JPH03161264A - ワイヤソーによるビデオヘッドの加工方法並びにワイヤソー加工装置 - Google Patents
ワイヤソーによるビデオヘッドの加工方法並びにワイヤソー加工装置Info
- Publication number
- JPH03161264A JPH03161264A JP14146790A JP14146790A JPH03161264A JP H03161264 A JPH03161264 A JP H03161264A JP 14146790 A JP14146790 A JP 14146790A JP 14146790 A JP14146790 A JP 14146790A JP H03161264 A JPH03161264 A JP H03161264A
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- JP
- Japan
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- wire
- workpiece
- wire saw
- saw processing
- detecting
- Prior art date
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- Pending
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B28—WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
- B28D—WORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
- B28D5/00—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
- B28D5/04—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by tools other than rotary type, e.g. reciprocating tools
- B28D5/045—Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by tools other than rotary type, e.g. reciprocating tools by cutting with wires or closed-loop blades
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、VTR等の磁気記録装置の磁気ヘッドの加工
に供するワイヤソー加工方法及び装置に閲する. 〔従来の技術〕 従来のワイヤソー加工では、まず、ダミーの試料を試し
加工し、それを機外に取りだした後、実際の加工位置と
目標とする加工位置との差を測定し、その差をキャンセ
ルする位置に被加工物(ボンデイングブロック)を装置
(・ワイヤソー)にセットして加工するのが一般的であ
った。
に供するワイヤソー加工方法及び装置に閲する. 〔従来の技術〕 従来のワイヤソー加工では、まず、ダミーの試料を試し
加工し、それを機外に取りだした後、実際の加工位置と
目標とする加工位置との差を測定し、その差をキャンセ
ルする位置に被加工物(ボンデイングブロック)を装置
(・ワイヤソー)にセットして加工するのが一般的であ
った。
上記従来技術は、被加工物の品種が変わるたびに試し加
工と加工位置の測定作業が必要であり、生産性が低く、
また同一品種であっても、被加工物の装置へのセッティ
ング誤差が生ずると加工位置が変化するため、加工位置
精度が低下するという問題があった。
工と加工位置の測定作業が必要であり、生産性が低く、
また同一品種であっても、被加工物の装置へのセッティ
ング誤差が生ずると加工位置が変化するため、加工位置
精度が低下するという問題があった。
本発明の目的は、ワイヤに対する被加工物(ボンデイン
グブロック:数チップのビデオヘッドからなるブロック
状の部品)の位置合わせを行った後、ワイヤソーで加工
することにより、加工寸法精度と生産性とを向上する方
法およびその装置を提供することにある。
グブロック:数チップのビデオヘッドからなるブロック
状の部品)の位置合わせを行った後、ワイヤソーで加工
することにより、加工寸法精度と生産性とを向上する方
法およびその装置を提供することにある。
上記目的を達戊するために、走行するワイヤと被加工物
との相対位置を検出する手段と、その検出値に基づき被
加工物の位置を調整する位置決め手段を設け、位am整
後に被加工物を走行するワイヤに押しつけて加工するこ
とにした。即ち、本発明は、ビデオヘッドのトラック先
端部と加工用ワイヤとの相対位置合わせを±μm以下の
