JPH031536A - シリコン半導体ウエハの切断回収方法 - Google Patents
シリコン半導体ウエハの切断回収方法Info
- Publication number
- JPH031536A JPH031536A JP13703789A JP13703789A JPH031536A JP H031536 A JPH031536 A JP H031536A JP 13703789 A JP13703789 A JP 13703789A JP 13703789 A JP13703789 A JP 13703789A JP H031536 A JPH031536 A JP H031536A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- holding mechanism
- semiconductor wafer
- cutter
- sucking
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 41
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 22
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims abstract description 35
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 29
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims abstract description 18
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims description 78
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 25
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 abstract description 18
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 12
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 2
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- 101100389815 Caenorhabditis elegans eva-1 gene Proteins 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000008602 contraction Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B28—WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
- B28D—WORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
- B28D1/00—Working stone or stone-like materials, e.g. brick, concrete or glass, not provided for elsewhere; Machines, devices, tools therefor
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B28—WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
- B28D—WORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
- B28D5/00—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
- B28D5/0058—Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material
- B28D5/0082—Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material for supporting, holding, feeding, conveying or discharging work
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Mining & Mineral Resources (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、半導体ウェハの分割方法および装置に関する
。さらに詳しくは、トランジスタ、ダイオード等のディ
スクリート(個別素子)等として利用されるシリコン(
SL)単結晶の円板形等からなる半導体ウェハについて
、ディスクリート素子用基板として製造加工する途中の
中間工程手段とその装置とに関する。
。さらに詳しくは、トランジスタ、ダイオード等のディ
スクリート(個別素子)等として利用されるシリコン(
SL)単結晶の円板形等からなる半導体ウェハについて
、ディスクリート素子用基板として製造加工する途中の
中間工程手段とその装置とに関する。
[従来の技術]
従来、シリコン単結晶の円板形等からなる半導体ウェハ
からなるトランジスタ、ダイオード等のディスクリート
素子用基板の製造手段としては、例えば第8図〜第10
図に示すものが知られている。
からなるトランジスタ、ダイオード等のディスクリート
素子用基板の製造手段としては、例えば第8図〜第10
図に示すものが知られている。
この従来のディスクリート素子用基板の製造手段は、棒
状のシリコン単結晶からなるインゴット等からダイヤモ
ンドカッター等で一定厚み巾に半導体ウェハ1を切断成
形して、まず第8図に示すように半導体ウェハ1を拡散
炉に入れる等してその両面に不純物を拡散して不純物拡
散層2を形成し、その後第9図に示すように研削装置G
等によ−り半導体ウェハ1の片面を研削して不純物の拡
散されていない不純物未拡散層3を形成し、さらに第1
0図に示すように不純物未拡散層3に新たな不純物4、
例えばトランジスタではベース、エミッタ等を形成する
新たな不純物を拡散し、その後チップ化し実装するもの
である。
状のシリコン単結晶からなるインゴット等からダイヤモ
ンドカッター等で一定厚み巾に半導体ウェハ1を切断成
形して、まず第8図に示すように半導体ウェハ1を拡散
炉に入れる等してその両面に不純物を拡散して不純物拡
散層2を形成し、その後第9図に示すように研削装置G
等によ−り半導体ウェハ1の片面を研削して不純物の拡
散されていない不純物未拡散層3を形成し、さらに第1
0図に示すように不純物未拡散層3に新たな不純物4、
例えばトランジスタではベース、エミッタ等を形成する
新たな不純物を拡散し、その後チップ化し実装するもの
である。
[発明が解決しようとする課題]
前述の従来のディスクリート素子用基板の製造手段では
、半導体ウェハ1がその両面に不純物拡散層2と不純物
未拡散層3とを備えなければならないという構造である
ために、第9図等に示すような半導体ウェハ1の片面の
研削を行なっており、そのため、高価なシリコン単結晶
をキリコとして損失してしまい、また拡散工程によって
わざわざ形成した片面の不純物拡散層2がキリコとして
除去されてしまうという問題点を有している。
、半導体ウェハ1がその両面に不純物拡散層2と不純物
未拡散層3とを備えなければならないという構造である
ために、第9図等に示すような半導体ウェハ1の片面の
研削を行なっており、そのため、高価なシリコン単結晶
をキリコとして損失してしまい、また拡散工程によって
わざわざ形成した片面の不純物拡散層2がキリコとして
除去されてしまうという問題点を有している。
而して、本発明者らは、このような問題点解消の手段と
して、両面に不純物が拡散された不純物拡tllUを有
する半導体ウェハを、厚み巾の中心から切断して二分割
し、二分割された各半導体ウェハの夫々の切断面側を新
たな不純物を拡散する不純物未拡散層とする技術を開発
した(特願昭63−126591号)。この二分割技術
では、簡便な二分割手段が製造効率の上から開発課題と
なっていた。
して、両面に不純物が拡散された不純物拡tllUを有
する半導体ウェハを、厚み巾の中心から切断して二分割
し、二分割された各半導体ウェハの夫々の切断面側を新
たな不純物を拡散する不純物未拡散層とする技術を開発
した(特願昭63−126591号)。この二分割技術
では、簡便な二分割手段が製造効率の上から開発課題と
なっていた。
本発明はこのような問題点、開発課題に鑑みてなされた
ものであり、その目的は、シリコン単結晶、不純物拡散
層の損失、除去に伴う無駄を防止することができる前記
二分割技術を簡便に行なうことができるとともに製品品
質を確保し得る半導体ウェハの分割方法と、これを実施
するための構造自車な装置とを提供することにある。
ものであり、その目的は、シリコン単結晶、不純物拡散
