JPH0288152U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0288152U JPH0288152U JP16696488U JP16696488U JPH0288152U JP H0288152 U JPH0288152 U JP H0288152U JP 16696488 U JP16696488 U JP 16696488U JP 16696488 U JP16696488 U JP 16696488U JP H0288152 U JPH0288152 U JP H0288152U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- material testing
- testing machine
- scanning electron
- electron microscope
- machine
- Prior art date
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- Granted
Links
- 238000004154 testing of material Methods 0.000 claims description 8
- 238000002955 isolation Methods 0.000 claims 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
第1図〜第4図は本考案の一実施例を示すもの
で、第1図は第2図の―線矢視図、第2図は
本考案に係る走査型電子顕微鏡付き材料試験機の
正面図、第3図はその―線矢視図、第4図は
治具の詳細を示す第2図の―線断面図である
。 1,61:架台、2,62:空気ばね、6:ブ
ラケツト、7:Xテーブル、8:Yテーブル、9
:固定フランジ、10:負荷アクチユエータ、2
0:治具、40:材料試験機、50:走査型電子
顕微鏡、51:試料室、71:連結部材、X1,
X2:重心、TP:試験片。
で、第1図は第2図の―線矢視図、第2図は
本考案に係る走査型電子顕微鏡付き材料試験機の
正面図、第3図はその―線矢視図、第4図は
治具の詳細を示す第2図の―線断面図である
。 1,61:架台、2,62:空気ばね、6:ブ
ラケツト、7:Xテーブル、8:Yテーブル、9
:固定フランジ、10:負荷アクチユエータ、2
0:治具、40:材料試験機、50:走査型電子
顕微鏡、51:試料室、71:連結部材、X1,
X2:重心、TP:試験片。
Claims (1)
- 顕微鏡架台上に第1の除震手段を介して設置さ
れる走査型電子顕微鏡と、試験機架台上に第2の
除震手段を介して設置され試験片を負荷する材料
試験機と、一端がこの材料試験機に他端が走査型
電子顕微鏡に接続され試験片を把持する治具とを
有し、走査型電子顕微鏡の試料室内に治具に把持
された試験片を挿入して材料試験機で負荷しつつ
走査型電子顕微鏡により観察する試験機において
、前記第2の除震手段に吊持されこの第2の除震
手段から下方に延設される保持部材と、この保持
部材に設置され前記材料試験機を保持するX,Y
テーブルとを備え、X,Yテーブルによつて材料
試験機が互いに直交するX,Y方向に移動するよ
う前記治具を柔構造にしたことを特徴とする走査
型電子顕微鏡付き材料試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16696488U JPH0626838Y2 (ja) | 1988-12-23 | 1988-12-23 | 走査型電子顕微鏡付き材料試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16696488U JPH0626838Y2 (ja) | 1988-12-23 | 1988-12-23 | 走査型電子顕微鏡付き材料試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0288152U true JPH0288152U (ja) | 1990-07-12 |
| JPH0626838Y2 JPH0626838Y2 (ja) | 1994-07-20 |
Family
ID=31454828
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16696488U Expired - Fee Related JPH0626838Y2 (ja) | 1988-12-23 | 1988-12-23 | 走査型電子顕微鏡付き材料試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0626838Y2 (ja) |
-
1988
- 1988-12-23 JP JP16696488U patent/JPH0626838Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0626838Y2 (ja) | 1994-07-20 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |