JPH03125965A - Ｘ―ｙスキャン装置の記録方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は被検体に対してＸ−Ｙ座標位置により探触子
のＸ−Ｙスキャン及び探傷を行い、該スキャン探傷を行
った結果を記録装置のＸ軸及びＹ軸を同一の縮小率又は
拡大率により相似記録させるＸ−Ｙスキャン装置の記録
方法に関するものである。

［従来の技術］ 従来被検材を超音波Ｘ−Ｙスキャン装置により検査し、
この検査結果を記録する方法としては次のようなものが
ある。

（１）まず最も簡便な方法として、リニアレコーダを用
い、探触子のスキャン方向や位置に無関係に単純に時間
経過に合わせ直線状に記録する方法がある。この方法は
Ａスコープと同一形式の記録で、横軸は時間を、縦軸は
超音波エコー強度等を記録する。

（２）またＸ−Ｙレコーダを用い、超音波Ｘ−Ｙスキャ
ン装置の駆動に同調させ、（例えばパルスモータ等によ
り同調させる）Ｘ軸（又はＹ軸）はＸ−Ｙレコーダのス
パンを被検材の寸法に合わせて調整し縮小させ、Ｙ軸（
又はＸ軸）はＸ−Ｙレコーダの送り速度（ピッチ）を小
さくして、リアルタイムで記録する方法もある。

第３図はこの従来のＸ−Ｙスキャン装置の記録方法を説
明する図であり、１は探触子、２は例えば鋼板等の被検
材、５は接続ケーブル、６は走査駆動機構、ＩＯＡは探
傷走査装置、１７はＸ−Ｙレコーダ、１８は記録用紙で
ある。

第３図の探傷走査装置１０Ａにおいては、例えば図示さ
れない水槽内に被検材２を設置し、被検材２の上部の水
中に設置された探触子１を走査駆動機構６により、被検
材２の左端より右端までＸ軸上の座標Ｘの値が増加する
方向に移動させ、次に座標ｙの値を少し増加させてから
被検材２の右端から左端までＸ軸上の座標Ｘの値が減少
する方向に移動させる。次にまた座標ｙの値を少し増加
させ探触子１をＸ軸上の座標Ｘが増加する方向に走査さ
せるという動作を繰り返し、被検材２の上端より下端ま
で（即ち被検材２の全面について）探傷走査を行う。

これに対してＸ−Ｙレコーダ１７は、その記録用紙１８
の紙幅が一定であるので、被検材２のＸ軸方向の寸法に
合わせてＸ−Ｙレコーダ１７のスパンを調整縮小して、
探触子２のＹ軸上の移動に合わせてＸ−Ｙレコーダ１７
の用紙送り速度（ピッチ）を制御して、実時間記録を行
っていた。

また記録用紙１８上には常時Ｘ軸及びＹ軸の走査を実施
した記録を行い、欠陥位置においては記録を行わない部
分、即ち記録の抜けている空白部を生ぜしむことにより
、探傷走査の記録と欠陥位置の記録を共に表示する方法
が一般的である。

（３）さらに大型のＸ−Ｙスキャン装置においては、マ
イクロプロセッサ（以下ＣＰＵという）及びドツトプリ
ンタ又は放電記録型の記録装置を設け、ＣＰＵはＸ−Ｙ
スキャン装置のＸ−Ｙ座標情報に基づき、Ｘ軸の縮小率
及びＹ軸の送り（ピッチ）間隔を演算し、実時間か又は
一定の演算時間後に記録装置に記録させる。またＣＲ７
表示器にＣスコープ画面として表示し、これをハードコ
ピーして記録させる等の動作を行う。なお、被検材が大
型寸法の場合は、ＣＲ７表示画像のハードコピーでは縮
小率（最大値が１で縮小しない場合であり、最小値はＯ
となる。従って１≧縮小率≧Ｏとなる。）が小さくなり
欠陥位置がわかりにくいため、欠陥位置は別に数値表示
で示す等の手段を有する記録方法もある。