層の損失、除去に伴う無駄を防止することができる前記
二分割技術を簡便に行なうことができるとともに製品品
質を確保し得る半導体ウェハの分割方法と、これを実施
するための構造自車な装置とを提供することにある。
[課題を解決するための手段]
前述の目的を達成するため、本発明に係る半導体ウェハ
の分割方法および装置は、次のような手段を採用する。
の分割方法および装置は、次のような手段を採用する。
即ち、本発明半導体ウェハの枚葉式二分割方法は、表裏
両面に不純物が拡散された不純物拡散層を有する半導体
ウェハの一側端面に当板を接続して取付け、該ウェハの
片面をバキュームにより吸着保持し、高速回転するカッ
ターにより前記当板と反対側の端面からウェハの厚み巾
中心を当板方向へ切断してウェハを二分割させることを
特徴とする。
両面に不純物が拡散された不純物拡散層を有する半導体
ウェハの一側端面に当板を接続して取付け、該ウェハの
片面をバキュームにより吸着保持し、高速回転するカッ
ターにより前記当板と反対側の端面からウェハの厚み巾
中心を当板方向へ切断してウェハを二分割させることを
特徴とする。
又、本発明の半導体ウェハの分割装置は、表裏両面に不
純物が拡散された不純物拡散層を有し、かつ一側端面に
当板を接着して取付けた半導体ウェハと、カッターの近
傍で前記ウェハの片面をバキュームにより吸着保持可能
な保持機構と、前記保持機構ヘウエハを供給し、回収す
るロボッティングアームと、前記保持機構に保持された
ウェハを前記当板と反対側の端面からウェハの厚み中心
を当板方向へ切断して二分割させる高速回転可能なカッ
ターとなることを特徴とする。
純物が拡散された不純物拡散層を有し、かつ一側端面に
当板を接着して取付けた半導体ウェハと、カッターの近
傍で前記ウェハの片面をバキュームにより吸着保持可能
な保持機構と、前記保持機構ヘウエハを供給し、回収す
るロボッティングアームと、前記保持機構に保持された
ウェハを前記当板と反対側の端面からウェハの厚み中心
を当板方向へ切断して二分割させる高速回転可能なカッ
ターとなることを特徴とする。
[作用]
前述の本発明者らの二分割技術によると、両面に不純物
拡散層を有する半導体ウェハを二分割することにより、
前述の従来の重研削を行なわずに不純物未拡散層を形成
することができるため、シリコン単結晶、不純物拡散層
の損失、除去に伴う無駄を防止することができる。
拡散層を有する半導体ウェハを二分割することにより、
前述の従来の重研削を行なわずに不純物未拡散層を形成
することができるため、シリコン単結晶、不純物拡散層
の損失、除去に伴う無駄を防止することができる。
そして、本発明によれば、半導体ウェハは高速回転する
カッターにより厚み巾中心を当板方向へ切断され、該カ
ッターの刃先が当板に当接し又は当板にくい込むところ
まで切断されて二分割されることになり、比較的薄いウ
ェハについて切断終了部分に発生しゃすいウェハの欠は
落ち(チップ欠け)が当板の介在により防止されるとと
もに切断後の2枚のウェハは当板を介して接続状態に保
持される。
カッターにより厚み巾中心を当板方向へ切断され、該カ
ッターの刃先が当板に当接し又は当板にくい込むところ
まで切断されて二分割されることになり、比較的薄いウ
ェハについて切断終了部分に発生しゃすいウェハの欠は
落ち(チップ欠け)が当板の介在により防止されるとと
もに切断後の2枚のウェハは当板を介して接続状態に保
持される。
[実施例]
以下、本発明に係る半導体ウェハの分割方法およびその
装置の実施例を第1図〜第7図に基いて説明する。
装置の実施例を第1図〜第7図に基いて説明する。
まず、本発明者らの開発した二分割技術について説明す
ると、第1図(A)に示すような両面に不純物拡散層2
を有する半導体ウェハ1を、第1図(B)に示すように
厚み巾の中心から切断して二分割し、その切断面側を新
たな不純物を拡散するための不純物未拡散層3とするも
のである。
ると、第1図(A)に示すような両面に不純物拡散層2
を有する半導体ウェハ1を、第1図(B)に示すように
厚み巾の中心から切断して二分割し、その切断面側を新
たな不純物を拡散するための不純物未拡散層3とするも
のである。
この二分割技術によると、半導体ウェハ1の不純物拡散
層2はそのまま利用され、−枚の半導体ウェハ1から不
純物未拡散層3を有する二枚のディスクリート素子用基
板1a、 1bが形成されることになる。このため、半
導体ウェハ1の不純物拡散層2はそのまま利用され除去
されておらず、また半導体ウェハ1を構成するシリコン
単結晶も従来に比し損失が低減されている。
層2はそのまま利用され、−枚の半導体ウェハ1から不
純物未拡散層3を有する二枚のディスクリート素子用基
板1a、 1bが形成されることになる。このため、半
導体ウェハ1の不純物拡散層2はそのまま利用され除去
されておらず、また半導体ウェハ1を構成するシリコン
単結晶も従来に比し損失が低減されている。
また、第4図(従来例)、第5図(二分割技術)は、前
述のシリコン単結晶の損失を対比するものである。
述のシリコン単結晶の損失を対比するものである。
従来例では、第4図(A>に示すようにインゴット8か
らカッティングのキリコaを消耗して厚み巾すの半導体
ウェハ1が切断成形され、第4図(B)に示すようにこ
の半導体ウェハ1に不純物拡散層2が形成されその厚み
巾を変化なくbとするとく研磨等の消耗は微量なため無
視する)、不純物未拡散層3を形成するための研削によ
ってその厚み巾すの約半分1/2bがキリコとして消耗
され、第4図(C)に示すように厚み巾172bのディ
スクリート素子用基板1′が得られる。このため1/2
bのディスクリート素子用基板の一枚の製造につきa
+ 1/2bffiのシリコン単結晶が消耗されること
になる。
らカッティングのキリコaを消耗して厚み巾すの半導体
ウェハ1が切断成形され、第4図(B)に示すようにこ
の半導体ウェハ1に不純物拡散層2が形成されその厚み
巾を変化なくbとするとく研磨等の消耗は微量なため無
視する)、不純物未拡散層3を形成するための研削によ
ってその厚み巾すの約半分1/2bがキリコとして消耗
され、第4図(C)に示すように厚み巾172bのディ
スクリート素子用基板1′が得られる。このため1/2
bのディスクリート素子用基板の一枚の製造につきa
+ 1/2bffiのシリコン単結晶が消耗されること
になる。
一方、二分割技術では、第5図(A)に示すようにイン
ゴット8からカッティングのキリコaを消耗して厚み巾
Cの半導体ウェハ1が切断成形されることになるが、c
= 1/2b+ 1/2b+ d + d + aで
あり、(aは半導体ウェハ1の主13代でありインゴッ
ト8からカッティングのキリコと周回としてあり、また
dは前記表面修正式5である。)、最終的に第5図に(
C)に示ずように厚み巾172bのディスクリート素子
用基板1a、 Ibが二枚得られる。このため、1/2
bのディスクリート素子用基板1a、 1bの一枚の製
造につき1/2 (a+a十d、+d)=a−zjm
のシリコン単結晶が消耗されることになり、従来の消耗
量a+1/2bとの対比において、dは現状技術では十
分微聞で足りd < 1/2bであるから、本発明では
シリコン単結晶の消耗が低減されることになる。
ゴット8からカッティングのキリコaを消耗して厚み巾
Cの半導体ウェハ1が切断成形されることになるが、c
= 1/2b+ 1/2b+ d + d + aで
あり、(aは半導体ウェハ1の主13代でありインゴッ
ト8からカッティングのキリコと周回としてあり、また
dは前記表面修正式5である。)、最終的に第5図に(
C)に示ずように厚み巾172bのディスクリート素子
用基板1a、 Ibが二枚得られる。このため、1/2
bのディスクリート素子用基板1a、 1bの一枚の製
造につき1/2 (a+a十d、+d)=a−zjm
のシリコン単結晶が消耗されることになり、従来の消耗
量a+1/2bとの対比において、dは現状技術では十
分微聞で足りd < 1/2bであるから、本発明では
シリコン単結晶の消耗が低減されることになる。
このような二分割技術においては、まずインゴット8の
切断等による半導体ウェハ1の成形の際に、半導体ウェ
ハ1の厚み巾を二分割可能な厚み1】に成形しておき、
次に第6図又は第7図に示す如く、ウェハ1の一端面に
該ウェハの厚みと同等の幅を有し、かつ適宜厚さおよび
長さを有する当板14.14’を接着して取付けておく
。
切断等による半導体ウェハ1の成形の際に、半導体ウェ
ハ1の厚み巾を二分割可能な厚み1】に成形しておき、
次に第6図又は第7図に示す如く、ウェハ1の一端面に
該ウェハの厚みと同等の幅を有し、かつ適宜厚さおよび
長さを有する当板14.14’を接着して取付けておく
。
当板14.14’はカーボン又はシリコン等の材質で形
成され、その当板14はウェハ1のオリフィラ1゜と反
対側の端面に取付けた場合の形状を示しく第6図)、当
板14′はウェハ1のオリフィラ1゜部分に取付けた場
合の形状を示す(第7図)。
成され、その当板14はウェハ1のオリフィラ1゜と反
対側の端面に取付けた場合の形状を示しく第6図)、当
板14′はウェハ1のオリフィラ1゜部分に取付けた場
合の形状を示す(第7図)。
上記ウェハ1はその厚み巾の中心を検出してカッター7
でこの中心から前記当板14又は14′の中程まで切込
まれ二分割する。そして二分割されるウェハは当板を介
して接続した状態を維持する。
でこの中心から前記当板14又は14′の中程まで切込
まれ二分割する。そして二分割されるウェハは当板を介
して接続した状態を維持する。
以下に、本発明装置を説明すると、第2図及び第3図に
示すように、分割装置をカッター7、ロボッティングア
ーム9、保持機構10及び搬送機構部11a、 11
b、 12a、 12b、 13a、 13b
から構成させ、図中、11aはベルトコンベア、11b
はローラコンベア、12aは切断前のウェハ収納用のカ
セット、12bは切断(二分割)後の基板収納用のカセ
ット、13aはカセット、 12aよりウェハ1をロー
ラコンベア11bへ搬送覆る板状のストレートアーム、
13bはローラコンベア11bより基板をカセット12
bへ搬送するストレートアームである。
示すように、分割装置をカッター7、ロボッティングア
ーム9、保持機構10及び搬送機構部11a、 11
b、 12a、 12b、 13a、 13b
から構成させ、図中、11aはベルトコンベア、11b
はローラコンベア、12aは切断前のウェハ収納用のカ
セット、12bは切断(二分割)後の基板収納用のカセ
ット、13aはカセット、 12aよりウェハ1をロー
ラコンベア11bへ搬送覆る板状のストレートアーム、
13bはローラコンベア11bより基板をカセット12
bへ搬送するストレートアームである。
カッター7は定位置で高速回転し半導体ウェハ1を切断
するもので、リング71に内周刃72を緊張固定してな
るダイヤモンドカッター等からなる。
するもので、リング71に内周刃72を緊張固定してな
るダイヤモンドカッター等からなる。
ロボッティングアーム9は伸縮機構9b及び回転機構9
Cを介して先端に、真空ポンプ等へ通じ適時に吸着作用
を生ずる吸着盤9aを有し、下向きから水平方向までの
区間を回¥rh機構9Cにより回動自在である。
Cを介して先端に、真空ポンプ等へ通じ適時に吸着作用
を生ずる吸着盤9aを有し、下向きから水平方向までの
区間を回¥rh機構9Cにより回動自在である。
保持機構10はカッター7と直角に交叉する如く水平状
に設置され、先端に真空ポンプに接続した吸気経路へ通
じるポーラスなセラミック等の強固な吸着面10aを備
える。
に設置され、先端に真空ポンプに接続した吸気経路へ通
じるポーラスなセラミック等の強固な吸着面10aを備
える。
この保持機構10は前記吸着面10aがカッター7の内
周刃72を基準に一定位置に設置され、かつ図示しない
機構により昇降動自在である。
周刃72を基準に一定位置に設置され、かつ図示しない
機構により昇降動自在である。
而して上記装置の動作を説明すれば、先端上面に吸着機
能を持つ板状のストレートアーム13aによってウェハ
1が下面を吸着されてカセット12aより1枚宛取り出
されてローラコンベア11bへ搬送された後、該コンベ
アllb及びベルトコンベア11aによりウェハ1は所
定位置へ搬送され、そこでロボッティングアーム9がウ
ェハ1を吸着盤9aにより吸着し、上向きに回動して保
持機構10の吸着面10aに受渡しさせる。尚、この間
、カセット12a内のウェハ1はストレートアーム13
aによって吸着される位置まで上昇され、次の搬送の準
備を終了している。
能を持つ板状のストレートアーム13aによってウェハ
1が下面を吸着されてカセット12aより1枚宛取り出
されてローラコンベア11bへ搬送された後、該コンベ
アllb及びベルトコンベア11aによりウェハ1は所
定位置へ搬送され、そこでロボッティングアーム9がウ
ェハ1を吸着盤9aにより吸着し、上向きに回動して保
持機構10の吸着面10aに受渡しさせる。尚、この間
、カセット12a内のウェハ1はストレートアーム13
aによって吸着される位置まで上昇され、次の搬送の準
備を終了している。
保持機構10の吸着面10aがウェハ1を吸着保持した
状態では、ロボッティングアーム9の吸着盤9aはその
吸着作用を停止してウェハ1を吸着面10aに強固に吸
着保持させ、その後に保持機構10が上動しカッター7
によりウェハ1をその中心より切断して二分割する(第
2図2点破線)。
状態では、ロボッティングアーム9の吸着盤9aはその
吸着作用を停止してウェハ1を吸着面10aに強固に吸
着保持させ、その後に保持機構10が上動しカッター7
によりウェハ1をその中心より切断して二分割する(第
2図2点破線)。
しかし分割されたウェハ1の一半部である基板1a及び
他生部である基板1bは共に当板(14)を介して接続
されたまま保持機構10に吸着保持されている。そして
切断終了侵に保持194110はウェハ1の分割された
基板1aおよび1bを保持したまま下降して基点位置に
復帰し、ロボッティングアーム9はその吸着盤9aに基
板1a及び1bを保持した状態で伸縮機構9b及び回転
機構9Cが作動して他物に接触しないようにし、その状
態で下向きに回動しながら下降し、ベルトコンベア11
a上に位置した時点で収縮動作を解除して基板1a及び
1bをベルトコンベア11a上へ載承する。ベルトコン
ベア11aよりローラコンベア11bに移乗された基板
1a及び1bはストレートアーム13bによりその下面
を吸着されてカセット12b内に搬送収納される。
他生部である基板1bは共に当板(14)を介して接続
されたまま保持機構10に吸着保持されている。そして
切断終了侵に保持194110はウェハ1の分割された
基板1aおよび1bを保持したまま下降して基点位置に
復帰し、ロボッティングアーム9はその吸着盤9aに基
板1a及び1bを保持した状態で伸縮機構9b及び回転
機構9Cが作動して他物に接触しないようにし、その状
態で下向きに回動しながら下降し、ベルトコンベア11
a上に位置した時点で収縮動作を解除して基板1a及び
1bをベルトコンベア11a上へ載承する。ベルトコン
ベア11aよりローラコンベア11bに移乗された基板
1a及び1bはストレートアーム13bによりその下面
を吸着されてカセット12b内に搬送収納される。
その後、カセット12bは基板1aのピッチ分だけ上昇
する。
する。
次いでストレートアーム13aにより新たなつエバ1が
カセット12aより取出され、前述と同様の作業をくり
返す。
カセット12aより取出され、前述と同様の作業をくり
返す。
尚、上記実施例ではベルトコンベア11aを1台のみ配
設してウェハ1と分割後の基板1a及び1bとの搬送路
に共用したが、作業速度を高めるためにそれぞれの搬送
路を別にする2系列のベルトコンベアを設置することも
よい。
設してウェハ1と分割後の基板1a及び1bとの搬送路
に共用したが、作業速度を高めるためにそれぞれの搬送
路を別にする2系列のベルトコンベアを設置することも
よい。
又、保持機構10の吸着面10aに保持した基板1a及
び1bを回収するために、ロボッティングアームと別に
他のロボッティングアームを用いることも任意であり、
それによりさらに作業速度を高めることができる。
び1bを回収するために、ロボッティングアームと別に
他のロボッティングアームを用いることも任意であり、
それによりさらに作業速度を高めることができる。
さらに実施例においては、保持機構10を昇降動させて
切断動作をさせた場合を説明したが、保持機構10を定
位置に固定し、カッター7を昇降動させることにより切
断動作をさせることも任意である。
切断動作をさせた場合を説明したが、保持機構10を定
位置に固定し、カッター7を昇降動させることにより切
断動作をさせることも任意である。
[発明の効果]
本発明によれば、保持機構にウェハの片面を保持した状
態で該ウェハをカッターにより二分割するが、ウェハの
一端面に当板を設け、該当板と反対側の端面から当板方
向へ切断して二分割するので、切断終了時期に発生しや
すいチップ欠は現象が当板の介在によって防止でき品質
の確保が図れるため作業能率を向上させることができる
。
態で該ウェハをカッターにより二分割するが、ウェハの
一端面に当板を設け、該当板と反対側の端面から当板方
向へ切断して二分割するので、切断終了時期に発生しや
すいチップ欠は現象が当板の介在によって防止でき品質
の確保が図れるため作業能率を向上させることができる
。
又、分割後も2枚のウェハ(基板)が当板を介して接続
されているので、該基板の回収手段を一半部及び他生部
の基板毎別個に設ける必要はなく、回収手段およびそれ
に付属する機構を簡単になし得、構造簡素な装置を提供
し得る。
されているので、該基板の回収手段を一半部及び他生部
の基板毎別個に設ける必要はなく、回収手段およびそれ
に付属する機構を簡単になし得、構造簡素な装置を提供
し得る。
第1図(A)、(B)は本発明に係る半導体ウェハの分
割方法および装置の前提技術である二分割技術を示す断
面図、第2図は本発明に係る半導体ウェハの枚葉式二分
割方法および装置の実施例を示す正面図、第3図はその
平面図、第4図(A>(B)、(C)はシリコン単結晶
の消耗量(従来例)を示す断面図、第5図(A)、(B
)。 (C)は第4図と対比される本出願人の二分割技術の断
面図、第6図(A)は当板の取付は構造を示す正面図、
第6図(B)はその側面図、第7図(A)は当板の他の
取付は構造を示す正面図、第7図(B)はその側面図、
