JPH03148638A - 液晶表示装置の製造方法 - Google Patents

液晶表示装置の製造方法

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JPH03148638A
JPH03148638A JP1288504A JP28850489A JPH03148638A JP H03148638 A JPH03148638 A JP H03148638A JP 1288504 A JP1288504 A JP 1288504A JP 28850489 A JP28850489 A JP 28850489A JP H03148638 A JPH03148638 A JP H03148638A
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JP
Japan
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film
metal film
liquid crystal
insulating film
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JP1288504A
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Michiya Kobayashi
道哉 小林
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、複数の画素のそれぞれを金属膜−絶縁膜−金
属膜から成る非線形抵抗素子(M I M素子)により
駆動する液晶表示装置において、非線形抵抗素子を形成
する液晶表示装置の製造方法に関するものである。
(従来の技術) ドツトマトリックス型の液晶表示装置では、画素が高密
度に配設されると、画素間のクロストークが問題となり
、これを防ぐために、各画素ごとにスイッチング素子を
設けることが必要となる。
このスイッチング素子としては、薄膜トランジスタや薄
膜整流素子のほか、製造の容易な非線形抵抗素子(以下
、M夏M素子と呼ぶ。)が多用されている。
第11図はスイッチング素子にMIM素子を用いた液晶
表示装置の単位画素部を示すもので、絶縁性の基板1の
上に第1の金属膜2を形成・パターニングし、この第1
の金属膜2の表面に絶縁膜3を形成し、この絶縁膜3の
上の一部に第2の金属膜4を形成・パターニングしてあ
り、この第1の金属膜2と絶縁膜3と第2の金属膜4が
オーバーラップしている部分がMIM素子5で、第2の
金属膜4は画素電極6に接触している。
このMIM素子5を形成する最も簡便な方法として用い
られていたのは、たとえば、ガラス製の基板1の上に第
1の金属膜2としてTa膜を形成・パターニングした後
、基板1をクエン酸、リン酸等の化成液に浸し、陽極酸
化法により第1の金属膜2としてのTa膜の表面を酸化
して、第1の金属膜2の表面に絶縁膜3としてTa20
.膜を形成し、この絶縁膜3としてのTa、0.膜の上
に第2の金属膜4としてTa膜、Ti膜、Cr膜等を形
成・パターニングする方法である。
しかしながら、このような方法でMIM素子5を形成し
た液晶表示装置では、フリッカ現象や表示の焼付きとい
った問題があった。
(発明が解決しようとする課題) 上述した従来の液晶表示装置の問題は、MIM素子5の
電流一電圧特性がゼロ電圧に関して正負非対称であるこ
とに起因するものである。
第12図及び第13図は上述した従来の方法で形成した
Ti膜−T a 209膜−Ta膜から成るMIM素子
5の電流一電圧特性を示し、片対数表示してあり、縦軸
は電流の絶対値を表し、横軸の電圧の正負は第1の金属
膜2としてのTa膜に印加する電圧の極性に一致してい
る。
第12図では電流値がゼロ電圧に関して正負非対称とな
っており、一方、第13図ではゼロ電流を与える電圧が
負となっており、低電圧領域で非対称性が著しい。
これらの現象は、絶縁膜3つまりTa、O。
膜の両側の界面の性質が、第1の金属膜2側と第2の金
属膜4側で異なることに起因する。
