JPH031833A - 眼屈折度測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】

本発明は被検眼の眼屈折度を測定するための眼屈折度測
定装置に関する。

【従来の技術】

一般に、眼屈折度を測定する装置として種々のレフラク
トメータが知られている。レフラクトメータは、被検眼
の眼底即ち網膜上に結像された光標（測定光）を光学系
を通して観測し、眼の屈折度を測定する装置である。 従来の装置においては、測定光を被検眼に投光する前に
、装置側の測定光学系と被検眼との位置関係を測定可能
な状態、すなわち、合照阜かつ合焦状態に調整する。従
って、この調整時と測定光投光時との間には僅かの経過
時間があるあるため、この時間に被検眼が移動し、その
結果測定光投光時には上記調整済状態が崩れてしまって
いることがである。最も生じやすいことは、被検眼の光
軸と測定光学系の光軸との間の光軸ずれである。この先
軸ずれの量が小さい場合には測定誤差は無視できるが、
この軸ずれ量が大きい場合には測定誤差が大きく、その
測定値は信頼できない。従って、この場合はエラー処理
する必要がある。 ところが、従来の装置にあっては、このような誤差は無
視されており、エラー処理はなされていない。このため
、測定値の中には信頼性の低い値を含むという事態が生
ずる。

【発明の解決しようとする課題】

従って、本発明の解決すべき技術的課題は、装置側の測
定光学系の光軸と被検眼の光軸とのずれ量を検出して、
このずれ量が所定値以上の場合には、測定値が信頼性な
きものとして処理することである。

【課題を解決するための手段】

上記課題を解決するために、本発明に係る眼屈折度測定
装置は以下のように構成される。 すなわち、被検眼の眼屈折度を測定するための測定光学
系を備えた光学測定部と、上記光学測定部からの測定デ
ータに基づいて眼屈折度を算出する本体部とを備える。 上記測定光学系は、測定光を投光して被検眼の網膜上に
投光パターンを投影する測定光投光光学系と、該被検眼
の網膜上に投影された投光パターン像の反射光を受光す
る測定光受光光学系とを含む。 上記測定光は、測定光投光光学系の光軸の周囲に該光軸
に関して９０″毎に配置された計４つのスポット光を含
む。 そして、さらに、上記測定光受光光学系で受光された４
つのスポット光の像の測定光受光光学系に対する相対的
位置関係により、測定光投光時における測定光光学系光
軸と被検眼の光軸との軸ずれ量を判定する判定手段と、
該軸ずれ量と基準値とを比較する手段と、上記両軸のず
れ量が基準値以上の場合、測定エラーありとして処理す
る手段を有する。

【作用・効果】

上記構成においては、２対のスポット光源を採用してい
るため、４つのスポット光の像と被検眼光軸との相対的
位置関係、すなわち、測定光光学系の光軸と被検眼光軸
とのずれ量を比較的容易な演算により正確に検出するこ
とができる。そして、上記判定手段とエラー処理手段と
により、両軸のずれ量が大きくて測定に信頼性がないと
きには、検者はその測定はエラーとして認識できる。こ
のため、測定誤差の大きい測定結果を排除でき、これに
より正確な検眼が保証される。

【実施例】

以下に本発明の実施例について、図面を参照して説明す
る。 第１図は本実施例の眼屈折度測定装置の概略構成を示す
ブロック図である。図示するように、光学測定部ｌと本
体部２との二つの構成に大きく分けられている。光学測
定部１は、その内部に測定用光学系を内蔵しており、所
謂ノーンデイ−タイプと呼ばれる「手軽に片手で持って
自在に動かせる」程度の大きさ゛及び重さに構成されて
いる。本体部２には、光学測定部Ｉからの画像信号に基
づいて照準および焦点の合致状況を認識する画像認識装
置３と、その画像信号を映像にして表示するモニタ４と
がそれぞれ内蔵されている。また、画像認識装置３およ
びモニタ４の両者、どの信号のやり取りを行いながら制
御信号を光学測定部Ｉへ出力し、且つ画像認識装置３に
入力された画像信号から得られる測定データに基づいて
眼屈折度を演算するマイクロコンピュータ（以下マイコ
ンという）５も内蔵されている。測定光学系が被検眼に
対して合照準且つ合焦状態となったことが画像認識装置
３で検出されると、マイコン５より測定光学系に測定開
始信号を送る。そして、光学測定部ｌからの画像情報及
び画像認識装置３からの画像信号に基づいてマイコン５
により眼屈折度が算出される。 尚、図中６はマイコン５に対する操作スイッチであり、
７はマイコン５で算出された結果を印字して出力するプ
リンタである。光学測定部ｌと本体部２とはケーブル（
第２０図参照）あるいは無線によって連絡されていれば
よく、いずれにしても測定時に被検眼に対する位置調整
か必要な部分である光学測定部１のみが取り出されて、
据え置き型の本体部２に対して移動自在にその運動系と
して分離されており、従って検者がこれを手に持って被
検眼に対する位置調整操作を行うのは極めて簡便である
。 第２図には本実施例における光学測定部ｌに内蔵された
測定光学系８が示され、第３図ないし第８図は該測定光
学系８を構成する各要素光学系として測定光投光光学系
９、測定光受光光学系１０、視標光学系１１、モニタ用
カメラ光学系１２およびモニタ用レチクル光学系１３よ
りなる照準光学系、さらにモニタ用照明光学系１４の各
要素光学系をそれぞれ別々に表している。 まず第３図は測定光投光光学系９を示しているが、測定
光の投光用光源１５には赤外線光源が用いられ、光源１
５から投光された測定光は第１反射ミラー１６によって
直角上方へ反射される。この直角」一方へ反射された測
定光の光軸ａ、上には、二つの直角プリズムの各直角対
辺を形成する而が該光軸ａ１に対して第１反射ミラー１
６とは反対側に４５°傾斜して接合された第１プリズム
１７が配置されている。この第１プリズム１７はハーフ
プリズムであって、赤外光はある比率で部分的に反射さ
せて残りを透過させ、且つ可視光は殆と透過させる。従
って、第１プリズム１７によって直角に屈折された測定
光の光軸ａ１上に被検眼Ｅを位置させることによって、
測定光を被検眼Ｅ内に投光することができる。なお、光
源１５と第１反射ミラー１６との間の光軸ａ　＋　Ｊ：
には、光源１５側から順にコリメータレンズ１つ、投光
パターンマスク２０．投光リレーレンズ２１が配置され
、第１反射ミラー１６と第１プリズム１７との間の光軸
ａ１上には接眼レンズ２２が配置されている。 測定光は、投光用光源１５から投光されてコリメータレ
ンズ１９．投光パターンマスク２０．投光リレーレンズ
２１．第１反射ミラー１６．接眼レンズ２２、第１プリ
ズム１７を経て、角膜面から瞳孔。 水晶体を経て被検眼Ｅ内に入り、網膜上に投光パターン
の光源を投影する。 第４図には測定光の受光光学系１０を示す。受光系の測
定光は、被検眼Ｅの網膜」二に形成された光１票（投光
パターン）の像からの反射光となって投光光学系９の光
軸ａ１に沿って逆行するが、第１反射ミラー１６（第２
図に図示）の位置に達したときはこのミラー１６の大略
中央部に開口された第１透孔２３を通過する。第１透孔
２３の直下には絞り２４が形成されており、絞り２４の
直下には後述する第２反射ミラー２５（第２図に図示）
の大略中央部に形成された第２透孔２６が形成されてお
り、第１透孔２３を通過した測定光はさらに絞り２４お
よび第２透孔２６を通過して直進する。 従って光軸ａ、を逆行する受光系測定光の第１透孔２３
通過後の光軸ａ、は、そのまま下方へ直進して結像レン
ズ２７およびフィルタ２８を介して受光センサ２９に至
る。絞り２４は接眼レンズ２２に対して、被検眼角膜位
置と略共役な位置に配置されており、これにより、被検
眼が光軸に対する測定光学系の光軸の僅かな軸ずれ誤差
により生じる測定誤差が自動的に補正されるようになっ
ている。従って、ハンディ−タイプの光学測定部１を採
用することにより生じがちな手振れすなわち被検眼の光
軸と測定系光学系の光軸の軸ずれにより生じる測定誤差
を最小にすることが可能である。 この原理的詳細説明は後述する。 第５図はモニタ用照明光学系１４を示すが、モニタ用照
明光学系の光軸ａ３の周囲を均等に囲繞し、照準の合っ
た状態では該光軸ａ５上に位置する被検眼に臨むように
６個の赤外線光源か照明光源３０として配置されている
。なお、この先軸ａ３は測定光の光軸ａ４と一致してい
る。そして、この照明は赤外線によるので被検眼Ｅには
光としての感覚がなく、眩しさを感じない。 上述の照明光学系１４による照明光は被検眼Ｅの角膜で
反射し、この反射光が光学測定部１の被検眼Ｅに対する
照準合わせのための照準光としてモニタ用カメラ光学系
１２を第６図に示すように構成する。そしてこの照明光
は、第９図および第１０図に示すように、照明光学系の
光軸ａ３に対して適当な傾斜角度λを成す平行光線（ビ
ーム）が被検眼Ｅに向かうように投光された場合に、被
検眼Ｅの光軸ａＥが照明光学系の光軸ａ、に対してずれ
ていると、６本のビームの角膜反射光（照準光）による
６個の像（大略点光源の反射像となって見える）がなす
円の中心位置（即ち被検眼Ｅの光軸ａＥ）が照明光学系
の光軸ａ３に対して「ずれ」を生じるので、原理的には
この「ずれ」の量εを測定し、これを０とすることによ
って照準合わせが行える。 また、照明光源３０の角膜反射輝点は他の映像信号に比
べて３倍以上も強く、これを利用して合焦状態の検出を
行うことも可能である。即ち、合焦時にはこの輝点が最
も小さくコントラストが強くなるので、この状態を画像
認識装置３により検出すればよく、照準合わせ操作と同
様に角膜反射輝点という同一の対象に注目してその検出
を行うので、照準合わせと焦点合わせとの両操作が比較
的高速度で検出でき、即時処理が可能となる。このよう
に照準を合わせることにより、被検眼Ｅの光軸ａＥに対
して測定系やモニタ系等の装置側光軸を測定可能なよう
に一致させることができ、また焦点を合わせることによ
って、光学測定部１と被検眼Ｅとの距離、ひいては測定
光投光光学系９の接眼レンズ２２と被検眼Ｅの角膜面と
の距離を測定に適した一定距離にすることができる。照
明光学系１４の光軸ａ３上の第１プリズム１７（赤外光
を部分的に透過）の後方（照明方向を前方として）には
赤外線を反射するとともに可視光を透過させるグイクロ
イックミラー３１が、照準光（赤外線ンを直角に下方へ
反射させるように該光軸ａ３に対して４５°傾斜して配
置されている。このグイクロイックミラー３１により直
角下方へ屈曲された光軸上には、第１プリズム１７とは
大略逆特性のハーフプリズム、即ち赤外光を殆ど透過し
且つ可視光を殆ど反射させるハーフプリズムである第２
プリズム３２が配置されている。グイクロイックミラー
３１で反射された照準光は、第２プリズム３２を透過し
てそのままに沿って下方へ直進し、該第２プリズム３２
の下方に配置されたモニタリレーレンズ３３を経てさら
にその下方に設置された第３反射ミラー３４に入射する
。そして照準光はさらに直角に反射し、第２反射ミラー
２５に至る。光軸ａ、は、第２反射ミラー２５の平面上
で測定光受光系１０の光軸ａ、と交差するので、正確に
は第２透孔２６内で交差することになる。照準光は第２
