JPH03171745A - ハイブリッド集積回路のマウント構造 - Google Patents
ハイブリッド集積回路のマウント構造Info
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- JPH03171745A JPH03171745A JP1308955A JP30895589A JPH03171745A JP H03171745 A JPH03171745 A JP H03171745A JP 1308955 A JP1308955 A JP 1308955A JP 30895589 A JP30895589 A JP 30895589A JP H03171745 A JPH03171745 A JP H03171745A
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Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、ハイブリッド集積回路(以下、ハイブリy
ドICと称する。)の基板上に形成された金導体にチッ
プ部品をマウントする構造に関する。
ドICと称する。)の基板上に形成された金導体にチッ
プ部品をマウントする構造に関する。
[従来の技術]
前記のようなマウント構造として、次に示すような3つ
の構造のいずれかが従来用いられていた。
の構造のいずれかが従来用いられていた。
(1)第2図(イ)に示すように、チップ部品1の下部
に形戊されたリードフレーム2と、基板3上にバリア金
属4を介して形成された金導体5とが導電性接着剤6で
接着されているマウント構造で、導電性接着剤6がチッ
プ部品Jの基板3への固定と同時に金導体5への電気的
接続の役目を成している。
に形戊されたリードフレーム2と、基板3上にバリア金
属4を介して形成された金導体5とが導電性接着剤6で
接着されているマウント構造で、導電性接着剤6がチッ
プ部品Jの基板3への固定と同時に金導体5への電気的
接続の役目を成している。
(2)第2図(口)に示すように、チップ部品1と基板
3が絶縁性接着剤7で直接接着され、チ・yプ部品1の
上部に形成されたリードフレーム2に金ワイヤー8の一
端のそれぞれがワイヤボンディングされ、他端のそれぞ
れが基板3」二にバリア金属4を介して形成された金導
体5にワイヤボンデイングされているマウント構造で、
絶縁性接着剤7がチップ部品1の基板3への固定の役目
を成し、金ワイヤー8がチップ部品1−の金導体5への
電気的接続の役目を成している。
3が絶縁性接着剤7で直接接着され、チ・yプ部品1の
上部に形成されたリードフレーム2に金ワイヤー8の一
端のそれぞれがワイヤボンディングされ、他端のそれぞ
れが基板3」二にバリア金属4を介して形成された金導
体5にワイヤボンデイングされているマウント構造で、
絶縁性接着剤7がチップ部品1の基板3への固定の役目
を成し、金ワイヤー8がチップ部品1−の金導体5への
電気的接続の役目を成している。
(3)第2図(ハ)に示すように、チップ部品1の下部
に形成されたリードフレーム2と、基板3上にバリア金
属4を介して形或された金導体5とがハンダ9で接続さ
れているマウント構造で、ハンダ9がチップ部品1の基
板3への固定と同時に金導体5への電気的接続の役目を
成している。
に形成されたリードフレーム2と、基板3上にバリア金
属4を介して形或された金導体5とがハンダ9で接続さ
れているマウント構造で、ハンダ9がチップ部品1の基
板3への固定と同時に金導体5への電気的接続の役目を
成している。
しかし、前記した従来の構造はそれぞれ次に示すような
欠点を有していた。
欠点を有していた。
■前記(1)の構造では、導電性接着剤6にフィラーと
呼ばれる銀などの導電性物質が添加されているため、接
着力が一般の接着剤に比べ著しく劣り、衝撃に弱くチッ
プ部品がμ板からはがれやすい。
呼ばれる銀などの導電性物質が添加されているため、接
着力が一般の接着剤に比べ著しく劣り、衝撃に弱くチッ
プ部品がμ板からはがれやすい。
■前記(2)の構造では、チップ部品へワイヤボンディ
ングできるリードフレームの゜材質が金などに限定され
ている。また、リードフレーム面と導体パターンに11
以上の段差があるチ・yブ部品のリードフレームへのワ
イヤポンデイングモ困難で、汎用的でない。
ングできるリードフレームの゜材質が金などに限定され
ている。また、リードフレーム面と導体パターンに11
以上の段差があるチ・yブ部品のリードフレームへのワ
イヤポンデイングモ困難で、汎用的でない。
■前記(3〉の構造では、ハンダ付け時に金がハング中
に吸収される、いわゆるハンダ食われ現象が起こり、金
導体5の一部が消失してしまい、電気的接続が極めて不
安定になる。
に吸収される、いわゆるハンダ食われ現象が起こり、金
導体5の一部が消失してしまい、電気的接続が極めて不
安定になる。
そこで、この発明は、チップ部品の基板への接着強度が
弾ク、汎用的で、金導体との電気的接続も安定している
ハイブリッド集積回路のマウント構造を堤供することを
目的とする。
弾ク、汎用的で、金導体との電気的接続も安定している
ハイブリッド集積回路のマウント構造を堤供することを
目的とする。
前記目的を達成するために、この発明のハイブリッド集
積回路のマウント構造は、前記ハイブリッド集積回路の
基板上に所定の間隔を保ち対向して配置された金導体の
上にハンダ付け司能な導体パッドが形成され、この導体
パッドとチップ部品の問にハンダ層が設けられ、このハ
ンダ局により前記導体パッドの上にチップ部品がマウン
トされているものである。
積回路のマウント構造は、前記ハイブリッド集積回路の
基板上に所定の間隔を保ち対向して配置された金導体の
上にハンダ付け司能な導体パッドが形成され、この導体
パッドとチップ部品の問にハンダ層が設けられ、このハ
ンダ局により前記導体パッドの上にチップ部品がマウン
トされているものである。
また、前記導体パッドの材料に金を用いたときは、この
導体パッドと前記金導体の間にバリア金属を形成すると
好適である。
導体パッドと前記金導体の間にバリア金属を形成すると
好適である。
[実施例]
第1図はこの考案の一実施例を示す断面図で、この図中
、第2図(ハ)と同一の符号を付したものは第2図(ハ
)と同様の構成を示す。
、第2図(ハ)と同一の符号を付したものは第2図(ハ
)と同様の構成を示す。
10はハンダ付け可能な金を材料とした導体パ・yドで
、バリア層11を介して金導体5上に形成されている。
、バリア層11を介して金導体5上に形成されている。
そして、この導体バ・yド10の上にJ−ドフレーム2
がハンダって固定されている。
がハンダって固定されている。
なお、バリア層11の材質はバリア層4の材質と同一で
も異なってもよく、具体的にはクロム、チタン、ニッケ
ル等が適用できる。
も異なってもよく、具体的にはクロム、チタン、ニッケ
ル等が適用できる。
[作用]
以上の構成において、金導体5にパリア金[11を介し
て形成され電気的にも接続されている導体ハッド10の
上に、ハンダ9によりリードフレーム2を介してチップ
部品1が固定されて電気的にも接続されているので、結
果的に、チップ部品1は基板3に固定されて金導体5と
電気的に接続されている。ところで、ハンダ付け時に導
体パッド10の金はハンダ9中に吸収されることがあっ
ても、バリア層11の存在により金導体5の金がハンダ
9中に吸収されることはない。
て形成され電気的にも接続されている導体ハッド10の
上に、ハンダ9によりリードフレーム2を介してチップ
部品1が固定されて電気的にも接続されているので、結
果的に、チップ部品1は基板3に固定されて金導体5と
電気的に接続されている。ところで、ハンダ付け時に導
体パッド10の金はハンダ9中に吸収されることがあっ
ても、バリア層11の存在により金導体5の金がハンダ
9中に吸収されることはない。
なお、導体バッド10が金の場合、使用するハングはI
nSn+ !nSbなどのハンダを用いるのが好ましい
。
nSn+ !nSbなどのハンダを用いるのが好ましい
。
また、金導体5を複数層形成させる多層ノ\イブリッド
ICの場合には、前記実施例のように導体バ,ド10の
材料に金を用いると、この導体パッド10と上層の導体
とを同時に形戊できるので便利であるが、この発明では
導体パ,2ド10の材料に金を用いる必要はなく、その
材料としてはハンダ付け可能な導体であればよく、具体
的にはニッケル、銅などが適用できる。そして、導体パ
ッド10に金を用いない場合には、この導体パッド10
がハンダ9と金導体5の間のバリア層の役目を兼ねる場
合もあるので、この場合はバリア層】1は必要ない。
ICの場合には、前記実施例のように導体バ,ド10の
材料に金を用いると、この導体パッド10と上層の導体
とを同時に形戊できるので便利であるが、この発明では
導体パ,2ド10の材料に金を用いる必要はなく、その
材料としてはハンダ付け可能な導体であればよく、具体
的にはニッケル、銅などが適用できる。そして、導体パ
ッド10に金を用いない場合には、この導体パッド10
がハンダ9と金導体5の間のバリア層の役目を兼ねる場
合もあるので、この場合はバリア層】1は必要ない。
[発明の効果]
以上説明したようにこの発明では、金導体の上に直I&
ハンダを形戊せずに、金導体の」二にバンダイ・1け可
能な導体パッドを形成し、この導体パッドの1−にハン
ダを形或するようにし,たので、金導体の金がハング中
に吸収されることがなくなり、金導体とチップ部品との
電気的接続が1フ好になる。
ハンダを形戊せずに、金導体の」二にバンダイ・1け可
能な導体パッドを形成し、この導体パッドの1−にハン
ダを形或するようにし,たので、金導体の金がハング中
に吸収されることがなくなり、金導体とチップ部品との
電気的接続が1フ好になる。
ハンダ付けはチップ部品の1&板への接符強度が強く、
汎用的であるため、チップ部晶の71への接jク怖度が
強く、汎用的で、全導体との電気的接統も安定している
ハイブリッド集積回路のマウント構氾が得られるという
優れた効果が得られる。
汎用的であるため、チップ部晶の71への接jク怖度が
強く、汎用的で、全導体との電気的接統も安定している
ハイブリッド集積回路のマウント構氾が得られるという
優れた効果が得られる。
また、導体パッドの材料に金を用いれば、多居ハイブリ
・ノドICの場合、導体パッドと−1二層の導体とを同
時に形成できる。この鴫合、この導体バ,ドと金導体の
間にバリア金属を形成させておけば、ハング付けI1}
に金導体がハンダ中に吸収されることはないという優れ
た効果が得られる。
・ノドICの場合、導体パッドと−1二層の導体とを同
時に形成できる。この鴫合、この導体バ,ドと金導体の
間にバリア金属を形成させておけば、ハング付けI1}
に金導体がハンダ中に吸収されることはないという優れ
た効果が得られる。
第1図はこの発明の一実施例を示す側而断而図、第2図
(イ),(ロ),(ハ)は、従来のそれぞれ異なったハ
イブリッド集積回路のマウント構造を示す側面断面図で
ある。 .チップ部品 ・ノλ板 ・金専体 .ハンダ居 ・導体パッド ,バリア金属
(イ),(ロ),(ハ)は、従来のそれぞれ異なったハ
イブリッド集積回路のマウント構造を示す側面断面図で
ある。 .チップ部品 ・ノλ板 ・金専体 .ハンダ居 ・導体パッド ,バリア金属
Claims (2)
- 1.ハイブリッド集積回路の基板上に所定の間隔を保ち
対向して配置された金導体の上にハンダ付け可能な導体
パッドが形成され、この導体パッドとチップ部品の間に
ハンダ層が設けられ、このハンダ層により前記導体パッ
ドの上に前記チップ部品がマウントされていることを特
徴とするハイブリッド集積回路のマウント構造。 - 2.導体パッドの材料が金であり、この導体パッドと金
導体の間にバリア金属が形成されている請求項1記載の
ハイブリッド集積回路のマウント構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1308955A JP2830221B2 (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | ハイブリッド集積回路のマウント構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1308955A JP2830221B2 (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | ハイブリッド集積回路のマウント構造 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03171745A true JPH03171745A (ja) | 1991-07-25 |
| JP2830221B2 JP2830221B2 (ja) | 1998-12-02 |
Family
ID=17987259
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1308955A Expired - Fee Related JP2830221B2 (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | ハイブリッド集積回路のマウント構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2830221B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1564803A4 (en) * | 2002-04-30 | 2008-09-03 | Sumitomo Electric Industries | SUB-MOUNTING AND SEMICONDUCTOR ELEMENT |
| US7993506B2 (en) | 2007-01-16 | 2011-08-09 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Gas sensor |
-
1989
- 1989-11-30 JP JP1308955A patent/JP2830221B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1564803A4 (en) * | 2002-04-30 | 2008-09-03 | Sumitomo Electric Industries | SUB-MOUNTING AND SEMICONDUCTOR ELEMENT |
| US7993506B2 (en) | 2007-01-16 | 2011-08-09 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Gas sensor |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2830221B2 (ja) | 1998-12-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |