JPH03167558A - 静電記録体 - Google Patents
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- JPH03167558A JPH03167558A JP30870489A JP30870489A JPH03167558A JP H03167558 A JPH03167558 A JP H03167558A JP 30870489 A JP30870489 A JP 30870489A JP 30870489 A JP30870489 A JP 30870489A JP H03167558 A JPH03167558 A JP H03167558A
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Landscapes
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、多針電極を用いた高密度の記録装置である静
電ブロッターやカラー静電プロッターに使用される静電
記録体に関するものである。
電ブロッターやカラー静電プロッターに使用される静電
記録体に関するものである。
(従来の技術)
近年、通信手段の進歩に伴い高密度の記録画像出力が可
能な記録方式の開発が要請されている。
能な記録方式の開発が要請されている。
静電記録方式はこの要請に適う記録方式として開発が進
められており、画像品位に優れるのみならず記録速度が
速いため、コンピューター出力装置、ファクシミリ、C
ADシステム、あるいはコンピューターグラフィンクを
用いて行う意匠設計等の各分野で広く利用されている。
められており、画像品位に優れるのみならず記録速度が
速いため、コンピューター出力装置、ファクシミリ、C
ADシステム、あるいはコンピューターグラフィンクを
用いて行う意匠設計等の各分野で広く利用されている。
特に、多針電極を用いた静電記録方式は、従来200ド
ソト/インチ以下の記録密度のものが大半であったが、
最近400ドット/インチなど高い記録密度をもつもの
が開発された。
ソト/インチ以下の記録密度のものが大半であったが、
最近400ドット/インチなど高い記録密度をもつもの
が開発された。
しかし、このような高密度の記録装置では、1ドットの
細線記録時に、ドット抜けや正常ドットの十倍以上のド
ット面積にも達する異常ドットが発生したり、正常ドッ
トのエッジ周辺にフレアーを発生するなど記録品位を損
なう欠点が発生し易い。そのため、これらの欠点の改良
が強く望まれており、各種の提案がなされている。
細線記録時に、ドット抜けや正常ドットの十倍以上のド
ット面積にも達する異常ドットが発生したり、正常ドッ
トのエッジ周辺にフレアーを発生するなど記録品位を損
なう欠点が発生し易い。そのため、これらの欠点の改良
が強く望まれており、各種の提案がなされている。
例えば、誘電体層を構或するスペーサー顔料として、従
来あまり使用されなかったカオリンや水酸化アルξニウ
ムを使用する方法が提案されてしる.(特開昭62−2
17251号公報、特開司1−21)765号公報)確
かに、カオリンやA酸化アルξニウムをスペーサー顔料
として使用1ると、炭酸カルシウムなどを使用した場合
に比もして、ドット抜けが改良され、異常ドットも低江
するが、正常ドットのエッジ周辺に発生するフレアーに
ついては殆ど改良されない。しかも、力Aリンや水酸化
アルミニウムは炭酸カルシウムなとに比較して絶縁性に
劣っているため、記i!濃度C低下という新たな難点が
付随する。
来あまり使用されなかったカオリンや水酸化アルξニウ
ムを使用する方法が提案されてしる.(特開昭62−2
17251号公報、特開司1−21)765号公報)確
かに、カオリンやA酸化アルξニウムをスペーサー顔料
として使用1ると、炭酸カルシウムなどを使用した場合
に比もして、ドット抜けが改良され、異常ドットも低江
するが、正常ドットのエッジ周辺に発生するフレアーに
ついては殆ど改良されない。しかも、力Aリンや水酸化
アルミニウムは炭酸カルシウムなとに比較して絶縁性に
劣っているため、記i!濃度C低下という新たな難点が
付随する。
また、ドット抜けを改良するためには、カオリンや水酸
化アル壽ニウムが記録体表面の最も高し位置を占め、記
録針電極と接するように、その1均粒子径を選択するの
が望ましく、そのために、カオリンや水酸化アルごニウ
ムの使用量を記録浦度の低下を来さない最小限の量とし
、これより平均粒子径が小さい顔料で、しかも画像濃度
の低下が少ないものを併用する方法が提案されている.
(特開昭62−217251号公報〉しかし、このよう
な方法でも、依然として異常ドットを充分に低減させる
ことができず、しかも、フレアーの発生を抑えることが
できないのが現状である。
化アル壽ニウムが記録体表面の最も高し位置を占め、記
録針電極と接するように、その1均粒子径を選択するの
が望ましく、そのために、カオリンや水酸化アルごニウ
ムの使用量を記録浦度の低下を来さない最小限の量とし
、これより平均粒子径が小さい顔料で、しかも画像濃度
の低下が少ないものを併用する方法が提案されている.
(特開昭62−217251号公報〉しかし、このよう
な方法でも、依然として異常ドットを充分に低減させる
ことができず、しかも、フレアーの発生を抑えることが
できないのが現状である。
(発明が解決しようとする課M)
かかる現状に鑑み、本発明者等は上記の如き欠点の解消
について鋭意検討した結果、特定の平均粒子径を有する
カオリンや水酸化アルミニウムを主たるスペーサー顔料
として使用し、且つこれに疎水性に表面処理された水酸
化マグネシウムを併用すると、上記の如き欠点が効果的
に解消され、静電プロッターなどの高密度記録装置で発
生する異常ドット、ドット抜け、フレアーの発生が際立
って低減され、しかも画像濃度の高い静電記録体が得ら
れることを見出し本発明を完或するに至った。
について鋭意検討した結果、特定の平均粒子径を有する
カオリンや水酸化アルミニウムを主たるスペーサー顔料
として使用し、且つこれに疎水性に表面処理された水酸
化マグネシウムを併用すると、上記の如き欠点が効果的
に解消され、静電プロッターなどの高密度記録装置で発
生する異常ドット、ドット抜け、フレアーの発生が際立
って低減され、しかも画像濃度の高い静電記録体が得ら
れることを見出し本発明を完或するに至った。
(課題を解決するための手段)
本発明は、導電性支持体上に絶縁性樹脂と顔料を主成分
とする誘電体層を形成した静電記録体において、該顔料
が、(a)平均粒子径3〜15μmのカオリン、水酸化
アルミニウムから選ばれる少なくとも1種と、(b)疎
水性に表面処理された水酸化マグネシウムを含有するこ
とを特徴とする静電記録体である。
とする誘電体層を形成した静電記録体において、該顔料
が、(a)平均粒子径3〜15μmのカオリン、水酸化
アルミニウムから選ばれる少なくとも1種と、(b)疎
水性に表面処理された水酸化マグネシウムを含有するこ
とを特徴とする静電記録体である。
(作用)
本発明において、主たるスペーサー顔料である顔料(a
)を構或するカオリンや水酸化アルミニウムは、その平
均粒子径が3〜15μmの範囲にある特定のものが選択
的に使用される。そして、顔料!a)は多針電極と記録
体表面の間の空隙を決めるように記録層中に配置される
。
)を構或するカオリンや水酸化アルミニウムは、その平
均粒子径が3〜15μmの範囲にある特定のものが選択
的に使用される。そして、顔料!a)は多針電極と記録
体表面の間の空隙を決めるように記録層中に配置される
。
因みに、3μm未満の平均粒子径を有する顔料(8)で
は、記録体表面と多針電極との空隙が小さすぎ、オール
マーク記録時に斑点状の白抜けが発生してしまう。また
、15μmを越える平均粒子径のものでは、記録体表面
と多針電極との空隙があきすぎ、ドット抜けや巨大な粒
子による白抜けが発生する。
は、記録体表面と多針電極との空隙が小さすぎ、オール
マーク記録時に斑点状の白抜けが発生してしまう。また
、15μmを越える平均粒子径のものでは、記録体表面
と多針電極との空隙があきすぎ、ドット抜けや巨大な粒
子による白抜けが発生する。
顔料(alを構威するカオリンは、ハロサイト、加水ハ
ロサイト、カオリナイト、デフカイト、ナタライト等の
カオリン族の鉱物を意味し、これらは?独でも混合物で
あってもよい。また、これらを例えばステアリン酸、牛
脂、チタンカソプリング剤、アルミニウムカップリング
剤、シランカップリング剤等を用いて疎水化処理したも
のも含まれる。
ロサイト、カオリナイト、デフカイト、ナタライト等の
カオリン族の鉱物を意味し、これらは?独でも混合物で
あってもよい。また、これらを例えばステアリン酸、牛
脂、チタンカソプリング剤、アルミニウムカップリング
剤、シランカップリング剤等を用いて疎水化処理したも
のも含まれる。
上記の如き鉱物の中でも、特にカオリナイトはドット抜
けの改良効果に優れているため好ましく使用される。な
お、カオリンは不純物として石英を含むことがあるが、
その含有量が2重景%を越えると、異常ドット発生の原
因となるため、石英含有量の低いカオリンの使用が望ま
しい。
けの改良効果に優れているため好ましく使用される。な
お、カオリンは不純物として石英を含むことがあるが、
その含有量が2重景%を越えると、異常ドット発生の原
因となるため、石英含有量の低いカオリンの使用が望ま
しい。
一方、顔料(a)を構成する水酸化アルミニウムとして
は、結晶状の水酸化アルミニウムであるA1■03.1
{20、AIKO3.3H,Oがあるが、カオリンと同
様にこれらを表面処理して溶剤分散性や絶縁性を高めた
ものも使用できる。
は、結晶状の水酸化アルミニウムであるA1■03.1
{20、AIKO3.3H,Oがあるが、カオリンと同
様にこれらを表面処理して溶剤分散性や絶縁性を高めた
ものも使用できる。
本発明において、顔料(a)に併用される疎水性に表面
処理された水酸化マグネシウムとは、水酸化マグネシウ
ムの表面を、例えばステアリン酸、牛脂、チタンカップ
リング剤、アルξニウムカソプリング剤、シランカップ
リング剤等を用いて疎水化処理したものである。なかで
もステアリン酸、牛脂などの高級脂肪酸を0. 5〜2
重量%処理した水酸化マグネシウムは疎水性が高く、し
かも、良好な画像濃度を与えるため特に好ましく用いら
れる。
処理された水酸化マグネシウムとは、水酸化マグネシウ
ムの表面を、例えばステアリン酸、牛脂、チタンカップ
リング剤、アルξニウムカソプリング剤、シランカップ
リング剤等を用いて疎水化処理したものである。なかで
もステアリン酸、牛脂などの高級脂肪酸を0. 5〜2
重量%処理した水酸化マグネシウムは疎水性が高く、し
かも、良好な画像濃度を与えるため特に好ましく用いら
れる。
なお、無定形シリカやプラスチック粉末などを水酸化マ
グネシウムと同様に表面処理し、水酸化マグネシウムに
代えて顔料(a)に併用しても本発明で得られるような
優れた画像濃度の改良効果は得られなかった。
グネシウムと同様に表面処理し、水酸化マグネシウムに
代えて顔料(a)に併用しても本発明で得られるような
優れた画像濃度の改良効果は得られなかった。
上記の如き疎水性に表面処理された特定の水酸化マグネ
シウム顔料(b)を、顔料(a)に併用することによっ
て、異常ドット、ドット抜け、フレアーの発生が効果的
に抑えられるが、顔料(b)の平均粒子径が顔料(a)
のカオリンや水酸化アルミニウムの平均粒子径よりも大
きいと、ドット抜けが発生してしまう。そのため、顔料
(b)を構成する水酸化マグネシウムの平均粒子径は、
顔料(a)より小さくするのが望ましく、特に、顔料(
a)より2μm以上小さいものが特に好ましい。
シウム顔料(b)を、顔料(a)に併用することによっ
て、異常ドット、ドット抜け、フレアーの発生が効果的
に抑えられるが、顔料(b)の平均粒子径が顔料(a)
のカオリンや水酸化アルミニウムの平均粒子径よりも大
きいと、ドット抜けが発生してしまう。そのため、顔料
(b)を構成する水酸化マグネシウムの平均粒子径は、
顔料(a)より小さくするのが望ましく、特に、顔料(