すなわち、化成液中で陽極酸化された第1の金属膜2側
の界面においては、金属イオンの過剰からn層が形成さ
れ、一方、第2の金属膜4側の界面においては、酸素過
剰からp層が形成されるためといわれている。
MIM素子5の電流一電圧特性がゼロ電圧に関して正負
非対称性をもつと、液晶に正味のDCバイアスが印加さ
れることとなり、さらに、液晶の不可逆的な電子−化学
的劣化が生じるという問題もある。
本発明は、このような点に鑑みなされたもので、スイッ
チング素子にMIM素子を用いた液晶表示装置において
、フリッカ現象や表示の焼付きを防止し、さらに、液晶
の劣化を少なくすることを目的とするものである。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) 本発明は、複数の画素を設け内部に液晶を封入した一対
の基板の少なくとも一方の内面に上記複数の画素のそれ
ぞれに対して第1の金属膜−絶縁膜一第2の金属膜から
成る非線形抵抗素子を配設した液晶表示装置において、
上記非線形抵抗素子を形成する液晶表示装置の製造方法
であって、第1の金属膜を形成する工程と、この第1の
金属膜の表面を陽極酸化法により酸化して第1の絶縁膜
を形成する工程と、この第1の絶縁膜の上に上記第1の
金属膜と同種の金属膜を形成する工程と、この金属膜−
のほぼ全てを陽極酸化法により酸化して第2の絶縁膜を
形成する工程と、この第2の絶縁膜の上に第2の金属膜
を形成する工程とを具備したものである。
(作用) 本発明の液晶表示装置の製造方法によると、上述したよ
うな、MIM素子の電流一電圧特性の非対称性がなくな
る。
すなわち、MIM素子の電流一電圧特性の非対称性は、
絶縁膜の両側の金属膜との界面について、化成液中で陽
極酸化された第1の金属膜側の界面においては、金属イ
オンの過剰からn層が形成され、第2の金属膜側の界面
においては、酸素過剰からp層が形成されるため、絶縁
膜の両側の金属膜との界面の性質が異なるからであるが
、本発明の方法によると、第1の金属膜の表面を陽極酸
化して絶縁膜を形成した後、第1の金属膜と同種の金属
膜を形成し、後から形成したこの金属膜のほぼ全てを陽
極酸化して第2の絶縁膜を形成するため、この第2の絶
縁膜の第2の金属膜との界面にも金属イオンの過剰から
n層が形成され、絶縁膜の両側の金属膜との界面の性質
が同等となるからである。
(実施例) 本発明の液晶表示装置の製造方法の実施例を図面を参照
して説明する。
第2図ないし第7図はMIM素子と画素電極を形成する
手順を示すものである。
まず、第2図に示すように、一縁性の基板1の表面全体
に第1の金属膜2として厚さ3000人のTa膜をスパ
ッタリング法等により形成し、この第1の金属膜2を通
常のフォトリソグラフィ法を用いて所定の形状にバター
ニングする。
つぎに、第3図に示すように、基板1を濃度0.1ない
し1%のクエン酸溶液に浸し、液中で第1回の陽極酸化
を行なって、第1の金属膜2としてのTa膜の表面を酸
化して、第1の金属膜2の表面に第1の絶縁膜11とし
て厚さ500ないし1000人のTa20..膜を形成
する。
なお、この陽極酸化は、周知のように、基板1の外周部
において、第1の金属膜2に定電流・電圧源の電極を接
続し、定電流・・電圧源の一極をクエン酸溶液中に基板
1とは別に浸漬したPt等の電極に接続して行なう。
つぎに、第4図に示すように、基板1の表面全体に金属
膜12としてTa膜を20Å以下程度に薄く形成し、第
1の絶縁膜■としてのTa20゜膜の上に第1の金属膜
2と同じTaから成る薄い金属膜12を形成する。
つぎに、第5図に示すように、クエン酸溶液中で第2回
の陽極酸化を行なって、薄い金属膜■2としてのTa膜
のほぼ全てを酸化して、第1の絶縁膜11の上に第2の
絶縁膜13としてのTa20.。
膜を形成する。
なお、この第2回の陽極酸化も、電源の電極を第1の金
属膜2に接続した。このため、薄い金属膜12を形成す
る際には、第16金属膜2の電源を接続する部分にマス
キングを行ない、この部分に薄い金属膜12が重ならな
いようにしておいた。
また、ここでTaの金属膜!2から形成されるTa、O
,の第2の絶縁膜13の厚さは、50Å以下程度である
つぎに、第6図に示すように、基板1の表面全体に第2
の金属膜4として厚さ2000人のTa膜あるいはCr
膜を形成し、この第2の金属膜4を第1の金属膜2のパ
ターンと交差するように所定の形状にパターニングして
、第2の絶縁膜I3の上に第2の金属膜4を形成する。
ここで、第1の金属膜2と第1の絶縁膜11と第2の絶
縁膜13と第2の金属膜4がオーバーラップしている部
分がMIM素子i4である。
つぎに、第7図に示すように、基板1の表面全体にIT
O(インジウム・チン・オキサイド)膜を形成し、この
ITO膜を所定の形状にパターニングして、第2の絶縁
膜13の上に液晶材料の駆動電極となる透明な画素電極
6を形成し、それぞれの画素電極6をそれぞれのMIM
素子14の第2の金属膜4に1対1の関係で接続した状
態とする。
第8図は第1回の陽極酸化工程の一般的な条件を示すも
ので、定電圧化成といわれているものである。
まず、工程の初期には、第1の金属膜2としてのTa膜
とpt等の電極の間に一定電流を印加する。この期間は
両極間の電圧が時間とともに上昇する。(図示のを1の
期間) そして、両極間の電圧が所tの化成電圧に到達したら、
その時点から一定電圧印加に切換え、両極間の電流が十
分に小さくなるまで化成を続ける(図示t2の期間)。
ここで、第1の金属膜2としてのTa膜の表面に生成す
る第1の絶縁膜11としてのTa20゜膜の厚さは、化
成電圧でほぼ決定され、化成電圧が40Vの場合、第1
の絶縁膜11としてのTa、O,膜の厚さは約700人
であった。
この第8図のプロファイルは、絶縁膜11の厚さをxl
両極間の電圧をvl電流を!1時間をtとして、次の式
を解くことで理解できる。
1=Aexp  (BY/x)   =−(1)1 =
Cd x/d  t         −12)ただし
、A、B、Cは定数である。
また、電圧Vは第1の金属膜2としてのTa膜とpt等
の電極との間の電圧であるが、化成液中の電圧降下は無
視できるので、第1の金属膜2の表面でTaが酸化して
できる第1の絶縁膜11としてのT a 20 .S膜
の両面にかかる電圧に等しいとしてよい。
そして、第9図は上述の第1回の陽極酸化工程により形
成した第1の絶縁膜1目としてのTa、O,膜の上に薄
い金属膜12として20人のTa膜を形成した後、第1
の金属膜2としてのTa膜とpt等の電極との間に一定
電圧を印加して、第2回の陽極酸化を行なったときのプ
ロファイルである。
この第2回の陽極酸化工程での化成電圧を46vとした
ところ、第1の絶縁膜11と第2の絶縁膜!3の膜厚の
合計は805人であった。
これは、薄い金属膜12の全てが酸化されて、できた第
2の絶縁膜13の膜厚が元の金属膜12の膜厚よりも厚
くなるとともに、その下の第1の金属膜2の酸化が進ん
で、第1の絶縁膜11の膜厚が増加したためである。
第1図は上述したような実施例の方法によって形成した
MIM素子14の構造図である。
第1の金属膜2としてのTa膜と第2の金属膜4として
のTa膜あるいはCr膜との間に第1回の陽極酸化で形
成された第1の絶縁膜11としてのTa2O2膜と第2
回の陽極酸化で形成された第2の絶縁膜13としてのT
a2O2膜がある。
そして、第1の金属膜2と第1の絶縁膜11との界面に
は、第1回の陽極酸化工程で生成される厚さ約40人の
金属イオンリッチのn層があり、また、第2の金属膜4
としてのTa膜あるいはCr膜の下地となっている第2
の絶縁膜13は、第2回の陽極酸化工程の条件で、はぼ
全体が金属イオンリッチのn層となっている。
すなわち、絶縁膜11、13つまりTa20..膜の両
側の界面が、第1の金属膜2一つまりTaIlI側と第
2の金属膜4っまりTa膜あるいはCr膜側とも同じ金
属イオンリッチのn層となっている。
第10図は上述した実施例の方法で形成したMIM素子
I4の電流一電圧特性である。
この第10図と先の第12図及び第13図を比較すると
、この実施例の方法で形成したMIM素子14では、従
来の方法で形成したMIM素子5に比べてゼロ電圧に関
する正負対称性が格段に改善されており、実用上問題の