精度で行い、ヘッド高さ寸法を向上させることを特徴と
するワイヤソーによるビデオヘッド加工方法である。
との相対位置を検出する手段と、その検出値に基づき被
加工物の位置を調整する位置決め手段を設け、位am整
後に被加工物を走行するワイヤに押しつけて加工するこ
とにした。即ち、本発明は、ビデオヘッドのトラック先
端部と加工用ワイヤとの相対位置合わせを±μm以下の
精度で行い、ヘッド高さ寸法を向上させることを特徴と
するワイヤソーによるビデオヘッド加工方法である。
また本発明は、走行するワイヤに部品を押しつけて部品
を切断あるいは溝加工するワイヤソー加工装置において
,ワイヤと被加工物の相対位置を検出する手段と、この
検出値に基づいて被加工物の位置を調整する位置決め手
段とを設け、ワイヤに対する被加工物の位置を合わせた
後加工することを特徴とするワイヤソー加工装置である
。
を切断あるいは溝加工するワイヤソー加工装置において
,ワイヤと被加工物の相対位置を検出する手段と、この
検出値に基づいて被加工物の位置を調整する位置決め手
段とを設け、ワイヤに対する被加工物の位置を合わせた
後加工することを特徴とするワイヤソー加工装置である
。
また本発明は、走行するワイヤの上下に対向して設置し
た部品をワイヤに押しつけて部品を同時に切断あるいは
溝加工するワイヤソー加工装置において,ワイヤとその
上下の被加工物との相対位置を検出する手段と、被加工
物の位置を独立に調整する位置決め手段とを設け、この
検出値に基づいてワイヤに対する被加工物の位置を合わ
せた後、加工することを特徴とするワイヤソー加工装置
である。
た部品をワイヤに押しつけて部品を同時に切断あるいは
溝加工するワイヤソー加工装置において,ワイヤとその
上下の被加工物との相対位置を検出する手段と、被加工
物の位置を独立に調整する位置決め手段とを設け、この
検出値に基づいてワイヤに対する被加工物の位置を合わ
せた後、加工することを特徴とするワイヤソー加工装置
である。
ワイヤソー加工装置は、一般には、走行するワイヤに対
して被加工物を下方から上方へ押しつけることにより加
工する。まず、被加工物をワイヤの下方で,接触しない
程度の位置に近づける。次に、ワイヤの上方に、ワイヤ
と被加工物との位置を検出する小形の検出ユニット(た
とえば、光学式R微鏡)をセットし、両者相対位置を検
出する。
して被加工物を下方から上方へ押しつけることにより加
工する。まず、被加工物をワイヤの下方で,接触しない
程度の位置に近づける。次に、ワイヤの上方に、ワイヤ
と被加工物との位置を検出する小形の検出ユニット(た
とえば、光学式R微鏡)をセットし、両者相対位置を検
出する。
被加工物は、これをワイヤに押しつけるリフト機構上に
設けた移動台(たとえば、平面内でのX.Y方向と回転
方向への位置Jl整用ステージ)にセットされている。
設けた移動台(たとえば、平面内でのX.Y方向と回転
方向への位置Jl整用ステージ)にセットされている。
上記検出ユニットは、走行するワイヤと被加工物との両
方を同時に画像として観察できるものであり、まず、ワ
イヤ走行時の平均的な中心位置を求めることで、ワイヤ
の振動周期を考慮してワイヤの中心位置を求め.次に,
その中心位置からの所定の位置をモニタ画面上にカーソ
ル等で表示する。そこで、上記の位置調整用ステージを
移動してカーソル位置に被加工物の特定の基準位置を合
わせた後、被加工物をワイヤに押しつけて加工すること
にした。
方を同時に画像として観察できるものであり、まず、ワ
イヤ走行時の平均的な中心位置を求めることで、ワイヤ
の振動周期を考慮してワイヤの中心位置を求め.次に,
その中心位置からの所定の位置をモニタ画面上にカーソ
ル等で表示する。そこで、上記の位置調整用ステージを
移動してカーソル位置に被加工物の特定の基準位置を合
わせた後、被加工物をワイヤに押しつけて加工すること
にした。
以下、本発明を図に示す実施例に基づいて具体的に説明
する。第1図は本発明に係るワイヤソー加工装置の概略
構或を示した図である。ワイヤソー加工装置は、ワイヤ
エをワイヤボビン2を介して被加工物3(以下,ボンデ
ィングブロックと称す)に対して水平に往復走行させ、
ボンディングブロック3を走行するワイヤ1にZlli
動機構4を用いて押しつけることにより、切断あるいは
、溝加工を行うものである。本実施例は、ワイヤ1とボ
ンディングブロック3との相対位置を検出する光学式顕
微鏡5(撮像用TVカメラ6を含む)をワイヤ1の上部
に設け、光学式顕微鏡5での画像をTVカメラ6で検出
し,この画像からワイヤ1の中心とボンディングブロッ
ク3の加工位置を求める画像処理装置9、TVカメラ6
から得られる画像とカーソル等を表示する画像モニタ7
、更にボンディングブロック3の位置をX,Yおよび回
転方向に修正するためのステージ8とステージ制御装置
IO、更にワイヤボビン2、Z卵動機構4等を制御する
ワイヤソー制御装置11がら構成されている。
する。第1図は本発明に係るワイヤソー加工装置の概略
構或を示した図である。ワイヤソー加工装置は、ワイヤ
エをワイヤボビン2を介して被加工物3(以下,ボンデ
ィングブロックと称す)に対して水平に往復走行させ、
ボンディングブロック3を走行するワイヤ1にZlli
動機構4を用いて押しつけることにより、切断あるいは
、溝加工を行うものである。本実施例は、ワイヤ1とボ
ンディングブロック3との相対位置を検出する光学式顕
微鏡5(撮像用TVカメラ6を含む)をワイヤ1の上部
に設け、光学式顕微鏡5での画像をTVカメラ6で検出
し,この画像からワイヤ1の中心とボンディングブロッ
ク3の加工位置を求める画像処理装置9、TVカメラ6
から得られる画像とカーソル等を表示する画像モニタ7
、更にボンディングブロック3の位置をX,Yおよび回
転方向に修正するためのステージ8とステージ制御装置
IO、更にワイヤボビン2、Z卵動機構4等を制御する
ワイヤソー制御装置11がら構成されている。
一般にワイヤソー加工装置におけるワイヤ1の走行は,
順方向(第1図のa方向)に走行した後停止し、さらに
逆方向(第1図のb方向)に走行した後停止する動作を
繰り返して往復走行を行なっている。
順方向(第1図のa方向)に走行した後停止し、さらに
逆方向(第1図のb方向)に走行した後停止する動作を
繰り返して往復走行を行なっている。
第8図は,光学式顕微鏡5の一実施例の概略構成を示し
た図である。光学式顕微鏡5は、ワイヤ1とボンディン
グブロック3を光ファイバーケーブル37と集光レンズ
51を介して導入した白色光で落射照明し、ワイヤ1の
明視野像を対物レンズ38およびリレーレンズ39で拡
大し、TV.カメラ6上に結像するものである。
た図である。光学式顕微鏡5は、ワイヤ1とボンディン
グブロック3を光ファイバーケーブル37と集光レンズ
51を介して導入した白色光で落射照明し、ワイヤ1の
明視野像を対物レンズ38およびリレーレンズ39で拡
大し、TV.カメラ6上に結像するものである。
第2図乃至第4図は、上記ワイヤソー加工装置により複
数のビデオへッドチップに切断、分離する加工を説明す
るための図である。即ちボンディングブロック3は、二
種のヘッド部品3a,3bを絶縁層l9を介して結合さ
れたブロック状の部品である。このボンディングブロッ
ク3は、ワイヤソーで複数のビデオヘッドのチップに切
断、分離される。
数のビデオへッドチップに切断、分離する加工を説明す
るための図である。即ちボンディングブロック3は、二
種のヘッド部品3a,3bを絶縁層l9を介して結合さ
れたブロック状の部品である。このボンディングブロッ
ク3は、ワイヤソーで複数のビデオヘッドのチップに切
断、分離される。
光学式顕微鏡5は、ワイヤ1とボンディングブロック3
が拡大されてa察され、第2図に示すようにモニタ画像
としてモニタ7に表示される。画像処理装置9は、光学
式顕微鏡5で第2図(a)に示すように検出される検出
画像12内で決定したワイヤ1の検出範囲13で取り込
んだ信号波形(ワイヤlと直角方向の位置とその信号レ
ベル) 14(第3図に示す)より、ワイヤ1の中心位
置を求める。(第4図(a)に示す)この信号波形は,
ワイヤ1を落射照明することにより,ワイヤ中心の信号
レベルが高く単純な形状のものであり、しきい値法等に
より、容易に波形の中心位置Xを算出できる。なお、ワ
イヤ走行前(静止時)と走行中でワイヤ位置は、ワイヤ
ボビン2でのワイヤ交換時の位置オフセットあるいはワ
イヤ自身の振動等により変化する。走行しているワイヤ
1のモニタ画面の一例を第9図(.)に示す。ワイヤエ
は走行、停止の繰返し、さらに走行方向の正逆転を行な
うため、画面上下方向に移′#J(1,la,1b〉す
る。この状態での信号波形は第9図(b)に示す(14
. 14a , 14b )ようになり、ワイヤの中心
位置はそれぞれXO,Xa,Xbとなる。このときのワ
イヤ1の中心位+IXの変化を第10図に示す。TVカ
メラ6で画像を取り込んで画像処理を行なう時間をしと
すると、ワイヤ中心位置は54のように周期Wで規則的
に変動し、量大変化量eは10μm程度生じる。ビデオ
へッドチップでは,第2図(Q)に示すようにボンディ
ングブロノク3の端面とトラック20の端面までの寸法
(ヘッドハイト:h′と呼ぶ)を高精度に,たとえば、
±5μm以下にコントロールする必要があるため、第1
0図に示したよう中心位置が検出毎に変化すると目標を
達成することが不可能になる。そこで、TVカメラ6で
画像を取り込んで画像処理を行なう時間tが、ワイヤ1
の振動周期Wよりも長い時間となるようして、中心位置
の平均値を求めるようにした。第11図に示すように、
TVカメラ6で画像を取り込んで画像処理を行なう時間
tで検出した波形14. 14a , 14bはワイヤ
1の振動周期Wよりも長く検出することでそれぞれの検
出波形が合威されて波形55となる。この時のワイヤ1
の中心位置Xの変化を第12図に示す。周期Wよりも長
い時間Tで検出すると55のようになり、最大変化me
は2μm程度となり目標を達或することが可能となる。
が拡大されてa察され、第2図に示すようにモニタ画像
としてモニタ7に表示される。画像処理装置9は、光学
式顕微鏡5で第2図(a)に示すように検出される検出
画像12内で決定したワイヤ1の検出範囲13で取り込
んだ信号波形(ワイヤlと直角方向の位置とその信号レ
ベル) 14(第3図に示す)より、ワイヤ1の中心位
置を求める。(第4図(a)に示す)この信号波形は,
ワイヤ1を落射照明することにより,ワイヤ中心の信号
レベルが高く単純な形状のものであり、しきい値法等に
より、容易に波形の中心位置Xを算出できる。なお、ワ
イヤ走行前(静止時)と走行中でワイヤ位置は、ワイヤ
ボビン2でのワイヤ交換時の位置オフセットあるいはワ
イヤ自身の振動等により変化する。走行しているワイヤ
1のモニタ画面の一例を第9図(.)に示す。ワイヤエ
は走行、停止の繰返し、さらに走行方向の正逆転を行な
うため、画面上下方向に移′#J(1,la,1b〉す
る。この状態での信号波形は第9図(b)に示す(14
. 14a , 14b )ようになり、ワイヤの中心
位置はそれぞれXO,Xa,Xbとなる。このときのワ
イヤ1の中心位+IXの変化を第10図に示す。TVカ
メラ6で画像を取り込んで画像処理を行なう時間をしと
すると、ワイヤ中心位置は54のように周期Wで規則的
に変動し、量大変化量eは10μm程度生じる。ビデオ
へッドチップでは,第2図(Q)に示すようにボンディ
ングブロノク3の端面とトラック20の端面までの寸法
(ヘッドハイト:h′と呼ぶ)を高精度に,たとえば、
±5μm以下にコントロールする必要があるため、第1
0図に示したよう中心位置が検出毎に変化すると目標を
達成することが不可能になる。そこで、TVカメラ6で
画像を取り込んで画像処理を行なう時間tが、ワイヤ1
の振動周期Wよりも長い時間となるようして、中心位置
の平均値を求めるようにした。第11図に示すように、
TVカメラ6で画像を取り込んで画像処理を行なう時間
tで検出した波形14. 14a , 14bはワイヤ
1の振動周期Wよりも長く検出することでそれぞれの検
出波形が合威されて波形55となる。この時のワイヤ1
の中心位置Xの変化を第12図に示す。周期Wよりも長
い時間Tで検出すると55のようになり、最大変化me
は2μm程度となり目標を達或することが可能となる。
そこで、ワイヤの中心位lxの検出は、上記の方法でワ
イヤソー加工と同様なワイヤエの走行時に行なうことに
した。
イヤソー加工と同様なワイヤエの走行時に行なうことに
した。
ボンディングブロック3の端面とトラック20の端面ま
での合わせ方法は、第2図(b)に示すようにワイヤ1
の中心位置X(カーソル21で示す。)に対して、ボン
ディングブロック3のトラック20先端部の位置を示す
カーソル(ハイトカーソル)22をモニタ7上に表示す
る。(第4図(b)に示す)両カーソル間の距離hは、
ワイヤ1の直径をdとするとd/2+h’で求められる
。なお、ハイトカーソル22の位置は、ボンディングブ
ロック3の品種によりh′が変化するたびに変わるため
、品種に対するトラックハイトh′は、画像処理装置9
に予め登録しておく。つぎに、第1図に示したステージ
8およびその制御装置10を用いてボンディングブロッ
ク3を、X,Yおよび回転方向に移動し、第2図(c)
に示すように、トラック20の先端部をカーソル22に
合わせる。(第4図(Q)に示す)この操作は、モニタ
7の画面をi察しながら、マニュアルで行う以外に、ト
ラック20の先端部を画像処理装置9による画像処理(
例えば、特公昭59 − 23467号に記載された画
像処理)により検出し、ボンディングブロック3を自動
位置合せする方式もある。
での合わせ方法は、第2図(b)に示すようにワイヤ1
の中心位置X(カーソル21で示す。)に対して、ボン
ディングブロック3のトラック20先端部の位置を示す
カーソル(ハイトカーソル)22をモニタ7上に表示す
る。(第4図(b)に示す)両カーソル間の距離hは、
ワイヤ1の直径をdとするとd/2+h’で求められる
。なお、ハイトカーソル22の位置は、ボンディングブ
ロック3の品種によりh′が変化するたびに変わるため
、品種に対するトラックハイトh′は、画像処理装置9
に予め登録しておく。つぎに、第1図に示したステージ
8およびその制御装置10を用いてボンディングブロッ
ク3を、X,Yおよび回転方向に移動し、第2図(c)
に示すように、トラック20の先端部をカーソル22に
合わせる。(第4図(Q)に示す)この操作は、モニタ
7の画面をi察しながら、マニュアルで行う以外に、ト
ラック20の先端部を画像処理装置9による画像処理(
例えば、特公昭59 − 23467号に記載された画
像処理)により検出し、ボンディングブロック3を自動