a)より2μm以上小さいものが特に好ましい。
上記の如き特定の顔料(b)の併用によって、誘電体層
の絶縁性が好ましい領域に維持され、結果的に、満足す
べき記録濃度を有する画像の記録が可能となり、しかも
異常ドット、ドット抜け、フレアーの発生が効果的に抑
えられた静電記録体が得られるものである。
の絶縁性が好ましい領域に維持され、結果的に、満足す
べき記録濃度を有する画像の記録が可能となり、しかも
異常ドット、ドット抜け、フレアーの発生が効果的に抑
えられた静電記録体が得られるものである。
本発明において、誘電体層中に含有せしめられる顔料の
配合割合は、誘電体層全固形分の10〜60重量%、よ
り好ましくは15〜40重量%の範囲で調節するのが望
ましい。顔料の配合割合が誘電体層全固形分の10重量
%未満となると、記録体表面と多針電極との空隙を望ま
しい範囲に保つのが困難となり、本発明の所望の効果が
充分に得られず、しかも、耐ブロッキング性の低下、カ
ールの発生など実用面での特性にも悪い影響が出てくる
恐れがある。また、60重量%を越える程多量に配合す
ると、記録層の絶縁性が低下して良好な記録濃度が得ら
れなくなる場合がある。
配合割合は、誘電体層全固形分の10〜60重量%、よ
り好ましくは15〜40重量%の範囲で調節するのが望
ましい。顔料の配合割合が誘電体層全固形分の10重量
%未満となると、記録体表面と多針電極との空隙を望ま
しい範囲に保つのが困難となり、本発明の所望の効果が
充分に得られず、しかも、耐ブロッキング性の低下、カ
ールの発生など実用面での特性にも悪い影響が出てくる
恐れがある。また、60重量%を越える程多量に配合す
ると、記録層の絶縁性が低下して良好な記録濃度が得ら
れなくなる場合がある。
なお、顔料(a)と顔料(b)の併用割合は所望する記
録体の特性に応じて適宜調節されるが、少なくとも顔料
(a)の配合割合は、誘電体層全固形分のl〜30重景
%、より好ましくは5〜20重量%の範囲で調節するの
が望ましい。因みに、顔料(a)の配合割合が誘電体層
全固形分の1重量%未満であると、ドット抜けや異常ド
ットの改良効果が得られず、30重量%を越えると記録
濃度の低下を来す恐れがある。
録体の特性に応じて適宜調節されるが、少なくとも顔料
(a)の配合割合は、誘電体層全固形分のl〜30重景
%、より好ましくは5〜20重量%の範囲で調節するの
が望ましい。因みに、顔料(a)の配合割合が誘電体層
全固形分の1重量%未満であると、ドット抜けや異常ド
ットの改良効果が得られず、30重量%を越えると記録
濃度の低下を来す恐れがある。
また、顔料(b)の配合割合は、誘電体層全固形分の1
〜30重量%、より好ましくは3〜20重量%程度の範
囲で調節するのが好ましい。
〜30重量%、より好ましくは3〜20重量%程度の範
囲で調節するのが好ましい。
本発明の静電記録体において、誘電体層を構底する絶縁
性樹脂としては、例えばアクリル酸メチル、アクリル酸
エチル、アクリル酸2−エチルヘキシル、アクリル酸デ
シル、メタクリル酸メチル、メタクリル酸イソプチル、
メタクリル酸2−エチルヘキシル等のアクリル酸エステ
ルやメタクリル酸エステル共重合体、及びこれらにアク
リル酸、メタクリル酸、無水マレイン酸、クロトン酸、
イタコン酸、アクリ口ニトリル、メタクリロニトリルな
どの官能基を小量共重合した共重合体、ポリ酢Mビニル
、エチレン・酢酸ビニル共重合体、プチラール樹脂、ポ
リエステル樹脂、ニトロセルロース樹脂、ポリスチレン
、スチレン・アクリル共重合体、スチレン・メタクリル
酸共重合体、フフ化ビニリデン樹脂、シリコン樹脂、エ
ポキシ樹脂、スチレン・プタジエン共重合体、酢酸ビニ
ル・メタクリル酸エステル共重合体、酢酸ビニル・クロ
トン酸エステル共重合体、塩化ビニリデン・塩化ビニル