［発明が解決しようとする課題］ 上記のような従来のＸ−Ｙスキャン装置の記録方法では
次のような問題点があった。

（１）単純にリニアレコーダを用いた記録方法では、欠
陥位置の算出は記録用紙の送りから逆算するため直読で
きず、かつ欠陥位置が不明確になる等の問題がある。

（２）Ｘ−Ｙレコーダを用い、ｘ−ｙスキャン装置と同
調させ、ｘ−ｙレコーダのＸ軸はスパン調整を、Ｙ軸は
送り速度をそれぞれ調整して記録する方法においては、
ｘ−ｙレコーダのＸ軸は被検材の寸法とＸ−Ｙスキャン
装置の走査速度を考慮しＸ−Ｙレコーダに装備されたス
パン調整用可変抵抗器で調整するため、実際の縮小率が
不明確となり、同一寸法材でも、探傷機会が異なると、
異なった縮小率の記録となるケースもあり、縮小率の統
−がとれない等の問題がある。

またＸ−ＹレコーダのＹ軸の調整法として主に次の２通
りの方法が用いられている。

その１つは、Ｘ−Ｙスキャン装置の送りピ・ソチに関係
なく、ｘ−ｙレコーダを一定の速度（ピ・ソチ）で動作
させる方法である。この方法においては、被検材の寸法
によって全体を１枚の記録用紙で記録できなかったり、
探傷結果の欠陥位置を把握する場合に、記録紙上のＸ−
Ｙスキャン数（走査線の数）を計数し、この計数値とＸ
−Ｙスキャン装置の実際のピッチ数とを乗算して欠陥位
置を把握せねばならない問題がある。また記録用紙上に
印された欠陥位置と実際の被検材の欠陥位置は記録上の
Ｘ軸とＹ軸の縮小率が異なるために誤認し易い等の問題
もある。

他の１つはＸ−Ｙスキャン装置の送りピ・ツチと被検材
の寸法を考慮しＸ−Ｙレコーダの送りピッチを演算して
記録する方法である。この方法においては、Ｘ軸とＹ軸
の縮小率がそれぞれ異なるため、最初の方法と同様に記
録用紙上に印された欠陥位置と実際の被検材の欠陥位置
はズレが生じ誤認し易い問題がある。

更に被検材の寸法が大きい場合は、必然的にＸ−Ｙレコ
ーダの送りピッチが小さくなり、その結果１スキヤンに
対する走査線の間隔が極めて小さくなって、記録が非常
に見にくくなり、実際は欠陥を検出し記録していても、
検出欠陥が小さいときは、記録される欠陥サイズは判別
不可能の微小点となり、この欠陥を見逃す可能性が大き
いという問題点がある。

（３）Ｘ−Ｙレコーダ又はドツトプリンタもしくは放電
記録器等とＣＲ７表示器付ＣＰＵを備えた大型のＸ−Ｙ
スキャン装置の場合には、スキャン装置のＸ軸／Ｙ軸情
報、被検材の寸法及び探傷諸元の情報に基づき、ＣＰＵ
を用いてＸ軸の縮小率を演算すると共に、Ｙ軸の送りピ
ッチ（間隔）を演算し、実時間又は一定の時間後にレコ
ーダやプリンター等へ記録させる。このとき、Ｘ軸とＹ
軸の縮小率を意識的に同一にして記録しようとすると、
被検体の寸法が大きい場合に、Ｙ軸の走査線間隔が極め
て狭くなり、欠陥を検出しても見落すケースが発生する
。このため走査線間隔の最少値を０．４〜０．５ｎ＋近
傍に限界値として設け、この限界値を越える場合は自動
的にＹ軸の縮小率を変更させる方式を採用している。

従ってこの場合には、被検材の寸法によってＸ軸とＹ軸
の縮小率が同じものや、異なるものが生じること、特に
大寸法のものは殆んどＸ軸とＹ軸の縮小率が異なってし
まうことになる。この縦・横の縮小率が異なると、上記
（２）項の場合と同様に探傷記録チャート上の欠陥位置
と、実際の被検材の欠陥位置にズレが生じ、欠陥位置を
誤認し易い等の問題点がある。

また大型のＸ−Ｙスキャン装置の場合には、スキャン装
置のＸ軸／Ｙ軸情報、被検材の寸法及び探傷諸元の情報
に基づき、ＣＰＵを用いて演算を行い、ＣＲ７表示器に
Ｃスコープ画像を表示させ、この表示画像のハードコピ
ーを採ることにより記録させる方法もある。このハード
コピーによる記録の場合には、特に縮小率が小さくなる
ため、欠陥位置が判りにくくなり、欠陥位置は別途数値
表示で現わす等の手段が用いられている。

従ってこの場合には、大容量の記憶装置が必要となった
り、或いはメモリ・ディスク等を要するため、Ｘ−Ｙス
キャン装置が非常に高価になると共に、ハードコピー記
録用紙の寸法に制限があり、比較的小さな寸法の記録用
紙しかないので、記録結果が判りにくい等の問題点があ
る。

この発明はかかる問題点を解決するためになされたもの
で、Ｘ−Ｙスキャン装置のスキャン探傷結果を記録する
記録装置のＸ軸とＹ軸は同一の縮小率又は拡大率とし、
記録装置の走査線間隔は所定の下限値以上とし、且つ微
小欠陥も記録紙上において容易に判読可能なＸ−Ｙスキ
ャン装置の記録方法を得ることを目的とする。

［課題を解決するための手段］ この第１の発明に係るＸ−Ｙスキャン装置の記録方法は
、被検体に対してＸ−Ｙ座標位置により探触子の水平又
は垂直スキャン制御及び所定の送りピッチによる送り制
御並びに探傷を行ない、該スキャン探傷を行った結果を
記録装置のＸ軸及びＹ軸を同一の縮小率又は拡大率によ
り相似記録させるＸ−Ｙスキャン装置の記録方法におい
て、前記Ｘ−Ｙスキャン装置の送り制御を行う軸方向の
所定の送りピッチ寸法に対応して記録する記録装置の縮
小率又は拡大率を設定する縮小・拡大率設定手段と、前
記設定された記録装置の縮小率又は拡大率に基づき前記
記録装置の走査線間隔が少くとも所定の下限値以上とな
るように、記録装置の１つの走査線に対応するＸ−Ｙス
キャン装置の水平又は垂直スキャンの数を算出する走査
変換率算出手段と、前記算出された記録装置の１つの走
査線に対応する数のＸ−Ｙスキャン装置の水平又は垂直
スキャン探傷を行って得られた被検体の形状及び欠陥位
置情報を一時記憶する記憶手段と、前記一時記憶された
被検体の形状及び欠陥位置情報を記録装置の１つの走査
線上の対応する位置に記録する記録制御手段とを備えた
ものである。

この第２の発明に係るＸ−Ｙスキャン装置の記録方法は
、前記第１の発明において、前記記録装置に縮小して記
録する被検体の欠陥記録は、微小の欠陥についてこれを
所定寸法の欠陥として表示するように記録する記録制御
手段を備えたものである。

この第３の発明に係るＸ−Ｙスキャン装置の記録方法は
、前記第１の発明又は第２の発明において、前記記録装
置は、Ｘ−エンコーダ、もしくはドツトプリンタ、又は
ＣＲＴ表示装置のハードコピー用記録装置であるとする
ものである。

〔作用〕

この第１の発明においては、被検体に対してＸ−Ｙ座標
位置により探触子の水平又は垂直スキャン制御及び所定
の送りピッチによる送り制御並びに探傷を行ない、該ス
キャン探傷を行った結果を記録装置のＸ軸及びＹ軸を同
一の縮小率又は拡大率により相似記録させるＸ−Ｙスキ
ャン装置の記録方法において、縮小・拡大率設定手段に
より前記Ｘ−Ｙスキャン装置の送り制御を行う軸方向の
所定の送りピッチ寸法に対応して記録する記録装置の縮
小率又は拡大率を設定し、次に走査変換率算出手段によ
り前記設定された記録装置の縮小率又は拡大率に基づき
前記記録装置の走査線間隔が少くとも所定の下限値以上
となるように、記録装置の１つの走査線に対応するＸ−
Ｙスキャン装置の水平又は垂直スキャンの数を算出し、
次に記憶手段により前記算出された記録装置の１つの走
査線に対応する数のｘ−Ｙスキャン装置の水平又は垂直
スキャン探傷を行って得られた被検体の形状及び欠陥位
置情報を一時記憶し、次に記録制御手段により前記一時
記憶された被検体の形状及び欠陥位置情報を記録装置の
１つの走査線上の対応する位置に記録する。

この第２の発明においては、前記第１の発明において、
記録制御手段により前記記録装置に縮小して記録する被
検体の欠陥記録は、微小の欠陥についてこれを所定寸法
の欠陥として表示するように記録する。

この第３の発明においては、前記第１の発明又は第２の
発明において、前記記録装置としてＸ−エンコーダ、も
しくはドツトプリンタ、又はＣＲＴ表示装置により記録
を行う。

［実施例コ 第１図はこの発明の一実施例を示すＸ−Ｙスキャン装置
のブロック図であり、１は探触子、２は被検材、３−１
．３−２はＸ軸周とＹ軸用のＡＣサーボモータ、４−１
　、４−２はサーボモータ３−１と３−２にそれぞれ結
合されたＸ軸周とＹ軸用のエンコーダ、５−１　、５−
２は接続ケーブル、１０は上記１〜４−２の機器を内蔵
する探傷走査装置、１１−１．１１−２はＸ軸周とＹ軸
用のサーボモータドライバ、１２−１．１２−２はＸ軸
周とＹ軸用のモータコントローラ、１４はＣＰＵ、入出
力ボート及びメモリ等を内蔵する演算制御部であり、こ
のＸ−Ｙスキャン装置全体の制御を行うと共に、本発明
の走査変換率算出手段、被検体の形状及び欠陥位置情報
を記憶する記憶手段、並びに記録制御手段を含むもので
ある。

１５はデータ入力部であり、このＸ−Ｙスキャン装置が
必要とする設定値等のデータを演算制御部１５に入力す
る。また本発明の記録装置の縮小率又は拡大率を設定す
る縮小・拡大率設定手段を含むものである。１Ｂは演算
制御部１４から出力される記録用デジタルデータをアナ
ログデータに変換して、Ｘ−Ｙレコーダ１７に供給する
ためのＤ／Ａ変換器である。１７はＸ−Ｙレコーダ、■
９はプリンタ、２０は上記１１−１−１９の機器を内蔵
する操作制御装置である。

第２図は本発明に係る探触子の走査と記録装置の走査と
の変換を説明する図である。

第２図を参照し、第１図により本発明の詳細な説明する
。

まず第１図の実施例において、探触子１のＸ軸及びＹ軸
上の位置決めを行う探傷走査装置１０内のＡＣサーボモ
ータ３−１及び３−２は、操作制御装置２０内の演算制
御部１４から出力されモータコントローラ１２−１及び
１２−２、並びにサーボモータドライバ１１−１及び１
１−２を介して供給されるＸ軸周及びＹ軸周サーボモー
タ駆動信号により駆動され、エンコーダ４−１及び４−
２よりＸ軸及びＹ軸上の位置信号をサーボモータドライ
バ１１−１及び１１−２に帰還することによりフィード
バック制御が行われる。そして探触子１からの超音波エ
コー信号は、超音波探傷器１３を介してその探傷結果が
演算制御部１４に供給される。演算制御器１４はデータ
入力部１５を介して入力される被検材の寸法、探傷走査
のＸ軸の送りピッチ、Ｘ−Ｙレコーダの縮小率、用紙幅
、走査線記録間隔の下限値等の探傷走査記録上の諸デー
タに基づき、探触子１の探傷走査制御と超音波探傷器１
３より入力される探傷結果をＡ／Ｄ変換器１Ｂを介して
Ｘ−Ｙレコーダ１７に記録し、またオプションとしてプ
リンタ■９に記録させることもできる。

ここで第１図の実施例においては、探触子１は被検材２
の上下端（即ち被検材２のＹ座標の最小値と最大値）の
間を往復しながら、被検材２の左端から右端（即ち被検
材２のＸ座標の最小値から最大値）まで所定の送りピッ
チにて移動し、被検材２の全面を走査するように制御さ
れる。即ち第１図の走査制御は第３図における場合とＸ
軸とＹ軸が入れ替った制御となっているが、本質的には
同一制動であり、異なるものではない。

まず本発明の目的とするＸ−Ｙ記録仕様について述べる
。

（１）まず被検体の寸法、形状がどのようなものであっ
ても、これをＸ−Ｙスキャンして探傷結果をＸ−Ｙレコ
ーダに記録する場合には、Ｘ−ＹレコーダのＸ軸とＹ軸
とは同一の縮小率とする。従って被検体と相似形の記録
結果が得られるものとする。（２）上記相似縮小されて
記録された記録結果より、微小な欠陥も十分に判読可能
なこと。

（８）また上記相似の記録を保持し、且つ記録装置の走
査線間隔（第３図の従来例ではＸ−Ｙレコーダ１７のＸ
軸上の走査線の間隔）の下限値を０．４〜０．５＋ｕ程
度とし、Ｘ−Ｙレコーダに記録する際の走査線間隔をこ
の下限値以上とすること。

次に本発明は次の方法により上記３つの記録仕様をすべ
て満足させ得ることを説明する。

（１）被検体に対してＸ−Ｙスキャンを行わせるときは
、最初にスキャン装置の送り制御を行う軸（本例ではＸ
輪）方向の送りピッチ（間隔）寸法を設定する。そして
この送りピッチ寸法に対応して記録する記憶装置（Ｘ−
Ｙレコーダ）の縮小率を縮小率設定手段（例えばデータ
入力部１５）により設定する。

次に走査変換算出手段（例えば演算制御部１４）により
、前記設定されたＸ−Ｙレコーダの縮小率を維持し、且
つＸ−Ｙレコーダの走査線（Ｙ軸方向の走査線）間隔を
所定の下限値（０，４〜０．５ｍｍ）以上となるように
、Ｘ−Ｙレコーダの１つの走査線に対応するＸ−Ｙスキ
ャン装置のＹ軸スキャンの数Ｎ　（Ｎは１，２，３．・
・・の整数）を算出する。

換言するとスキャン装置がＹ軸方向のスキャンをＮ回行
うのに対応して、Ｘ−Ｙレコーダは記録走査を１回だけ
行うことになる。この場合Ｘ軸方向の送りピッチ間隔を
大きく、または縮小率が１に近く設定されたときは、Ｙ
軸スキャンの１本毎に１本の記録をしても０．４〜０．
５ｍｍ以上の記録線間隔となることがあるので、このと
きにＮは１となる。

第２図がこのＸ−Ｙスキャン装置により駆動される探触
子の走査と記録装置の走査との変換を説明する図である
。本実施例におけるＸ−Ｙスキャン装置の探触子の走査
は、Ｙ軸の正方向に移動し規定の位置に達すると、その
移動を停止し指定のピッチだけＸ軸方向に移動し、次に
Ｙ軸の負方向に移動し・・・の動作を繰り返す。第２図
の走査変換率ｋ　（ｋ−１／Ｎ）が１の場合には、探触
子の走査と記録装置の走査線の本数は同一である。走査
変換率ｋが１／２の場合には、探触子がＹ軸を往復した
とき（即ち２回の走査のとき）、記録装置は１本の走査
線により記録する。この場合Ｘ−Ｙレコーダの走査記録
方向と装置のスキャンの方向を一致させると、記録する
方向はその都度変わることになり、制御が繁雑となるた
めＸ−Ｙレコーダの記録線は常に同一方向に記録させる
ものとする。

同様に走査変換率ｋが１／ｍの場合には、探触子がｍ回
走査したときに、記録装置は１本の走査線により記録す
る。この走査変換率には当然記録仕様（３）である記録
装置の走査線間隔をその下限値（０，４〜０．５ｍｍ）
以上とし、且つ設定されたＸ−Ｙレコーダの縮小率は維
持されるように計算される。

（２）　　（１）項で説明したような走査線本数の変換
を行った場合に、スキャン装置のＹ軸スキャンのＮ本の
移動において検出した被検材の形状及び欠陥位置のデー
タはすべて記憶しておき、かつそのＮ本のスキャンの中
のどの１本においてでも欠陥を検出したら、その位置は
Ｎ本を１本に集約した欠陥位置として、Ｎ本のスキャン
の終了後のＸ−Ｙレコーダの１本の記録線上の対応する
位置にこれら欠陥位置を記録させる。上記欠陥位置のデ
ータは例えば演算制御部１４に内蔵されるメモリに記憶
される。また欠陥の表示方法は前述の通り記録の抜けて
いる空白部により表示するものでよい。

（３）上記の如くにして記録する場合、記録が縮小され
ているため欠陥寸法が小さく、また大幅に縮小されると
、記録紙上の欠陥は見出だし得ない可能性がある。

このため記録装置の記録サイズが縮小されている場合に
、検出された微小欠陥を記録するときには、実際に検出
された欠陥寸法よりもやや大きい所定寸法の欠陥として
記録するようにしている。

この微小欠陥を拡大して記録するには種々の方法がある
。最も単純な方法は、探傷走査中に欠陥が検出されたら
、その欠陥の検出が終了しても、なお一定寸法ΔＸだけ
欠陥が延長されているものとして、実際の欠陥寸法にΔ
Ｘを加算して記録する方法である。また実際の欠陥寸法
と基準寸法Ｘ　と比較して、欠陥寸法が基準寸法Ｘ　を
越え３　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　ｓる場合には欠陥寸法を
そのまま記録し、そうでない場合には欠陥寸法に代えて
基準寸法Ｘ、により記録する方法がある。この後者の方
法は基準寸法Ｘ　より小さな欠陥のみ拡大されて記録さ
れ、Ｘ　より大きな欠陥は実際の寸法で記録されること
になる。この方法により本装置のスキャンによって被検
体にいかに微小な欠陥が検出されたときでも、記録上で
は常に判定可能な大きさとして記録される。

しかし記録装置の縮小率が１又は１に近い場合は、微小
欠陥は拡大しなくとも記録紙上で容易に判別が可能とな
る。また欠陥部の寸法は実際の寸法を正確に知りたい場
合もある。このような場合を考慮して、本実施例におい
ては記録装置の縮小率が１（即ちＮ−に−１で縮小を行
わない場合）は微小欠陥の拡大をしないで実際の欠陥寸
法のまま記録するようにしている。また記録装置の縮小
率が１に近い場合に、微小欠陥の拡大中止指令をデータ
入力部１５より演算制御部１４に入力し、実際の欠陥寸
法により記録させることもできる。

なお上記実施例では、探触子の走査を記録装置の走査線
に変換する際に縮小する例を示したが、本発明はこれに
限定されるものではなく、逆に拡大するものでもよい。

第２図の走査変換率ｋが２の場合は、探触子の走査距離
Ｌ／２に対して記録装置の走査距離は２倍のＬとなって
おり、この場合の例を示している。

［発明の効果コ 以上のようにこの第１の発明によれば、被検体に対して
Ｘ−Ｙ座標位置により探触子の水平又は垂直スキャン制
御及び所定の送りピッチによる送り制御並びに探傷を行
ない、該スキャン探傷を行なった結果を記録する方法と
して、Ｘ−Ｙスキャン装置の送りピッチ寸法に対応して
記録装置の縮小率又は拡大率を設定し、前記設定された
縮小率又は拡大率による相似記録を行い、且つ記録装置
の走査線間隔が所定の下限値以上となるように記録装置
の走査線本数の変換を自動的に行い、また探傷結果は前
記記録装置の変換された走査線上に縮小又は集約されて
記録されるようにしたので、（１）被検材の寸法が大型
でも、小型でも被検材をそのまま縮小又は拡大した相似
形の走査記録及び欠陥記録が得られ、欠陥の発生位置及
び形状が平面図的な概念により素速く把握することがで
きる。

（２）記録装置の走査線間隔が所定の下限値以上の一定
間隔であるので、従来のように狭過ぎたり、広過ぎたり
することがなく、記録結果が一目瞭然であり、記録結果
の判別性能が向上した。

等の効果が得られる。

またこの第２の発明によれば、前記記録装置に縮小して
記録する被検体の欠陥記録は、微小の欠陥についてこれ
を所定寸法の欠陥として拡大表示して記録するようにし
たので、微小の欠陥も見落すことなく十分に判別可能と
なり、記録結果の信頼性が向上する効果が得られる。

またこの第３の発明によれば、前記記録装置としてＸ−
Ｙレコーダ、もしくはドツトプリンタ、又はＣＲＴ表示
装置のハードコピー用記録装置にも本発明を適用できる
ようにしたので、本発明を適用できる記録装置の種類が
増加したという効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示すＸ−Ｙスキャン装置
のブロック図、第２図は本発明に係る探触子の走査と記
録装置の走査との変換を説明する図、第３図は従来のＸ
−Ｙスキャン装置の記録方法を説明する図である。 図において、１は探触子、２は被検材、３−１．３−２
はＡＣサーボモータ、４−１．４−２はエンコーダ、５
−１．５−２．５は接続ケーブル゛、１０．　ＩＯＡは
探傷走査装置、１１−１．１１−２はサーボモータドラ
イバ、１２−１．１２−２はモータコントローラ、１３
は超音波探傷器、１４は演算制御部、１５はデータ入力
部、１６はＤ／Ａ変換器、１７はｘ−ｙレコーダ、１８
は記録用紙、１９はプリンタ、２０は操作制御装置であ
る。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）被検体に対してＸ−Ｙ座標位置により探触子の水
   平又は垂直スキャン制御及び所定の送りピッチによる送
   り制御並びに探傷を行ない、該スキャン探傷を行った結
   果を記録装置のＸ軸及びＹ軸を同一の縮小率又は拡大率
   により相似記録させるＸ−Ｙスキャン装置の記録方法に
   おいて、 前記Ｘ−Ｙスキャン装置の送り制御を行う軸方向の所定
   の送りピッチ寸法に対応して記録する記録装置の縮小率
   又は拡大率を縮小・拡大率設定手段により設定し、 次に走査変換率算出手段により、前記設定された記録装
   置の縮小率又は拡大率に基づき前記記録装置の走査線間
   隔が少くとも所定の下限値以上となるように、記録装置
   の１つの走査線に対応するＸ−Ｙスキャン装置の水平又
   は垂直スキャンの数を算出し、 次に記録制御手段により、前記算出された記録装置の１
   つの走査線に対応する数のＸ−Ｙスキャン装置の水平又
   は垂直スキャン探傷を行って得られた被検体の形状及び
   欠陥位置情報を記憶手段に一時記憶し、該一時記憶され
   た被検体の形状及び欠陥位置情報を記録装置の１つの走
   査線上の対応する位置に記録することを特徴とするＸ−
   Ｙスキャン装置の記録方法。
2. （２）前記記録装置に縮小して記録する被検体の欠陥記
   録は、微小の欠陥についてこれを所定寸法の欠陥として
   表示するように記録する請求項１記載のＸ−Ｙスキャン
   装置の記録方法。
3. （３）前記記録装置は、Ｘ−Ｙレコーダ、もしくはドッ
   トプリンタ、又はＣＲＴ表示装置のハードコピー用記録
   装置である請求項１又は請求項２記載のＸ−Ｙスキャン
   装置の記録方法。