位置合せする方式もある。
以上の位置合せの後、ワイヤソー制御装置l1からの指
令に基づいてボンディングブロック3を走行するワイヤ
1に押しつけて加工する。(第4図(d)に示す) 第5図に、本発明の他の実施例を示す。第l図で示した
実施例は、ボンディングブロック3が1つの場合を示し
たものであるが、本実施例は、複数のボンディングブロ
ック3を同時にワイヤソーで加工する場合を示したもの
である。まず、それぞれのボンディングブロック3は、
予め、一定の配列角度θで、かつ第2図に示したトラッ
ク位置がそれぞれ同一線上となるように第5図に示す整
列用治具23に配列し、接着岸1等で固定しておく。
令に基づいてボンディングブロック3を走行するワイヤ
1に押しつけて加工する。(第4図(d)に示す) 第5図に、本発明の他の実施例を示す。第l図で示した
実施例は、ボンディングブロック3が1つの場合を示し
たものであるが、本実施例は、複数のボンディングブロ
ック3を同時にワイヤソーで加工する場合を示したもの
である。まず、それぞれのボンディングブロック3は、
予め、一定の配列角度θで、かつ第2図に示したトラッ
ク位置がそれぞれ同一線上となるように第5図に示す整
列用治具23に配列し、接着岸1等で固定しておく。
なお、本発明では、この整列方法については,特定しな
い。
い。
第5図A−A’矢視図に示すよ,うに、配列された複数
のボンデイングブロック3を複数のワイヤ1で高精度に
同時加工するためには、本装置において両端のボンデイ
ングブロック3のほぼ中心位置にあるヘッド部とワイヤ
1との相対位置を、2眼の光学式顕微1i[24(1眼
の顕微鏡2個でも同様)を用いて測定する,すなわち、
左右のTVカメラ25. 26で撮像した画像に基づき
、第2図、第8図乃至第l2図で説明した方法を用いて
ワイヤ1とトラック20端面との位置合せを行った後、
ワイヤソーで加工することにした。本方法では、予め、
整列された複数のボンディングブロック3の相互の配列
誤差が加工精度に影響するため、単一のボンディングブ
ロック3に較べてより精密な位置合せが重要である。た
とえば、ヘッド高さの寸法精度を±5μm以下を実現す
るには、ワイヤ1とボンディングブロック3のトラック
端面どの位置合せ誤差は±1μm以下にする必要がある
。なお、本方式において、光学式顕微鏡24と画像処理
装置9を用いることにより0.5μm程度の画像検出分
解能を得ることは比較的容易であり、さらにボンディン
グブロック3を0.5μm以下の踵動分解能で位置調整
することも機構上、制御上の特に問題は無い。
のボンデイングブロック3を複数のワイヤ1で高精度に
同時加工するためには、本装置において両端のボンデイ
ングブロック3のほぼ中心位置にあるヘッド部とワイヤ
1との相対位置を、2眼の光学式顕微1i[24(1眼
の顕微鏡2個でも同様)を用いて測定する,すなわち、
左右のTVカメラ25. 26で撮像した画像に基づき
、第2図、第8図乃至第l2図で説明した方法を用いて
ワイヤ1とトラック20端面との位置合せを行った後、
ワイヤソーで加工することにした。本方法では、予め、
整列された複数のボンディングブロック3の相互の配列
誤差が加工精度に影響するため、単一のボンディングブ
ロック3に較べてより精密な位置合せが重要である。た
とえば、ヘッド高さの寸法精度を±5μm以下を実現す
るには、ワイヤ1とボンディングブロック3のトラック
端面どの位置合せ誤差は±1μm以下にする必要がある
。なお、本方式において、光学式顕微鏡24と画像処理
装置9を用いることにより0.5μm程度の画像検出分
解能を得ることは比較的容易であり、さらにボンディン
グブロック3を0.5μm以下の踵動分解能で位置調整
することも機構上、制御上の特に問題は無い。
第6図に本発明の他の実施例を示す。第6図(a)は上
ボンディングブロック30をセットする前の下ボンディ
ングブロック31とワイヤ1との位置合わせ状態を示す
図である。第6図(b)は下ボンディングブロック31
を下方へ以降させ、上ボンデイングブロック30とワイ
ヤ1との位置合わせ状態を示す図である。第6図(c)
は検出ユニットを逃し、上下のボンデイングブロック3
0. 31を同時にワイヤー加工する状態を示した図で
ある。
ボンディングブロック30をセットする前の下ボンディ
ングブロック31とワイヤ1との位置合わせ状態を示す
図である。第6図(b)は下ボンディングブロック31
を下方へ以降させ、上ボンデイングブロック30とワイ
ヤ1との位置合わせ状態を示す図である。第6図(c)
は検出ユニットを逃し、上下のボンデイングブロック3
0. 31を同時にワイヤー加工する状態を示した図で
ある。
即ち、第1図及び第5図では、ワイヤ1の下方からボン
ディングブロック3をワイヤエに押しつけて加工するワ
イヤソーを用いたものであったのに対して,本実施例で
は、ワイヤ1の上下方向(両側)に設けたボンディング
ブロック3をワイヤ1に対向させるように押しつけて加
工するワイヤソー装置(特公昭61−7901号公報に
具体的に記載)を基本としている。
ディングブロック3をワイヤエに押しつけて加工するワ
イヤソーを用いたものであったのに対して,本実施例で
は、ワイヤ1の上下方向(両側)に設けたボンディング
ブロック3をワイヤ1に対向させるように押しつけて加
工するワイヤソー装置(特公昭61−7901号公報に
具体的に記載)を基本としている。
本実施例では、ワイヤ1の上下に、上ボンデイングブロ
ック30と下ボンデイングブロック3lとX,Y,およ
び回転方向への位置決め用上ステージ32,下ステージ
33が、それぞれ上2機構34と下2機構35の上に設
けられている。また,ワイヤ1とボンディングブロック
3との位置検出用の光学顕微鏡36がワイヤソー加工時
に退避可能に設置されている。
ック30と下ボンデイングブロック3lとX,Y,およ
び回転方向への位置決め用上ステージ32,下ステージ
33が、それぞれ上2機構34と下2機構35の上に設
けられている。また,ワイヤ1とボンディングブロック
3との位置検出用の光学顕微鏡36がワイヤソー加工時
に退避可能に設置されている。
第7図は、この顕微鏡(検出ユニット)36の一実施例
の構成を示したものである。これは、ワイヤ上とボンデ
ィングブロック3を光ファイバーケーブル37および照
明レンズ51を介して導入した白色光で落射照明し,対
物レンズ38およびリレーレンズ39で拡大した像をT
Vカメラ25. 26上に結像する顕微鏡である。この
光学系は、第6図に示したように、上ステージ32とワ
イヤ1との隙間にセッ1・する必要があるため、対物レ
ンズ38を横置きにし、その先端に検出光軸を下方に曲
げるミラー40を配置すること′により、光学系全体を
薄形化している。また、このミラー40の隣に、検出光
軸を上方に曲げるミラー41を配置し,両者を左右方向
にスライドし、検出光軸を上下に切替ることにより、顕
微鏡36を反転することなく上下両方向の検出を可能に
した。
の構成を示したものである。これは、ワイヤ上とボンデ
ィングブロック3を光ファイバーケーブル37および照
明レンズ51を介して導入した白色光で落射照明し,対
物レンズ38およびリレーレンズ39で拡大した像をT
Vカメラ25. 26上に結像する顕微鏡である。この
光学系は、第6図に示したように、上ステージ32とワ
イヤ1との隙間にセッ1・する必要があるため、対物レ
ンズ38を横置きにし、その先端に検出光軸を下方に曲
げるミラー40を配置すること′により、光学系全体を
薄形化している。また、このミラー40の隣に、検出光
軸を上方に曲げるミラー41を配置し,両者を左右方向
にスライドし、検出光軸を上下に切替ることにより、顕
微鏡36を反転することなく上下両方向の検出を可能に
した。
以下に、この上下同時加工方式でワイヤ1とボンディン
グブロック3との位置合せ加工の方法を説明する。
グブロック3との位置合せ加工の方法を説明する。
まず、上Z關動機構34を上方端に移動し、光学式顕微
鏡36をワイヤ1の上部ヘセットし、既に、第2図で説
明した方法により、ワイヤ1と下ボンディングブロック
31との位置合せを下ステージ33を用いて行う.ただ
し、ワイヤソー加工は、この時点では行わない。次に、
顕微鏡36を一旦、退避するとともに,下Z機構35を
下端に移動し,かつ、上ボンディングブロック30をワ
イヤ1に接近させる。つぎに、顕微鏡36をワイヤlの
下部に設置するとともに、第7図に示したように、ミラ
ー40,41をスライドして検出光軸を切替へ、ワイヤ
1と上ボンディングブロック30との位置合せを上ステ
ージ32にて行う。以上のように,ワイヤエに対する上
、下のボンディングブロック30. 31の位置合せを
完了したあと、顕微鏡36を退避させ,上、下のZIH
動機構34. 35によりワイヤソー加工を実呪する。
鏡36をワイヤ1の上部ヘセットし、既に、第2図で説
明した方法により、ワイヤ1と下ボンディングブロック
31との位置合せを下ステージ33を用いて行う.ただ
し、ワイヤソー加工は、この時点では行わない。次に、
顕微鏡36を一旦、退避するとともに,下Z機構35を
下端に移動し,かつ、上ボンディングブロック30をワ
イヤ1に接近させる。つぎに、顕微鏡36をワイヤlの
下部に設置するとともに、第7図に示したように、ミラ
ー40,41をスライドして検出光軸を切替へ、ワイヤ
1と上ボンディングブロック30との位置合せを上ステ
ージ32にて行う。以上のように,ワイヤエに対する上
、下のボンディングブロック30. 31の位置合せを
完了したあと、顕微鏡36を退避させ,上、下のZIH
動機構34. 35によりワイヤソー加工を実呪する。
本発明により、VTRヘッドチップ等のヘッド高さ(ハ
イト)の寸法制度を従来に比べて大幅に向上(たとえば
、従来±10μm→士数μm以下)することができるた
め、その後の組立工程時でのヘッド位置調整作業が省略
あるいは大幅な削減が可能なる。また、本発明は、複数
のヘッドを上記精度で同時に加工できるため、上記の効
果と共に、歩留まりと生産性の向上が期待できる。
イト)の寸法制度を従来に比べて大幅に向上(たとえば
、従来±10μm→士数μm以下)することができるた
め、その後の組立工程時でのヘッド位置調整作業が省略
あるいは大幅な削減が可能なる。また、本発明は、複数
のヘッドを上記精度で同時に加工できるため、上記の効
果と共に、歩留まりと生産性の向上が期待できる。
第1図は本発明の一実施例を示すワイヤソー装置の構成
図,第2図は本発明におけるワイヤとボンディングブロ
ックとの位置合わせ方法を説明するモニタ画像を示す図
、第3図はワイヤの検出信号波形を示す図、第4図はワ
イヤとボンディングブロックとの位置合わせ工程を示す
フロー図、第5図は本発明の他の実施例を示すワイヤソ
ー装置の構成図,第6図は本発明の他の実施例であるワ
イヤソー加工方法を示す説明図、第7図は本発明におけ
る検出ユニットの一実施例を示す構或斜視図、第8図は
本発明における検出ユニットの一実施例を示す構成図、
第9図は振動するワイヤのモ二夕像とその時の検出信号
波形を示す図、第10図は第9図で検出した時のワイヤ
中心位置の変化を示す図,第11図はワイヤの振動を考
慮したときのワイヤのモニタ像とその時の検出信号波形
を示す図,第l2図は第1l図で検出した時のワイヤ中
心位置の変化を示す図である。 1・・・ワイヤ、 2・・・ワイヤボビン、
3・・・Z踵動機構、 4・・・被加工物(ボンディングブロック)、5・・・
光学式顕微鏡、 6・・・TVカメラ、7・・・モニ
タ5 8・・・ステージ、9・・・画像処理
装置,10・・・ステージ制御装置、11・・・ワイヤ
ソー制御装置。 第 1 図 1・− ワイヤ 2−−ワイ穴ボ゛ビン 3−Z.%るa,t;晩構 +−−−ネA乙l口工.物 (ボ′〉テ冫ニグブO,,,ク) 5・・一光学民頷4蚊遣 J−TV力メラ 7−・−モニタ 8−・ステーシ゛′ 第 2 図 第 5 図 第 b 回 弟 7 図 26 慕 6 図 第 10 初
図,第2図は本発明におけるワイヤとボンディングブロ
ックとの位置合わせ方法を説明するモニタ画像を示す図
、第3図はワイヤの検出信号波形を示す図、第4図はワ
イヤとボンディングブロックとの位置合わせ工程を示す
フロー図、第5図は本発明の他の実施例を示すワイヤソ
ー装置の構成図,第6図は本発明の他の実施例であるワ
イヤソー加工方法を示す説明図、第7図は本発明におけ
る検出ユニットの一実施例を示す構或斜視図、第8図は
本発明における検出ユニットの一実施例を示す構成図、
第9図は振動するワイヤのモ二夕像とその時の検出信号
波形を示す図、第10図は第9図で検出した時のワイヤ
中心位置の変化を示す図,第11図はワイヤの振動を考
慮したときのワイヤのモニタ像とその時の検出信号波形
を示す図,第l2図は第1l図で検出した時のワイヤ中
心位置の変化を示す図である。 1・・・ワイヤ、 2・・・ワイヤボビン、
3・・・Z踵動機構、 4・・・被加工物(ボンディングブロック)、5・・・
光学式顕微鏡、 6・・・TVカメラ、7・・・モニ
タ5 8・・・ステージ、9・・・画像処理
装置,10・・・ステージ制御装置、11・・・ワイヤ
ソー制御装置。 第 1 図 1・− ワイヤ 2−−ワイ穴ボ゛ビン 3−Z.%るa,t;晩構 +−−−ネA乙l口工.物 (ボ′〉テ冫ニグブO,,,ク) 5・・一光学民頷4蚊遣 J−TV力メラ 7−・−モニタ 8−・ステーシ゛′ 第 2 図 第 5 図 第 b 回 弟 7 図 26 慕 6 図 第 10 初
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ビデオヘッドのトラック先端部と加工用ワイヤとの
相対位置合せを±1μm以下の精度で行ない、ヘッド高
さの寸法精度を向上させることを特徴とするワイヤソー
によるビデオヘッド加工方法。 2、走行するワイヤに部品を押しつけて部品を切断ある
いは溝加工するワイヤソー加工装置において、ワイヤと
被加工物の相対位置を検出する手段と、この検出値に基
づいて被加工物の位置を調整する位置決め手段を設け、
ワイヤに対する被加工物の位置を合わせた後加工するこ
とを特徴とするワイヤソー加工装置。 3、走行するワイヤの上下に対向して設置した部品をワ
イヤに押しつけて部品を同時に切断あるいは溝加工する
ワイヤソー加工装置において、ワイヤとその上下の被加
工物との相対位置を検出する手段と、被加工物の位置を
独立に調整する位置決め手段を設け、この検出値に基づ
いてワイヤに対する被加工物の位置を合わせた後、加工
することを特徴とするワイヤソー加工装置。 4、ワイヤの中心位置を求め、次にその位置から所定の
距離だけ離れた位置に被加工物の特定個所を位置決めす
ることを特徴とする請求項2又は3記載のワイヤソー加
工装置。 5、上記ワイヤと被加工物の相対位置を検出する手段が
、撮像装置を用いた光学式顕微鏡と、その画像を処理す
る装置を具備したことを特徴とする請求項2又は3記載
のワイヤソー加工装置。 6、上記ワイヤの画像を処理する手段が、ワイヤの振動
周期よりも長い時間で検出して中心位置の平均値を求め
ることを特徴とする請求項5記載のワイヤソー加工装置
。 7、上記ワイヤと被加工物の相対位置を検出する手段が
、検出光軸を切り替えることにより、上下両方向を検出
できる光学式顕微鏡を有することを特徴とする請求項3
記載のワイヤソー加工装置。 8、上記位置検出の手段をワイヤの支持ローラの内側に
設けることにより、静止あるいは走行中のワイヤの上方
からワイヤと被加工物の両者の位置を同時に検出できる
ことを特徴とする請求項2記載のワイヤソー加工装置。 9、上記位置検出の手段をワイヤの支持ローラの内側お
よび外側に設けることにより、静止あるいは走行中のワ
イヤの上方および下方からワイヤと被加工物の両者の位
置を同時に検出できることを特徴とする請求項3記載の
ワイヤソー加工装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14146790A JPH03161264A (ja) | 1989-08-21 | 1990-06-01 | ワイヤソーによるビデオヘッドの加工方法並びにワイヤソー加工装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1-212906 | 1989-08-21 | ||
| JP21290689 | 1989-08-21 | ||
| JP14146790A JPH03161264A (ja) | 1989-08-21 | 1990-06-01 | ワイヤソーによるビデオヘッドの加工方法並びにワイヤソー加工装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03161264A true JPH03161264A (ja) | 1991-07-11 |
Family
ID=26473693
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14146790A Pending JPH03161264A (ja) | 1989-08-21 | 1990-06-01 | ワイヤソーによるビデオヘッドの加工方法並びにワイヤソー加工装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03161264A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007245280A (ja) * | 2006-03-15 | 2007-09-27 | Tdk Corp | マルチ式ワイヤソー及びワイヤソーによる加工方法 |
| JP2008149455A (ja) * | 2006-12-13 | 2008-07-03 | Siltronic Ag | 工作物から多数のウェハをスライスするための方法 |
| TWI450805B (zh) * | 2007-12-21 | 2014-09-01 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 切割裝置及切割方法 |
| TWI451955B (zh) * | 2007-12-21 | 2014-09-11 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 切割裝置及切割方法 |
-
1990
- 1990-06-01 JP JP14146790A patent/JPH03161264A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007245280A (ja) * | 2006-03-15 | 2007-09-27 | Tdk Corp | マルチ式ワイヤソー及びワイヤソーによる加工方法 |
| JP2008149455A (ja) * | 2006-12-13 | 2008-07-03 | Siltronic Ag | 工作物から多数のウェハをスライスするための方法 |
| TWI450805B (zh) * | 2007-12-21 | 2014-09-01 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 切割裝置及切割方法 |
| TWI451955B (zh) * | 2007-12-21 | 2014-09-11 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 切割裝置及切割方法 |
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