JPH0285977A - 閉領域塗りつぶし表示方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、グラフィックディスプレイとかＣＡＤ（コン
ピュータ支援設計）等の分野において、ディスプレイ面
上で任意所望の形をした閉曲線を描き、その内部である
閉領域を塗りつぶして表示することが必要になる場合が
あるが、かかる場合の閉領域塗りつぶし表示方法に関す
るものである。

〔従来の技術〕

第３図は、ディスプレイ面上で成る任意、所望の閉曲線
を描き、その内部に塗りつぶしを行う場合の従来方式に
よる描画処理の過程を示した説明図である。

第３図（イ）に見られるように、始点（ＸＯ。

ＹＯ）のデータが与えられ、続いて所望の閉曲線を描（
に必要なデータが順次与えられると、それに従って先ず
閉曲線の描画が行われ、描画された閉曲線を示す描画デ
ータが図示せざる描画メモリに書き込まれる。

このようにして閉曲線の描画が終了すると、今度は第３
図（ロ）に見られるように、始点（ＸＯ。

ＹＯ）からＸ軸方向に沿って１ドツトづつ描画してゆく
描画処理（塗りつぶし処理）が行われる。

図では、始点（ＸＯ、ＹＯ）から始まって座標位置（Ｘ
ｐ　、　ＹＯ）にまで達した状態を示している。

この１ドツトづつ描画してゆ（限度は、閉曲線の境界に
突き当たるときまでであるが、閉曲線の境界は描画メモ
リを読み出すことにより知ることができる。従って１ド
ツト描画する毎に、次に描画すべきドツトのＸ座標を描
画メモリから読み出して得た境界と比較し、その境界を
超えないことを確認しながら描画してゆくわけである。

こうして始点のＹ座標位置についての塗りつぶし処理が
終了したら、今度は第３図（ハ）に見られるように、Ｙ
座標位置を上方又は下方に一つだけずらし、同様に塗り
つぶし処理を行ってゆき、Ｙ座標方向に塗りつぶす領域
がなくなったら第３図（ニ）に見られるように、塗りつ
ぶし処理終了となる。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記従来の方式においては、任意所望の一つの図形の塗
りつぶしを行うのに、閉曲線の描画処理と、その終了後
に行う塗りつぶし処理と、２つの処理が必要であり、し
かも塗りつぶし処理においては、１ドツト塗りつぶす毎
に、閉曲線の境界との比較操作を行うため、図形の塗り
つぶしが完了するまでに、時間がかかるという欠点があ
った。

本発明の目的は、かかる塗りつぶしに要する時間を短縮
して効率の良い図形の塗りつぶしを可能にする閉領域塗
りつぶし表示方法を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

そこで本発明では、Ｘ座標、Ｙ座標で与えられる描画デ
ータに従ってディスプレイ面上に閉曲線を描くと共に、
その内部である閉領域を特定のカラーに塗りつぶして表
示する閉領域塗りつぶし表示方法において、描画データ
を構成するＸ座標、Ｘ座標のうち、Ｘ座標ならＸ座標を
アドレスとしてＸ座標及びサインビットを書き込むメモ
リを用意しておき、これを利用して、閉曲線の描画処理
と塗りつぶし処理とを別個に行うのではなり、−体化し
て行うようにした。

〔作用〕

第４図を参照して本発明の動作原理の説明と併せて作用
も説明する。

第４図において、３が上述のメモリであり、以下これを
ラインメモリと呼ぶ。１１はディスプレイ面上に描画さ
れる任意所望の図形である。

ラインメモリ３は、ディスプレイ面上で描画可能な領域
の採り得る全Ｘ座標と１対１に対応するアドレス空間を
持つメモリである。図から分かるように、ラインメモリ
３においては、ディスプレイ面の描画可能領域における
Ｘ座標をアドレスとして、そのアドレスに対応するそれ
ぞれの領域（欄）に、Ｘ座標とサインビット（ｌかＯ）
を格納するようになっている。最初は、Ｘ座標を格納す
る欄もサインビットを格納する欄もすべて零クリアして
おく。

ディスプレイ面上の描画可能領域に、図形１１を描画し
てその内部を塗りつぶすものとする。

最初に該図形１１の始点データ（ＸＯ、ＹＯ）が与えら
れると、そのディスプレイ面における描画が図示せざる
ＣＰＵにより行われるが、それと共に、ＣＰＵは、ライ
ンメモリ３のアドレスＹＯを参照して、そこのサインビ
ットの格納欄に０が格納されていることを知ると、そこ
に１を書き込み、かつＸ座標の欄にｘＯを書き込む。

同様にして、次に描画データ（Ｘｐ　、　Ｙｐ　）が与
えられると、ディスプレイ面におけるその描画が行われ
、それと共に、ＣＰＵは、ラインメモリ３のアドレスＹ
ｐを参照して、そこのサインビットの格納欄に０が格納
されていることを知り、そこに１を書き込み、かつＸ座
標の欄にＸｐを書き込む。

このようにして、図形１１の中では一番下位の位置（Ｘ
Ｌ、ＹＬ）、つまりＸ座標の値が最小となる位置にきた
とする。このときも全く同様に、ラインメモリ３におい
てはそのアドレスＹＬに対応したサインビットの欄に１
が書き込まれ、Ｘ座標の欄にＸしか書き込まれる。

次に、このＸ座標の値が最小となる位置（ＸＬ　。

ＹＬ　）を過ぎて上昇に転じると、今度は与えられる描
画データのＸ座標は、前に一度与えられた描画データの
Ｘ座標と同じ値のものになる。例えばＸ座標の値が最小
となる位置（ＸＬ　、　ＹＬ　）を過ぎて上昇に転じた
後の成る点（ＸＱ　、　Ｙｐ　）を見れば分かるように
、これは位置（Ｘｐ、Ｙｐ）のＸ座標と同じＸ座標値を
採っている。

このときＣＰｔＪはラインメモリ３のアドレスＹｐを参
照すると、そこのサインビットの欄には既に１が書き込
まれていることが分かる。するとＣＰＵは、位置（ＸＱ
、Ｙｐ）の描画処理を行うと共に、ラインメモリ３から
アドレスＹρにそれまで格納されていたＸ座標ｘｐを読
み出し、位１ｆ（Ｘｐ。

Ｙｐ　）と位置（ＸＱ　、　Ｙｐ　）との間で塗りつぶ
し処理（この間はＸ座標はｙｐと一定でＸ座標のみＸｐ
からＸＱまで変化するのでその間のドツトを全てｌなら
ｌに転じる）を行う。

塗りつぶし処理が済んだら次の描画データを受けてその
処理に進む。このようにしてラインメモリ３を利用する
ことにより、任意所望の図形１１を描画しながら、その
描画が終了した時点では閉領域の塗りつぶし処理も終了
していることになる。

［実施例］ 第１図は本発明による塗りつぶし処理を実行する塗りつ
ぶし回路の構成を示すブロック図である。

同図において、１はＣＰＵｌ０から描画すべき曲線のＸ
座標始点データを貰つて描画Ｘ座標を発生する描画Ｘ座
標発生回路、２は同様にＣＰＵｌ０から描画すべき曲線
のＸ座標始点データを貰って描画Ｘ座標を発生する描画
Ｘ座標発生回路、３はラインメモリ（第４図を参照して
先に説明した）、４はＣＰＵｌ０からの指令により、描
画方向の制御Ｂ信号を描画Ｘ座標発生回路１と描画Ｘ座
標発生回路２に送って、それぞれ始点データ以後の描画
データの座標を発生せしめるラインメモリアドレスデー
タ制御回路、５はコンパレータ、６はラインメモリ制御
回路、７はサインビット制御回路、８はラインメモリ入
力データレジスタ、９はラッチ、である。

第２図は、第１図に示した塗りつぶし回路の動作の流れ
を示すフローチャートである。同チャートは（ａ）〜（
ｎ）の処理から成っている。

以下、第１図、第２図、第４図を参照して本発明による
塗りつぶし処理の動作を説明する。

先ず第２図（ａ）に見られるように、ＣＰＵ　１０から
の指令によりラインメモリ制御回路６はラインメモリ３
を零クリアする。即ち各アドレス対応に設けられている
Ｘ座標データの欄とサインビットデータの欄を全て０に
クリアする。

次いで第２図（ｂ）に見られるように、ＣＰＵ１０から
初期値（ＸＯ、ＹＯ）が描画Ｘ座標発生回路１と描画Ｘ
座標発生回路２に与えられ、以下ＣＰ［Ｊｌｏの指令に
よるラインメモリアドレスデータ制御回路４の制御の下
に、描画Ｘ座標発生回路１と描画Ｘ座標発生回路２が、
描画すべき曲線に沿ったＸ座標、Ｘ座標を発生するが、
その度に、その座標はＸ座標ならＹＱとして、Ｘ座標な
らＸＱとしてＣＰＵｌ０に戻され、ＣＰＵｌ０は第２図
（ｃ）に見られるように描画処理を図示せざるディスプ
レイ面で行ってゆく。

始点（ＸＯ、ＹＯ）なら始点（ＸＯ、ＹＯ）の描画が第
２図の処理（Ｃ）において終了すると次に処理（ｄ）に
進む。処理（ｄ）では、今回のＹ座標データＹＯと前回
のＹ座標データＹｐを比較して両者が等しかったとする
と、描画はＸ座標方向に進んでいると判断し、処理（ｅ
）に進むことなく処理（ｃ）に戻って描画を続ける。

処理（ｄ）において、今回のＹ座標データＹＯと前回の
Ｙ座標データＹρが同じでなかったとすると、処理（ｅ
）に進み、今回のＹ座標データＹＱをアドレスとしてラ
インメモリ３のサインビットの欄を参照することが行わ
れる。

第１図では、上記の比較はコンパレータ５において行わ
れ、その結果が同じならラインメモリ３のサインビット
の欄の参照を行わず、同じでないならサインビットの欄
の参照を行うようにラインメモリ制御回路６を制御する
わけである。

ラインメモリ３のサインビットの欄が参照され、その中
のデータがサインビット制御回路７に取り込まれ、第２
図（ｆ）の判定処理が行われる。その結果、サインビッ
トが０であれば、そのことをＣＰＵｌ０に知らせ、ＣＰ
Ｕｌ０はラインメモリ制御回路６を機能させて、ライン
メモリ３のＸ座標データの欄にその時のＸ座標データｘ
ｐならＸｐをゲートＧを開いて書き込み、かつサインビ
ットデータの欄に１を書き込む（第２図の処理（ｇ）（
ｈ））。そして処理（ｃ）に戻り、次の座標データによ
る描画処理に移行する。

サインビット制御回路７における第２図（ｆ）の判定処
理の結果、サインビットが１であれば、そのことを知ら
されたＣＰＵｌ０は、ラインメモリ制御回路６を制御し
てラインメモリ３のＸ座標データの憫に格納されていた
Ｘ座標データＸｐならｘｐを読み出し、ラインメモリ入
力データレジスタ８にラッチする。そしてそのときのＸ
座標はアドレスとして既知であるから、現在の描画座標
（Ｘ口、ＹＱ）とラインメモリ３から読み出して得た座
標（Ｘｐ　、　　ＹＱ　）との間を塗りつぶし処理をす
る（第２図の処理（ｉ）、　（ｆ）　）。

その後ＣＰＵｌ０は、ラインメモリ制御回路６を制御し
てラインメモリ３の当該アドレスに対応したＸ座標デー
タの欄をクリアすると共にサインビットデータの欄も０
にクリアする（第２図の処理（ｊ）、　（ｋ）　）。

以下、ＣＰＵｌ０は、第２図の処理（ｍＬ　（ｎ）を実
行して描画終了（曲線の描画終了と共に塗りつぶしも終
了）に至るか、そうでなければまた処理（ｃ）に戻る。

上述の実施例を総括すると、次の如くである。

先ず、ラインメモリと呼ぶグラフィックメモリのＸ座標
に対応するだけの容量を持つメモリを用意しておき、図
形を描画する場合、任意のＸ座標に対して２ｎ−１（ｎ
＝１．２．３・・・）回目（つまり奇数回目）の描画で
現描画Ｘ座標とサインビットを呼ぶビットを現描画Ｙ座
標に対応したアドレスでラインメモリに格納する。

次に任意のＹ座標に対して２ｎ　（ｎ−１，２゜３・・
・）回目（つまり偶数回目）の描画（前述のサインビッ
トが１“の時２ｎ回目の描画と判断）で、ラインメモリ
に格納しておいたＸ座標と現描画Ｘ、Ｙ座標をもとに２
点間を結ぶ水平な線を、その線上にあるグラフィックメ
モリのデータと塗りつぶしのデータの排他的論理和によ
る演算を行いながら描画する。

ここで任意図形をベクトルの連続で描画するものとした
とき、その各ベクトルの端点等でのラインメモリの操作
（Ｘ座標を格納し、サインビットを“１”にする）は次
の通りである。

ベクトルの開始点では第５図（イ）に見られるようにラ
インメモリを操作しない。開始点に続く次の点からライ
ンメモリを操作し、ベクトルの終了点では、やはり、第
５図（ロ）に見られるようにラインメモリを操作する。

Ｙ座標が一定である限りラインメモリは操作せず、Ｙ座
標が変化して始めて、第５図（ハ）に見られるように、
ラインメモリを操作する。

その結果、次のような不都合が生じることがある。

くその１〉第６図（イ）のような図形の場合、点Ａ、Ｂ
、Ｄが同一水平線上にあると、結んではいけない点Ｂ、
Ｄ間を結んでしまう。その理由はこうである。

上記実施例ではラインメモリの操作については、点Ｂで
は、それまでＹ座標が一定であったから、操作は行われ
ない。そしてここで、点０．Ａ間の描画の際に点Ａでの
Ｙ座標に対応するラインメモリが操作されてサインビッ
トは立っている状態であるため、点Ｃ，Ｄ間を描画する
際、点りに至ったところで、点Ｂ、　Ｄ間（実際は点Ａ
、　Ｄ間）を結んでしまう。

くその２〉第６図（ロ）のような図形の場合、結んでは
ならない点Ｂ、Ｄ間を結んでしまい、結んで塗りつぶさ
なければならなら点Ｃ，Ｅ間を結ばない。その理由はこ
うである。

点Ｂ、Ｄ間については、上記実施例のラインメモリ操作
では、点０．Ａ間を描画した際に点ＢのＹ座標に対する
ラインメモリが操作され、サインビットが“１゛′とな
り、点Ｃ，Ｄ間を描画する際点りに至ったところで点Ｂ
、Ｄ間を結んでしまう。

点Ｃ，Ｅ間については、点Ｂ、Ｃ間を描画する際点Ｃに
至ったところで点Ａ、Ｃ間を結び、このＹ座標に対する
ラインメモリ内のサインビットはクリアされて“０”と
なる。そのため点り、Ｆ間を描画する際、点Ｅ上に至っ
ても点Ｃ，Ｅ間は結ばれない（塗りつぶされない）こと
になる。

上記不都合を解消するサインビット操作を以下に説明す
る。

まず、各ベクトルを描画した際にその方向を保存してお
き、そのベクトル描画の直前のベクトル（水平ベクトル
は除く）の方向と比較し、第７図（イ）に示すようにベ
クトルのＹ座標方向の変位が逆転した時には、そのベク
トルの開始点のＹ座標に対するラインメモリのサインビ
ットを、それがそれまで“１パの時はＩＩ　ＯＩＩに、
“０″の時は“１”に、と反転させる。

これにより第６図（ロ）において、点ＢではそのＹ座標
に対するラインメモリのサインビットは反転してクリア
され“′０゛となり、点Ｃでは逆にそのＹ座標に対する
ラインメモリのサインビットは、“０”であるべき所が
反転してセットされＩ　１１となるため、点Ｃ，Ｄ間を
描画する際に、点りに至ったところで点Ｂ、Ｄ間を結ん
でしまうことはなく、点り、Ｆ間を描画する際、点已に
至ったところで点Ｃ，Ｅ間を結ばないということもなく
なる。

以上の操作に加えて、描画しようとするベクトルが第７
図（ロ）のように、Ｙ＝ａ　（ａは定数）即ち、Ｙ座標
が一定な水平ベクトルである場合には、ラインメモリに
対する操作は全く行わず、またベクトル方向の保存も行
わないようにする。前述のサインビットを反転するとこ
ろで°“水平ベクトルは除＜°とあるのはこのためであ
る。

これにより第６図（イ）で点Ｂ、Ｃ間を描画する際、保
存されているベクトル方向は点０．Ａ間のものであり、
それと比較するとＹ座標方向は逆転しているため、点Ｂ
のＹ座標部ち点ＡのＹ座標に対するラインメモリのサイ
ンビットは反転し“０”となる。

よって、点Ｃ，Ｄ間を描画する際に点りに至ったところ
で点Ｂ、Ｄ間を結んでしまうことはなくなる。しかしこ
こでサインビットを反転する場合に次に掲げる２つの問
題が新たに発生する。

く問題点１〉 第８図（イ）に示すように点Ｏ１α間つまり任意図形の
描画開始点Ｏと、Ｘ座標はＯ，Ｙ座標は描画開始点と同
じである点αとを結んでしまう場合がある。その理由は
こうである。

ベクトルのＹ座標方向への変位が逆転したかどうかの判
断をその直前に描かれたベクトルのＹ座標方向と比較し
行っているため、任意図形の第１番目のベクトルの描画
の際は、直前のベクトルのＹ座標が不定であるため（本
来は、第１番目であるから直前のベトクルは存在しない
筈であるが、実際にはそうはいかず、不定となる）、偶
然に同方向の場合にはこの問題は発生しないが、逆方向
であった場合には描画開始点のＹ座標に対応するライン
メモリのサインビットを反転することになる。ラインメ
モリは図形描画の前に０クリアされているため、この時
サインビットは“０”であり、反転することにより“１
パとなる。

この結果、任意図形の描画開始点のＹ座標に対するライ
ンメモリ内はサインビット１．Ｘ座標は０となる。そし
て任意図形の最終ベクトル、第８図（イ）では点Ｂ、Ｏ
間のベクトルを描画する際、点０に至ったところで同図
に示す通り点０．α間を結んでしまう。

ここで任意図形の第１番目のベクトルのＹ座標方向の変
位を判断する時、直前のベクトルのものと比較するので
はなく、第１番目のベクトルの場合には、比較するＹ座
標方向を一定の値にしておいたとしても、任意図形の第
１番目のベクトルが描画される方向を特定するのは不可
能であるため、設定しておいた方向と同方向のベクトル
である場合は良いが、逆方向であった場合には問題とな
る現象を生じてしまうことになり、結局直前のベクトル
のものと比較するのと変わりなく、何ら解決にはならな
い。

く問題点２〉 第８図（ロ）に示すような図形を点０．Ｃ，Ｂ。

Ａ、Ｏの順に描画した場合には問題ないが、同図のよう
に点０．Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｏの順に描画した場合には点Ｏ９
α間を結んでしまう。その理由はこうである。

第１図、第２図を参照して述べた実施例では、ラインメ
モリの操作については点Ａではラインメモリの操作は行
われない。次に点Ａ、Ｂ間を描画する際、ベクトルのＹ
座標方向の変位は水平方向から下向きに変わっている。

この場合にＹ座標方向の変位は逆転したと判断するため
、点ＡのＹ座標に対するラインメモリのサインビットを
反転つまり“１″にすることになる。そして点０．０間
を描画する際に点０と点Ａは同一水平線上にあり、この
２点に対するラインメモリは同一であるため、点Ｏに至
ったところでＯ９α間を結んでしまう。

二の２つの問題点を解決するために次の操作を行う。

まず、任意図形の描画開始点であることを判断するため
のフラグ（以下第１開始点フラグと呼ぶ）を設け、これ
を図形描画直前にセットしておき、ベクトル描画の際こ
のフラグがセットされているか否かを判断し、セットさ
れていればサインビットを反転しないようにすることに
よって問題点１は解決される。またこのフラグは判断後
原則としてクリアする。

次に第８図（ロ）で第１開始点フラグは原則によれば点
０．Ａ間を描画する際にセットされているかいないかの
判断後クリアされることになるわけであるが、同図のよ
うに描画開始点からの第１番目のベクトル（点０．Ａ間
のベクトル）がＹ＝ａ（ａは定数）であるベクトル、す
なわち水平なベクトルの場合には第１開始点フラグがセ
ットされているか否か判断後もクリアせず、またその次
のベクトルが同様に水平なベクトルであった場合にもク
リアしない、つまりは第１番目以後のべりトルが水平ベ
クトルである間は第１開始点フラグはセットしたままの
状態を保ち、水平でないベクトルが初めて現われた時、
そのベクトルを描画する際にこのフラグがセットされて
いるか否か判断後クリアする。

この操作を行うことによって第８図（ロ）において点Ａ
、Ｂ間を描画する際、第１開始点フラグはセットされて
いるため点ＡのＹ座標に対するラインメモリのサインビ
ットが反転して“１″になることはなくなって、点０．
０間を描画した際点０に至っても点０．α間を結ぶこと
はなくなりこの問題も解決される。

これまで述べてきた操作を全て、任意図形の各ベクトル
描画時に行い、それと併せて先の実施例（第１図、第２
図）におけるサインビット検出による塗りつぶしを行う
ことによって、あらゆる図形の正確な塗りつぶしを実現
している。

以上説明した如きサインビットの操作の制御フローをま
とめて第９図に示す。

第９図は、図示の如く、ステップ８１〜ステンプ３１１
から成っているが、これについては改めて説明するまで
もないであろう。

またかかる動作の流れはＣＰＵにおけるソフトウェアで
容易に実現することができる。

〔発明の効果］ 第１０図は本発明による塗りつぶし処理の過程を示す説
明図である。第１０図（イ）において、始点（ＸＯ、Ｙ
Ｏ）から描画が開始されるが、本発明によれば、１ドツ
トづつ行われる描画がＹ座標ならＹ座標方向の最下位（
ｘｔ、　、　ＹＬ　）に達し、そこから上方向に転じた
時点から、１ドツトづつのＹ座標方向への描画に伴って
所要区間の塗りつぶしが行われるので、図形描画は第１
０図（ロ）のように進行し、曲線ｔｉｔ画が終了した時
点では、第１０図（ハ）のように塗りつぶしも正確に終
了するので１回の処理で図形描画が完了する。しかも従
来の描画処理のように、描画メモリに書き込んでおいた
データをドツト毎に読み出して現描画データと比較する
手間が不要になるので塗りつぶし描画処理が高速化され
るという利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による塗りつぶし処理を実行する塗りつ
ぶし回路の構成を示すブロック図、第２図は第１図に示
した塗りつぶし回路の動作の流れを示すフローチャート
、第３図は塗りつぶしを行う場合の従来方式による描画
処理の過程を示した説明図、第４図は本発明の動作原理
の説明図、第５図はサインビットの操作説明図、第６図
はサインビットの操作無しで本発明を実施した場合に起
こり得る不都合の説明図、第７図はす゛インピットの操
作の態様の説明図、第８図はサインビットの操作無しで
本発明を実施した場合に起こり得る他の不都合の説明図
、第９図は本発明によるサインビットの操作の制御フロ
ーを示すチャート、第１０図は本発明による塗りつぶし
処理の過程を示す説明図、である。 符号の説明 １・・・描画Ｙ座標発生回路、２・・・描画Ｘ座標発生
回路、３・・・ラインメモリ、４・・・ラインメモリア
ドレスデータ制御回路、５・・・コンパレータ、６・・
・ラインメモリ制御回路、７・・・サインビット制？ｉ
ｌＱ路、８・・・ラインメモリ入力データレジスタ、９
・・・ラッチ、１０・・・ＣＰＵ、１１・・・図形。 代理人　弁理士　並　木　昭　夫

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １）Ｘ座標、Ｙ座標で与えられる描画データに従ってデ
   ィスプレイ面上に閉曲線を描くと共に、その内部である
   閉領域を特定のカラーに塗りつぶして表示する閉領域塗
   りつぶし表示方法において、描画データを構成するＸ座
   標、Ｙ座標のうち、Ｙ座標ならＹ座標をアドレスとして
   Ｘ座標及びサインビットを書き込むメモリを用意してお
   き、先ず該メモリのＸ座標を書き込む欄とサインビット
   を書き込む欄をすべて零クリアしておき、前記閉曲線の
   始点データとしての描画データが与えられたら、その描
   画処理を行う傍ら、該始点データのＹ座標をアドレスと
   する前記メモリのサインビット欄を見て、そこに１が立
   っていなければ、Ｘ座標欄にＸ座標を書き込むと共にサ
   インビット欄に１を立てた後、次の描画データを受けて
   その処理に進み、 始点データのＹ座標をアドレスとする前記メモリのサイ
   ンビット欄を見て、そこに１が立っていれば、Ｘ座標欄
   に既に書き込まれていたＸ座標を読み出すと共に、その
   読み出したＸ座標と、今書き込もうとしていた始点デー
   タのＸ座標と、を用いて両Ｘ座標間（その間、Ｙ座標は
   一定）の塗りつぶし処理に移行して、その終了後、次の
   描画データを受けてその処理に進み、 以下、同様にして、始点データから出発して始点データ
   に戻り、閉曲線が描画された時点でその内部である閉領
   域の塗りつぶし処理も終了するようにしたことを特徴と
   する閉領域塗りつぶし表示方法。 ２）請求項１に記載の閉領域塗りつぶし表示方法におい
   て、始点データから発して始点データに戻る前記閉曲線
   をベクトルの連続により表示するものとし、 ［１］各ベクトル（Ｙ座標値が一定である水平ベクトル
   を除く）を描画処理する際、その描画処理したベクトル
   の方向を保存しておき、該ベクトル描画の直前のベクト
   ル（Ｙ座標値が一定である水平ベクトルを除く）の方向
   と比較し、Ｙ座標の描画方向の逆転が起きたと判断され
   るとき、その描画処理したベクトルの開始点のＹ座標デ
   ータに対する前記ラインメモリのサインビットを、それ
   がそれまで１であれば０に、０であれば１に、それぞれ
   反転し、 ［２］前記閉曲線の描画開始点においては、そのことを
   示すための特別のフラグ・ビットを予め用意して該ビッ
   トをセットしておき、ベクトル描画の際、該ベクトルの
   始点に対応する前記特別のフラグ・ビットを見て、それ
   がセットされていると判断すれば、前記［１］の反転処
   理が必要な場合であってもこれを実行せず、そしてその
   判断を行った後、前記特別のフラグ・ビットを原則とし
   てクリアするが、 ［３］但し、前記閉曲線の描画開始点からの第１番目の
   描画ベクトルと、それに続く描画ベクトルが水平ベクト
   ルである間は、前記［２］の処理における特別のフラグ
   ・ビットのセットされていることの判断後も、該特別の
   フラグ・ビットのクリアを行わず、水平でないベクトル
   が現れたとき、前記所要の判断の後に前記特別のフラグ
   ・ビットのクリアを行うことを特徴とする閉領域塗りつ
   ぶし表示方法。