリ
メントクロックを発生せしめることにより、バッファ記
憶部2内の新しい8ビツトデータがシフトレジスタ4ヘ
ロードされる。
逆に、LSre内のラッチ群13のデータをバッファ記
憶部2へ読み込む場合には、シフトクロックによるシフ
ト完了後、インクリメントクロックによるアドレスレジ
スタ3の+1タイミングで、シフトレジスタ4の内容を
バッファ記憶部2に書き込む。
憶部2へ読み込む場合には、シフトクロックによるシフ
ト完了後、インクリメントクロックによるアドレスレジ
スタ3の+1タイミングで、シフトレジスタ4の内容を
バッファ記憶部2に書き込む。
上記のようなハードウェアによって、サービスプロセッ
サ12はLSIe内のラッチ群13の内容を自由に読み
書きできる。この機能を利用して、従来のサービスプロ
セッサ12はLSI9及び10内のエラー情報を読み出
し、演算処理装置1によってエラーの判定を行っていた
。
サ12はLSIe内のラッチ群13の内容を自由に読み
書きできる。この機能を利用して、従来のサービスプロ
セッサ12はLSI9及び10内のエラー情報を読み出
し、演算処理装置1によってエラーの判定を行っていた
。
[発明が解決しようとする課題]
上記従来のサービスプロセッサ12は以上のように構成
されているので、LSI9及びlOの長大なラッチ群1
3内に散在しているエラー情報を検査するため、演算処
理装置1が多数回にわたってバッファ記憶部2の内容を
アクセスしなければならず、それゆえ、ラッチ群13内
のエラー情報の有無を判定するところのエラー判定には
長時間を要するという問題点があった。
されているので、LSI9及びlOの長大なラッチ群1
3内に散在しているエラー情報を検査するため、演算処
理装置1が多数回にわたってバッファ記憶部2の内容を
アクセスしなければならず、それゆえ、ラッチ群13内
のエラー情報の有無を判定するところのエラー判定には
長時間を要するという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、LSIのラッチ群内に散在しているエラー情
報の有無の判定を高速に実行することができるエラー判
定方式を得ることを目的とする。
たもので、LSIのラッチ群内に散在しているエラー情
報の有無の判定を高速に実行することができるエラー判
定方式を得ることを目的とする。
[課題を解決するための手段]
この発明に係るエラー判定方式は、バッファ記憶部とシ
フトレジスタ間のデータ転送パスに設けたスイッチの両
端に接続された比較回路により、バッファ記憶部の内容
とシフトレジスタの内容とを、シフト動作に同期して比
較し、その比較結果をフリップフロップに記憶させ、シ
フト動作の完了後に、演算処理装置により当該フリップ
フロップの状態を読み取ることにより、LSI内のラッ
チ群に特定のエラーが発生しているか否かを判定し得る
ようにしたものである。
フトレジスタ間のデータ転送パスに設けたスイッチの両
端に接続された比較回路により、バッファ記憶部の内容
とシフトレジスタの内容とを、シフト動作に同期して比
較し、その比較結果をフリップフロップに記憶させ、シ
フト動作の完了後に、演算処理装置により当該フリップ
フロップの状態を読み取ることにより、LSI内のラッ
チ群に特定のエラーが発生しているか否かを判定し得る
ようにしたものである。
[作用]
この発明におけるエラー判定方式は、バッファ記憶部と
シフトレジスタ間のデータ転送パスにスイッチを介して
接続された比較回路により、バッファ記憶部の内容とシ
フトレジスタの内容とをシフト動作に同期して比較し、
その比較結果を演算処理装置から参照可能なフリップフ
ロップに記憶させ、シフト動作の完了後に、演算処理装
置により当該フリップフロップの状態を読み取り、これ
により、LSIのラッチ群内に散在しているエラー情報
の有無を高速に判定できる。
シフトレジスタ間のデータ転送パスにスイッチを介して
接続された比較回路により、バッファ記憶部の内容とシ
フトレジスタの内容とをシフト動作に同期して比較し、
その比較結果を演算処理装置から参照可能なフリップフ
ロップに記憶させ、シフト動作の完了後に、演算処理装
置により当該フリップフロップの状態を読み取り、これ
により、LSIのラッチ群内に散在しているエラー情報
の有無を高速に判定できる。
[実施例]
第1図はこの発明の実施例であるエラー判定方式を用い
た、サービスプロセッサからLSI内のラッチ群を読み
書きするためのハードウェアを示すブロック図で、第4
図と同一符号は同−又は相当部分を表示しており、その
詳細な説明は省略する。図において、5はバッファ記憶
部2とシフトレジスタ4間のデータ転送パスに設けられ
、両者間のデータ転送を切り離すためのスイッチ、6は
バッファ記憶部2の内容とシフトレジスタ4の内容とを
シフト動作に同期して比較する比較回路、7は比較回路
6の比較結果を記憶するフリップフロップ、8はフリッ
プフロップ7の内容をデータパス11へ送り、かつデー
タパス11からのリセットデータを取り込み、フリップ
フロップ7をリセットするためのバッフ7レジスタであ
る。
た、サービスプロセッサからLSI内のラッチ群を読み
書きするためのハードウェアを示すブロック図で、第4
図と同一符号は同−又は相当部分を表示しており、その
詳細な説明は省略する。図において、5はバッファ記憶
部2とシフトレジスタ4間のデータ転送パスに設けられ
、両者間のデータ転送を切り離すためのスイッチ、6は
バッファ記憶部2の内容とシフトレジスタ4の内容とを
シフト動作に同期して比較する比較回路、7は比較回路
6の比較結果を記憶するフリップフロップ、8はフリッ
プフロップ7の内容をデータパス11へ送り、かつデー
タパス11からのリセットデータを取り込み、フリップ
フロップ7をリセットするためのバッフ7レジスタであ
る。
第2図は第1図のこの発明の実施例における動作時の各
部のタイミングを示す図である。
部のタイミングを示す図である。
次に、上記この発明の実施例の動作について説明する。
通常、スイッチ5は閉成(接続状態)されており、上記
従来例と同様にバッファ記憶部2のデータをシフトレジ
スタ4へ供給し、逆にシフトレジスタ4の内容をバッフ
ァ記憶2へ書き込めるようにする。
従来例と同様にバッファ記憶部2のデータをシフトレジ
スタ4へ供給し、逆にシフトレジスタ4の内容をバッフ
ァ記憶2へ書き込めるようにする。
ここで、サービスプロセッサ12が、ラッチ群13内に
散在するエラー情報の数ビットのうちの1つでも「l」
であることで、重大なエラーが発生しているか否かを判
定しようとする時、演算処理装置lは、まず、比較デー
タとなる比較パターンをバッファ記憶部2内に書き込む
。次に、演算処理装置1はバッファレジスタ8によりフ
リップフロップ7をリセットし、スイッチ5をrWI放
することによりバッファ記憶部2とシフトレジスタ4間
のデータ転送パスを切り離す。
散在するエラー情報の数ビットのうちの1つでも「l」
であることで、重大なエラーが発生しているか否かを判
定しようとする時、演算処理装置lは、まず、比較デー
タとなる比較パターンをバッファ記憶部2内に書き込む
。次に、演算処理装置1はバッファレジスタ8によりフ
リップフロップ7をリセットし、スイッチ5をrWI放
することによりバッファ記憶部2とシフトレジスタ4間
のデータ転送パスを切り離す。
以上のような状態において、バッファ記憶部2について
はラッチ群13への書込み動作を行い、シフトレジスタ
4についてはラッチ群13の読取り動作を行う。その結
果、比較回路6へは、バッファ記憶部2から比較パター
ンが入力され、シフトレジスタ4からラッチ群13の読
取りデータが人力され、比較回路6による比較結果がフ
リップフロップ7に記憶される。
はラッチ群13への書込み動作を行い、シフトレジスタ
4についてはラッチ群13の読取り動作を行う。その結
果、比較回路6へは、バッファ記憶部2から比較パター
ンが入力され、シフトレジスタ4からラッチ群13の読
取りデータが人力され、比較回路6による比較結果がフ
リップフロップ7に記憶される。
第2図は上記のようなこの発明の実施例の動作時におけ
る各部のタイミングを示している。シフトレジスタ4ヘ
シフトクロツクを8回印加した後、シフトレジスタ4の
モードはシフトのままでインクリメントクロックを発生
せしめる。これにより、アドレスレジスタ3の内容が+
1され、新たな比較データがバッファ記憶部2から読み
出される。
る各部のタイミングを示している。シフトレジスタ4ヘ
シフトクロツクを8回印加した後、シフトレジスタ4の
モードはシフトのままでインクリメントクロックを発生
せしめる。これにより、アドレスレジスタ3の内容が+
1され、新たな比較データがバッファ記憶部2から読み
出される。
このタイミングでフリップフロップ7へクロックを印加
することにより、比較回路6からの比較結果をフリップ
フロップ7が記憶することができる。
することにより、比較回路6からの比較結果をフリップ
フロップ7が記憶することができる。
フリップフロップ7へのクロックはシフトクロックを8
回発生した後の1クロック分のすきまでのみ発生させる
ので、シフト中のデータとの比較結果をフリップフロッ
プ7が誤って拾うことはない。
回発生した後の1クロック分のすきまでのみ発生させる
ので、シフト中のデータとの比較結果をフリップフロッ
プ7が誤って拾うことはない。
また、シフトモードをシフトしているので、インクリメ
ントクロックの発生タイミングで、シフトレジスタ4が
誤って保持データを壊すこともない。
ントクロックの発生タイミングで、シフトレジスタ4が
誤って保持データを壊すこともない。
第3図(a)及び(b)は第1図のこの発明の実施例に
おける比較回路の構成及びラッチ群のデータ例を示す図
である。図に示すように比較回路6はANDゲート15
とORゲート16から構成される。比較回路6へ入力す
るバッファ記憶部2からの比較パターンは、シフトレジ
スタ4からのラッチ群13のデータに対してマスクパタ
ーンとして働き、エラー判定に必要なビット位置にのみ
「1」を有する。比較回路6はANDゲー)15によっ
て、バッファ記憶部2からの比較パターンとシフトレジ
スタ4からのラッチ群13のデータとの論理積をとるこ
とにより、比較パターンの「l」に対応するラッチ群1
3のデータ中のエラー情報のみを取り出す。次に、比較
回路6は取り出したエラー情報のすべてをORゲー)1
6によって論理和をとることにより、フリップフロップ
7への出力信号とする。フリップフロップ7はその出力
信号をさらに前回の比較結果との論理和をとった上で記
憶する。以上のような操作を、ラッチ群13をすへてシ
フトするまで繰り返すことにより、所望のエラー情報を
演算処理装置lによりバッファレジスタ8を通して読み
取ることができる。
おける比較回路の構成及びラッチ群のデータ例を示す図
である。図に示すように比較回路6はANDゲート15
とORゲート16から構成される。比較回路6へ入力す
るバッファ記憶部2からの比較パターンは、シフトレジ
スタ4からのラッチ群13のデータに対してマスクパタ
ーンとして働き、エラー判定に必要なビット位置にのみ
「1」を有する。比較回路6はANDゲー)15によっ
て、バッファ記憶部2からの比較パターンとシフトレジ
スタ4からのラッチ群13のデータとの論理積をとるこ
とにより、比較パターンの「l」に対応するラッチ群1
3のデータ中のエラー情報のみを取り出す。次に、比較
回路6は取り出したエラー情報のすべてをORゲー)1
6によって論理和をとることにより、フリップフロップ
7への出力信号とする。フリップフロップ7はその出力
信号をさらに前回の比較結果との論理和をとった上で記
憶する。以上のような操作を、ラッチ群13をすへてシ
フトするまで繰り返すことにより、所望のエラー情報を
演算処理装置lによりバッファレジスタ8を通して読み
取ることができる。
なお、上記実施例では、比較回路6へ人力する比較パタ
ーンの記憶バッファとして、通常使用するバッファ記憶
部2を使用した構成を示しているが、比較パターン専用
のバッファ記憶部を別途に設け、スイッチ5を省略した
構成としても良く、さらに、ラッチ群13の内容を同時
にバッファ記憶部2へ読み込むことも可能である。
ーンの記憶バッファとして、通常使用するバッファ記憶
部2を使用した構成を示しているが、比較パターン専用
のバッファ記憶部を別途に設け、スイッチ5を省略した
構成としても良く、さらに、ラッチ群13の内容を同時
にバッファ記憶部2へ読み込むことも可能である。
また、上記実施例において、バッファ記憶部2゜比較回
路6及びフリップフロップ7を複数個設けることにより
、複数のエラー判定を同時に行うことができるようにな
ることは云うまでもない。 [発明の効果] 以上のように、この発明のエラー判定方式によれば、バ
ッファ記憶部とシフトレジスタ間のデータ転送パスにス
イッチを介して接続された比較回路により、バッファ記
憶部の内容とシフトレジスタの内容とをシフト動作に同
期して比較し、その比較結果を演算処理装置から参照可
能なフリップフロップに記憶させ、シフト動作の完了後
に、演算処理装置により当該フリップフロップの状態を
読み取るようにしたので、LSIのラッチ群内に散在し
ているエラー情報の有無の判定を高速に実行することが
でき、さらに装置を安価に実現できるなど優れた効果を
奏する。
路6及びフリップフロップ7を複数個設けることにより
、複数のエラー判定を同時に行うことができるようにな
ることは云うまでもない。 [発明の効果] 以上のように、この発明のエラー判定方式によれば、バ
ッファ記憶部とシフトレジスタ間のデータ転送パスにス
イッチを介して接続された比較回路により、バッファ記
憶部の内容とシフトレジスタの内容とをシフト動作に同
期して比較し、その比較結果を演算処理装置から参照可
能なフリップフロップに記憶させ、シフト動作の完了後
に、演算処理装置により当該フリップフロップの状態を
読み取るようにしたので、LSIのラッチ群内に散在し
ているエラー情報の有無の判定を高速に実行することが
でき、さらに装置を安価に実現できるなど優れた効果を
奏する。
第1図はこの発明の実施例であるエラー判定方式を用い
た、サービスプロセッサからLSI内のラッチ群を読み
書きするためのハードウェアを示すブロック図、第2図
は第1図のこの発明の実施例における動作時の各部のタ
イミングを示す図、第3図(a)及び(b)は第1図の
この発明の実施例における比較回路の構成及びラッチ群
のデータ例を示す図、第4図は従来のサービスプロセッ
サからLSI内のラッチ群を読み書きするためのハード
ウェアを示すブロック図、第5図は第4図の従来例にお
ける動作時の各部のタイミングを示す図である。 図において、l・・・演算処理装置、2・・・バッファ
記憶部、3・・・アドレスレジスタ、4・・・シフトレ
ジスタ、5・・・スイッチ、6・・・比較回路、7・・
・フリップフロップ、8・・・バッファレジスタ、9,
10・・・LSI、11・・・データパス、12・・・
サービスプロセッサ、13・・・ラッチ群、14・・・
シフトパス、15・・・ANDゲート、16・・・OR
・・・ゲート である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
た、サービスプロセッサからLSI内のラッチ群を読み
書きするためのハードウェアを示すブロック図、第2図
は第1図のこの発明の実施例における動作時の各部のタ
イミングを示す図、第3図(a)及び(b)は第1図の
この発明の実施例における比較回路の構成及びラッチ群
のデータ例を示す図、第4図は従来のサービスプロセッ
サからLSI内のラッチ群を読み書きするためのハード
ウェアを示すブロック図、第5図は第4図の従来例にお
ける動作時の各部のタイミングを示す図である。 図において、l・・・演算処理装置、2・・・バッファ
記憶部、3・・・アドレスレジスタ、4・・・シフトレ
ジスタ、5・・・スイッチ、6・・・比較回路、7・・
・フリップフロップ、8・・・バッファレジスタ、9,
10・・・LSI、11・・・データパス、12・・・
サービスプロセッサ、13・・・ラッチ群、14・・・
シフトパス、15・・・ANDゲート、16・・・OR
・・・ゲート である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- LSI内のラッチ群をシリアルに読み書きするためのシ
フトレジスタと、このシフトレジスタへデータを順次に
供給するバッファ記憶部と、このバッファ記憶部のアド
レスを上記ラッチ群のシフト動作と同期して変化せしめ
るアドレスレジスタを備えたサービスプロセッサにおい
て、上記バッファ記憶部と上記シフトレジスタ間のデー
タ転送パスにスイッチを設け、このスイッチの両端に接
続された比較回路と、この比較回路の比較結果を記憶す
るフリップフロップを設け、このフリップフロップの内
容の判定及びリセット等の動作を、上記サービスプロセ
ッサを制御する演算処理装置で行うことにより、上記比
較回路は上記バッファ記憶部の内容と上記シフトレジス
タの内容とを上記ラッチ群のシフト動作に同期して比較
し、上記ラッチ群内のエラー情報の有無を判定すること
を特徴とするエラー判定方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63228964A JPH0276040A (ja) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | エラー判定方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63228964A JPH0276040A (ja) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | エラー判定方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0276040A true JPH0276040A (ja) | 1990-03-15 |
Family
ID=16884626
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63228964A Pending JPH0276040A (ja) | 1988-09-13 | 1988-09-13 | エラー判定方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0276040A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5113704A (en) * | 1990-02-19 | 1992-05-19 | Hitachi Metals, Ltd. | Gear tester |
-
1988
- 1988-09-13 JP JP63228964A patent/JPH0276040A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5113704A (en) * | 1990-02-19 | 1992-05-19 | Hitachi Metals, Ltd. | Gear tester |
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