JPH03183239A - インタフェースモジュール - Google Patents
インタフェースモジュールInfo
- Publication number
- JPH03183239A JPH03183239A JP1322386A JP32238689A JPH03183239A JP H03183239 A JPH03183239 A JP H03183239A JP 1322386 A JP1322386 A JP 1322386A JP 32238689 A JP32238689 A JP 32238689A JP H03183239 A JPH03183239 A JP H03183239A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test data
- test
- interface module
- circuit
- module
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Communication Control (AREA)
- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
この発明は、時分割多重化装置などの通信装置において
回線や端末装置とのインタフェースモジュールをとり、
試験診断モジュールにてその正常性が試験診断されるイ
ンタフェースモジュールに関するものである。
回線や端末装置とのインタフェースモジュールをとり、
試験診断モジュールにてその正常性が試験診断されるイ
ンタフェースモジュールに関するものである。
第3図は例えば、昭和63年特許願第322774号の
明細書に示された、従来のインタフェースモジュールを
示すブロック図である。図において、lは通信装置と回
線あるいは端末装置とのインタフェースをとるインタフ
ェースモジュールである。 2はこのインタフェースモジュールlの試験診断を実行
する試験診断モジュールであり、3はこれらのインタフ
ェースモジュールlおよび試験診断モジュール2が接続
されている内部バスである。 前記試験診断モジュール2内において、4はインタフェ
ースモジュール1を試験診断するための試験データを生
成して内部バス3に送出する試験デ−夕発生部である。 5はインタフェースモジュール1内で折り返されて返送
されてくる試験データを内部バス3より受信してそのチ
エツクを行う試験データ受信部である。 また、インタフェースモジュール1内において、6は内
部バス3からインタフェースモジュールlへのデータが
入力される受信側の内部回路であり、7はインタフェー
スモジュールlかう内部ハス3へのデータが出力される
送信側の内部回路である。 8は当該インタフェースモジュールl内の信号経路を制
御して、受信側の内部回路6を通過した試験診断モジュ
ール2からの試験データを、送信側の内部回路7に折り
返す第1のループバック回路である。9はこの第1のル
ープバック回路8を介して各内部回路6および7に接続
され、当該インタフェースモジュール1が設備された通
信装置とそれに接続される回線あるいは端末装置との間
をインタフェースするインタフェース回路である。 次に動作について説明する。インタフェースモジュール
1を試験診断モジュール2にて試験診断する場合、試験
診断モジュール2はまず、試験データ発生部4より試験
データを発生させ、それを内部バス3に送出する。この
試験データは内部バス3よりインタフェースモジュール
1にて受信され、第1のループバック回路8の制御によ
って、受信側の内部回路6−第1のループバック回路8
→送信側の内部回路7の経路でインタフェースモジュー
ル1内を一巡した後、内部バス3へ出力される。試験診
断モジュール2は内部バス3から受信したこの試験デー
タを試験データ受信部5へ送る。試験データ受信部5で
は受信したこの試験データと試験データ発生部4より送
出した前記試験データとの同一性をチエツクし、インタ
フェースモジュール1の内部回路6および7の正常性を
試験診断する。
明細書に示された、従来のインタフェースモジュールを
示すブロック図である。図において、lは通信装置と回
線あるいは端末装置とのインタフェースをとるインタフ
ェースモジュールである。 2はこのインタフェースモジュールlの試験診断を実行
する試験診断モジュールであり、3はこれらのインタフ
ェースモジュールlおよび試験診断モジュール2が接続
されている内部バスである。 前記試験診断モジュール2内において、4はインタフェ
ースモジュール1を試験診断するための試験データを生
成して内部バス3に送出する試験デ−夕発生部である。 5はインタフェースモジュール1内で折り返されて返送
されてくる試験データを内部バス3より受信してそのチ
エツクを行う試験データ受信部である。 また、インタフェースモジュール1内において、6は内
部バス3からインタフェースモジュールlへのデータが
入力される受信側の内部回路であり、7はインタフェー
スモジュールlかう内部ハス3へのデータが出力される
送信側の内部回路である。 8は当該インタフェースモジュールl内の信号経路を制
御して、受信側の内部回路6を通過した試験診断モジュ
ール2からの試験データを、送信側の内部回路7に折り
返す第1のループバック回路である。9はこの第1のル
ープバック回路8を介して各内部回路6および7に接続
され、当該インタフェースモジュール1が設備された通
信装置とそれに接続される回線あるいは端末装置との間
をインタフェースするインタフェース回路である。 次に動作について説明する。インタフェースモジュール
1を試験診断モジュール2にて試験診断する場合、試験
診断モジュール2はまず、試験データ発生部4より試験
データを発生させ、それを内部バス3に送出する。この
試験データは内部バス3よりインタフェースモジュール
1にて受信され、第1のループバック回路8の制御によ
って、受信側の内部回路6−第1のループバック回路8
→送信側の内部回路7の経路でインタフェースモジュー
ル1内を一巡した後、内部バス3へ出力される。試験診
断モジュール2は内部バス3から受信したこの試験デー
タを試験データ受信部5へ送る。試験データ受信部5で
は受信したこの試験データと試験データ発生部4より送
出した前記試験データとの同一性をチエツクし、インタ
フェースモジュール1の内部回路6および7の正常性を
試験診断する。
従来のインタフェースモジュールlは以上のように構成
されているので、その内部回路6および7では、インタ
フェースをとる回線や端末装置毎に対応した形態のデー
タ信号を取り扱っており、従って、試験診断モジュール
2には試験診断をしようとするインタフェースモジュー
ル1毎に、取り扱っているデータ信号の形態と同一形態
をもつ試験データを生成・チエツクする機能が必要とな
り、試験診断モジュール2のハードウェア量が増大し、
高価なものとなるという課題があった。 この発明は上記のような課題を解消するためになされた
もので、共通の試験データによる試験診断を可能とし、
試験診断モジュールのハードウェア量を削減してその低
価格が可能なインタフェースモジュールを得ることを目
的とする。
されているので、その内部回路6および7では、インタ
フェースをとる回線や端末装置毎に対応した形態のデー
タ信号を取り扱っており、従って、試験診断モジュール
2には試験診断をしようとするインタフェースモジュー
ル1毎に、取り扱っているデータ信号の形態と同一形態
をもつ試験データを生成・チエツクする機能が必要とな
り、試験診断モジュール2のハードウェア量が増大し、
高価なものとなるという課題があった。 この発明は上記のような課題を解消するためになされた
もので、共通の試験データによる試験診断を可能とし、
試験診断モジュールのハードウェア量を削減してその低
価格が可能なインタフェースモジュールを得ることを目
的とする。
この発明に係るインタフェースモジュールは、試験デー
タのフォーマントと当該インタフェースモジュールの取
り扱っているデータ信号のフォーマントとの変換を行う
変換回路と、試験診断モジュールからの試験データを変
換回路へ送り、フォーマット変換された信号を当該イン
タフェースモジュール内を一巡させた後、再度変換回路
に送り、元のフォーマットに戻された試験データを試験
診断モジュールに返送するように、当該インタフェース
モジュール内の信号経路を制御するループバック回路を
設けたものである。
タのフォーマントと当該インタフェースモジュールの取
り扱っているデータ信号のフォーマントとの変換を行う
変換回路と、試験診断モジュールからの試験データを変
換回路へ送り、フォーマット変換された信号を当該イン
タフェースモジュール内を一巡させた後、再度変換回路
に送り、元のフォーマットに戻された試験データを試験
診断モジュールに返送するように、当該インタフェース
モジュール内の信号経路を制御するループバック回路を
設けたものである。
この発明におけるループバック回路は、当該インタフェ
ースモジュール内の信号経路の制御を行って、試験診断
モジュールより受は取った試験データを変換回路へ入力
し、この変換回路で当該インタフェースモジュールの扱
っているデータ信号のフォーマントに変換された試験デ
ータを、インタフェースモジュール内の各内部回路を一
巡させ、一巡した後、再び変換回路に送り、当該変換回
路にてそのフォーマントが元のフォーマットに戻された
試験データを試験診断モジュールに返送することにより
、共通の試験データによる試験診断を可能とし、各イン
タフェースモジュール対応に、取り扱っているデータ信
号形態と同一形態をもつ試験データを生成・チエツクす
る機能を持たない低価格な試験診断モジュールによって
も、試験診断が可能なインタフェースモジュールを実現
する。
ースモジュール内の信号経路の制御を行って、試験診断
モジュールより受は取った試験データを変換回路へ入力
し、この変換回路で当該インタフェースモジュールの扱
っているデータ信号のフォーマントに変換された試験デ
ータを、インタフェースモジュール内の各内部回路を一
巡させ、一巡した後、再び変換回路に送り、当該変換回
路にてそのフォーマントが元のフォーマットに戻された
試験データを試験診断モジュールに返送することにより
、共通の試験データによる試験診断を可能とし、各イン
タフェースモジュール対応に、取り扱っているデータ信
号形態と同一形態をもつ試験データを生成・チエツクす
る機能を持たない低価格な試験診断モジュールによって
も、試験診断が可能なインタフェースモジュールを実現
する。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、1はインタフェースモジュール、2は試験
診断モジュール、3は内部バス、4は試験データ発生部
、5は試験データ受信部、6は受信側の内部回路、7は
送信側の内部回路、8は第1のループバック回路、9は
インタフェース回路であり、第3図に同一符号を付した
従来のそれらと同一、あるいは相当部分であるため詳細
な説明は省略する。 また、IOは試験診断モジュール2から送出される試験
データのフォーマットと、当該インタフェースモジュー
ル1内で取り扱われているデータ信号のフォーマットと
の相互変換を行う変換回路である。11はこの変換回路
10内にあって、試験データのフォーマットをデータ信
号のフォーマットに変換する受信試験データ変換部であ
り、12はその逆変換を行う送信試験データ変換部であ
る。 13は前記第1のループバンク回路8とともに、当該イ
ンタフェースモジュール内の信号経路の制御を行って、
試験診断モジュール2からの試験データを変換回路10
の受信試験データ変換部11へ送り、この受信試験デー
タ変換部11にてフォーマント変換された信号を当該イ
ンタフェースモジュール1内の各内部回路6.7を一巡
させ、一巡した後に、変換回路10の送信試験データ変
換部12に送り、この送信試験データ変換部12によっ
て元のフォーマットに戻された試験データを内部バス3
に送出する第2のループバック回路である。 14は試験診断モジュール2内に配置され、試験診断に
際して使用される試験データの帯域を制御するデータ帯
域制御部である。 次に動作について説明する。インタフェースモジュール
1を試験診断モジュール2にて試験診断する場合、試験
診断モジュール2は従来の場合と同様に、まず試験デー
タ発生部4より試験データを発生させ、それを内部バス
3に送出する。この試験データは内部バス3よりインタ
フェースモジュールlにて受信され、第2のループバン
ク回路13によって変換回路1oの受信試験データ変換
部11に入力される。受信試験データ変換部11は受は
取った試験データのフォーマットを、接!される回線、
端末装置等との間でやりとりしているデータ信号と同一
のフォーマットに変換し、第1のループバンク回路8に
送出する。 以下、これら2つのループバック回路8および13の制
御で、このフォーマット変換された信号が、第1のルー
プバンク回路8−送信側の内部回路7−第2のループバ
ンク回路13−受信側の内部回路6−第1のループバッ
ク回路8の経路にてインタフェースモジュール1内を一
巡した後、第1のループバック回路8より変換回路1o
の受信試験データ変換部12へ送られる。送信試験デー
タ変換部12では、人力されるデータの中から試験デー
タを識別し1、そのフォーマットを試験データの元のフ
ォーマットに戻して第2のループバック回路13に出力
する。第2のループバック回路13はその試験データを
内部バス3を介して試験診断モジュール2へ返送する。 試験診断モジュール2ではこの試験データを試験データ
受信部5にて受信し、試験データ発生部4の発生した試
験データとの同一性のチエツクを行って、インタフェー
スモジュールlの内部回路6および7の正常性を試験診
断する。ここで、データ帯域制御部14は試験診断モジ
ュール2が内部バス3に試験データを送出したり、内部
バス3から試験データを受信したりする際に、インタフ
ェースモジュール1に割り当てられた内部バス帯域の中
で、どれだけを試験データ帯域として使用するかを制御
するためのものであり、個々のインタフェースモジュー
ルの持つデータフォーマットに対応してその試験データ
帯域を調整する。 また、第2図は試験データのフォーマット変換の様子を
示す説明図であり、同図はインタフェースモジュール1
が調歩式データを扱う端末装置とのインタフェースをと
るものである場合について示している。同図において、
(a)はインタフェースモジュール1に割り当てられた
内部バス帯域を示し、(b)はこのインタフェースモジ
ュールlを試験診断する際に、試験診断モジュール2が
内部バス3との間で試験データをやりとりするときに使
用する試験データ帯域を示し、(C)はインタフェース
モジュール1においてフォーマント変換された試験デー
タを示している。この第2図に示した例では、試験デー
タに使用している帯域は、11ビツトの内部バス帯域中
の9ビツトであり、残りの2ビツトはスタートビットお
よびストップビットに使用される。
図において、1はインタフェースモジュール、2は試験
診断モジュール、3は内部バス、4は試験データ発生部
、5は試験データ受信部、6は受信側の内部回路、7は
送信側の内部回路、8は第1のループバック回路、9は
インタフェース回路であり、第3図に同一符号を付した
従来のそれらと同一、あるいは相当部分であるため詳細
な説明は省略する。 また、IOは試験診断モジュール2から送出される試験
データのフォーマットと、当該インタフェースモジュー
ル1内で取り扱われているデータ信号のフォーマットと
の相互変換を行う変換回路である。11はこの変換回路
10内にあって、試験データのフォーマットをデータ信
号のフォーマットに変換する受信試験データ変換部であ
り、12はその逆変換を行う送信試験データ変換部であ
る。 13は前記第1のループバンク回路8とともに、当該イ
ンタフェースモジュール内の信号経路の制御を行って、
試験診断モジュール2からの試験データを変換回路10
の受信試験データ変換部11へ送り、この受信試験デー
タ変換部11にてフォーマント変換された信号を当該イ
ンタフェースモジュール1内の各内部回路6.7を一巡
させ、一巡した後に、変換回路10の送信試験データ変
換部12に送り、この送信試験データ変換部12によっ
て元のフォーマットに戻された試験データを内部バス3
に送出する第2のループバック回路である。 14は試験診断モジュール2内に配置され、試験診断に
際して使用される試験データの帯域を制御するデータ帯
域制御部である。 次に動作について説明する。インタフェースモジュール
1を試験診断モジュール2にて試験診断する場合、試験
診断モジュール2は従来の場合と同様に、まず試験デー
タ発生部4より試験データを発生させ、それを内部バス
3に送出する。この試験データは内部バス3よりインタ
フェースモジュールlにて受信され、第2のループバン
ク回路13によって変換回路1oの受信試験データ変換
部11に入力される。受信試験データ変換部11は受は
取った試験データのフォーマットを、接!される回線、
端末装置等との間でやりとりしているデータ信号と同一
のフォーマットに変換し、第1のループバンク回路8に
送出する。 以下、これら2つのループバック回路8および13の制
御で、このフォーマット変換された信号が、第1のルー
プバンク回路8−送信側の内部回路7−第2のループバ
ンク回路13−受信側の内部回路6−第1のループバッ
ク回路8の経路にてインタフェースモジュール1内を一
巡した後、第1のループバック回路8より変換回路1o
の受信試験データ変換部12へ送られる。送信試験デー
タ変換部12では、人力されるデータの中から試験デー
タを識別し1、そのフォーマットを試験データの元のフ
ォーマットに戻して第2のループバック回路13に出力
する。第2のループバック回路13はその試験データを
内部バス3を介して試験診断モジュール2へ返送する。 試験診断モジュール2ではこの試験データを試験データ
受信部5にて受信し、試験データ発生部4の発生した試
験データとの同一性のチエツクを行って、インタフェー
スモジュールlの内部回路6および7の正常性を試験診
断する。ここで、データ帯域制御部14は試験診断モジ
ュール2が内部バス3に試験データを送出したり、内部
バス3から試験データを受信したりする際に、インタフ
ェースモジュール1に割り当てられた内部バス帯域の中
で、どれだけを試験データ帯域として使用するかを制御
するためのものであり、個々のインタフェースモジュー
ルの持つデータフォーマットに対応してその試験データ
帯域を調整する。 また、第2図は試験データのフォーマット変換の様子を
示す説明図であり、同図はインタフェースモジュール1
が調歩式データを扱う端末装置とのインタフェースをと
るものである場合について示している。同図において、
(a)はインタフェースモジュール1に割り当てられた
内部バス帯域を示し、(b)はこのインタフェースモジ
ュールlを試験診断する際に、試験診断モジュール2が
内部バス3との間で試験データをやりとりするときに使
用する試験データ帯域を示し、(C)はインタフェース
モジュール1においてフォーマント変換された試験デー
タを示している。この第2図に示した例では、試験デー
タに使用している帯域は、11ビツトの内部バス帯域中
の9ビツトであり、残りの2ビツトはスタートビットお
よびストップビットに使用される。
以上のように、この発明によれば、当該インタフェース
モジュール内の信号経路を制御して、試験診断モジュー
ルからの試験データを変換回路へ送り、フォーマット変
換された信号を当該インタフェースモジュール内を一巡
させた後、変換回路に再び送って試験データのフォーマ
ットを元に戻し、それを試験診断モジュールに返送する
ように構成したので、共通の試験データによって試験診
断を行うことが可能となり、各種のインタフェースモジ
ュール対応に取り扱っているデータ信号形態と同一形態
をもつ試験データを生成・チエツクする機能を備えてい
ない、低価格な試験診断モジュールを用いても、その試
験診断を行うことのできるインタフェースモジュールが
得られる効果がある。
モジュール内の信号経路を制御して、試験診断モジュー
ルからの試験データを変換回路へ送り、フォーマット変
換された信号を当該インタフェースモジュール内を一巡
させた後、変換回路に再び送って試験データのフォーマ
ットを元に戻し、それを試験診断モジュールに返送する
ように構成したので、共通の試験データによって試験診
断を行うことが可能となり、各種のインタフェースモジ
ュール対応に取り扱っているデータ信号形態と同一形態
をもつ試験データを生成・チエツクする機能を備えてい
ない、低価格な試験診断モジュールを用いても、その試
験診断を行うことのできるインタフェースモジュールが
得られる効果がある。
第1図はこの発明の一実施例によるフォーマットを示す
ブロック図、第2図は試験データのフォーマット変換の
様子を示す説明図、第3図は従来のインタフェースモジ
ュールを示すブロック図である。 1はインタフェースモジュール、2は試験診断モジュー
ル、6.7は内部回路、8.13はループバック回路、
10は変換回路。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
ブロック図、第2図は試験データのフォーマット変換の
様子を示す説明図、第3図は従来のインタフェースモジ
ュールを示すブロック図である。 1はインタフェースモジュール、2は試験診断モジュー
ル、6.7は内部回路、8.13はループバック回路、
10は変換回路。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 試験診断モジュールから送られてくる試験データを内部
で折り返し、前記試験診断モジュールに返送してその内
部回路の正常性が試験診断されるインタフェースモジュ
ールにおいて、前記試験データのフォーマットと当該イ
ンタフェースモジュールの取り扱っているデータ信号の
フォーマットとの変換を行う変換回路と、当該インタフ
ェースモジュール内の信号経路を制御して、前記試験診
断モジュールからの試験データを前記変換回路へ送り、
変換回路にてフォーマット変換された信号を当該インタ
フェースモジュール内の前記内部回路を一巡させ、一巡
した後、再び前記変換回路へ送り、前記変換回路によっ
て元のフォーマットに戻された試験データを前記試験診
断モジュールに返送するループバック回路を備えたこと
を特徴とするインタフェースモジュール。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1322386A JP2718790B2 (ja) | 1989-12-12 | 1989-12-12 | インタフェースモジュール |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1322386A JP2718790B2 (ja) | 1989-12-12 | 1989-12-12 | インタフェースモジュール |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03183239A true JPH03183239A (ja) | 1991-08-09 |
| JP2718790B2 JP2718790B2 (ja) | 1998-02-25 |
Family
ID=18143081
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1322386A Expired - Lifetime JP2718790B2 (ja) | 1989-12-12 | 1989-12-12 | インタフェースモジュール |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2718790B2 (ja) |
-
1989
- 1989-12-12 JP JP1322386A patent/JP2718790B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2718790B2 (ja) | 1998-02-25 |
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