JPH03145178A - 半導体発光装置とその製造方法 - Google Patents
半導体発光装置とその製造方法Info
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- JPH03145178A JPH03145178A JP28378289A JP28378289A JPH03145178A JP H03145178 A JPH03145178 A JP H03145178A JP 28378289 A JP28378289 A JP 28378289A JP 28378289 A JP28378289 A JP 28378289A JP H03145178 A JPH03145178 A JP H03145178A
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 21
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- 239000007924 injection Substances 0.000 description 7
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Landscapes
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、正負2つの電流注入電極を同一面側にもつこ
とを特徴とする半導体発光装置およびその製造方法に関
するものである。
とを特徴とする半導体発光装置およびその製造方法に関
するものである。
従来の半導体発光装置においては、基板裏面側と、基板
表面にエピタキシャル成長した半導体層表面とにそれぞ
れ形成された電極を用いて電流が注入される。またプレ
ーナ型の電流注入を行う半導体発光装置も発表されてい
る(例えばElectror+tc Letters、
24.1282 (1988> )。
表面にエピタキシャル成長した半導体層表面とにそれぞ
れ形成された電極を用いて電流が注入される。またプレ
ーナ型の電流注入を行う半導体発光装置も発表されてい
る(例えばElectror+tc Letters、
24.1282 (1988> )。
通常の半導体発光装置においては、電極形成は、エピタ
キシャル成長層面に蒸着等により電極を形成した後、基
板裏面を研磨して所定の厚さにした後に基板裏面にもう
1つの電極を形成するために工数がかかる。また半導体
発光装置を実装する場合は、信頼性上問題となる可能性
があるワイヤボンディングにより配線する必要がある。
キシャル成長層面に蒸着等により電極を形成した後、基
板裏面を研磨して所定の厚さにした後に基板裏面にもう
1つの電極を形成するために工数がかかる。また半導体
発光装置を実装する場合は、信頼性上問題となる可能性
があるワイヤボンディングにより配線する必要がある。
プレーナ注入型の半導体発光装置では、例えばTJSレ
ーザのように同一平面上にp型の領域とn型の領域をつ
くりわける必要があり、拡散などの工程を必要とする。
ーザのように同一平面上にp型の領域とn型の領域をつ
くりわける必要があり、拡散などの工程を必要とする。
また、p電極とn電極の距離が近いために、ヒートシン
クやステムに融着する場合に、ワイヤボンディングをし
ないで、各々の電極をヒートシンクやステムに融着した
だけで配線を終えてしまうことができなかった。
クやステムに融着する場合に、ワイヤボンディングをし
ないで、各々の電極をヒートシンクやステムに融着した
だけで配線を終えてしまうことができなかった。
本発明の目的は、このような従来の欠点を除去して、片
側の面にp、n電極をもち、ワイヤボンディングを必要
としない実装を可能にする半導体発光装置の構造と、素
子分離溝を利用した簡易な製造方法を提供するものであ
る。
側の面にp、n電極をもち、ワイヤボンディングを必要
としない実装を可能にする半導体発光装置の構造と、素
子分離溝を利用した簡易な製造方法を提供するものであ
る。
本発明は2つあり、その1つは、活性層を含むストライ
プ状の多層fit層構造を有する半導体発光装置におい
て、多層積層構造に第1の電極を有する第1の領域と、
一部の領域に基板まで達する段差を有し、多層積層構造
上に第1の電極を有し、ぞの電極上及び段差の一部の領
域上に絶縁膜を有する第2の領域と、更に絶縁膜上及び
絶縁膜におおわれていない段差上に第2の電極を有する