第8図〜第10図は従来例の工程を示す断面図である。 1・・・半導体ウェハ 2・・・不純物拡散層 3・・・不純物未拡散層 4・・・新な不純物 7・・・カッター 8・・・インゴット 9・・・ロボッティングアーム 10・・・保持機構 14、14’・・・当板 特許出願人 直江津電子工業株式会社第1図 第6図 第7図 (A) (B) 第8図 う 第10図
割方法および装置の前提技術である二分割技術を示す断
面図、第2図は本発明に係る半導体ウェハの枚葉式二分
割方法および装置の実施例を示す正面図、第3図はその
平面図、第4図(A>(B)、(C)はシリコン単結晶
の消耗量(従来例)を示す断面図、第5図(A)、(B
)。 (C)は第4図と対比される本出願人の二分割技術の断
面図、第6図(A)は当板の取付は構造を示す正面図、
第6図(B)はその側面図、第7図(A)は当板の他の
取付は構造を示す正面図、第7図(B)はその側面図、
第8図〜第10図は従来例の工程を示す断面図である。 1・・・半導体ウェハ 2・・・不純物拡散層 3・・・不純物未拡散層 4・・・新な不純物 7・・・カッター 8・・・インゴット 9・・・ロボッティングアーム 10・・・保持機構 14、14’・・・当板 特許出願人 直江津電子工業株式会社第1図 第6図 第7図 (A) (B) 第8図 う 第10図
Claims (2)
- (1)表裏両面に不純物が拡散された不純物拡散層を有
する半導体ウェハの一側端面に当板を接着して取付け、
該ウェハの片面をバキュームにより吸着保持し、高速回
転するカッターにより前記当板と反対側の端面からウェ
ハの厚み巾中心を当板方向へ切断してウェハを二分割さ
せる半導体ウェハの枚葉式二分割方法。 - (2)表裏両面に不純物が拡散された不純物拡散層を有
し、かつ一側端面に当板を接着して取付けた半導体ウェ
ハと、カッターの近傍で前記ウェハの片面をバキューム
により吸着保持可能な保持機構と、前記保持機構へウェ
ハを供給し、回収するロボッティングアームと、前記保
持機構に保持されたウェハを前記当板と反対側の端面か
らウェハの厚み巾中心を当板方向へ切断して二分割させ
る高速回転可能なカッターとからなる半導体ウェハの枚
葉式二分割装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1137037A JP2506446B2 (ja) | 1989-05-29 | 1989-05-29 | シリコン半導体ウエハの切断回収方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1137037A JP2506446B2 (ja) | 1989-05-29 | 1989-05-29 | シリコン半導体ウエハの切断回収方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH031536A true JPH031536A (ja) | 1991-01-08 |
| JP2506446B2 JP2506446B2 (ja) | 1996-06-12 |
Family
ID=15189379
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1137037A Expired - Fee Related JP2506446B2 (ja) | 1989-05-29 | 1989-05-29 | シリコン半導体ウエハの切断回収方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2506446B2 (ja) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55103730A (en) * | 1979-01-31 | 1980-08-08 | Ibm | Method of forming composite semiconductor substrate |
| JPS61122811U (ja) * | 1985-01-19 | 1986-08-02 | ||
| JPS6331720A (ja) * | 1986-07-28 | 1988-02-10 | 株式会社東芝 | ガリウム砒素単結晶のスライシング方法 |
| JPS6418729A (en) * | 1987-07-15 | 1989-01-23 | Kubota Ltd | Hydraulic circuit structure of four-wheel drive type working vehicle |
