JPH03180774A - Circuit verifying device - Google Patents
Circuit verifying deviceInfo
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- JPH03180774A JPH03180774A JP1319875A JP31987589A JPH03180774A JP H03180774 A JPH03180774 A JP H03180774A JP 1319875 A JP1319875 A JP 1319875A JP 31987589 A JP31987589 A JP 31987589A JP H03180774 A JPH03180774 A JP H03180774A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、回路検証装置に関し、特にそのデータ人力/
出力回路の構成に関する。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Field of Application] The present invention relates to a circuit verification device, and in particular to its
Regarding the configuration of the output circuit.
従来、ゲートアレイ・スタンダードセル等のセミカスタ
ムLSIの開発は、コンピュータ上での回路検証、すな
わち回路動作の確認を行った後、その回路接続情報に基
づき、LSIサンプルを製造し、評価ボードとなるセミ
カスタムLSI搭載ボードに搭載して、LSIの最終機
能チエツクを行っていた。Traditionally, in the development of semi-custom LSIs such as gate arrays and standard cells, the circuit is verified on a computer, that is, the circuit operation is confirmed, and then an LSI sample is manufactured based on the circuit connection information and becomes an evaluation board. It was installed on a semi-custom LSI board and a final function check of the LSI was performed.
上述した従来の最終回路検証方法は、サンプル製造によ
り初めて実機ボード上でその動作確認が可能となるため
、長期の開発時間を要するという欠点があった。The conventional final circuit verification method described above has the disadvantage that it requires a long development time because it is possible to confirm its operation on an actual board only after sample production.
本発明の目的は、このような欠点を除き、コンピユータ
上での回路検証終了後、直ちに実機ボード上で製造予定
LSIの動作確認を可能とした回路検証装置を提供する
ことにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to eliminate such drawbacks and provide a circuit verification device that makes it possible to check the operation of an LSI to be manufactured on an actual board immediately after completion of circuit verification on a computer.
本発明の回路検証装置の構成は、回路検証を行うべきL
SIと接続されるソケット部と、このソケット部からの
入出力データを記憶する入力および出力メモリ部と、こ
のメモリ部からの出力をラッチする出力ラッチ部と、こ
の出力ラッチ部からのラッチデータを出力すると共に処
理データを入力する追加ボードと、この追加ボードと接
続され回路検証処理を行い前記処理データを出力する前
記追加ボードからのデータをラッチする入力ラッチ部と
、この人力ラッチ部からのデータと前記入力メモリ部か
らのデータを比較して不一致信号を前記ソケットに出力
する比較部と、前記メモリ部、前記出力ラッチ部および
前記入力ラッチ部の各タイミングを出力するタイミング
制御部とを備えることを特徴とする。The configuration of the circuit verification device of the present invention is as follows:
A socket section connected to the SI, an input and output memory section that stores input/output data from this socket section, an output latch section that latches the output from this memory section, and a latch data from this output latch section. an additional board that outputs and inputs processed data; an input latch section that is connected to this additional board and that latches data from the additional board that performs circuit verification processing and outputs the processed data; and data from this manual latch section. and a comparison section that compares data from the input memory section and outputs a mismatch signal to the socket, and a timing control section that outputs timings of the memory section, the output latch section, and the input latch section. It is characterized by
次に、本発明について図面を参照して・説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.
第1図は本発明の一実施例に用いるデータバッファボー
ドのブロック図、第2図は第1図を用いたシステムの模
式的構成図である。このシステムは、コンピュータ本体
1.追加ボード2.データバッファボード3.ソケット
4から構成される。FIG. 1 is a block diagram of a data buffer board used in an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic configuration diagram of a system using FIG. 1. This system consists of a computer main body 1. Additional board 2. Data buffer board 3. It consists of socket 4.
コンピュータ本体上に於いて、ゲートアレイ開発用回路
図及びテストパターンが入力され、回路検証(シミュレ
ーション)が行われる。追加ボード2はテストパターン
データ等をコンピュータ本体1に入力/出力させるボー
ドであり、データバッファボード3はテストパターンを
ディジタル信号化し格納するボードであり、ソケット4
はデータバッファボード3内のテストパターン情報を実
機(評価)ボードへ入力/出力させるソケットであ・る
。これらの接続にケーブル5.6が用いられ、テストパ
ターン情報を伝達する。On the computer main body, a circuit diagram for gate array development and a test pattern are input, and circuit verification (simulation) is performed. The additional board 2 is a board that inputs/outputs test pattern data etc. to the computer main body 1, the data buffer board 3 is a board that converts test patterns into digital signals and stores them, and the socket 4
is a socket for inputting/outputting test pattern information in the data buffer board 3 to the actual (evaluation) board. Cables 5.6 are used for these connections and carry test pattern information.
第2図のデータバッファボードのブロック図において、
入力メモリ12.出カメモリ13にコンピュータ本体1
からのテストパターン情報を格納させる。入力メモリ1
2内のデータはタイミング制御部■0の制御により逐次
入力データを比較部8に出力する。ケーブル6より入力
されたデータは、入力ラッチ9にてタイミング制御部I
Oの制御によりラッチされ入力メモリ12の出力データ
と比較部8にて比較される。出力メモリ13内のデータ
はタイミング制御部10の制御により出力ラッチ11に
ラッチされ、ケーブル6に出力される。In the block diagram of the data buffer board in Figure 2,
Input memory 12. Computer main body 1 to output memory 13
Store test pattern information from . Input memory 1
The data in 2 is sequentially outputted to the comparison unit 8 under the control of the timing control unit ①0. The data input from the cable 6 is input to the timing control section I at the input latch 9.
The data is latched under the control of the input memory 12 and compared with the output data of the input memory 12 in the comparator 8. The data in the output memory 13 is latched by the output latch 11 under the control of the timing control section 10 and output to the cable 6.
第3図は第1図、第2図の動作を説明するテストパター
ン図である。コンピュータ本体上に入力された信号は、
入力(A、B)、出力(C,D)各々“1″又は0”の
2値データに変換され、データバッファボード3に格納
される。FIG. 3 is a test pattern diagram illustrating the operations of FIGS. 1 and 2. The signal input to the computer is
The inputs (A, B) and outputs (C, D) are each converted into binary data of "1" or 0, and stored in the data buffer board 3.
この場合の回路検証は、コンピュータ本体1上にて回路
図及びテストパターン(第3図〉により行われ、動作確
認が終了した場合には、テストパターン情報を追加ボー
ド2を経てデータバッファボード3に転送する。データ
バッファボード3を予め実機ボードにソケット4を経て
装着しておくことにより、タイミング制御部10により
出カバターンデータが出力ラッチ11により、入力デー
タが入力ラッチ9にてラッチされ、比較部8にて入カバ
ターンとの比較が行われる。この比較により不一致が発
生した場合には、追加ボード2を経てコンピュータ本体
上へ不一致が伝達される。In this case, circuit verification is performed using the circuit diagram and test pattern (Fig. 3) on the computer main body 1, and when the operation verification is completed, the test pattern information is transferred to the data buffer board 3 via the additional board 2. By attaching the data buffer board 3 to the actual machine board in advance through the socket 4, the output cover data is latched by the timing control unit 10, the output data is latched by the output latch 11, and the input data is latched by the input latch 9. A comparison with the input cover pattern is performed in section 8. If a discrepancy occurs as a result of this comparison, the discrepancy is transmitted to the computer main body via the additional board 2.
以上説明したように本発明は、コンピュータ本体上で確
認されたテストパターン情報を使い実機ボード上での動
作確認を行うことにより、LSIサンプルでの動作確認
を不要とし、LSI開発期間を大幅に短縮できるという
効果がある。As explained above, the present invention eliminates the need to check the operation with LSI samples by checking the operation on the actual board using the test pattern information confirmed on the computer itself, and significantly shortens the LSI development period. There is an effect that it can be done.
第1図は本発明の一実施例のデータバッファボード周辺
のブロック図、第2図は第1図を含むシステムの模式的
構成図、第3図は第1図、第2図の動作を説明するテス
トパターン図である91・・・コンピュータ本体、2・
・・追加ボード、3・・・データバッファボード、4・
・・ソケット、5・・・ケーブル、6・・・ケーブル、
7・・・不一致ケーブル、8・・・比較部、9・・・入
力ラッチ、10・・・タイミング制御部、11・・・出
力ラッチ、12・・・入力メモリ、13・・・出力メモ
リ。Fig. 1 is a block diagram around the data buffer board of an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a schematic configuration diagram of the system including Fig. 1, and Fig. 3 explains the operation of Figs. 1 and 2. 91 which is a test pattern diagram to perform computer main body, 2.
...Additional board, 3...Data buffer board, 4.
...Socket, 5...Cable, 6...Cable,
7... Mismatched cable, 8... Comparison section, 9... Input latch, 10... Timing control section, 11... Output latch, 12... Input memory, 13... Output memory.
Claims (1)
このソケット部からの入出力データを記憶する入力およ
び出力メモリ部と、このメモリ部からの出力をラッチす
る出力ラッチ部と、この出力ラッチ部からのラッチデー
タを出力すると共に処理データを入力する追加ボードと
、この追加ボードと接続され回路検証処理を行い前記処
理データを出力する前記追加ボードからのデータをラッ
チする入力ラッチ部と、この入力ラッチ部からのデータ
と前記入力メモリ部からのデータを比較して不一致信号
を前記ソケットに出力する比較部と、前記メモリ部、前
記出力ラッチ部および前記入力ラッチ部の各タイミング
を出力するタイミング制御部とを備えることを特徴とす
る回路検証装置。a socket part connected to an LSI to be subjected to circuit verification;
An input and output memory section that stores input/output data from this socket section, an output latch section that latches the output from this memory section, and an additional section that outputs the latch data from this output latch section and inputs processing data. a board, an input latch unit that is connected to the additional board and that latches data from the additional board that performs circuit verification processing and outputs the processed data, and an input latch unit that latches data from the input latch unit and the input memory unit. A circuit verification device comprising: a comparison section that compares and outputs a mismatch signal to the socket; and a timing control section that outputs respective timings of the memory section, the output latch section, and the input latch section.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1319875A JPH03180774A (en) | 1989-12-08 | 1989-12-08 | Circuit verifying device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1319875A JPH03180774A (en) | 1989-12-08 | 1989-12-08 | Circuit verifying device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03180774A true JPH03180774A (en) | 1991-08-06 |
Family
ID=18115211
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1319875A Pending JPH03180774A (en) | 1989-12-08 | 1989-12-08 | Circuit verifying device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03180774A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3075230A1 (en) | 2015-03-31 | 2016-10-05 | USHIO Denki Kabushiki Kaisha | Plant growth lighting apparatus, plant hydroponic cultivation apparatus and plant hydroponic cultivation method |
-
1989
- 1989-12-08 JP JP1319875A patent/JPH03180774A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3075230A1 (en) | 2015-03-31 | 2016-10-05 | USHIO Denki Kabushiki Kaisha | Plant growth lighting apparatus, plant hydroponic cultivation apparatus and plant hydroponic cultivation method |
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