第3の領域を具備することを特徴とする半導体発光装置
である。
プ状の多層fit層構造を有する半導体発光装置におい
て、多層積層構造に第1の電極を有する第1の領域と、
一部の領域に基板まで達する段差を有し、多層積層構造
上に第1の電極を有し、ぞの電極上及び段差の一部の領
域上に絶縁膜を有する第2の領域と、更に絶縁膜上及び
絶縁膜におおわれていない段差上に第2の電極を有する
第3の領域を具備することを特徴とする半導体発光装置
である。
もう1つは、多層積層構造を半導体基板上に形成し、こ
の多層積層構造上に第1の電極を形成する工程と、基板
まで達するエツチングを施して多層N層構造をストライ
プ状にする工程と、その上に絶縁膜を堆積する工程と、
ストライプ状多層積層構造の両側ある基板面上の絶縁膜
を除去する工程と、その上から第2の電極を形成する工
程と一部の領域の第2の電極を取り除いて絶縁膜を露出
する工程と、露出した絶縁膜の一部を除去して第1の電
極を露出する工程とを少くとも具備することを特徴とす
る製造方法である。
の多層積層構造上に第1の電極を形成する工程と、基板
まで達するエツチングを施して多層N層構造をストライ
プ状にする工程と、その上に絶縁膜を堆積する工程と、
ストライプ状多層積層構造の両側ある基板面上の絶縁膜
を除去する工程と、その上から第2の電極を形成する工
程と一部の領域の第2の電極を取り除いて絶縁膜を露出
する工程と、露出した絶縁膜の一部を除去して第1の電
極を露出する工程とを少くとも具備することを特徴とす
る製造方法である。
本発明の構造をとることによって、半導体発光装置の表
面をpt極、n電極絶縁部と自由にふりわけることがで
き、素子利用上の自由度が大きくなり、例えばワイヤボ
ンディングを必要としない実装も可能である。また、基
板部分の研磨が不必要であり、拡散などの精密な制御技
術も不要である簡単な構造となっている。もう一つの発
明においては本発明の製造方法を用いることにより、簡
単なプロセスと工程により、上記の半導体発光装置を製
作することができる。
面をpt極、n電極絶縁部と自由にふりわけることがで
き、素子利用上の自由度が大きくなり、例えばワイヤボ
ンディングを必要としない実装も可能である。また、基
板部分の研磨が不必要であり、拡散などの精密な制御技
術も不要である簡単な構造となっている。もう一つの発
明においては本発明の製造方法を用いることにより、簡
単なプロセスと工程により、上記の半導体発光装置を製
作することができる。
実施例では半導体発光装置として半導体レーザを例にし
て説明する。
て説明する。
第1図(a>に本発明による半導体レーザの実施例の斜
視図を、また、第1図(b)〜(d>に、第1図(a)
のAA’ 、BB’ 、CC’における断面図を示す。
視図を、また、第1図(b)〜(d>に、第1図(a)
のAA’ 、BB’ 、CC’における断面図を示す。
この半導体レーザは、発光に与る活性層(図示省略)を
含むストライプ状の多層積層構造7を半導体基板1の上
に備え、多層積層構造7の最上層全面、すなわち、第1
の領域1第2の領域、第3の領域に渡って電極2を備え
ている。第1の領域は、第1図(a)、(b)に示すよ
うに、電極2が剥出しになっているが、第2.第3の領
域は、第1図(a)、(c)(d)かられかるように、
電極2の上及び多層積層構造7の側面は絶縁膜4で覆わ
れている。第3の領域は絶縁膜4の上に、さらに電極5
がある。
含むストライプ状の多層積層構造7を半導体基板1の上
に備え、多層積層構造7の最上層全面、すなわち、第1
の領域1第2の領域、第3の領域に渡って電極2を備え
ている。第1の領域は、第1図(a)、(b)に示すよ
うに、電極2が剥出しになっているが、第2.第3の領
域は、第1図(a)、(c)(d)かられかるように、
電極2の上及び多層積層構造7の側面は絶縁膜4で覆わ
れている。第3の領域は絶縁膜4の上に、さらに電極5
がある。
電極5は、第1図(d)に示すように、多層積層構造7
の両側に露出している基板表面に接触している。
の両側に露出している基板表面に接触している。
電f!2と電極5は絶縁膜4により電気的に絶縁されて
おり、電極2は、多層積N構造のエピタキシャル成長層
面上の電極であり、電極5は基板側の電極となっている
。電極2と電極5の間に電位差を印加することにより半
導体発光装置として機能する。
おり、電極2は、多層積N構造のエピタキシャル成長層
面上の電極であり、電極5は基板側の電極となっている