| JPS6419729A (en) * | 1987-07-14 | 1989-01-23 | Kyushu Electron Metal | Manufacture of semiconductor wafer |
-
1989
- 1989-05-29 JP JP1137037A patent/JP2506446B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55103730A (en) * | 1979-01-31 | 1980-08-08 | Ibm | Method of forming composite semiconductor substrate |
| JPS61122811U (ja) * | 1985-01-19 | 1986-08-02 | ||
| JPS6331720A (ja) * | 1986-07-28 | 1988-02-10 | 株式会社東芝 | ガリウム砒素単結晶のスライシング方法 |
| JPS6419729A (en) * | 1987-07-14 | 1989-01-23 | Kyushu Electron Metal | Manufacture of semiconductor wafer |
| JPS6418729A (en) * | 1987-07-15 | 1989-01-23 | Kubota Ltd | Hydraulic circuit structure of four-wheel drive type working vehicle |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2506446B2 (ja) | 1996-06-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4753049A (en) | Method and apparatus for grinding the surface of a semiconductor | |
| KR101787105B1 (ko) | 반도체 웨이퍼 마운트 방법 및 반도체 웨이퍼 마운트 장치 | |
| KR20020017943A (ko) | 반도체 웨이퍼의 연삭방법 | |
| JP4323129B2 (ja) | 板状物の搬送機構 | |
| JP2010118424A (ja) | 薄板状ワークの搬送装置 | |
| US5240882A (en) | Process and apparatus for making discrete type substrates by re-slicing a wafer | |
| CN105252365A (zh) | 磨削装置、保护带粘贴方法以及保护带 | |
| KR102680920B1 (ko) | 피가공물의 절삭 방법 | |
| JPH0210727A (ja) | 半導体ウエハの分割方法および装置 | |
| JPH031536A (ja) | シリコン半導体ウエハの切断回収方法 | |
| TW201250922A (en) | Wafer supporting plate and method for using wafer supporting plate | |
| JP5384193B2 (ja) | 被加工物の保持ユニット | |
| JP4251275B2 (ja) | 板状物搬送装置 | |
| JP2565961B2 (ja) | スライシングマシンのウエハ回収装置 | |
| TW202010042A (zh) | 卡盤台以及晶圓加工方法 | |
| JP6464818B2 (ja) | ダイシング装置及びダイシング装置用のテーブル | |
| JP2002353170A (ja) | 半導体ウェーハの分離システム、分離方法及びダイシング装置 | |
| JPH07297210A (ja) | 半導体素子の製造方法 | |
| JPH0778793A (ja) | 半導体ウェーハの研削加工方法 | |
| JP2001176821A (ja) | 半導体製造における切断加工方法 | |
| JP2646231B2 (ja) | 半導体材料からのウエーハ切り出し加工方法およびその装置 | |
| JP2007059526A (ja) | 基板の切削方法 | |
| JPH06181256A (ja) | ウエハ搬送体および半導体製造装置 | |
| JP2000195878A (ja) | ウェーハ搬送・固定治具及び半導体装置の製造方法 | |
| JPH09326372A (ja) | 半導体ウエハの分割方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |