JPH0317749A - 試験プログラムの検証方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 被試験装置をソフトウエアに基づき自動的に検証・試験
するための試験プログラムの検証方法に関し、 テストデータの検証を自動的に処理する試験プログラム
の検証方法を提供することを目的とし、記憶装置のモー
ド指定領域に被試験装置の試験を行うための試験モード
と、試験データの検証を行うための検証モードとを定義
し格納し、テストデータ検証情報領域よりテストデータ
の検証位置を指定すると共に応答情報の書替えを指定し
、対応する試験プログラムの走行を起動し、試験プログ
ラムを走行することにより得られた応答情報を応答情報
領域に格納すると共に、モード指定領域により検証モー
ドか否かを中央処理装置で判定し、検証モードの場合は
中央処理装置で応答情報書替えデータ領域より対応する
応答情報を障害データに書替えた書替えデータを取り出
し、正解データ領域より読みだした正解データと照合し
、一致の場合はテストデータ不良と判定し、不一致であ
れば障害情報領域に障害情報を編集するように構成する
。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、被試験装置をソフトウェアに基づき自動的に
検証・試験するための試験プログラムの検証方法に関す
る。

通常、試験プログラムの開発過程においては、試験プロ
グラムを構戒するテストデータの正常性を確認するため
に試験プログラムの検証を行っているが、テストデータ
の改版，修正等に伴う試験プログラムの検証が容易にし
かも正確に行われることが望まれる。

〔従来の技術〕

第４図は試験システムの構成を説明する図、第５図は試
験プログラムの構造を説明する図、第６図は記憶装置に
おける従来の情報格納状況を説明する図、第７図は試験
プログラムの従来の検証手順を説明する図をそれぞれ示
す。

第４図は被試験装置１として主に半導体素子で作られて
いる電子機器をソフトウエアに基づき自動的に試験する
ためのシステム構成を示し、その構成は、 例えば通信用の電子機器である被試験装置１と、電子機
器ｌをソフトウェアに基づく自動的試験を制御する中央
処理装置２と、 中央処理装置２にて電子機器１の自動試験を制御するた
めの試験プログラムや試験に伴う各種データを格納する
ためのメモリからなる記憶装置３と、 試験実行の指示や試験結果の表示や打ち出し等をオペレ
ータにより行うためのマンマシンインタフェース機器と
なる入出力装置４を具備し構成している。

尚、中央処理装置２，記憶装置３及び入出力装置４は、
電子機器ｌを試験するための試験機器をなしているもの
であり、又これらの装置ｌ〜４はデータパス（ｕ）にて
接続されているものとする。

第５図は中央処理装置２にて試験プログラムに基づき電
子機器１の試験を実行するためのプログラム構造を示し
、試験プログラムの制御を行うスケジューラに基づき試
験プログラム内複数のテストデータ１〜ｎを指定し実行
する。

そして、試験プログラムは試験手順の解釈や実行を管理
する試験実行管理部（これをプログラム部と称する）と
、試験手順を規定するデータ部からなり、複数のテスト
データｌ−ｎを順次繰り返し試験実行管理部の管理のも
とに実行していくことになる。

上述のように実行する複数のテストデータ１〜ｎは、通
常テストデータ自身は正確なものとして実行する必要が
あるが、試験プログラムを開発した当初は正確なテスト
データであるとを確認するために、検証を行い不良箇所
を訂正して正確なテストデータに仕上げる工程がある。

第６図は記憶装Ｗ３に格納している情報例を示し、中央
処理装置２が実行する各種試験オーダ（命令に当たる）
を格納するオーダ領域（ａ）と、試験を実行するための
正しいデータを格納する正解データ領域０））と、中央
処理装置２が試験を実行する時の試験オーダに対する応
答情報を格納する応答情報領域（Ｃ）と、検証により検
出された障害情報を格納する障害情報領域（ｆ）等の領
域が備えられている。

次に、第７図は従来実施している検証手順を示すフロー
チャートであり、まずテストデータの検証を行うための
前処理として、オペレータは検証を行うテストデータを
正解データから不良データに書き替えて入出力装置４を
介して試験プログラムの起動を行う。

入出力装置４を介して試験プログラムの起動を行うこと
により、中央処理装置２は被試験装置である電子機器ｌ
に対してテストデータ対応の動作が指示される。

そして、被試験装置である電子機器１の動作結果に基づ
く情報を中央処理装置２は収集し記憶装置３の応答情報
領域（Ｃ）に収集情報を格納し、応答情報と正解データ
をオペレータが検証用に書替えたデータとが不一致か否
かを中央処理装置２にて判定し、不一致の場合は記憶装
置３の障害情報領域（ｆ）に格納されている障害内容を
入出力装置４を介して中央処理装置２に指示する。

オペレータは入出力装置４でプリントアウトするか又は
表示された障害内容と検証を行ったテストデータの位置
を確認し、検証の後処理工程としてテストデータを正解
データに修復し当該テストデータの検証を終了とする。

一方、応答情報と正解データを書替えたデータとが一致
した場合はテストデータの不良とみなし、テストデータ
の見直しを行う。

〔発明が解決しようとする課題］ 上述のように従来のテストデータの検証はオペレータに
よりテストデータの書替えや修復を行っている。

しかも、書替えた検証用テストデータと正解データの照
合もオペレータにより行うように人手に頼る部分が多い
ため、誤判断，誤操作を起こす可能性が多い。

更に、テストデータの改版や修正等に伴って再検証を行
う場合、データの追加等でデータの変更箇所が変わって
しまうため、変更箇所の洗い出しに長時間を要する等の
問題点がある。

本発明は、テストデータの検証を自動的に処理する試験
プログラムの検証方法を提供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

第１図は本発明の記憶装置における領域区分及び処理フ
ローの実施例を説明する図を示す。

第１図に示す本発明における試験プログラムの検証方法
は、記憶装置３内メモリにオーダ領域（ａ）、正解デー
タ領域中）と、応答情報領域（Ｃ）と、テストデータ検
証情報領域（ｄ）と、応答情報書替えデータ領域（ｅ）
と、障害情報領域（ｆ）と、モード指定領域（濁とを設
け、 モード指定領域（ｇ）に被試験装置１の試験を行うため
の試験モードと、試験データの検証を行うための検証モ
ードとを定義し登録し、テストデータ検証情報領域（ｄ
）よりテストデータの検証位置を指定し、対応する試験
プログラムの走行を起動し、試験プログラムを走行する
ことにより得られた応答情報により検証モードか試験モ
ードかを中央処理装置２で判定し、 検証モードの場合は中央処理装置２で応答情報書替えデ
ータ領域（ｅ）より対応する応答情報を検証データに書
き替えた書替えデータを取り出し、正解データ領域中）
より読みだした正解データと照合し、一致の場合はテス
トデータ不良と判定し以降の処理を中断し、 不一致であれば障害情報領域（ｆ）に障害情報を編集し
、入出力装置４に表示したり打ち出したりすることによ
り、本課題を解決するための手段とする。

〔作　用〕

テストデータの検証時にはテストデータの検証位置を記
憶装置３に登録し、先ず正解データで被試験装置１のテ
ストを実行し、応答情報の正常性を中央処理装置２での
正解データとの比較処理により確認した後この応答情報
を強制的に中央処理装置２の制御のもとに不良データと
して書き替えテストデータの検証を行うようにすること
により、単時間により正確にテストデータの検証を行う
ことが可能となる。

〔実施例〕

以下本発明の要旨を第ｌ図〜第３図に示す実施例により
具体的に説明する． 第ｌ図（Ａ）は本発明の記憶装置における領域区分の実
施例を説明する図、第１図（Ｂ）は本発明における処理
フローの概要を説明する図、第２図は本発明の試験プロ
グラムの検証方法のフローチャートを説明する図、第３
図は本発明の試験プログラムの検証方法におけるデータ
処理方法を説明する図をそれぞれ示す。尚、全図を通じ
て同一符号は同一対象物を示す。

本発明の試験プログラムの検証方法における試験プログ
ラム検証用システムは、第４図で説明したのと同様なシ
ステム横戒をしており、試験プログラムの中央処理装置
における制御も第５図で説明したのと同様な処理がなさ
れる。

本システムを構戒する記憶装置３は、下記の領域（ａ）
〜（８）を設けて情報を保持するものとする。即ち、第
６図で説明したオーダ領域（ａ），応答情報領域（Ｃ）
，障害情報領域（ｆ）の他に、テストデータとして正解
を保持する正解データ領域い）と、検証するテストデー
タを指定するためのテストデータ検証情報領域（ｄ）と
、テストデータ検証情報領域（ｄ）にて指定されたテス
トデータを検証用に書き替えるための情報を保持する応
答情報書き替えデータ領域（ｅ）と、 被試験対象の電子機器１をテストするモードか、テスト
データの検証をするためのモードかを指定するモード指
定情報領域（のとを備えるものとする。

尚、上記各領域（ａ）〜（ののうち、領域（ａ），領域
（ｂ）は固定データであり、領域（ｃ），　ｅＭ域（ｆ
）はテストデータにより変化する一時データであり、領
域（ｄ），領域（ｅ），領域（ｇ）は登録データである
。

又、中央処理装置２では、上記各領域（ａ）〜（濁から
データを一時的に読みだし格納するための複数のレジス
タ＃Ｘ，レジスタ＃ｙ　（ｘ，ｙはＯＮｌ５の内任意と
する）を有するものとする。

更に、障害情報領域（ｆ）は正解データ，検証のための
応答情報が格納される。

これらを入出力装置４で打ち出す場合、テストデータの
位置情報として、ｒＰＨＡＳＥＸＸ　　ＴＥＳＴ　　Ｘ
ＸＪと打ち出し、引き続きｒｃＯＲ　：ＸＸＸＸ　　Ａ
ＵＳ　：　ＸＸＸＸ　（ＸＸＸＸ），として出力する。

尚、ＣＯＲ　：　ＸＸＸＸのＸＸＸＸは正解データであ
り、ＡＵＳ　：　ＸＸＸＸ　（ＸＸＸＸ）の最初のｘｘ
ｘｘは検証のために書き替えた応答情報であり、括弧内
のｘｘｘｘは応答情報である。

第２図は本発明における試験プログラムの検証を行う場
合の全体のフａ−チャートを示すものであり、検証の前
処理及び後処理は人為的に処理及び確認がなされる。

先ず、検証の前処理としてテストデータ検証情報領域（
ｄ），応答情報書き替えデータ領域（ｅ），モード指定
領域（８）を入出力装置４にて登録し保持させる。

テストデータ検証情報領域（ｄ）に登録した情報は、ど
のテストデータで検証を遣りたいかの情報であり、電子
機器ｌからの応答情報は応答情報領域（Ｃ）に登録し、
試験プログラムを入出力装置４にて起動する。

以下は中央処理装置２にて制御される。即ち、試験対象
装置である電子機器ｌに対してテストデータ対応の動作
を指示（オーダ送出）し、試験を実行する。

そして、電子機器１の動作結果を収集し、オーダに対す
る応答情報を読み取ると同時にモード指定を読取る。

これにより、検証モードか否かを判定し、検証モードの
場合電子機器１の正常性を確認するため、応答情報が領
域（ｂ）に保持する正解データと等しいか否かを判定す
る。

尚、検証モードでない場合は試験モードとして電子機器
ｌの試験を実行する。

次に、正解データと等しくない場合は電子機器１の障害
のため検証処理が不可と判断し中止される。一方、正解
データと等しい場合は強制的に応答情報を領域（ｅ）の
情報により検証用の不正解データに書き替え、領域（ｅ
）に保持すると共に再度比較を行う。

そして、この書替えた応答情報が領域中）の正解データ
と等しくないか否かを判断し、等しい場合はテストデー
タ不良として検証が中断され、テストデータを見直す作
業が必要となる。

一方、書替えた応答情報が領域（ｂ）の正解データと等
しくない場合は、その情報を障害情報として入出力装置
４を介して打ち出すか表示し、後工程処理として例えば
打ち出された障害内容と登録した検証テストデータとを
確認する。

第３図は上述の処理に補足を加えた詳細フローチャート
を説明する図を示す。

即ち、検証モードの場合はテストデータ検証情報領域（
ｄ）から続出した情報により領域（ｅ）から応答情報書
替えデータを取り出し、中央処理装置２内のレジスタ＃
Ｘに格納する。

次に、領域（１））より正解データを読出し中央処理装
置２内のレジスタ＃ｙに格納する。尚、検証不要の場合
は次テストデータ対応の処理を実行し、終了とする。

次に、レジスタ＃Ｘ＝レジスタ＃ｙか否かを判断し、一
致の場合テストデータ不良としてテストデータの見直し
を行い、不一致の場合はレジスタ＃Ｘの内容（応答情報
）を領域（濁に格納する。

又、レジスタ＃ｙの内容（正解データ）を領域（ｂ）へ
格納し、応答情報を領域（ｄ）に格納する。

尚、領域（ｇ）へは領域（ｂ）からテストデータ検証位
置情報を、レジスタ＃ｙからは正解データを、レジスタ
＃Ｘからは検証のための応答情報を、領域（Ｃ）からは
格納している応答情報等を格納し、これらの情報を障害
情報として編集し入出力装置４から打ち出したり、入出
力装置４の表示部分上に表示する。

障害情報として編集し入出力装置４から打ち出す様式は
前述の様式を用紙上へ打ち出すものとする。

上述のように、本発明の実施例にあっては検証モードを
定義し、この検証モードが指定された場合は検証する位
置のテストデータの正常性を試験した後、記憶装置３の
領域（ｅ）にて検証時の応答情報を正解の応答情報から
書き替え不一致の場合の情報を検証結果情報として打ち
出すことにより、自動的に検証を行うことが可能となる
。

〔発明の効果］ 以上のような本発明によれば、人為的に手が加えられる
範囲が大幅に減少するため検証がより正確となると共に
簡単になり、しかも検証すべきデストデータ位置も正確
に迅速に指定出来る試験プログラムの検証方法を提供す
ることが出来る。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の記憶装置における領域区分及び処理フ
ローの実施例を説明する図、 第２図は本発明の試験プログラムの検証方法のフローチ
ャートを説明する図、 第３図は本発明の試験プログラムの検証方法におけるデ
ータ処理方法を説明する図、 第４図は試験システムの構成を説明する図、第５図は試
験プログラムの構造を説明する図、第６図は記憶装置に
おける従来の情報格納状況を説明する図、 第７図は試験プログラムの従来の検証手順を説明する図
、 をそれぞれ示す。 図において、 ｌは被試験装置（電子機器）、 ２は中央処理装置、　　　３は記憶装置、４は入出力装
置、 第　１ 図 （ぞの２） （Ａ冫 第１　図　（そのヱ） 官ＫＮシスアムの禰戊と説明Ｔラ図 第４図 ｆ式腑プロ７フムの憚彊丘説明Ｔる口 第　５　図 師情袈Ｂ１ 第 ６ 図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 試験プログラムに基づき行う前記被試験装置（１）の試
   験実行を制御する中央処理装置（２）と、前記試験プロ
   グラムや各種情報を格納する記憶装置（３）と、前記記
   憶装置（３）に前記試験プログラムを格納したり前記中
   央処理装置（２）に対して試験実行を指示したり、前記
   被試験装置（１）の試験結果を表示したりプリントアウ
   トしたりする入出力装置（４）とを備えてなる試験シス
   テムにおいて、 前記記憶装置（３）内メモリに前記中央処理装置（２）
   に対して情報のリード／ライトを命令する情報を格納す
   るオーダ領域（（ａ））と、試験を実行するための正し
   いデータを格納する正解データ領域（（ｂ））と、 前記被試験装置（１）を前記オーダ領域（（ａ））の命
   令に応じて試験した時の応答情報を格納する応答情報領
   域（（ｃ）と、 前記試験プログラムを構成する複数のテストデータの内
   検証するために指定されたテストデータ位置情報を格納
   するテストデータ検証情報領域（（ｄ））と、 指定された当該テストデータに対応した応答情報を検証
   用に書き替えるための情報を格納する応答情報書替えデ
   ータ領域（（ｅ））と、 検証結果を障害情報として編集格納する障害情報領域（
   （ｆ））と、 新たに定義された検証モードか試験モードかを指定・登
   録するためのモード指定領域（（ｇ））とを設け、 前記モード指定領域（（ｇ））に前記被試験装置（１）
   の試験を行うための試験モードと、試験データの検証を
   行うための検証モードとを定義し格納し、 前記テストデータ検証情報領域（（ｄ））よりテストデ
   ータの検証位置を指定すると共に応答情報の書替えを指
   定し、対応する試験プログラムの走行を起動し、 前記試験プログラムを走行することにより得られた応答
   情報を応答情報領域（（ｃ））に格納すると共に、前記
   モード指定領域（（ｇ））より前記検証モードか試験モ
   ードかを前記中央処理装置（２）で判定し、 前記検証モードの場合は前記中央処理装置（２）で応答
   情報書替えデータ領域（（ｅ））より対応する応答情報
   を障害データに書替えた書替えデータを取り出し、正解
   データ領域（（ｂ））より読みだした正解データと照合
   し、一致の場合はテストデータ不良と判定し以降の処理
   を中断し、 不一致であれば障害情報領域（（ｆ））に障害情報を編
   集し、前記入出力装置（４）上に表示したり打ち出すこ
   とを特徴とする試験プログラムの検証方法。