。電極2と電極5の間に電位差を印加することにより半
導体発光装置として機能する。
第1図の半導体レーザを実装するには、第2図のように
、半導体レーザをヒートシンク10に融着する。この場
合電極側がヒートシンクに接触するように行なう。また
、ヒートシンク10の絶縁領域13には絶縁膜4゛以外
の領域が接触しないようにする。また融着時に融着金属
が絶縁領域13を越えて、p側電流注入域12とn側電
流注入域11が短絡しないようにする。
、半導体レーザをヒートシンク10に融着する。この場
合電極側がヒートシンクに接触するように行なう。また
、ヒートシンク10の絶縁領域13には絶縁膜4゛以外
の領域が接触しないようにする。また融着時に融着金属
が絶縁領域13を越えて、p側電流注入域12とn側電
流注入域11が短絡しないようにする。
このようにして、ワイヤボンディングなしで半導体レー
ザの駆動を行なうことができる。絶縁膜4は熱伝導率の
良いAJ20.などを用いることにより、半導体レーザ
の温度上昇を防ぐことができる。
ザの駆動を行なうことができる。絶縁膜4は熱伝導率の
良いAJ20.などを用いることにより、半導体レーザ
の温度上昇を防ぐことができる。
以下、第3図を参照して製造方法について詳細に説明す
る。n型GaAs基板1に、G a 0.5In□、5
Pを活性層とし、(Afflo、6Gag、4 )プル
ヘテロ構造上にn−GaAs電流ブロック層を成長じた
後、フォトリソグラフィを用いて電流によりp−GaA
sキャップ層を成長して多層積層構造7を形成する。次
いで、多層積層構造上に、TiPtAu1i極2をスパ
ッタにより堆積する。その後、電極2上にレジスト3を
塗布する(第3図(a))。フォトリソグラフィを用い
て電流注入領域近傍を除いた領域のレジストを除去する
(第3図(b))。RIEを用いてレジストをマスクと
して電極2と多層積層構造を基板1までエツチングして
溝8を形成し、多層積層構造をストライプ状とする(第
3図(C))。レジスト除去後、電子ビーム蒸着により
A、12203絶縁膜4を蒸着する(第3図(d))。
る。n型GaAs基板1に、G a 0.5In□、5
Pを活性層とし、(Afflo、6Gag、4 )プル
ヘテロ構造上にn−GaAs電流ブロック層を成長じた
後、フォトリソグラフィを用いて電流によりp−GaA
sキャップ層を成長して多層積層構造7を形成する。次
いで、多層積層構造上に、TiPtAu1i極2をスパ
ッタにより堆積する。その後、電極2上にレジスト3を
塗布する(第3図(a))。フォトリソグラフィを用い
て電流注入領域近傍を除いた領域のレジストを除去する
(第3図(b))。RIEを用いてレジストをマスクと
して電極2と多層積層構造を基板1までエツチングして
溝8を形成し、多層積層構造をストライプ状とする(第
3図(C))。レジスト除去後、電子ビーム蒸着により
A、12203絶縁膜4を蒸着する(第3図(d))。
フォトリソグラフィにより溝底部の絶縁膜4を除去後(
第3図(e))、n電極としてAuGeNi電極5を蒸
着する(第3図(f))、次に、フォトリソグラフィを
用いてAuGeNi電極5を一部残してRIEにより取
り除いて絶縁膜を露出する。このAuGeNi電極5が
残っている領域が第1図(a)に示す第3の領域となる
。その後、同様にフォトリソグラフィを用いて、電極5
が取り除かれて絶縁膜が露出した領域の絶縁膜4の一部
をエツチングして電極2を露出させる。この電極2が露
出した領域が第1図゛(a〉に示す第1の領域となり、
絶縁膜が露出している領域が第2の領域となる。このよ
うにして同一面上に互いに絶縁された2つの電極を形成
することができる。
第3図(e))、n電極としてAuGeNi電極5を蒸
着する(第3図(f))、次に、フォトリソグラフィを
用いてAuGeNi電極5を一部残してRIEにより取
り除いて絶縁膜を露出する。このAuGeNi電極5が
残っている領域が第1図(a)に示す第3の領域となる
。その後、同様にフォトリソグラフィを用いて、電極5
が取り除かれて絶縁膜が露出した領域の絶縁膜4の一部
をエツチングして電極2を露出させる。この電極2が露
出した領域が第1図゛(a〉に示す第1の領域となり、
絶縁膜が露出している領域が第2の領域となる。このよ
うにして同一面上に互いに絶縁された2つの電極を形成
することができる。
以上述べたように本発明によれば、拡散などの不純物制
御や結晶成長方法の改変を行なわずに同一面側に2つの
電極がある構造が実現できる。これによりワイヤボンデ
ィングを必要としない組み立てを行うことができる。ま
た、本発明の方法によれば、大幅な工数の増加を行なわ
ずにプレーナ注入型の半導体発光装置を作製することが
できる。
御や結晶成長方法の改変を行なわずに同一面側に2つの
電極がある構造が実現できる。これによりワイヤボンデ
ィングを必要としない組み立てを行うことができる。ま
た、本発明の方法によれば、大幅な工数の増加を行なわ
ずにプレーナ注入型の半導体発光装置を作製することが
できる。
第1図は本発明の半導体発光装置の概略を示す図、第2
図は本発明の半導体発光装置をヒートシンクに融着した
図、第3図は本発明の製造工程を示す概略図である。 図中、1は基板、2,5は電極、4は絶縁膜、7は多層
積層構造である。
図は本発明の半導体発光装置をヒートシンクに融着した
図、第3図は本発明の製造工程を示す概略図である。 図中、1は基板、2,5は電極、4は絶縁膜、7は多層
積層構造である。
Claims (2)
- (1)発光に与る活性層を含むストライプ状の多層積層
構造を半導体基板上に備え、前記多層積層構造表面に第
1の電極を備え、前記第1の電極の一部領域を除いて絶
縁膜で覆い、さらに、前記絶縁膜で覆われた領域の一部
領域を第2の電極で覆い、前記第1の電極が露出してい
る第1の領域と、前記第1の領域に隣接し、前記絶縁膜
が露出している第2の領域と、前記第2の領域に隣接し
、前記第2の電極で覆われている第3の領域を備えたこ
とを特徴とする半導体発光装置。 - (2)発光に与る活性層を含む多層積層構造を半導体基
板上に形成し、さらに、多層積層構造表面に第1の電極
を形成する工程と、前記第1の電極及び多層積層構造を
、基板に達する深さまでエッチングしてストライプ状の
多層積層構造を形成する工程と、絶縁膜を堆積する工程
と、前記ストライプ状多層積層構造の両側の基板上に堆
積した絶縁膜を除去する工程と、第2の電極を形成する
工程と、一部領域の第2の電極を除去して絶縁膜を露出
する工程と、前記第2の電極が除去されて露出した絶縁
膜の一部を除去して前記第1の電極を露出する工程とを
少くとも備えていることを特徴とする半導体発光装置の
製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28378289A JPH03145178A (ja) | 1989-10-30 | 1989-10-30 | 半導体発光装置とその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28378289A JPH03145178A (ja) | 1989-10-30 | 1989-10-30 | 半導体発光装置とその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03145178A true JPH03145178A (ja) | 1991-06-20 |
Family
ID=17670062
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28378289A Pending JPH03145178A (ja) | 1989-10-30 | 1989-10-30 | 半導体発光装置とその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03145178A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7072374B2 (en) * | 2002-11-25 | 2006-07-04 | Nichia Corporation | Ridge waveguide semiconductor laser diode |
-
1989
- 1989-10-30 JP JP28378289A patent/JPH03145178A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7072374B2 (en) * | 2002-11-25 | 2006-07-04 | Nichia Corporation | Ridge waveguide semiconductor laser diode |
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