JPH0283465U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0283465U JPH0283465U JP16265688U JP16265688U JPH0283465U JP H0283465 U JPH0283465 U JP H0283465U JP 16265688 U JP16265688 U JP 16265688U JP 16265688 U JP16265688 U JP 16265688U JP H0283465 U JPH0283465 U JP H0283465U
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- JP
- Japan
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- view
- forth
- thin layer
- layer chromatography
- plate
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000004809 thin layer chromatography Methods 0.000 claims 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 4
- 239000002023 wood Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
第１〜５図は本考案の実施例を示し、第１図は
斜視図、第２図は平面図、第３図は断側面図、第
４図はＴＬＣプレートの斜視図、第５図Ａは１次
展開時のＴＬＣプレートの正面図、第５図Ｂは２
次展開時のＴＬＣプレートの正面図、第６図はＴ
ＬＣプレートと試料収集剤のホルダに対するセツ
ト手段の例の断面図、第７図は第６図のセツト手
段の案内板の別実施例の一部の平面図、第８図と
第９図は試料収集剤のそれぞれ別実施例の正面図
、第１０〜１３図は別実施例を示し、第１０図は
斜視図、第１１図は平面図、第１２図は断側面図
、第１３図は受材を除いた一部の正面図、第１４
〜１５図は従来例を示し、第１４図は試料収集剤
の斜視図、第１５図Ａは試料収集剤をキユベツト
に入れた断面図、第１５図ｂは試料移行時の断面
図である。 １：ホルダ、２：支持部材、３・３ａ：押え部
材、４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄ・４：ボルト、５ａ
，５ｂ，５ｃ，５ｄ：ナツト、８：ＴＬＣプレー
ト、１２：試料収集剤。
斜視図、第２図は平面図、第３図は断側面図、第
４図はＴＬＣプレートの斜視図、第５図Ａは１次
展開時のＴＬＣプレートの正面図、第５図Ｂは２
次展開時のＴＬＣプレートの正面図、第６図はＴ
ＬＣプレートと試料収集剤のホルダに対するセツ
ト手段の例の断面図、第７図は第６図のセツト手
段の案内板の別実施例の一部の平面図、第８図と
第９図は試料収集剤のそれぞれ別実施例の正面図
、第１０〜１３図は別実施例を示し、第１０図は
斜視図、第１１図は平面図、第１２図は断側面図
、第１３図は受材を除いた一部の正面図、第１４
〜１５図は従来例を示し、第１４図は試料収集剤
の斜視図、第１５図Ａは試料収集剤をキユベツト
に入れた断面図、第１５図ｂは試料移行時の断面
図である。 １：ホルダ、２：支持部材、３・３ａ：押え部
材、４ａ，４ｂ，４ｃ，４ｄ・４：ボルト、５ａ
，５ｂ，５ｃ，５ｄ：ナツト、８：ＴＬＣプレー
ト、１２：試料収集剤。
Claims (1)
- 互いに重ねた薄層クロマトグラフイープレート
と板状の試料収集剤の、一方の面を支持する支持
部材と、他方の面を押える進退可能な押え部材、
及び前記支持部材で保持されて、押え部材を進退
させるねじ部材からなる薄層クロマトグラフイー
用サンプリングホルダ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16265688U JPH0283465U (ja) | 1988-12-14 | 1988-12-14 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16265688U JPH0283465U (ja) | 1988-12-14 | 1988-12-14 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0283465U true JPH0283465U (ja) | 1990-06-28 |
Family
ID=31446679
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16265688U Pending JPH0283465U (ja) | 1988-12-14 | 1988-12-14 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0283465U (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6283662A (ja) * | 1985-10-09 | 1987-04-17 | Toshiba Corp | 薄層クロマトグラフイ−による成分抽出方法 |
| JPH01187452A (ja) * | 1988-01-22 | 1989-07-26 | Sankyo Co Ltd | 赤外吸収測定用デイスクの製造方法 |
-
1988
- 1988-12-14 JP JP16265688U patent/JPH0283465U/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6283662A (ja) * | 1985-10-09 | 1987-04-17 | Toshiba Corp | 薄層クロマトグラフイ−による成分抽出方法 |
| JPH01187452A (ja) * | 1988-01-22 | 1989-07-26 | Sankyo Co Ltd | 赤外吸収測定用デイスクの製造方法 |