JPH03152405A - 位置比較装置 - Google Patents
位置比較装置Info
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- JPH03152405A JPH03152405A JP29173089A JP29173089A JPH03152405A JP H03152405 A JPH03152405 A JP H03152405A JP 29173089 A JP29173089 A JP 29173089A JP 29173089 A JP29173089 A JP 29173089A JP H03152405 A JPH03152405 A JP H03152405A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、電子部品の検査装置などに搭載される位置比
較装置に関する。
較装置に関する。
(従来の技術)
近年、第9図、第10図に示すT A B (Tape
Autemated Bonding)テープとよば
れる電子部品が用いられている。このTABテープ1は
、リール2に巻かれた状態で取り扱われる。TABテー
プ1は、1フレ一ム単位で導電パターンなどによって構
成される配線部3が形成されている。この配線部3には
、半導体集積回路などがボンディングされ、第10図に
示す一点鎖線に沿って切断されて、電卓1時計などの電
子機器に装備される。また、テープ1の上下端部には送
り穴4が形成されている。
Autemated Bonding)テープとよば
れる電子部品が用いられている。このTABテープ1は
、リール2に巻かれた状態で取り扱われる。TABテー
プ1は、1フレ一ム単位で導電パターンなどによって構
成される配線部3が形成されている。この配線部3には
、半導体集積回路などがボンディングされ、第10図に
示す一点鎖線に沿って切断されて、電卓1時計などの電
子機器に装備される。また、テープ1の上下端部には送
り穴4が形成されている。
TABテープ1は、配線部3の導電不良の有無などの導
電状態を検査する必要がある。かかる検査はTABテー
プ検査装置によって自動的に行う。
電状態を検査する必要がある。かかる検査はTABテー
プ検査装置によって自動的に行う。
TABテープ検査装置による配線部3の導電状態の検査
について説明する。
について説明する。
TAB検査装置にTABテープ1が巻かれたリール2を
セットし、テープ1は装置のスプロケットの回転動作に
よって走行する。
セットし、テープ1は装置のスプロケットの回転動作に
よって走行する。
そして、テープ1を1フレ一ム単位ごと測定装置に設け
られている検査治具に対し位置調整した後、配線部3を
検査治具に接触させるなどして、配線部3の導電状態を
検査する。
られている検査治具に対し位置調整した後、配線部3を
検査治具に接触させるなどして、配線部3の導電状態を
検査する。
TABテープ1の検査治具に対する位置調整はかなり高
精度に行う必要がある。このため測定装置にカメラを固
定して設け、テープ1を撮像し、この像を予め装置内に
記憶された基準となる配線部の像と比−較し、その結果
に基づいてテープ1と測定装置を相対的に移動して、テ
ープ1の検査治具に対する位置調整を行うようにしてい
る。
精度に行う必要がある。このため測定装置にカメラを固
定して設け、テープ1を撮像し、この像を予め装置内に
記憶された基準となる配線部の像と比−較し、その結果
に基づいてテープ1と測定装置を相対的に移動して、テ
ープ1の検査治具に対する位置調整を行うようにしてい
る。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、従来の装置では、TABテープ1のみを
撮像し、位置調整を行うようにしているので、テープと
検査治具とのずれが生じやすく、十分な位置決め精度を
だすことができない。
撮像し、位置調整を行うようにしているので、テープと
検査治具とのずれが生じやすく、十分な位置決め精度を
だすことができない。
また、上記のTABテープ検査装置において高精度に位
置調整を行うためには、大がかりで、しかも、かなり高
い精度をもった検査装置が必要となる。
置調整を行うためには、大がかりで、しかも、かなり高
い精度をもった検査装置が必要となる。
(課題を解決するための手段)
本発明は、上記従来の問題点を解決するためになされた
ものであり、本発明は、対向して配置されている第1の
物体と、第2の物体の双方からの反射光を反射する反射
手段と、前記反射手段によって反射された光を受け、第
1の物体と第2の物体を撮像する撮像手段と、前記撮像
手段が撮った画像に基づいて第1の物体と第2の物体の
位置を比較する画像処理手段とを有して成る位置比較装
置である。
ものであり、本発明は、対向して配置されている第1の
物体と、第2の物体の双方からの反射光を反射する反射
手段と、前記反射手段によって反射された光を受け、第
1の物体と第2の物体を撮像する撮像手段と、前記撮像
手段が撮った画像に基づいて第1の物体と第2の物体の
位置を比較する画像処理手段とを有して成る位置比較装
置である。
(作 用)
本発明では、反射手段によって、第1の物体からの反射
光と、第2の物体からの反射光が、撮像手段に向かって
反射され、撮像手段が第1の物体と第2の物体を撮像す
る。そして、撮像手段が撮った画像に基づいて1画像処
理手段が第1の物体の位置と、第2の物体の位置を比較
する。
光と、第2の物体からの反射光が、撮像手段に向かって
反射され、撮像手段が第1の物体と第2の物体を撮像す
る。そして、撮像手段が撮った画像に基づいて1画像処
理手段が第1の物体の位置と、第2の物体の位置を比較
する。
(実 施 例)
以下本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第3図において符号10はTABテープ検査装置を示す
。
。
同図において符号11は装置本体を示し、この装置本体
11には、一対のリール台12.13が設けられている
。リール台12には、供給リール15が取付けられてい
る。この供給リール15には、TABテープ1と、スペ
ースフィルム14が巻かれている。このスペースフィル
ム14は、リール15にTABテープ1が巻かれた状態
で運搬する際、TABテープ1が損傷するのを防止する
ためのものであり、TABテープ1間に介在するように
巻かれている。リール台13には収容り−ル16が取付
けられている。また装置本体11にはスペースフィルム
誘導用のローラー17が7個、配設されている。
11には、一対のリール台12.13が設けられている
。リール台12には、供給リール15が取付けられてい
る。この供給リール15には、TABテープ1と、スペ
ースフィルム14が巻かれている。このスペースフィル
ム14は、リール15にTABテープ1が巻かれた状態
で運搬する際、TABテープ1が損傷するのを防止する
ためのものであり、TABテープ1間に介在するように
巻かれている。リール台13には収容り−ル16が取付
けられている。また装置本体11にはスペースフィルム
誘導用のローラー17が7個、配設されている。
装置本体11には、供給側アイドルリール18と供給側
スプロケット20、さらに収容側アイドルリール19と
収容側スプロケット21が配設されている。スプロケッ
ト20.21はモータによって駆動されるようになって
いる。
スプロケット20、さらに収容側アイドルリール19と
収容側スプロケット21が配設されている。スプロケッ
ト20.21はモータによって駆動されるようになって
いる。
符号27.28はテープクランプを示し、このテープク
ランプ27.28によって5テープ1の導電状態を検査
する際に、テープ1が固定される。
ランプ27.28によって5テープ1の導電状態を検査
する際に、テープ1が固定される。
テープクランプ27の左側には、テープ1の送り量等を
検知するためのセンサ29が配置されている。
検知するためのセンサ29が配置されている。
符号23は測定装置を示し、この測定装置23は上下方
向、さらにテープ1が張られている方向(以下X方向と
いう)と、テープ1に直交する方向(以下Y方向という
)へ移動するようになっている。
向、さらにテープ1が張られている方向(以下X方向と
いう)と、テープ1に直交する方向(以下Y方向という
)へ移動するようになっている。
測定装置23の上面には第5図、第6図に示すように導
電性ゴムシートによって構成されている検査治具50が
備えられている。この導電性ゴムシートは、加圧状態で
または無加圧状態のままで厚み方向に導電路を形成する
複数の導電路形成部とこれら導電路形成部の相互間を絶
縁する絶縁部とにより構成されてなるものである。この
導電性ゴムシートの具体的な構成例としては、(1)金
属繊維や炭素繊維等の導電性繊維を弾性体シート中の厚
み方向に並列に埋設した構成、(2)導電性カーボンを
含有してなる導電性ゴムとを交互に積層した構成、(3
)粒径1〜100μm程度の導電性磁性体粒子を弾性体
シート中に厚み方向に配列した状態で含有させた構成な
どを挙げることができる。そして、この導電性ゴムシー
トの下には、テープ1の被測定配線部3と対応する測定
電極が例えばプリント基板などの形態で形成されている
。検査冶具50にはテスターが接続されており、検査治
具にTABテープ1を接触させることによって第10図
に示したテープ1の配線部3の導電状態を測定すること
ができるようになっている。
電性ゴムシートによって構成されている検査治具50が
備えられている。この導電性ゴムシートは、加圧状態で
または無加圧状態のままで厚み方向に導電路を形成する
複数の導電路形成部とこれら導電路形成部の相互間を絶
縁する絶縁部とにより構成されてなるものである。この
導電性ゴムシートの具体的な構成例としては、(1)金
属繊維や炭素繊維等の導電性繊維を弾性体シート中の厚
み方向に並列に埋設した構成、(2)導電性カーボンを
含有してなる導電性ゴムとを交互に積層した構成、(3
)粒径1〜100μm程度の導電性磁性体粒子を弾性体
シート中に厚み方向に配列した状態で含有させた構成な
どを挙げることができる。そして、この導電性ゴムシー
トの下には、テープ1の被測定配線部3と対応する測定
電極が例えばプリント基板などの形態で形成されている
。検査冶具50にはテスターが接続されており、検査治
具にTABテープ1を接触させることによって第10図
に示したテープ1の配線部3の導電状態を測定すること
ができるようになっている。
測定装置23の上側には、加圧装置25が設けられてい
る。加圧装置25には、加圧板と加圧ばねによって構成
される加圧部が設けられ、この加圧部は測定装置23の
検査治具50に対向している。加圧装置25は上下方向
に動作できるようになっている。
る。加圧装置25には、加圧板と加圧ばねによって構成
される加圧部が設けられ、この加圧部は測定装置23の
検査治具50に対向している。加圧装置25は上下方向
に動作できるようになっている。
符号30は、TABテープ1と検査治具との位置を検出
するための装置を示す。この装置30の詳細な構成を第
2図に示す。
するための装置を示す。この装置30の詳細な構成を第
2図に示す。
同図において符号31は物体像捕捉装置を示し、この物
体像捕捉装置31はL字形状を有しており、Yテーブル
32に固定されている。Yテーブル32はY方向移動自
在にしてXテーブル33に取付けられ、このYテーブル
32はモータ35によって駆動されるようになっている
。Xテーブル33はX方向移動自在にしてベース34に
取付けられ、このXテーブル33はモータ36によって
駆動されるようになっている。
体像捕捉装置31はL字形状を有しており、Yテーブル
32に固定されている。Yテーブル32はY方向移動自
在にしてXテーブル33に取付けられ、このYテーブル
32はモータ35によって駆動されるようになっている
。Xテーブル33はX方向移動自在にしてベース34に
取付けられ、このXテーブル33はモータ36によって
駆動されるようになっている。
第1図、第2図に物体像捕捉装置の内部構造を示す。同
図に示すように物体像捕捉装置のヘッド部38の先端部
上下面には、開口部4o、41が形成されている。ヘッ
ド部38内には、反射手段としての直角プリズム42が
、支持台43に接着されて設けられている。この直角プ
リズム42は開口部40.41がら入射した光を直角方
向へ反射するものである。直角プリズム42の反射方向
には、対物レンズ44がレンズホルダ45に保持されて
配置されている。
図に示すように物体像捕捉装置のヘッド部38の先端部
上下面には、開口部4o、41が形成されている。ヘッ
ド部38内には、反射手段としての直角プリズム42が
、支持台43に接着されて設けられている。この直角プ
リズム42は開口部40.41がら入射した光を直角方
向へ反射するものである。直角プリズム42の反射方向
には、対物レンズ44がレンズホルダ45に保持されて
配置されている。
さらにヘッド部38内の基端部には、反射プリズム46
が配設されている。反射プリズム46の反射方向には、
撮像手段としてのカメラC及び画像処理装置60が備え
られており、対物レンズ44の結像を撮像し画像処理し
て位置検出をするようになっている。この画像処理装置
は、開口部40.41からの画像のずれ(光軸が一致し
ない部分)を修正して、2つの像の位置を検出する。カ
メラCによって撮られた画像は第1図に示した装置本体
に備えられているモニターテレビ51に写し出されるよ
うになっている。
が配設されている。反射プリズム46の反射方向には、
撮像手段としてのカメラC及び画像処理装置60が備え
られており、対物レンズ44の結像を撮像し画像処理し
て位置検出をするようになっている。この画像処理装置
は、開口部40.41からの画像のずれ(光軸が一致し
ない部分)を修正して、2つの像の位置を検出する。カ
メラCによって撮られた画像は第1図に示した装置本体
に備えられているモニターテレビ51に写し出されるよ
うになっている。
符号48.49は照明灯を示し、これらの照明灯48.
49は、ヘッド部38の上下面先端部に図示しない機構
によって支持されている。この照明灯48.49は装置
周囲が明るければ省略できる。
49は、ヘッド部38の上下面先端部に図示しない機構
によって支持されている。この照明灯48.49は装置
周囲が明るければ省略できる。
TABテープ検査装置10には、カメラCによって撮ら
れた複数の物体の画像を処理して、物体の位置を比較す
る画像処理手段としての画像処理装置60が装備されて
いる。
れた複数の物体の画像を処理して、物体の位置を比較す
る画像処理手段としての画像処理装置60が装備されて
いる。
物体像捕捉装置31、カメラCおよび上記画像処理装置
6oによって位置比較装置が構成されている。
6oによって位置比較装置が構成されている。
次に、TABテープ検査装置10の動作について説明す
る。
る。
TABテープ検査装置10の作動開始時においては、加
圧装置25は上方に移動した状態となっており、この加
圧装置25の加圧部は、測定装置23の上面に設けられ
ている検査治具50から離れた状態となっている。さら
にテープクランプ27.28は、テープ1を保持する状
態になっておらず、テープ1は走行可能な状態となって
いる。
圧装置25は上方に移動した状態となっており、この加
圧装置25の加圧部は、測定装置23の上面に設けられ
ている検査治具50から離れた状態となっている。さら
にテープクランプ27.28は、テープ1を保持する状
態になっておらず、テープ1は走行可能な状態となって
いる。
スプロケット20.21の回転動作によって、供給リー
ル15からTABテープ1が引き出され、所定のピッチ
すなわち1フレ一ム単位(検査単位)毎、−点鎖線で示
す経路にしたがって送られ、収容リール16に巻き取れ
られる。この際、スペースフィルム14はスペースフィ
ルム誘導用ローラー17に誘導されて、収容リール16
に巻き取れられる。
ル15からTABテープ1が引き出され、所定のピッチ
すなわち1フレ一ム単位(検査単位)毎、−点鎖線で示
す経路にしたがって送られ、収容リール16に巻き取れ
られる。この際、スペースフィルム14はスペースフィ
ルム誘導用ローラー17に誘導されて、収容リール16
に巻き取れられる。
テープ1の測定装置23に設けられた検査治具に対する
位置決め動作、ならびにテープ1の導電状態を検査する
ための動作について第8図のフローチャートにしたがっ
て説明する。
位置決め動作、ならびにテープ1の導電状態を検査する
ための動作について第8図のフローチャートにしたがっ
て説明する。
TABテープ1が所定ピッチ送られると、テープ1は停
止しくステップS工)、テープクランプ27.28によ
って、テープ1が保持され、テープ1の検査対象となる
部分が固定され、同時に平面度が保たれた状態となる(
ステップS2)。この時、測定装置23はテープlと離
間対向した待機位置にいる。
止しくステップS工)、テープクランプ27.28によ
って、テープ1が保持され、テープ1の検査対象となる
部分が固定され、同時に平面度が保たれた状態となる(
ステップS2)。この時、測定装置23はテープlと離
間対向した待機位置にいる。
そして、Yテーブル32とともに、物体像捕捉装置31
がY方向へ移動し、物体像捕捉装置31のヘッド部38
は、第5図、第6図、第7図に示すようにテープ1と測
定装置23との間へ進出する(ステップS、)。
がY方向へ移動し、物体像捕捉装置31のヘッド部38
は、第5図、第6図、第7図に示すようにテープ1と測
定装置23との間へ進出する(ステップS、)。
第2図に示すように照明灯49によって測定装置23の
上面に設けられている検査治具50のエラ部分周辺が照
明される。この測定装置23側からの反射光は、開口部
41からヘッド部38内に入り、直角プリズム42によ
って対物レンズ44に向かって反射される。さらに対物
レンズ44を通過した光は1反射プリズム46によって
反射しカメラCに導かれて、対物レンズ44の結像とし
て検査治具50のエツジ部分がカメラCによって撮像さ
れる。そして1画像処理によって検査治具50のエツジ
部分の位置が画像処理装置60に記憶される(ステップ
54)− 次に、照明灯48によってテープ1が照明される。この
テープ1側からの反射光は、開口部40からヘッド部3
8内に入り、反射プリズム42によって対物レンズ44
に向かって反射される。さらに対物レンズ44を通過し
た光は1反射プリズム46によって反射しカメラCに導
かれて、対物レンズ44の結像としてテープ1の検査対
象となる部分がカメラCによって撮像され、画像処理に
よって検査対象の位置を検出する(ステップS、)。
上面に設けられている検査治具50のエラ部分周辺が照
明される。この測定装置23側からの反射光は、開口部
41からヘッド部38内に入り、直角プリズム42によ
って対物レンズ44に向かって反射される。さらに対物
レンズ44を通過した光は1反射プリズム46によって
反射しカメラCに導かれて、対物レンズ44の結像とし
て検査治具50のエツジ部分がカメラCによって撮像さ
れる。そして1画像処理によって検査治具50のエツジ
部分の位置が画像処理装置60に記憶される(ステップ
54)− 次に、照明灯48によってテープ1が照明される。この
テープ1側からの反射光は、開口部40からヘッド部3
8内に入り、反射プリズム42によって対物レンズ44
に向かって反射される。さらに対物レンズ44を通過し
た光は1反射プリズム46によって反射しカメラCに導
かれて、対物レンズ44の結像としてテープ1の検査対
象となる部分がカメラCによって撮像され、画像処理に
よって検査対象の位置を検出する(ステップS、)。
尚、カメラCに入射するテープ1、検査治具50の像は
プリズム42により光軸が上下にずれるが、このずれは
画像処理装置60で予め修正されるので、上下像の正確
な位置が検出できる。
プリズム42により光軸が上下にずれるが、このずれは
画像処理装置60で予め修正されるので、上下像の正確
な位置が検出できる。
そして、画像処理装置60によって検出されたテープ1
の位置と、既に記憶されている検査治具50のエツジ部
分の位置を比較し、検査対象となるテープ1の部分と、
検査治具50とのずれを求め、測定装置23の移動を指
示する(ステップSG)。
の位置と、既に記憶されている検査治具50のエツジ部
分の位置を比較し、検査対象となるテープ1の部分と、
検査治具50とのずれを求め、測定装置23の移動を指
示する(ステップSG)。
勿論、ずれが無ければ指示は出ない。
次いで、この画像処理結果に基づいて、モータの作動を
コンピュータによって制御して、 il!l装定23を
X方向およびY方向へ移動させて、テープ1の検査治具
50に対する位置合わせを行う(ステップS7)。
コンピュータによって制御して、 il!l装定23を
X方向およびY方向へ移動させて、テープ1の検査治具
50に対する位置合わせを行う(ステップS7)。
その後、物体像捕捉装置31をYテーブル32とともに
Y方向へ移動させ、物体像捕捉装置31のヘッド部38
を、テープ1と測定装置23との間の外へ後退させる(
ステップSS)。
Y方向へ移動させ、物体像捕捉装置31のヘッド部38
を、テープ1と測定装置23との間の外へ後退させる(
ステップSS)。
次いで、測定装置23を上昇させてから加圧装置25を
下降させ、加圧部によってテープ1の配線部3を検査治
具50に押し付けて、配線部3の導電状態を検査する(
ステップS、、)。
下降させ、加圧部によってテープ1の配線部3を検査治
具50に押し付けて、配線部3の導電状態を検査する(
ステップS、、)。
さらに、検査装置10は検査開始前の状態に復帰して(
ステップS、。)、テープ1の走行、停止、テープクラ
ンプ27.28によるテープ1の保持。
ステップS、。)、テープ1の走行、停止、テープクラ
ンプ27.28によるテープ1の保持。
加圧装置25の下降、および測定装置23の上昇による
テープ1の配線部3の導電状態の検査の工程を繰り返し
て行う。
テープ1の配線部3の導電状態の検査の工程を繰り返し
て行う。
ステップS7における測定装置23のX方向、Y方向へ
の駆動は、マニアル操作により行うようにしてもよい。
の駆動は、マニアル操作により行うようにしてもよい。
尚、上記の物体像捕捉装置31による測定装置23の検
査治具50のエツジ部分の撮像ならびにエツジ部分の位
置記憶、テープ1の撮像、さらに測定装置23の位置調
整動作を行う時期は任意設定することが可能であるが、
実際の測定作業においては、供給リール15に巻装され
たテープ1の検査が終了し、新たに検査するテープ1が
巻装されている供給リール15を検査装置10に取付け
て、装置を再始動した際に行うようにする。また、テー
プ1の位置と検査治具50との位置にずれが生じ、検査
が行えなくなった場合にのみ上記位置調整動作を行うよ
うにしてもよい。さらにテープ1の所定数の単位フレー
ム毎や、室温が変わった時等に行うようにしてもよい。
査治具50のエツジ部分の撮像ならびにエツジ部分の位
置記憶、テープ1の撮像、さらに測定装置23の位置調
整動作を行う時期は任意設定することが可能であるが、
実際の測定作業においては、供給リール15に巻装され
たテープ1の検査が終了し、新たに検査するテープ1が
巻装されている供給リール15を検査装置10に取付け
て、装置を再始動した際に行うようにする。また、テー
プ1の位置と検査治具50との位置にずれが生じ、検査
が行えなくなった場合にのみ上記位置調整動作を行うよ
うにしてもよい。さらにテープ1の所定数の単位フレー
ム毎や、室温が変わった時等に行うようにしてもよい。
本発明の位置比較装置は、実施例に示したTABテープ
検査装置に適用するだけでなく、自動成形機などに搭載
された金型の雄型と雌型との位置合わせ、その他2物体
の位置比較を要するあらゆる装置に応用することが可能
である。
検査装置に適用するだけでなく、自動成形機などに搭載
された金型の雄型と雌型との位置合わせ、その他2物体
の位置比較を要するあらゆる装置に応用することが可能
である。
そして、くり返しの位置調整動作ではテープ側のみ撮像
、画像処理して、既に記憶した検査治具の位置と比較し
てもよい。
、画像処理して、既に記憶した検査治具の位置と比較し
てもよい。
(発明の効果)
以上のように本発明によれば1反射手段によって第1の
物体と、第2の物体双方からの反射光を撮像手段に対し
反射し、画像処理手段により撮像手段からの情報に基づ
いて、第1の物体と第2の物体を位置を比較する構成と
したので、位置比較装置の構成を簡単にでき、しかも精
度の高い位置比較ができるようになる。
物体と、第2の物体双方からの反射光を撮像手段に対し
反射し、画像処理手段により撮像手段からの情報に基づ
いて、第1の物体と第2の物体を位置を比較する構成と
したので、位置比較装置の構成を簡単にでき、しかも精
度の高い位置比較ができるようになる。
第1図と第2図は物体像捕捉装置31の内部構造を示す
図、第3図はTABテープ検査装匝の構成を示す図、第
4図は第1図のTABテープ検査装置に搭載されている
物体像捕捉装置31ならびにその駆動機構を示す斜視図
、第5図から第7図は物体像捕捉装置の動作を示す図、
第8図はテープの検査治具に対する位置決め動作ならび
にテープ1の導電状態の検査動作を示すフローチャート
。 第9図と第10図はTABテープを示す図である。 1・・・TABテープ、3・・・配線部、10・・・T
AB検査装置、23・・・測定装置、31・・・物体像
位置捕捉装置、42・・・直角プリズム、5o・・・検
査治具 ち4図 もV(社)
図、第3図はTABテープ検査装匝の構成を示す図、第
4図は第1図のTABテープ検査装置に搭載されている
物体像捕捉装置31ならびにその駆動機構を示す斜視図
、第5図から第7図は物体像捕捉装置の動作を示す図、
第8図はテープの検査治具に対する位置決め動作ならび
にテープ1の導電状態の検査動作を示すフローチャート
。 第9図と第10図はTABテープを示す図である。 1・・・TABテープ、3・・・配線部、10・・・T
AB検査装置、23・・・測定装置、31・・・物体像
位置捕捉装置、42・・・直角プリズム、5o・・・検
査治具 ち4図 もV(社)
Claims (1)
- 対向して配置されている第1の物体と、第2の物体の双
方からの反射光を反射する反射手段と、前記反射手段に
よって反射された光を受け、第1の物体と第2の物体を
撮像する撮像手段と、前記撮像手段が撮った画像に基づ
いて第1の物体と第2の物体の位置を比較する画像処理
手段とを有する位置比較装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1291730A JP2535078B2 (ja) | 1989-11-09 | 1989-11-09 | 位置比較装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1291730A JP2535078B2 (ja) | 1989-11-09 | 1989-11-09 | 位置比較装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03152405A true JPH03152405A (ja) | 1991-06-28 |
| JP2535078B2 JP2535078B2 (ja) | 1996-09-18 |
Family
ID=17772657
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1291730A Expired - Lifetime JP2535078B2 (ja) | 1989-11-09 | 1989-11-09 | 位置比較装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2535078B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109506133A (zh) * | 2018-11-09 | 2019-03-22 | 深圳市施罗德工业测控设备有限公司 | 一种管道定位装置、系统及方法 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55154405A (en) * | 1979-02-27 | 1980-12-02 | Settsu Torasuto:Kk | Method and device for measuring physical characteristic of target surface |
| JPS55154404A (en) * | 1979-02-27 | 1980-12-02 | Settsu Torasuto:Kk | Method and device for measuring physical characteristic of target surface |
| JPS61172003A (ja) * | 1985-01-28 | 1986-08-02 | Hitachi Ltd | プリント基板パタ−ン検査装置 |
| JPH01127052U (ja) * | 1988-02-19 | 1989-08-30 |
-
1989
- 1989-11-09 JP JP1291730A patent/JP2535078B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55154405A (en) * | 1979-02-27 | 1980-12-02 | Settsu Torasuto:Kk | Method and device for measuring physical characteristic of target surface |
| JPS55154404A (en) * | 1979-02-27 | 1980-12-02 | Settsu Torasuto:Kk | Method and device for measuring physical characteristic of target surface |
| JPS61172003A (ja) * | 1985-01-28 | 1986-08-02 | Hitachi Ltd | プリント基板パタ−ン検査装置 |
| JPH01127052U (ja) * | 1988-02-19 | 1989-08-30 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109506133A (zh) * | 2018-11-09 | 2019-03-22 | 深圳市施罗德工业测控设备有限公司 | 一种管道定位装置、系统及方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2535078B2 (ja) | 1996-09-18 |
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