JPH03105300A - 軟x線透過窓 - Google Patents
軟x線透過窓Info
- Publication number
- JPH03105300A JPH03105300A JP24173889A JP24173889A JPH03105300A JP H03105300 A JPH03105300 A JP H03105300A JP 24173889 A JP24173889 A JP 24173889A JP 24173889 A JP24173889 A JP 24173889A JP H03105300 A JPH03105300 A JP H03105300A
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- Japan
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- ray
- penetrating
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- film
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- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、軟X線透過窓、即ちI AeV以下の軟X
線を、大気中から真空中に取り込んだり、真空中から大
気中に取り出したりするための軟X線透過窓に関するも
のである。
線を、大気中から真空中に取り込んだり、真空中から大
気中に取り出したりするための軟X線透過窓に関するも
のである。
[従来の技術]
一般に、X線透過窓材IElには、X線吸収係数が小さ
く、原子番号の低い元素を主成分とし、かつ耐圧性及び
耐真空性(νacuu+a tigl+L)の優れた材
f1、即ち微小リークの原因となるピンホールが少な<
lFj械的強度の高い材料が用いられる。従来、このよ
うなX線透過窓材料として、マイラ膜,雲?板又はベリ
リウム焼結金属箔(以下、Be73と略称する。)など
が用いられている。これらのうち、特にI3e箔が多く
利用されている。
く、原子番号の低い元素を主成分とし、かつ耐圧性及び
耐真空性(νacuu+a tigl+L)の優れた材
f1、即ち微小リークの原因となるピンホールが少な<
lFj械的強度の高い材料が用いられる。従来、このよ
うなX線透過窓材料として、マイラ膜,雲?板又はベリ
リウム焼結金属箔(以下、Be73と略称する。)など
が用いられている。これらのうち、特にI3e箔が多く
利用されている。
Be箔を用いたX線透過窓としては、例えば特開昭63
−263488号公報及び特開昭63−273100号
公報に示されたものなどがある。これらのX線透過窓は
、前者が円蓋形状の窓Wi造とすることにより、後者が
支持部材との気密接き部でX線透過膜の膜厚を厚くする
ことにより、それぞれ$7!造的に機械的強度を高めて
いる。
−263488号公報及び特開昭63−273100号
公報に示されたものなどがある。これらのX線透過窓は
、前者が円蓋形状の窓Wi造とすることにより、後者が
支持部材との気密接き部でX線透過膜の膜厚を厚くする
ことにより、それぞれ$7!造的に機械的強度を高めて
いる。
ここで、X線エネルギーがI AeV以下である軟X線
領域のX線を透過させる軟X線透過窓を、Be箔を用い
て製造するためには、厚さ1〜3μ肩のBe箔を必要と
する。しかし、商業的に入手可能なBe箔は厚さ4〜■
5pz以上のものであり、またBe箔は焼結加工材料で
あるため耐真空性が保証されるのは厚さ8.51JJ以
上のものである。
領域のX線を透過させる軟X線透過窓を、Be箔を用い
て製造するためには、厚さ1〜3μ肩のBe箔を必要と
する。しかし、商業的に入手可能なBe箔は厚さ4〜■
5pz以上のものであり、またBe箔は焼結加工材料で
あるため耐真空性が保証されるのは厚さ8.51JJ以
上のものである。
また、軟X線透過窓のBe箔は厚さが非常に薄くなるた
め、例えばろう付け接合など、支持部材への気密接合方
法は技術的に困難である。これに対して、例えば特開昭
63−314500号公報に示されたものと同様に、B
e箔の周縁部を押さえ板によって金属基板に押さえ付け
る方法もあるが、この方法では、X線透過頭域が広くな
るとBe箔の支持に限界が生じてしまう。
め、例えばろう付け接合など、支持部材への気密接合方
法は技術的に困難である。これに対して、例えば特開昭
63−314500号公報に示されたものと同様に、B
e箔の周縁部を押さえ板によって金属基板に押さえ付け
る方法もあるが、この方法では、X線透過頭域が広くな
るとBe箔の支持に限界が生じてしまう。
一方、Be箔以外の材料を用いた軟X線透過窓としては
、例えば特開昭63 − 298200号公報に示され
た軟X線顕微鏡観察用試料容器に用いられるものがある
。この軟X線透過窓は、炭素,酸素及びグイ素を主戒分
とする自己支持性薄膜を有するものである。このもので
は、膜材料の持つ機械的強度のみによって、一意的にX
8!透過面積(観察可能面積〉が決められてしまう。
、例えば特開昭63 − 298200号公報に示され
た軟X線顕微鏡観察用試料容器に用いられるものがある
。この軟X線透過窓は、炭素,酸素及びグイ素を主戒分
とする自己支持性薄膜を有するものである。このもので
は、膜材料の持つ機械的強度のみによって、一意的にX
8!透過面積(観察可能面積〉が決められてしまう。
また、特開昭61145999号公報にζよ、X線透過
物質のRj層とX線吸収物質の薄層とを交互に密接配列
して固定するものが示されている。しかし、このものは
、外周部を合成樹脂薄層により被覆するのみなので、グ
リッドと直角方向の力に対して変形を許すことになり、
耐真空性及び高温特性は高くない。
物質のRj層とX線吸収物質の薄層とを交互に密接配列
して固定するものが示されている。しかし、このものは
、外周部を合成樹脂薄層により被覆するのみなので、グ
リッドと直角方向の力に対して変形を許すことになり、
耐真空性及び高温特性は高くない。
[発明が解決しようとする課題]
上記のような従来の軟X線透過窓においては、Be箔を
軟X線透過材料とするのは、箔の厚さ及び支持部材l\
の支持の点から実現が困難であり、また他の軟X線透過
材料を用いた場合にも、1!1械的強度が得られず、軟
X線の透過面積を大きくすることができないなどの問題
点があり、これらの問題点を解決しなければならないと
いう課題を有していた。
軟X線透過材料とするのは、箔の厚さ及び支持部材l\
の支持の点から実現が困難であり、また他の軟X線透過
材料を用いた場合にも、1!1械的強度が得られず、軟
X線の透過面積を大きくすることができないなどの問題
点があり、これらの問題点を解決しなければならないと
いう課題を有していた。
この発明は、上記のような課題を解決するためになされ
たもので、機械的強度を向上させることができるととも
に、十分な軟X線の透過面積を確保することができる軟
X線透過窓を71−ることを目的とする。
たもので、機械的強度を向上させることができるととも
に、十分な軟X線の透過面積を確保することができる軟
X線透過窓を71−ることを目的とする。
[課題を解決するための千Fl. ]
この発明に係る軟X線透過窓は、軟X線透過膜が戊膜さ
れている支持部材に、多数の透過孔を設けたものである
。
れている支持部材に、多数の透過孔を設けたものである
。
[作用]
この発明においては、軟X線を透過させるための透過孔
を支持部材に設けることにより、軟X線透過膜の支持部
材への接き部を、軟X線透過膜の全体にわたって確保す
る。
を支持部材に設けることにより、軟X線透過膜の支持部
材への接き部を、軟X線透過膜の全体にわたって確保す
る。
[実施例コ
以下、この発明をその一実施例を示す図に基づいて説明
する。
する。
第1図はこの発明の一実施例による軟X線透過窓の断面
図、第2図は第■図の軟X線透過窓を部分的に拡大して
示す平面図である。
図、第2図は第■図の軟X線透過窓を部分的に拡大して
示す平面図である。
図にむいて、符号(1)は支持部材としてのシリコン基
板であり、このシリコン基板(1)には多数の円形の透
過孔(1&)が形戒されている。また、このジリコン基
板(1)には、<100>又は<ioi>配向性のもの
が用いられている.(2)はシリコン基板(1)上に被
膜されている軟X線透過膜であり、この軟X線透過膜(
2)は13N膜(ボロン窒化gI)からなっている。(
3)は軟X線透過膜(2〉上に蒸着されているアルミニ
ウムからなる保護膜であり、この保護膜(3)は−e要
な軟X線透過性を得るために数100人以下の膜厚にさ
れている。
板であり、このシリコン基板(1)には多数の円形の透
過孔(1&)が形戒されている。また、このジリコン基
板(1)には、<100>又は<ioi>配向性のもの
が用いられている.(2)はシリコン基板(1)上に被
膜されている軟X線透過膜であり、この軟X線透過膜(
2)は13N膜(ボロン窒化gI)からなっている。(
3)は軟X線透過膜(2〉上に蒸着されているアルミニ
ウムからなる保護膜であり、この保護膜(3)は−e要
な軟X線透過性を得るために数100人以下の膜厚にさ
れている。
次に、この軟X線透過窓の製造方法を説明する。
第3図(a)〜(e)は第1図の軟X線透過窓の製造方
法を工程順に示す断面図である。
法を工程順に示す断面図である。
まず、原料ガスにジボランを用いた400〜5 0 0
’CのCVD (気相戒長)法によって、厚さ1〜数
μlのアモルファスBNlliを、シリコン基板(1)
上に、軟X線透過膜(2)として成膜する《第3図(a
)》。
’CのCVD (気相戒長)法によって、厚さ1〜数
μlのアモルファスBNlliを、シリコン基板(1)
上に、軟X線透過膜(2)として成膜する《第3図(a
)》。
次に、軟X線透過膜(2)上及びシリコン基板(1)の
反対面上に、クロl\下地膜(ll]示せず)を介して
金膜からなる第1のボ1・レジスl−i(4)を設ける
。そして、軟X線透過膜〈2)に接しない(!tllの
第1のホトレジス1・膜(4)に、第2のホ1〜レジス
ト膜(5)をマスクとしてエッチングを行うことにより
、多数の円形状のマスクパターンを形成する《第3図(
b)》。
反対面上に、クロl\下地膜(ll]示せず)を介して
金膜からなる第1のボ1・レジスl−i(4)を設ける
。そして、軟X線透過膜〈2)に接しない(!tllの
第1のホトレジス1・膜(4)に、第2のホ1〜レジス
ト膜(5)をマスクとしてエッチングを行うことにより
、多数の円形状のマスクパターンを形成する《第3図(
b)》。
この後、第2のホ1・レジスI−膜(5)を除去し、マ
スクパターンが形成された第1のホトレジスト膜(4)
をマスクとしてシリコン基板(1)をエツチングする。
スクパターンが形成された第1のホトレジスト膜(4)
をマスクとしてシリコン基板(1)をエツチングする。
エッチング液としては、硝酸,沸酸及び酢酸混合液(6
:2:2,40℃)又は水酸化カルシウム溶液〈4.5
モル,85℃)を用いればよい。
:2:2,40℃)又は水酸化カルシウム溶液〈4.5
モル,85℃)を用いればよい。
このウェッ1〜エッチング工程により、シリコン基板(
1)に多数の円形の透過孔(1a)が形成される《第3
図(C)》。
1)に多数の円形の透過孔(1a)が形成される《第3
図(C)》。
ここで、透過孔(1a)の開口径は、シリコン基板(1
)の板厚に依存するが、例えば板厚0.3zzの場合、
開口径は1.50が蝕刻可能な値である。
)の板厚に依存するが、例えば板厚0.3zzの場合、
開口径は1.50が蝕刻可能な値である。
従って、径ピッチを1.45〜1.47xxとすれば、
X線透過領域中のジリコン基板く1)の占有面積率を、
約20%以内に抑えることができる。
X線透過領域中のジリコン基板く1)の占有面積率を、
約20%以内に抑えることができる。
次に、第lのホトレジスト膜(4〉を除去し《第3図(
d)>.軟X線透過膜(2)上に、保護膜(3)を蒸着
させる《第3図(e)》。
d)>.軟X線透過膜(2)上に、保護膜(3)を蒸着
させる《第3図(e)》。
このようにして製造された軟X線透過窓においては、軟
X線透過膜(2)としてBNgIを用い、かつ多数の透
過孔〈1a)から軟X線を透過させるようにしたので、
軟X線の透過性が良く、またシリコン基板(1〉の残部
が軟X線透過膜《2)との接合部となるため、耐圧性及
び耐真空性など機械的強度が強くなる。さらに、透過孔
(la)をシリコン基板(1〉に多数設け、軟X線の透
過面積を確保するようにしたので、軟X線透過膜(2)
の材質等によらず、透過頑域を広くすることができる。
X線透過膜(2)としてBNgIを用い、かつ多数の透
過孔〈1a)から軟X線を透過させるようにしたので、
軟X線の透過性が良く、またシリコン基板(1〉の残部
が軟X線透過膜《2)との接合部となるため、耐圧性及
び耐真空性など機械的強度が強くなる。さらに、透過孔
(la)をシリコン基板(1〉に多数設け、軟X線の透
過面積を確保するようにしたので、軟X線透過膜(2)
の材質等によらず、透過頑域を広くすることができる。
また、上記実施例では軟X線透過膜(2)としてBN膜
を用いたため、耐薬品性及び耐高温性(<400℃)に
も殴れている。
を用いたため、耐薬品性及び耐高温性(<400℃)に
も殴れている。
さらに、上記実施例ではアルミニウl\からなる保護膜
(3)を軟X線透過膜(2)上に設けたので、微小リー
クの原因となるピンホールを11止することができ、ま
たアルミニウムは熟伝導・性が良いので、膜温度上昇を
防止できる。
(3)を軟X線透過膜(2)上に設けたので、微小リー
クの原因となるピンホールを11止することができ、ま
たアルミニウムは熟伝導・性が良いので、膜温度上昇を
防止できる。
さらにまた、特開昭63− 314499号公報には、
X線透過領域をくり抜いた金属基板に、縦桟,横桟1寸
きのサポートを設け、その上にX線透過箔を設けるもの
が示されているが、このものでは、厚さが1〜2μlの
箔を桟に密着させるのが極めて困難であり、また桟を微
小間隔に多数設けるのも困難である。これに対して、上
記実施例のものでは、シリコン基板(1)に軟X線透過
rIA(2)を成膜した後に、透過孔(la)を設けて
いるとともに、マスクパターンによるエッチングで透過
孔(1a)を設けているので、シリコン基板(1)と軟
X線透過膜(2)との密着性に優れ,かつ透過面積も容
易にコントロールできる。
X線透過領域をくり抜いた金属基板に、縦桟,横桟1寸
きのサポートを設け、その上にX線透過箔を設けるもの
が示されているが、このものでは、厚さが1〜2μlの
箔を桟に密着させるのが極めて困難であり、また桟を微
小間隔に多数設けるのも困難である。これに対して、上
記実施例のものでは、シリコン基板(1)に軟X線透過
rIA(2)を成膜した後に、透過孔(la)を設けて
いるとともに、マスクパターンによるエッチングで透過
孔(1a)を設けているので、シリコン基板(1)と軟
X線透過膜(2)との密着性に優れ,かつ透過面積も容
易にコントロールできる。
また、実開昭63− 177799号公報及び実開昭6
3177800号公報には、高熱伝導材料からなる格子
状又はメッシュ状の桟を、X線透過窓材r1に一体的に
設け、桟の周縁部を冷却することにより、X線透過窓部
分の温度上昇を抑えるX線透過窓が示されているが、こ
のものではX線透過窓材料を特定しないので、耐真空性
,耐放射線及び軟X線透過1シ性の期待効果は得られな
い。これに対して上記実施例のBN膜は、十分な耐真空
性,耐放射線及び軟X線透過特性を得られる。
3177800号公報には、高熱伝導材料からなる格子
状又はメッシュ状の桟を、X線透過窓材r1に一体的に
設け、桟の周縁部を冷却することにより、X線透過窓部
分の温度上昇を抑えるX線透過窓が示されているが、こ
のものではX線透過窓材料を特定しないので、耐真空性
,耐放射線及び軟X線透過1シ性の期待効果は得られな
い。これに対して上記実施例のBN膜は、十分な耐真空
性,耐放射線及び軟X線透過特性を得られる。
なお、上記実施例ではウェットエッチングにより透過孔
(1.a)を形戒したが、ドライエッチングでもよい。
(1.a)を形戒したが、ドライエッチングでもよい。
また、上記実施例では円形の透過孔(la)を示したが
、微細なマスクパターンによる蝕刻が可能な範囲であれ
ば、その形状は特に限定されない。
、微細なマスクパターンによる蝕刻が可能な範囲であれ
ば、その形状は特に限定されない。
さらに、透過孔(1a)の大きさ′IJf”?に限定さ
れない。但し、上記実施例の軟X線透過膜(2)の機械
的強度は、各透過孔(1a)の周長に反比例するので、
開口径はなるべく小さくするのが好ましく、また軟X線
透過率を向上させるために、できるだけ多数設けるのが
好ましい。
れない。但し、上記実施例の軟X線透過膜(2)の機械
的強度は、各透過孔(1a)の周長に反比例するので、
開口径はなるべく小さくするのが好ましく、また軟X線
透過率を向上させるために、できるだけ多数設けるのが
好ましい。
さらにまた、上記実施例ては支持部材としてシリコン基
板(1)を示したが、透過孔(1a)の開口比を高くと
ることができる機械的強度の高い高溶融点金属材料、例
えばモリブデンやタングステンからなるものなどであっ
てムよい。しかし、透過孔をエッチングにより設ける場
き、支持部材は、その食刻速度が軟X線透過膜材利より
も速いものでなくてはならない。
板(1)を示したが、透過孔(1a)の開口比を高くと
ることができる機械的強度の高い高溶融点金属材料、例
えばモリブデンやタングステンからなるものなどであっ
てムよい。しかし、透過孔をエッチングにより設ける場
き、支持部材は、その食刻速度が軟X線透過膜材利より
も速いものでなくてはならない。
また、上記実施例では軟X線透過膜(2)としてBN膜
からなるものを示したが、例えばパリレン膜など、上記
実施例以外のものであっても適用できる。
からなるものを示したが、例えばパリレン膜など、上記
実施例以外のものであっても適用できる。
[発明の効果]
以上説明したように、この発明の軟X線透過窓は、軟X
線透過膜が成膜された支持部材に、軟X線を透過させる
ための多数の透過孔を設けたので、軟X線透過膜の全体
にわたって支持部材への接き部を確保でき、こitによ
り全体の機械的強度を向上させることができるとともに
、軟X線の透過面積を十分に確保することができるなど
の効果を奏する。
線透過膜が成膜された支持部材に、軟X線を透過させる
ための多数の透過孔を設けたので、軟X線透過膜の全体
にわたって支持部材への接き部を確保でき、こitによ
り全体の機械的強度を向上させることができるとともに
、軟X線の透過面積を十分に確保することができるなど
の効果を奏する。
第1図はこの発明の一実施例による軟X線透過窓の断面
図、第2図は第1図の軟X線透過窓の一部を拡大して示
す平面図、第3図(a)〜(e)は第1図の軟X線透過
窓の製造方法を工程順に示す断面図である。 図において、(1)はシリコン基板(支持部材)、(1
a)は透過孔、〈2)は軟X線透過膜である.なお、各
図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。 2:軟メ3蕩**五か月5【 溶3図
図、第2図は第1図の軟X線透過窓の一部を拡大して示
す平面図、第3図(a)〜(e)は第1図の軟X線透過
窓の製造方法を工程順に示す断面図である。 図において、(1)はシリコン基板(支持部材)、(1
a)は透過孔、〈2)は軟X線透過膜である.なお、各
図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。 2:軟メ3蕩**五か月5【 溶3図
Claims (1)
- 多数の透過孔が設けられている支持部材と、この支持部
材上に成膜されている軟X線透過膜とを備えていること
を特徴とする軟X線透過窓。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24173889A JPH03105300A (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | 軟x線透過窓 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24173889A JPH03105300A (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | 軟x線透過窓 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03105300A true JPH03105300A (ja) | 1991-05-02 |
Family
ID=17078807
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24173889A Pending JPH03105300A (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | 軟x線透過窓 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03105300A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001307669A (ja) * | 2000-04-21 | 2001-11-02 | Shimadzu Corp | 軟x線発生装置及びx線検査装置 |
| WO2005029531A1 (ja) * | 2003-09-16 | 2005-03-31 | Hamamatsu Photonics K.K. | X線管 |
| JP2006162535A (ja) * | 2004-12-10 | 2006-06-22 | Ushio Inc | 電子ビーム管 |
| JP2009058519A (ja) * | 2001-03-20 | 2009-03-19 | Advanced Electron Beams Inc | X線照射装置 |
| JP2020507085A (ja) * | 2017-01-18 | 2020-03-05 | オックスフォード インストゥルメンツ テクノロジーズ オサケユイチア | 放射線窓 |
-
1989
- 1989-09-20 JP JP24173889A patent/JPH03105300A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001307669A (ja) * | 2000-04-21 | 2001-11-02 | Shimadzu Corp | 軟x線発生装置及びx線検査装置 |
| JP2009058519A (ja) * | 2001-03-20 | 2009-03-19 | Advanced Electron Beams Inc | X線照射装置 |
| WO2005029531A1 (ja) * | 2003-09-16 | 2005-03-31 | Hamamatsu Photonics K.K. | X線管 |
| JPWO2005029531A1 (ja) * | 2003-09-16 | 2007-11-15 | 浜松ホトニクス株式会社 | X線管 |
| US7526069B2 (en) | 2003-09-16 | 2009-04-28 | Hamamatsu Photonics K.K. | X-ray tube |
| JP4969851B2 (ja) * | 2003-09-16 | 2012-07-04 | 浜松ホトニクス株式会社 | X線管 |
| JP2006162535A (ja) * | 2004-12-10 | 2006-06-22 | Ushio Inc | 電子ビーム管 |
| JP2020507085A (ja) * | 2017-01-18 | 2020-03-05 | オックスフォード インストゥルメンツ テクノロジーズ オサケユイチア | 放射線窓 |
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