共重合体、塩化ビニリデン・アクリロニトリル共重合体
、ウレタン樹脂、ステアリルメタクリル・クロロブレン
共重合体、フェノール樹脂等が挙げられる。
性樹脂としては、例えばアクリル酸メチル、アクリル酸
エチル、アクリル酸2−エチルヘキシル、アクリル酸デ
シル、メタクリル酸メチル、メタクリル酸イソプチル、
メタクリル酸2−エチルヘキシル等のアクリル酸エステ
ルやメタクリル酸エステル共重合体、及びこれらにアク
リル酸、メタクリル酸、無水マレイン酸、クロトン酸、
イタコン酸、アクリ口ニトリル、メタクリロニトリルな
どの官能基を小量共重合した共重合体、ポリ酢Mビニル
、エチレン・酢酸ビニル共重合体、プチラール樹脂、ポ
リエステル樹脂、ニトロセルロース樹脂、ポリスチレン
、スチレン・アクリル共重合体、スチレン・メタクリル
酸共重合体、フフ化ビニリデン樹脂、シリコン樹脂、エ
ポキシ樹脂、スチレン・プタジエン共重合体、酢酸ビニ
ル・メタクリル酸エステル共重合体、酢酸ビニル・クロ
トン酸エステル共重合体、塩化ビニリデン・塩化ビニル
共重合体、塩化ビニリデン・アクリロニトリル共重合体
、ウレタン樹脂、ステアリルメタクリル・クロロブレン
共重合体、フェノール樹脂等が挙げられる。
誘電体層は一般にトルエン、メチルエチルケトン、キシ
レン、イソプロビルアルコールなどの有機溶剤に絶縁性
樹脂や前記の如き特定の顔料を溶解分散して調製した塗
液を、例えばバーコーターコントラコーター、グラビア
コーター、カーテンコーター、チャンプレックスコータ
ー、ロールコーター、ブレードコーターなどの各種の塗
布装置で導電性支持体上に塗布することによって形成さ
れる。
レン、イソプロビルアルコールなどの有機溶剤に絶縁性
樹脂や前記の如き特定の顔料を溶解分散して調製した塗
液を、例えばバーコーターコントラコーター、グラビア
コーター、カーテンコーター、チャンプレックスコータ
ー、ロールコーター、ブレードコーターなどの各種の塗
布装置で導電性支持体上に塗布することによって形成さ
れる。
なお、静電記録体を構成する導電性支持体としては、例
えばポリビニルベンジルトリメチルアンモニウムクロラ
イド、ポリジメチルアリルアンモニウムクロライド、ス
チレンアクリル酸トリエチルアンモニウムクロライド等
のカチオン性高分子電解質、ポリスチレンスルホン酸塩
、ポリアクリル酸塩、ポリビニルホスフエート等のアニ
オン性高分子電解質、あるいは酸化亜鉛、酸化スズ等に
不純物を混入した金属半導体粉末などを、必要に応じて
結着剤とともに含浸あるいは塗布し、その表面抵抗を1
05〜109オーム程度にした紙、プラスチックフイル
ム、合戒紙、和紙、布等が用いられる。
えばポリビニルベンジルトリメチルアンモニウムクロラ
イド、ポリジメチルアリルアンモニウムクロライド、ス
チレンアクリル酸トリエチルアンモニウムクロライド等
のカチオン性高分子電解質、ポリスチレンスルホン酸塩
、ポリアクリル酸塩、ポリビニルホスフエート等のアニ
オン性高分子電解質、あるいは酸化亜鉛、酸化スズ等に
不純物を混入した金属半導体粉末などを、必要に応じて
結着剤とともに含浸あるいは塗布し、その表面抵抗を1
05〜109オーム程度にした紙、プラスチックフイル
ム、合戒紙、和紙、布等が用いられる。
(実施例)
以下に本発明の実施例を記載するが、本発明はこれらの
実施例に限定されるものでない。また、例中の部は重量
部をあらわす。
実施例に限定されるものでない。また、例中の部は重量
部をあらわす。
実施例1
〔導電性支持体の調製〕
坪16 0 g/rdの上質紙にカチオン性高分子電解
質であるケミスタッ}6300 (三洋化威社製)を乾
燥重量で表面側に4g/n{、裏面側に2g/ボ塗布し
、ベツク平滑度が200秒となるように平滑化処理して
導電性支持体を得た。
質であるケミスタッ}6300 (三洋化威社製)を乾
燥重量で表面側に4g/n{、裏面側に2g/ボ塗布し
、ベツク平滑度が200秒となるように平滑化処理して
導電性支持体を得た。
〔表面処理水酸化マグネシウムの調製〕乳鉢に分級によ
って粒子径を調整した水酸化マグネシウム100部をと
り、これに牛脂のへキサ710%溶液20部を滴下しな
がら撹拌して、水酸化マグネシウムの表面を疎水化処理
した。
って粒子径を調整した水酸化マグネシウム100部をと
り、これに牛脂のへキサ710%溶液20部を滴下しな
がら撹拌して、水酸化マグネシウムの表面を疎水化処理
した。
上記導電性支持体上に以下の組威の誘電体層塗料を乾燥
重量で4g/rrf塗布して静電記録体を得た。
重量で4g/rrf塗布して静電記録体を得た。
トルエン/MEK混合溶剤(1/1)100部水酸化ア
ルξニウム(平均粒子径9μm)4部表面処理水酸化マ
グネシウム (平均粒子径5.8μm)15部 メチルメタクリレート樹脂 167部(固形分
32%) 実施例2 誘電体層塗料を構或する顔料として、水酸化アルごニウ
ムの代わりに、平均粒子径6.5μmのカオリンを使用
し、且つ表面処理水酸化マグネシウムの平均粒子径を3
.2μmとした以外は実施例1と同様にして静電記録体
を得た。
ルξニウム(平均粒子径9μm)4部表面処理水酸化マ
グネシウム (平均粒子径5.8μm)15部 メチルメタクリレート樹脂 167部(固形分
32%) 実施例2 誘電体層塗料を構或する顔料として、水酸化アルごニウ
ムの代わりに、平均粒子径6.5μmのカオリンを使用
し、且つ表面処理水酸化マグネシウムの平均粒子径を3
.2μmとした以外は実施例1と同様にして静電記録体
を得た。
実施例3
以下の組成からなる誘電体層塗料を使用した以外は実施
例lと同様にして静電記録体を得た。
例lと同様にして静電記録体を得た。
トルエン/MEK混合溶剤(1/1)100部水酸化ア
ル嵩ニウム(平均粒子径9μm)4部表面処理水酸化マ
グネシウム (平均粒子径5.8μm) 5部 表面処理水酸化マグネシウム (平均粒子径3.2μm)10部 メチルメタクリレート樹脂 167部(固形分
32%) 比較例I 表面処理水酸化マグネシウムの代わりに、平均粒子径5
.3μmの表面処理していない水酸化マグネシウムを使
用した以外は実施例1と同様にして静電記録体を得た。
ル嵩ニウム(平均粒子径9μm)4部表面処理水酸化マ
グネシウム (平均粒子径5.8μm) 5部 表面処理水酸化マグネシウム (平均粒子径3.2μm)10部 メチルメタクリレート樹脂 167部(固形分
32%) 比較例I 表面処理水酸化マグネシウムの代わりに、平均粒子径5
.3μmの表面処理していない水酸化マグネシウムを使
用した以外は実施例1と同様にして静電記録体を得た。
比較例2
表面処理水酸化マグネシウムの代わりに、平均粒子径5
.3μmの表面処理していない水酸化マグネシウムを使
用した以外は実施例2と同様にして静電記録体を得た。
.3μmの表面処理していない水酸化マグネシウムを使
用した以外は実施例2と同様にして静電記録体を得た。
比較例3
水酸化アルミニウムの平均粒子径を4.8μmとした以
外は実施例3と同様にして静電記録体を得た。
外は実施例3と同様にして静電記録体を得た。
比較例4
表面処理水酸化マグネシウムの代わりに、平均粒子径4
.6μmの炭酸カルシウムを使用した以外は実施例1と
同様にして静電記録体を得た。
.6μmの炭酸カルシウムを使用した以外は実施例1と
同様にして静電記録体を得た。
比較例5
表面処理水酸化マグネシウムの代わりに、平均粒子径3
.1μmのシランカップリング剤で表面処理した無定形
シリカを使用した以外は実施例1と同様にして静電記録
体を得た。
.1μmのシランカップリング剤で表面処理した無定形
シリカを使用した以外は実施例1と同様にして静電記録
体を得た。
比較例6
以下の組成からなる誘電体層塗料を使用した以外は実施
例1と同様にして静電記録体を得た。
例1と同様にして静電記録体を得た。
トルエン/MEK混合溶剤(1/1)100部表面処理
水酸化マグネシウム (平均粒子径5.8μm)19部 メチルメタクリレート樹脂 167部(固形分
32%) かくして得られた9種類の静電記録体を松下電送社製静
電ブロックー(EP−103)で記録し、その画像につ
いての評価結果を表に記載した。
水酸化マグネシウム (平均粒子径5.8μm)19部 メチルメタクリレート樹脂 167部(固形分
32%) かくして得られた9種類の静電記録体を松下電送社製静
電ブロックー(EP−103)で記録し、その画像につ
いての評価結果を表に記載した。
なお、ドット抜け、異常ドットは、線1m当りに発生す
る個数で示した。また、フレアーは目視で評価し、その
評価基準は以下の通りとした。
る個数で示した。また、フレアーは目視で評価し、その
評価基準は以下の通りとした。
○・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・×〔優れている〕 〔劣っている〕 (効果) 表の結果から明らかなように、本発明の各実施例で得ら
れた静電記録体は、いずれも記録濃度が高く、 ドット抜け、 異常ドッ ト、 フレアーの発生 が改良された静電記録体であった。
・・・・・・×〔優れている〕 〔劣っている〕 (効果) 表の結果から明らかなように、本発明の各実施例で得ら
れた静電記録体は、いずれも記録濃度が高く、 ドット抜け、 異常ドッ ト、 フレアーの発生 が改良された静電記録体であった。
表
Claims (2)
- (1)導電性支持体上に絶縁性樹脂と顔料を主成分とす
る誘電体層を形成した静電記録体において、該顔料が、
(a)平均粒子径3〜15μmのカオリン、水酸化アル
ミニウムから選ばれる少なくとも1種と、(b)疎水性
に表面処理された水酸化マグネシウムを含有することを
特徴とする静電記録体。 - (2)水酸化マグネシウムの平均粒子径がカオリン又は
水酸化アルミニウムの平均粒子径より小さい請求項(1
)記載の静電記録体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30870489A JPH03167558A (ja) | 1989-11-27 | 1989-11-27 | 静電記録体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30870489A JPH03167558A (ja) | 1989-11-27 | 1989-11-27 | 静電記録体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03167558A true JPH03167558A (ja) | 1991-07-19 |
Family
ID=17984277
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30870489A Pending JPH03167558A (ja) | 1989-11-27 | 1989-11-27 | 静電記録体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03167558A (ja) |
-
1989
- 1989-11-27 JP JP30870489A patent/JPH03167558A/ja active Pending
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