JPH0288607U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0288607U JPH0288607U JP17041088U JP17041088U JPH0288607U JP H0288607 U JPH0288607 U JP H0288607U JP 17041088 U JP17041088 U JP 17041088U JP 17041088 U JP17041088 U JP 17041088U JP H0288607 U JPH0288607 U JP H0288607U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- slit
- rays
- diaphragm
- restrict
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
第１図はこの考案の実施例を示す図で、ａは断
面図、ｂは図ａのＸ線絞りによるＸ線強度分布を
示す図、第２図は従来のＸ線絞りを示す図で、ａ
は断面図、ｂは図ａによるＸ線強度分布を示す図
、第３図はＣＴ装置の概略説明用図、第４図は従
来のＸ線絞りの平面図である。 ２１……鉛板、２２……スリツト、Ｐ２……テ
ーパー面。
面図、ｂは図ａのＸ線絞りによるＸ線強度分布を
示す図、第２図は従来のＸ線絞りを示す図で、ａ
は断面図、ｂは図ａによるＸ線強度分布を示す図
、第３図はＣＴ装置の概略説明用図、第４図は従
来のＸ線絞りの平面図である。 ２１……鉛板、２２……スリツト、Ｐ２……テ
ーパー面。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 平板状のＸ線不透過物質にＸ線源からのＸ線を
扇状Ｘ線に規制するスリツトを形成したＸ線絞り
において、 前記スリツト端面をＸ線束錐に沿うテーパー状
に形成したことを特徴とするＣＴ装置用Ｘ線絞り
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17041088U JPH0288607U (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17041088U JPH0288607U (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0288607U true JPH0288607U (ja) | 1990-07-13 |
Family
ID=31461327
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17041088U Pending JPH0288607U (ja) | 1988-12-28 | 1988-12-28 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0288607U (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006317440A (ja) * | 2005-05-10 | 2006-11-24 | General Electric Co <Ge> | コリメータのシステム、方法及び装置 |
| JP2009212010A (ja) * | 2008-03-05 | 2009-09-17 | Nagaoka Univ Of Technology | 軟ｘ線発生装置及び該軟ｘ線発生装置を用いた除電装置 |
| JP2009238600A (ja) * | 2008-03-27 | 2009-10-15 | Tohken Co Ltd | Ｘ線管用磁気シールド板 |
| JP2015114132A (ja) * | 2013-12-09 | 2015-06-22 | キヤノン株式会社 | 放射線管及び放射線検査装置 |
| KR20180111429A (ko) * | 2017-03-31 | 2018-10-11 | 세메스 주식회사 | X선 검사 장치 |
| JP2019009122A (ja) * | 2018-06-25 | 2019-01-17 | キヤノン株式会社 | 放射線管、放射線源及び放射線検査装置 |
| JPWO2023032286A1 (ja) * | 2021-08-31 | 2023-03-09 |
-
1988
- 1988-12-28 JP JP17041088U patent/JPH0288607U/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP2018173351A (ja) * | 2017-03-31 | 2018-11-08 | セメス株式会社Ｓｅｍｅｓ Ｃｏ．， Ｌｔｄ． | Ｘ線検査装置 |
| JP2019009122A (ja) * | 2018-06-25 | 2019-01-17 | キヤノン株式会社 | 放射線管、放射線源及び放射線検査装置 |
| JPWO2023032286A1 (ja) * | 2021-08-31 | 2023-03-09 | ||
| WO2023032286A1 (ja) * | 2021-08-31 | 2023-03-09 | 株式会社島津製作所 | 蛍光ｘ線分析装置およびｘ線の絞り部材 |
| US12523623B2 (en) | 2021-08-31 | 2026-01-13 | Shimadzu Corporation | X-ray fluorescence analyzer and x-ray aperture member |