JPH0311682Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0311682Y2 JPH0311682Y2 JP15173385U JP15173385U JPH0311682Y2 JP H0311682 Y2 JPH0311682 Y2 JP H0311682Y2 JP 15173385 U JP15173385 U JP 15173385U JP 15173385 U JP15173385 U JP 15173385U JP H0311682 Y2 JPH0311682 Y2 JP H0311682Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pin
- light
- constant speed
- constant
- belt
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 9
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 5
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本考案は、ICのピンの並列方向の曲がりや欠
落等の異状を判別するための検査装置に関するも
のである。
落等の異状を判別するための検査装置に関するも
のである。
（従来の技術）
DIP型のICはパツケージの両側に多数のピンを
有し、これが欠落していたり曲がつていたりする
と、その後の工程で支障を生ずる。ピン状態の検
査装置は公知であるが、高速度で正確な検査を行
なう装置は存在していなかつた。
有し、これが欠落していたり曲がつていたりする
と、その後の工程で支障を生ずる。ピン状態の検
査装置は公知であるが、高速度で正確な検査を行
なう装置は存在していなかつた。
（技術的課題）
そこで本考案はICピンの並列方向の曲がりや
欠落等の異状を高速度で正確に検出することがで
きるICピンの検査装置を提供するものである。
欠落等の異状を高速度で正確に検出することがで
きるICピンの検査装置を提供するものである。
（技術的手段）
前記目的を達する本考案はガイドレール上を一
定の速度で走行させるベルト及びその駆動用プー
リからなる等速走行機構と、ICのピンの並列方
向における曲がりや欠落等の異状を判別するた
め、等速走行するICのピン側方からビーム光を
照射する投光器、レールの下部に位置しビーム光
を反射させる部材、その反射したビーム光を受光
してピンの状態の信号を得る受光器からなるピン
状態の検出器構と、検出機構の全体或いは投光器
と反射部材とを支持し、ピンの基端から先端まで
の適当な位置にビーム光の照射位置を変えるビー
ム位置調整機構とを有するICピンの検査装置で
ある。
定の速度で走行させるベルト及びその駆動用プー
リからなる等速走行機構と、ICのピンの並列方
向における曲がりや欠落等の異状を判別するた
め、等速走行するICのピン側方からビーム光を
照射する投光器、レールの下部に位置しビーム光
を反射させる部材、その反射したビーム光を受光
してピンの状態の信号を得る受光器からなるピン
状態の検出器構と、検出機構の全体或いは投光器
と反射部材とを支持し、ピンの基端から先端まで
の適当な位置にビーム光の照射位置を変えるビー
ム位置調整機構とを有するICピンの検査装置で
ある。
（考案の作用）
本考案は、等速走行機構と、ピン状態の検出機
構及びビーム位置調整機構とから成るため、等速
走行するICのピンにより生じ、受光器で受光さ
れるビームのパルスはピン間隔が揃つていれば常
に一定で、異状の検出も容易になり、ビーム光の
投光位置の調整が可能であるから、最も検出しや
すい位置を選んで最適の検査が行なえる。故に等
速走行機構で設定するICの移動速度で正確なIC
ピンの状態の検査が行なえるものである。
構及びビーム位置調整機構とから成るため、等速
走行するICのピンにより生じ、受光器で受光さ
れるビームのパルスはピン間隔が揃つていれば常
に一定で、異状の検出も容易になり、ビーム光の
投光位置の調整が可能であるから、最も検出しや
すい位置を選んで最適の検査が行なえる。故に等
速走行機構で設定するICの移動速度で正確なIC
ピンの状態の検査が行なえるものである。
（実施例）
本考案を実施例により詳細に説明すると、各図
中、１は装置基台１１上に設置したガイドレー
ル、２は等速走行機構４のベルト、３，３は駆動
用プーリで、ガイドレール１上に跨架状態で送給
されるIC５をベルト２により一定速度で走行さ
せるため、実施例のものはコツグベルト式の前記
ベルト２の歯２ａとかみあう歯３ａを有し、パル
スモータ１２により駆動される。２ｂはIC５を
移動しやすくするためベルト周面に添設したスポ
ンジその他の柔軟材を示す。１３，１３及び１
４，１４は各一対のセンサボデイであり、IC５
が検出機構９の領域に入つたこと及び領域外へ出
たことを検出する。
中、１は装置基台１１上に設置したガイドレー
ル、２は等速走行機構４のベルト、３，３は駆動
用プーリで、ガイドレール１上に跨架状態で送給
されるIC５をベルト２により一定速度で走行さ
せるため、実施例のものはコツグベルト式の前記
ベルト２の歯２ａとかみあう歯３ａを有し、パル
スモータ１２により駆動される。２ｂはIC５を
移動しやすくするためベルト周面に添設したスポ
ンジその他の柔軟材を示す。１３，１３及び１
４，１４は各一対のセンサボデイであり、IC５
が検出機構９の領域に入つたこと及び領域外へ出
たことを検出する。
６ａ，６ｂはIC５のピン５ａに対し左右両側
からビーム光を照射する投光器で、逆門型に形成
されたフレーム１５の内側に対向配置してある
（第４図参照）。この投光器６，６ａ，６ｂとして
は光フアイバーを用いる透過型のものを使用して
いる。７，１７はプリズムにより形成された上下
の反射部材、７ａ，１７ａは一側のビーム光を反
射する反射面、７ｂ，１７ｂは他側のビーム光を
反射する反射面、８ａ，８ｂは下部反射部材１７
からの反射ビーム光を受光する光導電素子等の受
光器、また１８は上下プリズム間の光路を覆うフ
ードで、以上の投光器６乃至受光器８はピン５ａ
の状態の検出機構９を構成する。
からビーム光を照射する投光器で、逆門型に形成
されたフレーム１５の内側に対向配置してある
（第４図参照）。この投光器６，６ａ，６ｂとして
は光フアイバーを用いる透過型のものを使用して
いる。７，１７はプリズムにより形成された上下
の反射部材、７ａ，１７ａは一側のビーム光を反
射する反射面、７ｂ，１７ｂは他側のビーム光を
反射する反射面、８ａ，８ｂは下部反射部材１７
からの反射ビーム光を受光する光導電素子等の受
光器、また１８は上下プリズム間の光路を覆うフ
ードで、以上の投光器６乃至受光器８はピン５ａ
の状態の検出機構９を構成する。
１０はビーム位置の調整機構で、実施例のもの
は前記逆門型フレーム１５と連続部材１９により
一体的に設けられており、その部材１９は公知の
微動装置のスライダ２０に結合されている。２１
は調整摘みで、スライダ２０を上下動させるもの
である。また各図中２２は取付ステー、２３はベ
ルトガイド、２４はモータハウジングを示す。
は前記逆門型フレーム１５と連続部材１９により
一体的に設けられており、その部材１９は公知の
微動装置のスライダ２０に結合されている。２１
は調整摘みで、スライダ２０を上下動させるもの
である。また各図中２２は取付ステー、２３はベ
ルトガイド、２４はモータハウジングを示す。
以上の構成において、IC５は本案装置に送給
され、センサボデイ１３により検出された後、等
速走行機構４に入り、その柔軟材２ｂによりガイ
ドレール１上を一定の速度で走行させられる結
果、そのピン５ａの並列方向の配列が完全であり
かつ曲がつていなければ、受光器８ａ，８ｂによ
り受光されるビーム光は整然と揃つた例えば、パ
ルスとして表示手段に表示される。ビーム光が照
射される位置はピン５ａの先端に近い方が、結果
はより正確である。そのため本案装置は位置調整
機構１０を備えている、これによりICの種類特
にピンの長さが異なるICに変つた場合にこれに
対応するのが容易である。しかして、ピン５ａが
ピン並列方向に曲がりピツチ異常のあるIC５が
検出機構９を通過した場合は隣接するピン５ａ間
の間隔が変つているから、正常なピン配列による
場合とビーム光を遮断する時間間隔も変わるた
め、パルスに乱れが生じそのIC５のピン配列に
並列方向の異状のあることが検出されるのであ
る。
され、センサボデイ１３により検出された後、等
速走行機構４に入り、その柔軟材２ｂによりガイ
ドレール１上を一定の速度で走行させられる結
果、そのピン５ａの並列方向の配列が完全であり
かつ曲がつていなければ、受光器８ａ，８ｂによ
り受光されるビーム光は整然と揃つた例えば、パ
ルスとして表示手段に表示される。ビーム光が照
射される位置はピン５ａの先端に近い方が、結果
はより正確である。そのため本案装置は位置調整
機構１０を備えている、これによりICの種類特
にピンの長さが異なるICに変つた場合にこれに
対応するのが容易である。しかして、ピン５ａが
ピン並列方向に曲がりピツチ異常のあるIC５が
検出機構９を通過した場合は隣接するピン５ａ間
の間隔が変つているから、正常なピン配列による
場合とビーム光を遮断する時間間隔も変わるた
め、パルスに乱れが生じそのIC５のピン配列に
並列方向の異状のあることが検出されるのであ
る。
（考案の効果）
従つて本考案によれば、ICはピン状態の検出
機構を等速で走行するので、受光器で受光される
ビーム光のパルスは極めて正確に揃つており、そ
のためピンの配列を正確に検査することができ、
また前記検出機構はビーム光の位置調整機構によ
り移動できるため最も正確に検査し得るピン先端
にビーム光の照射位置を合わせて更に正確を期す
ことができ、また被検ICの種類が変わつても僅
かな調整で支障なく検査が行なえるなど実用上の
効果は大きい。
機構を等速で走行するので、受光器で受光される
ビーム光のパルスは極めて正確に揃つており、そ
のためピンの配列を正確に検査することができ、
また前記検出機構はビーム光の位置調整機構によ
り移動できるため最も正確に検査し得るピン先端
にビーム光の照射位置を合わせて更に正確を期す
ことができ、また被検ICの種類が変わつても僅
かな調整で支障なく検査が行なえるなど実用上の
効果は大きい。
図面は本考案に係るICピンの検査装置の１実
施例を示すもので第１図は側面図、第２図は平面
図、第３図は要部斜視図、第４図は検出機構の横
断説明図である。 １……ガイドレール、２……ベルト、３……駆
動用プーリ、４……等速走行機構、５……IC、
６……投光器、７……反射部材、８……受光器、
９……ピン状態の検出機構、１０……ビーム位置
の調整機構。
施例を示すもので第１図は側面図、第２図は平面
図、第３図は要部斜視図、第４図は検出機構の横
断説明図である。 １……ガイドレール、２……ベルト、３……駆
動用プーリ、４……等速走行機構、５……IC、
６……投光器、７……反射部材、８……受光器、
９……ピン状態の検出機構、１０……ビーム位置
の調整機構。
Claims (1)
- ガイドレール上を一定の速度でICを走行させ
るベルト及びその駆動用プーリからなる等速走行
機構と、ICのピンの並列方向における曲がりや
欠落等の異状を判別するため、等速走行するIC
のピンの側方からビーム光を照射する投光器、レ
ールの下部に位置しビーム光を反射させる部材、
その反射したビーム光を受光してピンの状態の信
号を得る受光器からなるピン状態の検出器構と、
検出機構の全体或いは投光器と反射部材を支持
し、ピンの基端から先端までの適当な位置にビー
ム光の照射位置を変えるビーム位置調整機構とを
有するICピンの検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15173385U JPH0311682Y2 (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15173385U JPH0311682Y2 (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6259809U JPS6259809U (ja) | 1987-04-14 |
| JPH0311682Y2 true JPH0311682Y2 (ja) | 1991-03-20 |
Family
ID=31069070
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15173385U Expired JPH0311682Y2 (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0311682Y2 (ja) |
-
1985
- 1985-10-02 JP JP15173385U patent/JPH0311682Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6259809U (ja) | 1987-04-14 |
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