JPH031751B2 - - Google Patents
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- JPH031751B2 JPH031751B2 JP2181683A JP2181683A JPH031751B2 JP H031751 B2 JPH031751 B2 JP H031751B2 JP 2181683 A JP2181683 A JP 2181683A JP 2181683 A JP2181683 A JP 2181683A JP H031751 B2 JPH031751 B2 JP H031751B2
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は情報読取装置におけるトラツキングサ
ーボ信号発生回路に関するものである。
ーボ信号発生回路に関するものである。
例えば光学式情報読取装置におけるトラツキン
グサーボ制御装置として第１図に示す如き構成の
ものがある。すなわち、レーザ光源１よりの照射
光束は、レンズ２、ビームスプリツタ３、1/4波
長板４及び対物レンズ５を経て記録デイスク６の
記録面へ入射する。対物レンズ５によりレーザ光
は収束せしめられて記録面上にて微少な情報検出
点としてのピツクアツプ光スポツトとなる。この
デイスク６により反射光（又は透過光）は、ビー
ムスプリツタ３により分離されて一組の光電変換
素子９ａ，９ｂの各受光面上に照射される。両光
電変換素子９ａ，９ｂの出力は増幅器１０ａ，１
０ｂ及びLPF（ローパスフイルタ）１１ａ，１１
ｂを夫々経て差動アンプ１２へ印加される。この
差出力がイコライザ１３を介して駆動アンプ１４
へ入力され、対物レンズ５をトラツク直交方向に
移動させるための駆動コイル８の駆動信号となつ
ている。
グサーボ制御装置として第１図に示す如き構成の
ものがある。すなわち、レーザ光源１よりの照射
光束は、レンズ２、ビームスプリツタ３、1/4波
長板４及び対物レンズ５を経て記録デイスク６の
記録面へ入射する。対物レンズ５によりレーザ光
は収束せしめられて記録面上にて微少な情報検出
点としてのピツクアツプ光スポツトとなる。この
デイスク６により反射光（又は透過光）は、ビー
ムスプリツタ３により分離されて一組の光電変換
素子９ａ，９ｂの各受光面上に照射される。両光
電変換素子９ａ，９ｂの出力は増幅器１０ａ，１
０ｂ及びLPF（ローパスフイルタ）１１ａ，１１
ｂを夫々経て差動アンプ１２へ印加される。この
差出力がイコライザ１３を介して駆動アンプ１４
へ入力され、対物レンズ５をトラツク直交方向に
移動させるための駆動コイル８の駆動信号となつ
ている。
一組の光電変換素子９ａ，９ｂは、第２図に示
すように一本の分割線９ｃによりその受光面が分
割された如く取付けられており、この分割線９ｃ
は記録トラツク接線方向（矢印Ｙにて示してい
る。）に平行とされ、かつ光スポツトの反射光の
光軸７′に関してこれら素子９ａ，９ｂが対称と
なる様に設けられている。尚、７は入射光光軸で
あり、１５はデイスク回転用スピンドルモータを
示している。
すように一本の分割線９ｃによりその受光面が分
割された如く取付けられており、この分割線９ｃ
は記録トラツク接線方向（矢印Ｙにて示してい
る。）に平行とされ、かつ光スポツトの反射光の
光軸７′に関してこれら素子９ａ，９ｂが対称と
なる様に設けられている。尚、７は入射光光軸で
あり、１５はデイスク回転用スピンドルモータを
示している。
かかる構成により、ピツクアツプ用光スポツト
中心が記録トラツクの中心とトラツク直交方向に
ずれると、このずれに応じて光検出器９ａ，９ｂ
に入射する光の強度分布が非対称となり、両検出
器出力相互間に差異が生ずる。従つて、これら両
検出器の低減成分の差を差動アンプ１２により得
ることによつて、いわゆるトラツキングエラー信
号が得られるから、このエラー信号を用いて対物
レンズ５をトラツク直交方向（デイスク半径方
向）に移動させれば、ピツクアツプ用光スポツト
がそれに応じて偏倚されて常に正確なトラツキン
グ動作が可能となる。
中心が記録トラツクの中心とトラツク直交方向に
ずれると、このずれに応じて光検出器９ａ，９ｂ
に入射する光の強度分布が非対称となり、両検出
器出力相互間に差異が生ずる。従つて、これら両
検出器の低減成分の差を差動アンプ１２により得
ることによつて、いわゆるトラツキングエラー信
号が得られるから、このエラー信号を用いて対物
レンズ５をトラツク直交方向（デイスク半径方
向）に移動させれば、ピツクアツプ用光スポツト
がそれに応じて偏倚されて常に正確なトラツキン
グ動作が可能となる。
しかしながら、かかる装置においては、デイス
ク６の記録面の傾き、対物レンズ５のデイスク半
径方向への移動等に伴つて、第２図の点線で示す
如くデイスクからの反射光１６の検出器９ａ，９
ｂ上の中心が分割線９ｃから偏位し、トラツキン
グサーボ制御系に重大な目標ずれを引き起こすと
いう欠点を有している。
ク６の記録面の傾き、対物レンズ５のデイスク半
径方向への移動等に伴つて、第２図の点線で示す
如くデイスクからの反射光１６の検出器９ａ，９
ｂ上の中心が分割線９ｃから偏位し、トラツキン
グサーボ制御系に重大な目標ずれを引き起こすと
いう欠点を有している。
本発明の目的は、外乱要因によるトラツキング
エラー信号への悪影響をなくして、正確なトラツ
キング制御が可能なトラツキングサーボ信号発生
回路を提供することである。
エラー信号への悪影響をなくして、正確なトラツ
キング制御が可能なトラツキングサーボ信号発生
回路を提供することである。
本発明によるトラツキングサーボ信号発生回路
は、情報検出点のトラツク直交方向における偏倚
量を検出すべくこの偏倚量に対応して検出出力相
互間に差異が生ずる様に設けられた一組の検出手
段と、この一組の検出手段の各検出出力の上側エ
ンベロープ成分及び下側エンベロープ成分を夫々
抽出する手段と、これら上側エンベロープ成分同
士の差信号及び下側エンベロープ成分同士の差信
号とを得る手段と、これら差信号同士を所望の割
合で減算してトラツキングサーボ信号を発生する
手段とを含むことを特徴としている。
は、情報検出点のトラツク直交方向における偏倚
量を検出すべくこの偏倚量に対応して検出出力相
互間に差異が生ずる様に設けられた一組の検出手
段と、この一組の検出手段の各検出出力の上側エ
ンベロープ成分及び下側エンベロープ成分を夫々
抽出する手段と、これら上側エンベロープ成分同
士の差信号及び下側エンベロープ成分同士の差信
号とを得る手段と、これら差信号同士を所望の割
合で減算してトラツキングサーボ信号を発生する
手段とを含むことを特徴としている。
以下に図面を用いて本発明を説明する。
第３図は本発明の実施例のブロツク図であり第
１図と同等部分は同一符号によつて示されてい
る。本例では増幅器１０ａ，１０ｂの出力A1，
A2はそれぞれ上側エンベロープ抽出回路１７ａ，
１７ｂ及び下側エンベロープ抽出回路１８ａ，１
８ｂに印加されており、上側エンベロープ抽出回
路１７ａ，１７ｂの出力Ue1，Ue2は差動増幅器
１９へ導かれており、その差出力Ｆは可変抵抗器
２１を介して差動増幅器２２の一方の入力へ印加
される。また下側エンベロープ抽出回路１８ａ，
１８ｂの出力Le1，Le2は差動増幅器２０に導か
れており、その差出力Ｆは差動増幅器２２のもう
一方の入力に印加される。この差動増幅器２２の
出力がトラツキングサーボ信号Ｉとなつて、イコ
ライザ１３を介して駆動アンプ１４へ入力されて
いる。
１図と同等部分は同一符号によつて示されてい
る。本例では増幅器１０ａ，１０ｂの出力A1，
A2はそれぞれ上側エンベロープ抽出回路１７ａ，
１７ｂ及び下側エンベロープ抽出回路１８ａ，１
８ｂに印加されており、上側エンベロープ抽出回
路１７ａ，１７ｂの出力Ue1，Ue2は差動増幅器
１９へ導かれており、その差出力Ｆは可変抵抗器
２１を介して差動増幅器２２の一方の入力へ印加
される。また下側エンベロープ抽出回路１８ａ，
１８ｂの出力Le1，Le2は差動増幅器２０に導か
れており、その差出力Ｆは差動増幅器２２のもう
一方の入力に印加される。この差動増幅器２２の
出力がトラツキングサーボ信号Ｉとなつて、イコ
ライザ１３を介して駆動アンプ１４へ入力されて
いる。
第４図ａは下側エンベロープを抽出する回路の
一例で、入力信号はダイオードD1のカソードに
印加され、そのアノードから出力される。アノー
ドと電源＋Vccとの間に抵抗R1とコンデンサC1
が並列に接続されている。
一例で、入力信号はダイオードD1のカソードに
印加され、そのアノードから出力される。アノー
ドと電源＋Vccとの間に抵抗R1とコンデンサC1
が並列に接続されている。
第４図ｂは上側エンベロープを抽出する回路の
一例で、入力信号はダイオードQ2のアノードに
印加され、そのカソードから出力される。カソー
ドは抵抗R2によつて接地され、コンデンサC2が
抵抗R2に並列に接続されている。第５図ａ〜ｉ
は第１及び第３図の回路ブロツクの各部動作波形
でありこれら波形は外乱によりデイスクからの反
射光束の中心が光検出器９ａ，９ｂの分割線９ｃ
から変位している状態、すなわち第２図の点線で
示す如き状態でトラツキングサーボループがオー
プンとなつておりかつデイスク面上で光スポツト
が記録トラツクを斜めに横切つて移動している場
合の各波形の時間変化を示したものである。図中
のtoは光スポツトが一つのトラツク中心と一致し
た時刻、ｔ−1，ｔ＋1はそれぞれ当該一つのトラ
ツクと内外周に隣接する両方トラツク中心と光ス
ポツトが一致した時刻を示すもので、縦軸は信号
レベルである。
一例で、入力信号はダイオードQ2のアノードに
印加され、そのカソードから出力される。カソー
ドは抵抗R2によつて接地され、コンデンサC2が
抵抗R2に並列に接続されている。第５図ａ〜ｉ
は第１及び第３図の回路ブロツクの各部動作波形
でありこれら波形は外乱によりデイスクからの反
射光束の中心が光検出器９ａ，９ｂの分割線９ｃ
から変位している状態、すなわち第２図の点線で
示す如き状態でトラツキングサーボループがオー
プンとなつておりかつデイスク面上で光スポツト
が記録トラツクを斜めに横切つて移動している場
合の各波形の時間変化を示したものである。図中
のtoは光スポツトが一つのトラツク中心と一致し
た時刻、ｔ−1，ｔ＋1はそれぞれ当該一つのトラ
ツクと内外周に隣接する両方トラツク中心と光ス
ポツトが一致した時刻を示すもので、縦軸は信号
レベルである。
第５図ａ，ｂは一組の光電変換素子９ａ，９ｂ
の各検出出力の増幅信号A1，A2を夫々示すもの
であり、照射面積の大なる検出器９ａの出力A1
はより小なる検出器９ｂの出力A2に対し、RF成
分の振幅及び直流成分（平均値成分）がともに大
きくこれらは略比例関係にある。
の各検出出力の増幅信号A1，A2を夫々示すもの
であり、照射面積の大なる検出器９ａの出力A1
はより小なる検出器９ｂの出力A2に対し、RF成
分の振幅及び直流成分（平均値成分）がともに大
きくこれらは略比例関係にある。
なお、両方信号A1，A2のエンベロープ成分の
位相関係は図ａ，ｂの如く互いにトラツク中心か
らの位相差を有している。当該位相差は、デイス
クよりの反射光の強度分布が光スポツトとトラツ
ク中心との偏倚に伴い光軸に対し非対称分布とな
ることに起因するものである。
位相関係は図ａ，ｂの如く互いにトラツク中心か
らの位相差を有している。当該位相差は、デイス
クよりの反射光の強度分布が光スポツトとトラツ
ク中心との偏倚に伴い光軸に対し非対称分布とな
ることに起因するものである。
第５図ｃは信号A1，A2の低減成分のみを抽出
したもので第１図における信号B1，B2の波形を
示したものである。図ｄは両信号B1，B2の差を
示す波形であり、第１図の従来例におけるトラツ
キングエラー信号であり、図に見られる如くDC
オフセツトが存在しているためにトラツキングサ
ーボはロツクし得ないことになる。このDCオフ
セツト分が外乱の影響を示しているもので、これ
を打消すのが以下に示す本実施例の信号である。
信号A1，A2は、第４図のエンベロープ抽出回路
に入力される。第４図のコンデンサC1，C2の値
は信号A1，A2の極大値又は極小値をホールドす
るように設定されており、その結果各エンベロー
プ成分が抽出される。第５図ｅは信号A1，A2の
上側エンベロープ成分のみを抽出した信号Ue1，
Ue2の波形を示しており、図ｇは下側エンベロー
プ成分のみを抽出した信号Le1，Le2の波形を示
している。Ue1，Ue2，Le1，Le2は次式で近似で
きる。
したもので第１図における信号B1，B2の波形を
示したものである。図ｄは両信号B1，B2の差を
示す波形であり、第１図の従来例におけるトラツ
キングエラー信号であり、図に見られる如くDC
オフセツトが存在しているためにトラツキングサ
ーボはロツクし得ないことになる。このDCオフ
セツト分が外乱の影響を示しているもので、これ
を打消すのが以下に示す本実施例の信号である。
信号A1，A2は、第４図のエンベロープ抽出回路
に入力される。第４図のコンデンサC1，C2の値
は信号A1，A2の極大値又は極小値をホールドす
るように設定されており、その結果各エンベロー
プ成分が抽出される。第５図ｅは信号A1，A2の
上側エンベロープ成分のみを抽出した信号Ue1，
Ue2の波形を示しており、図ｇは下側エンベロー
プ成分のみを抽出した信号Le1，Le2の波形を示
している。Ue1，Ue2，Le1，Le2は次式で近似で
きる。
Ue1＝K1・｛Yo＋ｙ（ωt＋δ）｝ ……(1)
Ue2＝K2・｛Yo＋ｙ（ωt−δ）｝ ……(2)
Le1＝K1・｛Xo＋ｘ（ωt＋δ′）｝ ……(3)
Le2＝K2・｛Xo＋ｘ（ωt−δ′）｝ ……(4)
ここでK1，K2は外乱により変化する比例定数、
Yo，Xoは直流成分、ｙ（ｔ）、Ｘ（ｔ）は交流成
分、ωは１トラツク間隔走査時間を１周期とした
ときの角周波数であり、δ，δ′は上述した位相差
である。
Yo，Xoは直流成分、ｙ（ｔ）、Ｘ（ｔ）は交流成
分、ωは１トラツク間隔走査時間を１周期とした
ときの角周波数であり、δ，δ′は上述した位相差
である。
第５図ｆは信号Ue1，Ue2の差成分Ｆの波形で
あり、 Ｆ＝Ue1−Ue2＝（K1−K2）・ Yo＋K1・ｙ（ωt＋δ）−K2・ ｙ（ωt−δ） ……(5) となる。第５図ｈは信号Le1，Le2の差成分Ｈの
波形であり Ｈ＝Le1−Le2＝（K1−K2）・ Xo＋K1・ｘ（ωt＋δ）−K2・ Ｘ（ωt−δ） ……(6) となる。第５図ｆとｈとの波形を比較してわかる
ように、時刻tpでのDCオフセツトが同相である
から、両信号ＦとＨを適当な比にて混合して差成
分をとればDCオフセツト成分が除去できる。
あり、 Ｆ＝Ue1−Ue2＝（K1−K2）・ Yo＋K1・ｙ（ωt＋δ）−K2・ ｙ（ωt−δ） ……(5) となる。第５図ｈは信号Le1，Le2の差成分Ｈの
波形であり Ｈ＝Le1−Le2＝（K1−K2）・ Xo＋K1・ｘ（ωt＋δ）−K2・ Ｘ（ωt−δ） ……(6) となる。第５図ｆとｈとの波形を比較してわかる
ように、時刻tpでのDCオフセツトが同相である
から、両信号ＦとＨを適当な比にて混合して差成
分をとればDCオフセツト成分が除去できる。
今の場合信号ＦのDCオフセツト成分の方が大
きいから信号Ｆに適当な減衰定数αを剰じた信号
を可変抵抗器２１で作成し、差動増幅器２２で信
号Ｈとの差を得ればよい。すなわち、可変抵抗器
２１を通過した信号は α・Ｆ＝α・（K1−K2）・Yo＋α・ K1・ｙ（ωt＋δ）−K2・ ｙ（ωt−δ）｝ ……(7) となるから、(6)，(7)式より （K1−K2）・Xo＝α・（K1−K2）・Yo ……(8) なる式を満足するαの値を選ぶことにより、
DCオフセツトの除去されたＩ＝Ｈ−α・Ｆなる
差信号を図ｉのように得ることができる。
きいから信号Ｆに適当な減衰定数αを剰じた信号
を可変抵抗器２１で作成し、差動増幅器２２で信
号Ｈとの差を得ればよい。すなわち、可変抵抗器
２１を通過した信号は α・Ｆ＝α・（K1−K2）・Yo＋α・ K1・ｙ（ωt＋δ）−K2・ ｙ（ωt−δ）｝ ……(7) となるから、(6)，(7)式より （K1−K2）・Xo＝α・（K1−K2）・Yo ……(8) なる式を満足するαの値を選ぶことにより、
DCオフセツトの除去されたＩ＝Ｈ−α・Ｆなる
差信号を図ｉのように得ることができる。
Ｉ及びαは次式となる。
Ｉ＝K1｛Ｘ（ωt＋δ）−α・ｙ
（ωt＋δ）｝−K2・｛ｘ（ωt−δ）
−α・ｙ（ωt−δ）｝ ……(9)
α＝Xo／Yo ……(10)
なお、信号ＦとＨの交流成分も同相であり、差を
とることによつて信号Ｉの交流成分も減少するこ
とになるが、実際には信号A1，A2の上側エンベ
ロープ成分が記録トラツクによつて変調される割
合は、下側エンベロープ成分が変調される割合に
比べて十分に小さく、差信号Ｉの交流成分の減少
は無視してよい。
とることによつて信号Ｉの交流成分も減少するこ
とになるが、実際には信号A1，A2の上側エンベ
ロープ成分が記録トラツクによつて変調される割
合は、下側エンベロープ成分が変調される割合に
比べて十分に小さく、差信号Ｉの交流成分の減少
は無視してよい。
(9)式から明らかなように、光スポツト位置偏倚
用の駆動コイル８のための信号すなわちトラツキ
ングサーボ信号Ｈは、第５図ｉに示すように外乱
によるDCオフセツトが除去されて目標ずれの無
い良好なトラツキングサーボ信号となることが判
る。
用の駆動コイル８のための信号すなわちトラツキ
ングサーボ信号Ｈは、第５図ｉに示すように外乱
によるDCオフセツトが除去されて目標ずれの無
い良好なトラツキングサーボ信号となることが判
る。
第６図は、第３図における増幅器１０ａ，１０
ｂから差動アンプ２２までを他の回路構成で実現
した一例を示すものである。第６図においては増
幅器１０ａは第３図と同様であるが増幅器１０
b′が反転アンプとなつており、その出力信号は−
A2となつている。信号−A2の下側エンベロープ
抽出回路は第４図ａとは逆極性に接続されたダイ
オードD3と、電源−Vccにバイアスされた抵抗
R3およびコンデンサC3とで構成されその出力信
号は−Le2である。また、信号−A2の上側エンベ
ロープ抽出回路は第４図ｂとは、逆極性に接続さ
れたダイオードD4とOVにバイアスされた抵抗R4
およびコンデンサC4とで構成されており、その
出力信号は−Ue2である。信号A1については上述
の例と同じである。信号Le1と−Le2は抵抗R7，
R8を介して差動アンプ２３の反転入力とされ、
差動アンプ２３によつて加算されて信号−（Le1
−Le2）となる。そして、可変抵抗器２４を介し
て差動アンプ２５の反転入力に印加される。一方
信号Ue1と−Ue2は、抵抗R5とR6を介して差動ア
ンプ２５の同じ反転入力に印加され、信号−
（Le1−Le2）と加算される。抵抗R5〜R9の値をす
べてRxとし（R9はアンプ２３の帰還抵抗であ
る）可変抵抗器２４の値をRY、差動アンプ２５
の帰還抵抗の値をRfとすると、差動アンプ２５
の帰還抵抗２７の値をRfとすると、差動アンプ
２５の出力信号Ｊは Ｊ＝Rf／Ry・（Le1−Le2） −Rf／Rx（Ue1−Ue2） ……(11) ＝（Rf／RY）・Ｈ−（Rf／Rx）・Ｆ となる。前述のDCオフセツトの除去された信号
ＩがＩ＝Ｈ−αFで表わされていることから、式
(11)におけるＨとＦの係数Rf／RY：Rf／Rxを１：
αの比にすれば信号ＪにおいてはDCオフセツト
が除去できることになる。すなわち可変抵値の値
RYを次式を満たすように設定すればよい。
ｂから差動アンプ２２までを他の回路構成で実現
した一例を示すものである。第６図においては増
幅器１０ａは第３図と同様であるが増幅器１０
b′が反転アンプとなつており、その出力信号は−
A2となつている。信号−A2の下側エンベロープ
抽出回路は第４図ａとは逆極性に接続されたダイ
オードD3と、電源−Vccにバイアスされた抵抗
R3およびコンデンサC3とで構成されその出力信
号は−Le2である。また、信号−A2の上側エンベ
ロープ抽出回路は第４図ｂとは、逆極性に接続さ
れたダイオードD4とOVにバイアスされた抵抗R4
およびコンデンサC4とで構成されており、その
出力信号は−Ue2である。信号A1については上述
の例と同じである。信号Le1と−Le2は抵抗R7，
R8を介して差動アンプ２３の反転入力とされ、
差動アンプ２３によつて加算されて信号−（Le1
−Le2）となる。そして、可変抵抗器２４を介し
て差動アンプ２５の反転入力に印加される。一方
信号Ue1と−Ue2は、抵抗R5とR6を介して差動ア
ンプ２５の同じ反転入力に印加され、信号−
（Le1−Le2）と加算される。抵抗R5〜R9の値をす
べてRxとし（R9はアンプ２３の帰還抵抗であ
る）可変抵抗器２４の値をRY、差動アンプ２５
の帰還抵抗の値をRfとすると、差動アンプ２５
の帰還抵抗２７の値をRfとすると、差動アンプ
２５の出力信号Ｊは Ｊ＝Rf／Ry・（Le1−Le2） −Rf／Rx（Ue1−Ue2） ……(11) ＝（Rf／RY）・Ｈ−（Rf／Rx）・Ｆ となる。前述のDCオフセツトの除去された信号
ＩがＩ＝Ｈ−αFで表わされていることから、式
(11)におけるＨとＦの係数Rf／RY：Rf／Rxを１：
αの比にすれば信号ＪにおいてはDCオフセツト
が除去できることになる。すなわち可変抵値の値
RYを次式を満たすように設定すればよい。
Rf／RY：Rf／Rx＝１：α
すなわちRY＝α・RX ……(12)
ただし(10)式よりα＝Xo／Yoである。
第６図の実施例では増幅器１０b′を反転増幅器
にすることにより＝減算回路を減らすことがきコ
ストがより低減でき、かつ第３図と同じ効果が得
られる。この他にも種々の回路構成は考えられる
ことは勿論である。また、今までは外乱たとえば
対物レンズのトラツク直交方向への移動によつて
発生するオフセツトを完全に除去する場合につい
て説明してきたが、以下にオフセツトを積極的に
利用する場合を説明する。
にすることにより＝減算回路を減らすことがきコ
ストがより低減でき、かつ第３図と同じ効果が得
られる。この他にも種々の回路構成は考えられる
ことは勿論である。また、今までは外乱たとえば
対物レンズのトラツク直交方向への移動によつて
発生するオフセツトを完全に除去する場合につい
て説明してきたが、以下にオフセツトを積極的に
利用する場合を説明する。
対物レンズがトラツキング方向にバネ等で支持
されている場合を考える。このとき、記録トラツ
クに追跡するために対物レンズが変位すると支持
バネのステイフネス成分による復元力のために、
定常偏差が発生する。この定常偏差すなわちオフ
セツトはレンズの変位と比例関係にあり、支持バ
ネのステイフネスとトラツキングサーボループゲ
インとで定まる比例定数βを有する。一方、前述
の信号Ｉ（＝Ｈ−αF）にはレンズの変位に比例し
たオフセツトが発生するわけでありこのオフセツ
ト量は減衰定数αを変化させることにより自由に
定めることができる。いいかえるなら、レンズの
変位とオフセツト量を関係づける比例定数γを自
由に定めることができる。従つて減衰定数αを、
式 γ＝−β ……(13) が満たされるように定めることによつて、支持バ
ネのステイフネスによつて発生する定常偏差を打
ち消すことができる。第３図または第６図の回路
構成では、夫々可変抵抗２１又は２４の調整によ
つて実現することができる。
されている場合を考える。このとき、記録トラツ
クに追跡するために対物レンズが変位すると支持
バネのステイフネス成分による復元力のために、
定常偏差が発生する。この定常偏差すなわちオフ
セツトはレンズの変位と比例関係にあり、支持バ
ネのステイフネスとトラツキングサーボループゲ
インとで定まる比例定数βを有する。一方、前述
の信号Ｉ（＝Ｈ−αF）にはレンズの変位に比例し
たオフセツトが発生するわけでありこのオフセツ
ト量は減衰定数αを変化させることにより自由に
定めることができる。いいかえるなら、レンズの
変位とオフセツト量を関係づける比例定数γを自
由に定めることができる。従つて減衰定数αを、
式 γ＝−β ……(13) が満たされるように定めることによつて、支持バ
ネのステイフネスによつて発生する定常偏差を打
ち消すことができる。第３図または第６図の回路
構成では、夫々可変抵抗２１又は２４の調整によ
つて実現することができる。
このようにレンズ支持系のステイフネスによる
トラツキングサーボループに生じる定常偏差成分
を打消すことができるので記録トラツクの偏心量
が大なるときも常に正確なトラツキングサーボが
可能となる。
トラツキングサーボループに生じる定常偏差成分
を打消すことができるので記録トラツクの偏心量
が大なるときも常に正確なトラツキングサーボが
可能となる。
本発明によれば、一組の検出手段の各検出出力
の上側エンベロープ成分の差と、下側エンベロー
プの成分の差とには、それぞれ外乱による成分が
同相で含まれていることを利用して単に電気的処
理をするのみで外乱によるトラツキングサーボの
誤動作を防止することができ、何ら追加の光学部
品を用いる必要がない。また回路構成も簡単であ
り精度よく外乱の除去ができる。
の上側エンベロープ成分の差と、下側エンベロー
プの成分の差とには、それぞれ外乱による成分が
同相で含まれていることを利用して単に電気的処
理をするのみで外乱によるトラツキングサーボの
誤動作を防止することができ、何ら追加の光学部
品を用いる必要がない。また回路構成も簡単であ
り精度よく外乱の除去ができる。
尚、上記においては、光スポツト偏倚手段とし
て対物レンズを移動するようにしているが、トラ
ツキングミラー等の他の手段を用いても良い。ま
た、光学式情報読取装置に限らず、同等のトラツ
キングエラー信号情報を発生する再生方式であれ
ば他の方式の情報読取装置でも可能であり、また
記録媒体がデイスク形状である必要もない。
て対物レンズを移動するようにしているが、トラ
ツキングミラー等の他の手段を用いても良い。ま
た、光学式情報読取装置に限らず、同等のトラツ
キングエラー信号情報を発生する再生方式であれ
ば他の方式の情報読取装置でも可能であり、また
記録媒体がデイスク形状である必要もない。
第１図は従来トラツキングサーボ装置のブロツ
ク図、第２図は光電変換素子と光スプツトとの関
係を示す図、第３図は本発明の実施例のブロツク
図、第４図は第３図のブロツクの一部具体例の回
路図、第５図は第３図のブロツクの各部動作波形
図、第６図は第３図の回路ブロツクの他の変形例
を示す回路図である。 主要部分の符号の説明、１……レーザ光源、５
……対物レンズ、６……デイスク、９……光検出
器、１２，１９，２０，２２……差動アンプ、１
７，１８……エンベロープ抽出回路。
ク図、第２図は光電変換素子と光スプツトとの関
係を示す図、第３図は本発明の実施例のブロツク
図、第４図は第３図のブロツクの一部具体例の回
路図、第５図は第３図のブロツクの各部動作波形
図、第６図は第３図の回路ブロツクの他の変形例
を示す回路図である。 主要部分の符号の説明、１……レーザ光源、５
……対物レンズ、６……デイスク、９……光検出
器、１２，１９，２０，２２……差動アンプ、１
７，１８……エンベロープ抽出回路。
Claims (1)
- １ ピツクアツプの情報検出点が記録トラツクを
正確に追跡するように前記情報検出点を前記記録
トラツクに対し略直交方向に偏倚せしめるよう構
成されたトラツキングサーボ制御装置のサーボ信
号発生装置であつて、前記情報検出点のトラツク
直交方向における偏倚量を検出すべくこの偏倚量
に対応して検出出力相互間に差異が生じるように
設けられた一組の検出手段と、前記１組の検出手
段の各検出出力の上側エンベロープ成分及び下側
エンベロープ成分を夫々抽出する手段と、これら
上側エンベロープ成分同士の差信号及び下側エン
ベロープ成分同士の差信号を得る手段と、これら
差信号同士を所望の割合で減算してトラツキング
サーボ信号を発生する手段とを含むトラツキング
サーボ信号発生回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2181683A JPS59146487A (ja) | 1983-02-12 | 1983-02-12 | トラツキングサ−ボ信号発生回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2181683A JPS59146487A (ja) | 1983-02-12 | 1983-02-12 | トラツキングサ−ボ信号発生回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59146487A JPS59146487A (ja) | 1984-08-22 |
| JPH031751B2 true JPH031751B2 (ja) | 1991-01-11 |
Family
ID=12065582
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2181683A Granted JPS59146487A (ja) | 1983-02-12 | 1983-02-12 | トラツキングサ−ボ信号発生回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59146487A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0433549Y2 (ja) * | 1984-11-01 | 1992-08-11 | ||
| DE3719489A1 (de) * | 1987-06-11 | 1988-12-29 | Thomson Brandt Gmbh | Geraet zur wiedergabe von daten |
| CN116527463A (zh) * | 2023-06-26 | 2023-08-01 | 四川新川航空仪器有限责任公司 | 一种共模干扰信号抑制装置及方法 |
-
1983
- 1983-02-12 JP JP2181683A patent/JPS59146487A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59146487A (ja) | 1984-08-22 |
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