ないレベルにある。
これは、MIM素子14自体の構造が、第1図に示すよ
うに、対象であるため、電流一電圧特性も正負対称にな
ったものと理解できる。
さらに、この実施例の方法によって形成した多数のM 
I M素子14を画素電極6に配設した液晶表示装置で
は、フリッカ現象や表示の焼付きの問題がなくなった。
つぎに、変形例として、上述した実施例では第2回の陽
極酸化を電源の電極を第1の金属膜2に接続したのに対
し、この第2回の陽極酸化を電源の電極を第1の金属膜
2と同種の薄い金属膜12に接続して行なった。
そして、この変形例では、第2回の陽極酸化を第8図に
示した通常の定電圧化成条件のプロファイルによって行
ない、また、第1の金属膜2と薄い金属膜12をそれぞ
れ先の実施例と同じ厚さのTa膜とし、化成電圧は3■
とした。
その結果、この変形例の場合も、薄い金属膜12として
のTa膜は、その全てが陽極酸化され、金属膜!2とし
てのTa膜から形成された第2の絶縁膜13としてのT
a、0.膜の厚さは約50人であった。
このように第2回の陽極酸化の条件を変えた変形例の場
合も、形成されたMIM素子14の電流一電圧特性は、
第10図に示した先の実施例の場合と同様に、ゼロ電圧
に関して正負対称となった。
さらに、この変形例の方法によって形成した多数のMI
M素子14を画素電極6に配設した液晶表示装置では、
先の実施例と同様に、フリッカ現象や表示の焼付きの問
題がなくなった。
〔発明の効果) 上述したように、本発明によれば、複数の画素のそれぞ
れを金属膜−絶縁膜−金属膜から成る非線形抵抗素子(
M I M素子)により駆動する液晶表示装置において
、MIM素子の電流一電圧特性をゼロ電圧に関して正負
対称にすることができるので、フリッカ現象や表示の焼
付きの問題がなくなり、さらに、MIM素子の特性が正
負対称となることにより、液晶に正味のDCバイアスが
印加されず、液晶の不可逆的な電子−化学的劣化もなく
なる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の方法によって製造した液晶表示装置の
一部の構造図、第2図ないし第7図は本発明の方法によ
って液晶表示装置のMIM素子を形成する手順を示す斜
視図、第8図及び第9図は陽極酸化工程の条件のプロフ
ァイル図、第10図は本発明の方法によって形成したM
IM素子の電流一電圧特性図、第11図は従来の液晶表
示装置の一部の斜視図、第12図及び第13図は従来の
液晶表示装置のMIM素子の電流一電圧特性図である。 1・・基板、2・・第1の金属膜、4・・第2の金属膜
、11・・第1の絶縁膜、12・・金属膜、13・・第
2の絶縁膜、■・・非線形抵抗素子(MIM素子)。 r覧 1     \メ;X               \ ゝ(1\8N 馬 11           ν fo″ j番巳a二(Vン 侘11ス ;f−下■ fc瓦(V) :=■下] 愛L(v)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数の画素を設け内部に液晶を封入した一対の基
    板の少なくとも一方の内面に上記複数の画素のそれぞれ
    に対して第1の金属膜−絶縁膜−第2の金属膜から成る
    非線形抵抗素子を配設した液晶表示装置において、上記
    非線形抵抗素子を形成する液晶表示装置の製造方法であ
    って、第1の金属膜を形成する工程と、 この第1の金属膜の表面を陽極酸化法により酸化して第
    1の絶縁膜を形成する工程と、 この第1の絶縁膜の上に上記第1の金属膜と同種の金属
    膜を形成する工程と、 この金属膜のほぼ全てを陽極酸化法により酸化して第2
    の絶縁膜を形成する工程と、 この第2の絶縁膜の上に第2の金属膜を形成する工程と
    を具備したことを特徴とする液晶表示装置の製造方法。
JP1288504A 1989-11-06 1989-11-06 液晶表示装置の製造方法 Pending JPH03148638A (ja)

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