JPH03149705A - 高分子固体電解質 - Google Patents

高分子固体電解質

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JPH03149705A
JPH03149705A JP1286657A JP28665789A JPH03149705A JP H03149705 A JPH03149705 A JP H03149705A JP 1286657 A JP1286657 A JP 1286657A JP 28665789 A JP28665789 A JP 28665789A JP H03149705 A JPH03149705 A JP H03149705A
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formula
formulas
general formula
tables
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Application number
JP1286657A
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English (en)
Inventor
Shoichiro Yasunami
昭一郎 安波
Kentaro Shirato
白▲は▼ 健太郎
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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    • Y02E60/122

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  • Polysaccharides And Polysaccharide Derivatives (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Primary Cells (AREA)
  • Secondary Cells (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は高分子固体電解質に係わり、特に帯電防止材料
や電池及び他の電気化学デバイス用材料として好適な高
分子固体電解質に関するものである。
[従来の技術] 固体電解質を帯電防止用材料や電池をはじめとする電気
化学的デバイスに応用していくためには良好なイオン伝
導性を持つのみならず、製膜性に優れていること、保存
安定性が良好であること、材料の製造が容易であること
も必要である。しかしながら、このような必要性能をす
べて満足する固体電解質はこれまで開発されていなかっ
た。
たとえば、Na−β−Altosや Na++−Z rl P s −x S 1 x O+
t (0≦X≦3)のような無機固体電解質は良好なイ
オン伝導性を有することが知られている(エム・ニス・
ウィッチンガム(M、 S−Whittingham)
ジャーナル・オブ・ケミカル・フィジックス(Jour
nal of ChemicalPhisics)、 
54巻、414頁(1971年)、エイ・クリアフィー
ルド(A、 Clearfield)ら、ソリッド−ス
テート・イオニクス(Solid Statetoni
cs) 9 / l O巻、895頁(1983年))
が、機械的強度が著しく弱く、可撓性膜への加工性に劣
るという致命的欠点を持っている。
ポリエチレンオキシド(以下PEOと略す)は種々の周
期律表Ia族又はNa族に属する金属イオンの塩、たと
えばL i CFs Son 、L i・■、L i 
CII Oa 、Na I、NaCFs Son、KC
F=SOsなどと固体電解質として機能するコンプレッ
クスを形成し比較的良好なイオン伝導性を示しくたとえ
ばビー・バーシスタ(P。
Vashista)らによってファスト・イオン・トラ
ンスポート・イン・ソリッド(Fast Ion Tr
ansportin Solid) 、  131頁(
1979年)に報告されている)、また高分子特有の粘
弾性、柔軟性を具備しており、加工性も良好であるとと
もに保存安定性も良好である。しかしながらPEOのイ
オン伝導性は温度依存性が太きく、60℃以上では良好
なイオン伝導性を示すものの室温付近になるとイオン伝
導性が著しく悪化してしまい、広い温度領域でも使用で
きるような汎用性のある商品に組み込むことは困難であ
った。このようなPEO系固体電解質の持つイオン伝導
性が室温付近で著しく悪化するという問題を克服する方
法として特開昭62−139266号に通常の分子量の
PEOに分子量10G(を以下の低分子量のPEOを混
合して用いる方法が提案されている。しかしながら、こ
の方法では従来の問題に対し本質的な解決手段を提供す
るに到っていない。すなわち、多量の低分子量PEOを
混合すれば室温付近イオン伝導性は良化するものの製膜
性の低下が著しく、フィルム化が困難となってしまうも
のであった。
低分子量PEOを用いる方法としてポリフォスファゼン
の側鎖に低分子量PEOを導入する方法がディー、エフ
、シュライバー(D、  F−Shriver)らによ
ってジャーナル・オブ・アメリカン・ケミカル・ソサエ
ティー(Jounaj of AmericanChe
mtcal Soctety)、  106巻、685
4頁(1984年)に報告されているが、この材料は大
量合成が困難であり実用上の過性がなく、また室温付近
の低温におけるイオン伝導性も不十分であつた。さらに
ポリシロキサンの一部に低分子量PEGを導入し、これ
を薄膜化した材料が渡辺らによってジャーナル・オブ・
パワーツース(Jounalof Power Sou
rses) 、  20巻、327頁(1987年)に
報告されているが、この材料においては低分子量PEO
の導入率が低いためにイオン伝導性が低く、実用に供し
得ないものであった。
さらに低分子量PEOを用いてイオン伝導性を向上させ
る方法として、ビニル系ポリマーの側鎖に低分子量PE
Oを導入し高分子化した後に製膜して高分子固体電解質
とする方法がディー、ジ工−イ、バニスター(ICJ、
Banister)らによって、ポリv −(Poly
mer)、 25巻、1600頁(1984年)に報告
されている。しかしながらこの材料においては製膜性が
劣り、イオン伝導性も不十分であった。
また、PEOを側鎖に持つアクリロイル化合物の架橋マ
トリックスに低分子量のPEOを含浸させた材料が特開
昭63−135477号に示されている。しかしながら
この材料においてもイオン伝導性を十分に高められない
という問題点があり、この材料もまた実用的デバイスへ
の適用は不可能なものであった。
また、液状の放射線重合可能な七ツマ−又はプレポリマ
ーを、プロピレンカーボネート(以下、PCと略す)等
のイオン伝導性液体とアルカリ金属塩との混合状態下で
光照射して架橋マトリックスに形成した電解質材料が米
国特許第4,830゜939号に示されているが、これ
もまた高イオン伝導性と高製膜性をともに両立させるこ
とができず、この材料も実用への適用は困難であった。
以上のように従来のPEOとアルカリ金属塩からなる固
体電解質では、室温付近のイオン伝導性が著しく低いか
又は製膜性に著しく劣ってしまうという2つの問題点を
共に解決し満足せしめることができず、共に解決した固
体電解質の提供が望まれていた。
[発明が解決しようとする課題] 本発明の目的は、室温付近でも高いイオン伝導性を示し
、かつ製膜性に優れた新規な高分子固体電解質を提供す
ることにある。
[課題を解決する手段] 上記目的は分子内に下記一般式[!]で表わされるくり
返し単位を有する反応性ポリマーを、周期律表Ia又は
■a族に属する金属イオンの塩及びこれら両者を溶解す
る極性中性溶媒の存在下で重合及び/又は架橋して高分
子マトリックスに形成せしめたことを特徴とする高分子
固体電解質によって達成された。
一般式[I] No−y 、A (式中、X、Y、Zはそれぞれ下記一般式[I[]又は
[1]で表わされる基であるが、プレポリマー中のx、
y、zのうち少なくとも1%以上は一般式[I[] ”
r表わされる反応性基である。
一般式[II] −CAす]−1L 1)−【Bす−D −般式[111 %式%) 式中、Dは熱及び/又は放射線反応性基を表わWl し、Aは−〇〇−、−CO−N−、−501−を表わし
、Wlは水素原子又は低級アルキル基を表わす。Lはア
ルキレン基、アリーレン基又は−L−CY士hL”−を
表し、L及びL!はそれぞれアルキレン基又はアリーレ
ン基を表わし、W! ■ Yは−〇−、−N−、−CO,−、−O−CO−、置 −O−CO−、−CO−、−N−CO−、−〇−又はフ
ェニレン基を表わし、RはWlと同義である。Eは−C
O−、−SO,−、 R@ −CO−N−、を表わし、R@はWlと同義である。F
はアルキル基、アリール基又はこれらの基を組合せた基
を表わす。
aSb、c、dはそれぞれ独自に0又はlである。ただ
し、a=1でかつAが−CONH−又は−CO−のとき
はb=tである。) 本発明で用いられるプレポリマーはセルロース構造を有
する固体状ポリマーであり、驚くべきことに、製膜性を
悪化させることなく極性中性溶媒を多量に含浸させるこ
とができ、従来知られている高分子固体電解質材料に比
べて室温付近のイオン伝導性及び製膜性が著しく向上し
たものである。
以下、一般式[1Fについて詳細に説明する。
x、y、zはそれぞれ同じでも異なっていてもよく、下
記一般式[I[]又は[11で表わされるが、プレポリ
マー中のX、Y%2のうち少なくとも1%以上は一般式
[■]で表わされる反応性基である。
一般式[11 %式% 一般式[■] Et7F −般式[■1において、Dは熱及び/又は放射線反応性
基を表わし、具体的には R2 が挙げられる。
ここでR2は水素原子、炭素数1〜3のアルキル基、塩
素原子又はシアノ基を表わす。R” 、R、R、RsR
”及びR1はそれぞれ炭素数I〜20のアルキル基、置
換アルキル基、ハロゲン原子(例えば、フッソ原子、塩
素原子、臭素原子)、ヒドロキシ基、カルボキシ基、ス
ルホ基、アシルアミノ基、スルホンアミド基、カルバモ
イル基、アシルオキシ基、アルコキシカルボニル基、ア
シル基′、アルコキシ基、アリ一口キシ基、ニトロ基、
ホルミル基、アルキル及びアリールスルホニル基を表わ
す。
R、Rはそれぞれ同じでも異なっていてもよく、炭素数
1〜3のアルキル基であり、好ましくはメチル基である
。Wは−〇−又は−S−である。[Jeは電荷的に平衡
を与える対イオンであり、ハロゲンイオン(Cle、B
re%Ieなど)、C104e、BF4 e1PF@ 
elR”−cot e。
R”  505 eが好ましい。R”は水素原子、炭素
数1−10のアルキル基、炭素数6〜lOのアリール基
又はアラルキル基を表わす。R”がアルキル基、アリー
ル基、アラルキル基のときには置換基を有してもよく、
アルキル基の置換基としては、ハロゲン原子、シアノ基
、スルホ基、ヒドロキシ基、カルボキシル基、アルキル
基、アリール基、アラルキル基、アシルオキシ基、アシ
ルアミノ基、アミノ基、スルホンアミド基、アルコキシ
基、アリ一口キシ基、アルキルチオ基、アリールチオ基
、カルバモイル基、スルファモイル基、アルコキシカル
ボニル基、アリ一口キシカルボニル基、アルキルスルホ
ニル基、アリールスルホニル基、アルコキシスルホニル
基、アリ′−ロキシスルホニル基、カルバモイルアミノ
基、スルファモイルアミノ基、カルバモイルオキシ基、
アルコキシカルボニルアミノ基、アリ一口キシカルボニ
ルアミノ基などがあげられる。
また、R”がアリール基、アラルキル基のときの置換基
の例としては炭素数1〜20のアルキル基、置換アルキ
ル基、ハロゲン原子(例えば、フッソ原子、塩素原子、
臭素原子など)、ヒドロキシ基、カルボキシ基、スルホ
基、アシルアミノ基、スルホンアミド基、カルバモイル
基、アシルオキシ基、アルコキシカルボニル基、アシル
基、アルコキシ基、アリ一口キシ基、ニトロ基、ホルミ
ル基、アルキル及びアリールスルホニル基などが挙げら
れる。これらの置換基は複数有してもよい。
e及びiは0〜5の整数であり、g、h及びjはそれぞ
れ独自に0〜4の整数であり、fは0〜3の整数である
また、AはーCO−、−CO−N−、−SO,−を表わ
し、Wlは水素原子又は低級アルキル基を表わす。Aで
表わされる基として好ましくは−CO−又は−CO−N
−(Wが水素原子又は炭素数1〜3のアルキル基)であ
る。Lはアルキレン基、アリーレン基又はーL″fYt
−iL”−を表わし、Ll及びL!はアルキル基又はア
リーレt 冒 ン基であり、Yは−N−、−N−、−CON−、表わし
、W2はWlと同義である。には0又はlである。Lは
置換基を有してもよく、アルキレン基の置換基の例とし
てはR”がアルキル基のときに述べた置換基が挙げられ
る。アリーレン基の置換基の例としてはR”がフリール
基のときに述べた置換基が挙げられる。
Lとして好ましくは、炭素数1−10のアルキレン基、
炭素数6〜12のアリーレン基又は−L、−Y−L、−
(L、及びり、が炭素数1〜6のアルキレン基、Yが−
N−、−〇〇□−又は−N−CO−)であり、さらに好
ましくは炭素数l〜6のアルキレン基、フェニレン基又
は−り、−Y−L、−(L、及びR2が炭素数1〜4の
アルキレン基、Yが−N−、−CON−又は−N−Co
−)である。
R Bは−N−CO−、−CO−、−N−CO−、−N−、
置換又は無置換のフェニレン基を表わし、Rは水素原子
、炭素数1〜3のアルキル基を表わす。フェニレン基の
置換基としてはR”がアリール基のときに述べた置換基
があげられる。
a1b1cはそれぞれO又はlである。ただし、a=1
でかつAが−CO−N−又は−CO−のときはb=1で
ある。
一般式[111]においてEはーCO−、−SO,−、
R −CON−を表わし、R1はR1と同義である。
Fはアルキル基、アリール基又はこれらの基を組合せた
基を表わし、置換基を有してもよい。アルキル基の置換
基の例としてはR”がアルキル基のときに述べた置換基
が挙げられる。アリール基の置換基の例としてはR”が
アリール基のときに述べた置換基が挙げられる。dは0
又はlを表わす。
一般式[11]で表わされる基の好ましい例としCH。
ては−CO−CH=CH,、−CO−C=CH1、i 
CHzjT OCOCH= CH!、イCH,t−0−
CO−CH= CHt、Hs イCH,廿0−Co−C=CH,、 −(CHt−)−N−0ズCH,−ガー0−Co−CH
=CI−L、イCHffi−# NHC0−CH=CH
1、COiCH*jT CO□イCH*jT OCOC
H=CHt、CH。
−CONH″″CCHt廿0−Co−C=CH,、Ha −CONHズCH!□0−CO−C=CH!、CH。
目 −CH,CH,−N−CO−CH=CHt  、 Hs 暑 −CHt  CH,−NH−Co−C=CfL  、7
ぺ、CH。
入CH。
などが挙げられる。
一般式[111]で表わされる基の好ましい例としては
−Co−CH,、−Co−C,H,、−Co−C,H,
、−Sow−CH,、−C,Hs、−C8,、−CON
H−C,H,、 CH。
−co−N−c*  Hl  、−Co−べ、()ン 
 、あげられる。
本発明に用いられるプレポリマーにおいて、一般式[I
]のx、y、zで表わされる基のうち、一般式[■]で
表わされる反応性基の占める割合は3〜70%が好まし
く、さらに好ましくは5〜50%である。
本発明に用いられるプレポリマーは一般式[■]で表わ
される繰り返し単位の他に他のモノマー成分から誘導さ
れる繰り返し単位を含んでもよい。
他のモノマー成分の例としてはアクリル酸、α−クロロ
アクリル酸、α−アルアクリル酸(例えばメタクリル酸
など)、これらのアクリル酸類から誘導されるエステル
もしくはアミド(例えば、アクリルアミド、メタクリル
アミド、n−ブチルアクリルアミド、t−ブチルアクリ
ルアミド、ジアセトンアクリルアミド、メチルアクリレ
ート、エチルアクリレート、n−プロピルアクリレート
、n−ブチルアクリレート、t−ブチルアクリレート、
2−エチルへキシルアクリレート、n−オクチルアクリ
レート、ラウリルアクリレート、メチルメタクリレート
、エチルメタクリレート、β−ヒドロキシメタクリレー
トなど)、ビニルエステル(例えばビニルアセテート、
ビニルプロピオネート、ビニルラウレートなど)、アク
リロニトリル、アクリロニトリル、芳香族ビニル化合物
(例えばスチレン及びその誘導体、例えばビニルトルエ
ン、ジビニルベンゼン、ビニルアセトフェノン)イタコ
ン酸、シトラコン酸、クロトン酸、ビニリデンクロリド
、ビニルアルキルエーテル(例えばビニルエチルエーテ
ル)、マレイン酸エステル、N−ビニル−2−ピロリド
ン、N−ビニルピリジン、2−及び4−ビニルピリジン
などが挙げられる。以上の他にも共重合モノマーの例と
して、 C82=CH−Co、イCHtt−OCO−CH=CH
t(n4−11)、CHt  =CH−Cot ズCH
t  CH,Ot CO−CH=CHt 、CHt  
OCo−CI”CHt CH3(CHt甘C−CHt−OCO−CI=CHt 
 (n=1〜5)CHt  −OCO−CI=CHl (n=1−16) られる。
また、これらの他に架橋性基を有する(り返し単位を含
んでもよい。これらのくり返し単位に誘導されるモノマ
ーの例としては 0−Co−CH=CH−→(()ン  、CH。
C8,=C ■ c02イCH占0−Co−CH=CHイ)CH,=CH CH。
CH,=C CONHイCH古NHCO−CH=CHイ)CH。
1   入CH。
C82=C CH,=CH CH。
などが挙げられるが、これらに限定されるものではない
本発明において一般式[1Fで表わされる繰り返し単位
を総高分子化合物中30モル%以上含有するのが好まし
く、さらに好ましくは60モル%以上含有する。
さらに本発明に用いられるプレポリマーは他の高分子化
合物をブレンドして用いることができ、成膜性を向上さ
せることもできる。
他の高分子化合物の例としてはポリエチレンオキシド(
PEO)、ポリプロピレンオキシド(以PPOと略す)
、アクリル酸類から誘導されるエステル又はアミド(た
とえば、ポリメチルアクリレート、ポリブチルアクリレ
ート、ポリプロピルアクリレート、ポリメチルメタクリ
レート、ポリエチルメタクリレート、ポリアクリルアミ
ド、ポリ−N、N−ジメチルアクリルアミドなど)、ポ
リビニルアセテート、ポリビニルクロリド、ポリアクリ
ロニトリル、芳香族ビニルポリマー(たとえばポリスチ
レン、ポリビニルトルエンなど)、ポリビニルアルキル
エーテル(たとえばビニルエチルエーテル)などが挙げ
られる。
以下に一般式[1Fで表わされる繰り返し単位を有する
プレポリマーの具体例を示すが無論これらに限定される
ものではない。
N?・V 表  1 c−t   CH。
(80%) c−r   CHs −Co−C=C)I、   −Co−CH。
(15%)    (85%) 表 1  @ き) c−a           eHi C−9CH。
−CH,CH,−NHCO−CH=CH,−CH,CH
3(38%0                (61
5%)表 1  @ き) (26%)                (74%
)(45%) 表 l  @ き) (205%) (24%) (315%)               (69%
D表 1  @ き) α (215%) (30角a (35角0 以下に本発明に用いられるプレポリマーの合成例を示す
合成例  C−tの合成 市販のジアセチルセルロースlOg(0,037me 
J! )をピリジン200nlに溶解させ、ジメチルア
ミノピリジン0.5gの存在下、無水メタクリル酸17
g (0,l lsoJF)を室温で30分かけて滴下
した。その後室温で30分、40℃で1時間反応させた
反応後室温まで冷却し、メタノール41に対して反応液
を注入し再沈殿精製した。得られた結晶をメタノールに
て十分に洗浄した。
収量8.5g(収率68%) 構造はNMR,IR,元素分析にて確認した。
本発明に用いられる高分子マトリックスは相当するプレ
ポリマーの加熱及び/又は放射線照射による反応によっ
て重合及び/又は架橋して形成することができる。
相当するプレポリマーの加熱によって高分子マトリック
スを形成する場合には、0−01〜5モル%の開始剤を
加えておくと反応時間を短縮できる。
開始剤としては公知の開始剤が使用でき、例としてはア
ゾビス化合物、パーオキシド、ハイドロパーオキシド、
レドックス触媒など、例えば過硫酸カリウム、過硫酸ア
ンモニウム、t−ブチルパーオクトエイト、ベンゾイル
パーオキシド、イソプロピルパーカ−ボネート2.4−
ジクロロベンゾイルパーオキシド、メチルエチルケトン
パーオキシド、クメンハイドロパーオキシド、アゾビス
イソブチロニトリル、2.2°−アゾビス(2−アミジ
ノプロパン)ハイドロクロリドなどが挙げられる。
加熱温度は40〜150℃が好ましく、更に好ましくは
50〜120℃である。
相当するプレポリマーの放射線照射によって高分子化合
物を形成する場合に用いられる放射線としては紫外線や
可視光線、電子線及びX線が好ましい。放射線照射によ
って反応せしめる際には、放射線増感剤を加えてお(こ
とが反応を速やかに行なわせる上で好ましい。
この場合に用いることのできる増感剤としては、カルボ
ニル化合物、アゾビス化合物、パーオキシド、イオウ化
合物、ハロゲン化合物、酸化還元系化合物、カチオン重
合開始剤、ベンゾフェノン誘導体、ベンズアンスロン誘
導体、キノン類、芳香族ニトロ化合物、ナフトチアゾリ
ン誘導体、ベンゾチアゾリン誘導体、チオキサントン類
、ナフトチアゾール誘導体、ケトクマリン化合物、ベン
ゾチアゾール誘導体、ナフトフラノン化合物、ビリリウ
ム塩、チアピリリウム塩等をあげることが出来る。具体
的にはN、 N−ジエチルアミノベンゾフエノン、1.
2−ベンズアントラキノン、ベンズアンスロン、(3−
メチル−1、3−ジアザ−1,9−ベンズ)アンスロン
、ピクラミド、5−ニトロアセナフテン、2.6−ジク
ロロ−4−ニトロアニリン、p−ニトロアニリン、2−
クロルチオキサントン、2−イソプロピルチオキサント
ン、ジメチルチオキサントン、メチルチオキサントン−
l−エチルカルボキシレート、2−ニトロフルオレン、
2−ジベンゾイルメチレン−3−メチルナフトチアゾリ
ン、3,3−カルボニル−ビス(7−ジエチルアミノク
マリン)、2,4゜6−トリフェニルチアピリリウムバ
ークロレート、2−(P−クロルベンゾイル)ナフトチ
アゾール、エリスロシン、ローズベンガル、エオシン−
61ベンゾイル、2−メチルベンゾイル、トリメチルシ
リルベンゾイル4−メトキシベンゾフェノン、ミヒラー
ズケトン、ベンゾインメチルエーテル、アセトフェノン
、アントラキノン、ベンジル−2−クロロチオキサント
ン、2.2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン
、ベンゾイルパーオキシド、アゾビスプロパン、チオフ
ェノール、2−ブロモプロパン、■−クロロメチルナフ
タレン、p−メトキシフェニル−2,4−ジクロロメチ
ル−1,3,5−)リアジン、ベンゾフェノン/トリエ
タノールアミン系、2−スチルベン−4,6−トリクロ
ロメチル−1,3,5−トリアジン、などを挙げること
が出来る。
本発明に用いられる周期律表Ia族又はIIa族に属す
る金属イオンとしてはリチウム、ナトリウム、カリウム
のイオンがあげられ、代表的な金属イオンの塩としては
L i CFs SOs 、L i I、L iPFs
 、L iCIlOa 、L iBFa、L icFz
 Cot 、Li SCN、NaCIO4、Na 11
NaCF3SO3、NaBF4、NaAsF、 、KC
F、So、 、KSCN。
KPF、 、KCIO,、KAsF、などが挙げられる
。好ましくは、上記のLi塩である。これらは1種又は
2種以上を混合してもよい。
本発明に用いられる極性中性溶媒に対する該金属イオン
の塩の比率は、溶解度以下の量を用いればよいが、おお
むね0. 1〜5mojF74Fの濃度で用いるのが好
ましく、さらに好ましくは0.3〜3 IIo l /
 lである。該金属イオンの塩の量が溶解度以上になる
と析出した塩の影響でイオン伝導度が低下し、また量が
少なすぎると有効イオン濃度が低下し、イオン伝導性も
低下してしまう。また、NBu、BF、などのような他
の電解質を混合して用いてもよい。
本発明に用いられる極性中性溶媒としては一般式(1)
で表わされる本発明のプレポリマーと周期律表Ia又は
IIa族に属する金属イオンの塩をともに溶解する極性
中性溶媒を用いる。好ましい極性中性溶媒としては、カ
ーボネート類、たとえばエチレンカーボネート、プロピ
レンカーボネート、ビニレンカーボネート、エチレンカ
ーボネート、プロピルカーボネート、 (,1−にH−1;HtOCHx   CHsOqHt
 に■、OCR。
にHtOHl;IbOCtTo    (,HzOCO
tClbU    1 0   、   υ   、 
  Uなど、 ラクトン類たとえばγ−ブチロラクトン(以下γ−BL
と略す)、γ−バレロラクトン、γ−カブリロラクトン
、クロトラクトン、γ−カプロラクトン、δ−バレロラ
クトン、 m   r”I     FA ジオキソラン、テトラヒドロフラン、2−メチルテトラ
ヒ口ドフラン、3−メチルテトラヒドロフラン、2.5
−ジメチルテトラヒドロフラン、テトラヒドロフラン、
2−メチルテトラヒロドピラン、3−メチルテトラヒ口
ドビラン、3−メチル−2−オキサゾリドン、ジメチル
スルホキシド、スルホラン、ジメチルホルムアミド、ジ
メチルアセトアミド、アセトニトリル、ニトロメタン、
N−メチルピロリジノン、ジメチルサルファイド、ギ酸
メチル、1.2−ジメトキシエタン、ジエチルエーテル
、オキシ塩化リン、塩化チオニル、塩化スルフリル、エ
チレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコ
ールジメチルエーテル、トリエチレングリコールジメチ
ルエーテル、テトラエチレングリコールジメチルエーテ
ル、CH5−0イCHtCHt−Oty C1,(11
= 5〜15)、エチレングリコールジアセテート、ジ
エチレングリコールジアセテート、トリエチレングリコ
ールジアセテート、テトラエチレングリコールジアセテ
ート、CHsCOffCToCHz−o−)−CO−C
H3(m = 5〜15)、などがあげられ、これらの
極性中性溶媒は1種又は2種以上を混合して用いてもよ
い。
これらの極性中性溶媒はプレポリマーに対して1〜20
倍(重量比)用いるのが好ましくさらに好ましくは3〜
15倍である。
また、本発明の高分子固体電解質を形成するときには本
発明に用いられるプレポリマーと上記金属イオンの塩を
ともに溶解する溶剤を併用してもよい。この溶剤の好ま
しい例としてはアセトン、アセトニトリル、テトラヒド
ロフラン、メチルエチルケトン、イソプロパノール、エ
タノール、ジメトキシエタンなどの沸点100℃以下の
溶剤が挙げられる。
以下に本発明の高分子固体電解質の一般的形成法を示す
・加熱重合による形成 一般式[I]で表されるプレポリマー、周期律表1a又
はIIa族に属する金属イオンの塩、必要により加熱重
合開始剤及び場合によっては他の七ツマ−等を極性中性
溶媒に溶解し、テフラン板上等にキャスティングする。
このキャスティング液を窒素ガスまたはアルゴンガス雰
囲気下40〜150℃で0.1〜10時間、好ましくは
0. 1〜4時間、反応させ、さらに必要により50〜
200mmHHの減圧下で0.5〜2時間乾燥させる。
・放射線照射重合又は架橋による形成 一般式[1]で表されるプレポリマー、周期律表1a又
は■a族に属する金属イオンの塩、必要に応じ光重合開
始剤及び場合によっては他のモノマ一等を極性中性溶媒
に溶解し、テフリン板上等にキャスティングする。この
キャスティング液に対し窒素ガスまたはアルゴンガス雰
囲気下、室温で超高圧水銀灯、電子線などの活性光線を
0− 1〜60分間照射して重合させ、必要によりさら
に50〜200mmHgの減圧下で0−5〜2時間乾燥
させる。放射線照射による重合又は架橋によって高分子
固体電解質を形成させる場合には加熱するとさらに反応
時間が短縮できて好ましい。また、放射線照射による重
合又は架橋を行った後、さらに加熱すると反応率を向上
させる上で好ましい。
〔実施例〕
以下、実施例を用いて詳細に説明するが、本発明はこれ
らに限定されるものではない。
実施例1 プレポリマーC−1,プロピレンカーボネート(P C
)及びL iCII O4を表2に示した組成比になる
ようにアセトンに溶解させ、これにベンゾイルパーオキ
シドをプレポリマーに対して0.5重量%添加してテフ
ロン板上にキャスティングした。このキャスティング液
をアルゴンガス雰囲気下、80℃で2時間重合させ、無
色で透明性にすぐれた薄膜(1)〜(2)を得た。さら
に上記と同様の方法で表3に示した薄膜(3)〜aa1
を得た。
また比較例として特開昭63−135477号に記載さ
れた下記のモノマー(E−l)及び(E−2)と表2中
記載の低分子量PEO及び金属イオンの塩からなる七ツ
マ−組成物を加熱重合して高分子マトリックス化した薄
膜(a)(b)を作成した。ただしくE−l)と(E−
2)の重量比は3/1である。
(E−l) CH2=CH C(MCHtCH2−Oh CHs (E−2) このようにして得た薄膜についてステンレス/薄膜/ス
テンレスからなる試料を作成し、0.1〜lOKHzで
インピーダンスを測定しく25℃)、Cole−Col
eプロットからイオン伝導度を求めた。
また製膜性は次の方法で求めた。
薄膜を巾1aa、長さ5Cl+の長方形に打抜き、長袖
方向に引っ張り試験を行ない、薄膜が切断したときの荷
重を測定し、薄膜の断面積で除して引っ張り1度とした
上記の評価結果を表2に示した。
表2かられかるように、本発明の実施例1の(1)〜G
ωは比較例(a)(b)に比べて室温付近でのイオン伝
導性、製膜性ともに優れていることが明らかである。
実施例2 プレポリマーC−8、PC及びL s B F aを表
3に示した組成比になるようにアセトンに溶解させ、こ
れにベンゾフェノンをプレポリマーに対してl−o重量
%添加してアルミホイル上にキャスティングした。この
キャスティング液からアセトンを減圧除去(100mm
Hg/1時間)した後、アルゴンガス雰囲気下、25℃
で3時間、高圧水銀灯を照射して反応させ無色で透明性
にすぐれた薄膜(1m)(121を得た。さらに同様の
操作で表4に示した薄膜(13〜(25)を得た。この
場合、薄膜(旧、(麹、(23)〜(25)については
60℃で光照射した。
また、比較例として、米国特許第4,830゜939号
に記載されている前記七ツマ−(E−l)及び下記のモ
ノマー(E−3)と表3中に記載の極性中性溶媒及び金
属イオンの塩からなるモノマー組成物を放射線重合して
高分子マトリックスに形成した薄膜(C)〜(e)を作
成した。ただしE−lとE−3の重量比は80/20で
ある。
(E−3) CH。
0−Co−CH=CH。
このようにして得た薄膜について実施例1と全く同様に
してイオン伝導度と製膜性を評価した。
結果を表3に示した。
表3かられかるように、本発明の実施例2のaυ〜(2
5)は比較例(c)〜(e)に比べて、室温付近でのイ
オン伝導性および製膜性ともに優れていることが明らか
である。
[発明の効果] 本発明によると、室温以下でのイオン伝導性にすぐれ、
かつ製膜性も良好な高分子固体電解質を得ることができ
る。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1) 分子内に下記一般式[ I ]で表わされるくり
    返し単位を有する反応性ポリマーを、周期律表 I a又
    はIIa族に属する金属イオンの塩及びこれら両者を溶解
    する極性中性溶媒の存在下で重合及び/又は架橋して高
    分子マトリックスに形成せしめたことを特徴とする高分
    子固体電解質。 一般式[ I ] ▲数式、化学式、表等があります▼ (式中、X、Y、Zはそれぞれ下記一般式 [II]旧又は[III]で表わされる基であるが、プレポ
    リマー中のX、Y、Zのうち少なくとも1%以上は一般
    式[II]で表わされる反応性基である。 一般式[II] ▲数式、化学式、表等があります▼ 一般式[III] ▲数式、化学式、表等があります▼ 式中、Dは熱及び/又は放射線反応性基を 表わし、Aは ▲数式、化学式、表等があります▼ −SO_2−を表わし、W^1は水素原子又は低級アル
    キル基を表わす。Lはアルキレン基、アリーレン基又は ▲数式、化学式、表等があります▼を表 わし、L^1及びL^2はそれぞれアルキレン基又はア
    リーレン基を表わし、Yは−O−、 ▲数式、化学式、表等があります▼ 又は ▲数式、化学式、表等があります▼を表わし、W^2は
    W^1と同 義であり、kは0又は1である。Bは ▲数式、化学式、表等があります▼ −O−又はフエニレン基を表わし、R^1はW^1と同
    義である。Eは−CO−、−SO_2−、▲数式、化学
    式、表等があります▼ を表わし、R^1はW^1と同義 である。Fはアルキル基、アリール基又はこれらの基を
    組合せた基を表わす。 a、b、c、dはそれぞれ独自に0又は1 である。ただし、a=1でかつAが −CONH−又は−CO−のときはb=1である。)
  2. (2) 該高分子マトリックスを形成する際に、加熱に
    よる方法を用いることを特徴とする特許請求の範囲第(
    1)項記載の高分子固体電解質。
  3. (3) 該高分子マトリックスを形成する際に、放射線
    照射による方法を用いることを特徴とする特許請求の範
    囲第(1)項記載の高分子固体電解質。
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