反射ミラー２５でさらに直角に下方へ反射され、光軸ａ
８に沿って受光センサ２９に至る。 第７図にモニタ用レチクル光学系１３を示す。 第２プリズム３２の側方に、照準位置表示標識のレチク
ルを表示するための可視光源であるレチクル光源３５．
レチクルパターンマスク３６．レチクル対物レンズ３７
が順に設けられており、レチクル光源３５から照射され
る光は、光軸ａ４に沿ってレチクルパターンマスク３６
を通過することによってその標識パターン光となり、さ
らにレチクル対物レンズ３７を通過して第２プリズム３
２に至り、直角下方へ屈折される。レチクルパターンは
、例えば同心の２重円で表され、その内側円は最小測定
可能瞳孔径を示し、外側円は角膜反射像の生じる標準位
置に描かれる。第２プリズム３２によって直角下方へ屈
折されるレチクル光の光軸ａ４は、上記照準光の光軸と
一致するように第２プリズム３２のプリズム面が配置さ
れている。従ってそれ以降の光学系はモニタ用カメラ光
学系１２の部分と同一である。このように、第２プリズ
ム３２以降の照準光の光学系とレチクル光の光学系とが
一致するので、照明光学系の光軸ａ３上に６個の照明光
の角膜反射光の中心があれば、その中心とレチクルの標
識パターンの中心とは一致することになり、その一致し
たことを一つの受光センサ２９上で検知すれば照準が合
ったことを検知したことになる。尚、本実施例ではレチ
クルパターンをレチクル光源３５およびレチクルパター
ンマスク３６等によって得ているが、このレチクルパタ
ーンはモニタ画像上に照準基準となる位置を表示できれ
ばよいので、例えばモニタ画像上にそのパターンを書い
てもよく、あるいは、モニタ用カメラ光学系１２上のモ
ニタリレーレンズ３３に関して被検ＩＩＩＮ　Ｆと共役
な位置に赤外光を透過させる例えば透明なガラス板を配
置し、これにパターンを書いて受光センサ２９上にその
パターンを検知させることも可能である。 第８図には視標光学系１１が示されている。」−記第１
プリズム１７を通過した光軸ａ３−１：に配置されたグ
イクロイックミラー３１は可視光を透過させるので、光
軸ａ５の延長上でグイクロイックミラー３１の後方に位
置させて視標となる物体３８〈第２０図参照）を置けば
、被検者は第１プリズム１７およびグイクロイックミラ
ー３１を通してその物体３８を見ることかでき、この視
標を直視させた状態で被検眼Ｅの光軸ａＦを大略光軸ａ
、上に一致させる。 以」二のように、照明光源３０は照準光の光源をも兼用
しており、また、受光センサ２９は−ってレチクル先を
含む照準光ならびに測定光を検知するように構成されて
おり、全体として測定用光学系８自体は小型化されてお
り、光学測定部ｌをノーンデイタイプに構成する上で極
めて有利に構成されている。 また照明光源３０は、第１１図に示すように検眼窓３９
の周縁部に配置されるか、その検眼窓３９の周縁部には
光軸ａ、の回りに自由回転自在な円盤部材４０が光学測
定部ｌのノ＼ウシング（図示ゼず）に装置されており、
この円盤部材４０に照明光源３０か固定されている。こ
の円盤部材４０には、水！トな基準径線４２上に二つの
照明光源３０か位置するような箇所に錘４３か取り付け
られており、このことによって円盤部材４０ひいては照
明光源３０か、光学測定部ｌの傾きに拘わらず常に一定
の姿勢を維持できる。なお、このような構造のために照
明光源３０には好ましくない「揺れ」を生じる恐れがあ
るが、照準合わせ操作は元来慎重に静かな動作で行われ
るので、実際には支障がない。そして、本体部２に内蔵
されているマイコン５によって基準径線４２上の１対の
照明光源かその他の照明光源とは別々に点滅制御される
。水平方向に対して光学測定部１の姿勢が傾いている場
合には、基準径線４２上の１対の照明光源に対応するモ
ニタ上の１対の角膜反射輝点の座標を画像認識装置３に
よって得られるので、どの輝点対が水平であるか（水平
を基準とした場合ンを知るために、基準径線りの１対の
照明光源だけを点灯し、その他の照明光源は消灯する制
御（逆の制御でも司）を行う。この制御動作は一瞬の動
作で十分てあり、検者にとってはモニタ画面か暗くなる
といった見苦しさを意識させるようなことはない。この
ようにして、水平方向に対する光学測定部１の傾き角度
か得られるので、測定計算結果の−っである軸角度（Ａ
ＸＩＳ）の値からその角度分だけを減じて補正かなされ
、正確な値か出力表示される。 測定光投光光学系９の投光パターンマスク２０によるパ
ターンとしては種々のものか可能である。 例えば光軸ａ１の回りに環状に形成されて所定半径を有
する円形パターンや、この円形パターンと同様に光軸ａ
、から所定距離だけ離れて、例えば９０°毎や６０°毎
あるいは４５°、毎のように、等中心角位置毎に配置さ
れるスポットパターンが現実的である。尚、本実施例で
は、９０°ｆ６のスポットパターンを採用している。 以上のように構成された本実施例の眼屈折度測定装置に
おけるｉ’１Ｊ１１定光の投受光光学系９．１０による
眼屈折度の測定は以下のように行われる。 第１２図は本実施例において測定光すなわちスポット光
が光軸ａ１上の定点Ｏを通って角膜Ｅ、上に入射し、網
膜Ｅ、上に至る光路を斜視図的に示した図である。尚、
第１２図は１つのスポット光の光路のみを代表として示
している。照準が定まり且つ合焦状態にある測定光の投
光光学系９では、その先軸ａ１が被検眼の光軸ａ６と図
のＺ軸上で一致しており、且つ測定光は光軸ａ５上の定
点Ｏを通って角膜Ｅ１上の点Ｐに入射して網膜Ｅ、上の
点Ｑに至る。尚、この定点○は、測定光の受光光学系１
０において絞り２４の位置と角膜面の位置とか互いに共
役となるような位置に接眼レンズ２２か在るときに、測
定光用光源１５から投光された測定光が接眼レンズ２２
通過後に光軸ａ１上を通過する点である。 今、光軸ａＥ上の網膜Ｅ、と角膜Ｅ、との間の距離をｄ
１角膜と定点○との間の距離をｄｌとする。 上記光軸ａＥから角膜Ｅ１上の点Ｐまでの距離をｈ　ｌ
ｒＸ軸方向に対する光軸ａＥから点Ｐまての方向の傾き
をθとする。また、Ｘ軸に対してφだけ傾いた方向に被
検眼の屈折度を表わす楕円の長軸Ｆ１があると仮定する
。短軸Ｆ、は長軸Ｆ１に直交している。この点Ｐの長軸
方向の成分をＰ　ＦＩ＋短軸方向の成分をｐＦｙとすれ
ば、 Ｐ　ｐ＋＝ｈ＋ｃｏｓ（θ−φ）（１）Ｐ　Ｆｔ＝ｈ＋
５ｉｎ（θ−φ）（２）と表せる。 同様に、この角膜面により屈折力を受けて網膜上に投影
される像（点Ｑ）について、光軸ａｌ：からの距離りの
長軸Ｆ１方向および短軸Ｆ、力方向各成分ＱＦｌ＋ＱＦ
！は、 Ｑ、、＝１１−ｄ（＝−）ｌ・Ｐ　ＦＩ（３）ｆ、　　
ｄ。 と表せる。 方向の角膜屈折度である。 水平方向の眼屈折度Ｄ１を 垂直方向の眼屈折度Ｄ２を とすれば、 が成立する。 一方、網膜上に投影された投光パターンの像を測定光の
受光光学系１０から見れば、第２１図に示すように（第
２１図は平面的に簡略化して示している）、接眼レンズ
２２に対して角膜Ｅ１と共役な位置に配置された絞り２
４により選択されて受光系の光軸付近の光束だけがこの
絞り２４を通過して結像レンズ２７へ導かれる。また、
絞り２４の位置は結像レンズ２７の焦点の位置でもあり
、絞り２４を通過して結像レンズ２７に入った像の光は
、光軸に対して略平行に進んで受光センサ２９上に光軸
からり。の距離の位置にその像を形成する。即ち、受光
系にあっては、網膜Ｅ、上では光軸からｈの距離に像が
形成され、この像と相似形の像が受光センサ２９上では
光軸からり。の距離に形成される。ここで、Ｘ軸方向に
対する光軸から点Ｑまでの方向の傾きをψとする。また
、受光系において仮定したように、被検眼の屈折度の長
軸Ｆ、はＸ軸に対してφだけ傾いた方向にあり、短軸Ｆ
、は長軸Ｆ、に直交している。そしてこのｈとｈｏの関
係は（９）式によって表される。 但し、Ｌは接眼レンズ２２および結像レンズ２７の焦点
距離と配置によって決まる定数である。以上の仮定条件
から受光系におけるＱ　ＦＩおよびＱ　Ｆ。 は（１０）および（１１）式で表され、さらにこれら各
式に（９）式の関係を代入すれば（１２）、　（１３）
式で表される。 Ｑ＋＋＝ｈｃｏｓ（ψ−φ）　　　　　　　　　　　（
１０）Ｑｒｔ＝ｈｓｉ口（ψ−φ）　　　　　　　　　
　　　　　　　　　（１１）ここて（７）式と（１２）
式、（８）式と（１３）式とから、（１４）式および（
Ｉ５）式の関係が成立する。 （１４）式および（１５）式において移項、展開等の演
算を行い、ｈｏｃｏｓφ＝　Ｓ　Ｘ、　ｈｏｓｉｎφ＝
ｓｙとしてセンサ２９上に投影されるスポット光の座標
（Ｓ　Ｘ、　Ｓ　ｙ）を求めると（１６）式および（１
７）式が得られる。 Ｘ ｙ （１６）式および（１７）式においてＬ−ｈ、（１／ｄ
、−Ｄ、）＝　Ａ。 Ｉ５・ｈｌ（ｌ／ｄ、−Ｄ２）−Ｂと置換すると、Ｓ　
ｘ−＝　Ａ　ｃｏｓ（０−φ）ｃｏｓφ−Ｂｓｉｎ（０
−φ）ｓ　ｉｎφ−（１ｇ） Ｓ　ｙ＝　Ａ　Ｃ０５（θ−φ）ｓｉｎφ＋Ｂｓ１ｎ（
θ−φ）ｃｏｓφと簡単に表現される。 （１８）式および（１９）式において被測定未知数はΔ
。 Ｂ、φの三つであり、投）しパターンによ−）で決めら
れる値θの二つの値θ１．θ２に対してそれぞれＳＸｌ
＋　ｓ　Ｙ　ｌ＋　Ｓ　Ｘ２１　Ｓ　ｙ２を与える四つ
の方程式から理論的にこれらの未知数が求められる。 なお屈折異常の矯正値としては、一般に球面度数（ＳＰ
Ｉ＋）、柱面度数（ＣＹｌ、、）、軸角度（ＡＸＩＳ）
を用いるか、５ＰＩＩ−＝　Ｄ　２．　ＣＹＬ＝　Ｄ　
１−　Ｄ　２＋　ＡＸＩＳ−φでそれぞれ表される。 本実施例では、投光パターンは、第１３図に示すように
、被検眼Ｅの光軸ａＥを通る角膜上の水モ経線と垂直経
線上に光軸ｄｌ、ａ、Ｈを挟んで対向する４点のスポッ
トパターンとなる。この４つの点即ち４つのスポットを
像Ｐ。＋　Ｐ　ＩＪＩ　Ｐ　１８＋　Ｐ　２７を図に示
している。 今、上１紀スポット像Ｐ。について（即ちθ１−００の
場合）センサ２９上の座標をＳ　Ｘ＋”ＳＸｏ＋　Ｓ　
ｙ＋□ｓｙ。 と１７、スポット像Ｐ、について（即ちθ２＝９０’の
場合）センサ２９上の座標をＳ　Ｘ、”ＳＸｓ、　Ｓ　
Ｙｔ”ＳＹｓとして上述の四つの方程式を解くと、 Ａ＝１／２（Ｓｘｏ＋５ｙｓ４ｆ（ＳｘｏＳｙｅ）’４
Ｓｙｏ’ｌ〕（２０）Ｂ＝１／２（Ｓｘｏ＋５ｙｅ−ｖ
’１（Ｓｘｏ−Ｓｙｓ）２＋４Ｓｙ＋＋”ｌ：ｌ　　　
（２１）か得られる。 従って、スポットパターンにより第１３図に示すように
角膜Ｅ、、、Ｉｍに投光した水平方向のＸ軸上および垂
直方向のｙ軸−Ｆの２点Ｐ。＋　Ｐ　９の像に対応して
、第１４図に示すように受光センサ２９上に形成された
像の点Ｓ。＋Ｓｓの座標（ＳＸＯ２Ｓｙｏ）および（Ｓ
ｘｓ、　５ｙｅ）を画像認識装置３により測定すれば被
検眼の眼屈折度を知ることができる。本実施例では２つ
てはなく４つのスポット先を利用しているがその理由は
以下の記述より明らかとなる。 ところで、受光センサ２９１のスポットの光軸からの距
離り。の詳細な計算式は前には示さなかったが、これは
次式で与えられる（第２１図参照）。 但し、ｄ２は絞り２４と結像レンズ２７との距離。 上記式は、測定系光軸ａ、と被検眼光軸ａｅ＆が一致し
ている場合についての式であるが、本実施例においては
、上記両軸か近軸理論の適用できる範囲て軸ずれを生じ
たとしても、上式（２３）を適用できる。つまり、この
場合に６に式（２３）を適用しても測定誤差が生じない
。 その理由の１つは、前記したように、接眼レンズ２２に
対して角膜Ｅ１を略共役な位置に十分少さい絞り２４か
配置されていることによる。その理由を以下に詳述する
。 今、測定光投光系を示す第２２図において、測定系光軸
ａ１と被検眼先軸ａＥ、Ｅが、角度ずれ、δ（ラジアン
）、平行ずれ△Ｘ、で軸ずれしているとする。 この場合、網膜ａや上に生じるスポット像の位置又は高
さｈは次式で示される。 一方、この場合、測定光受光光学系は第２３図に示すよ
うになる。第２３図においては、センサ２９上には一定
の面積を有するスポット像か受光される状態を誇張して
示している。 今、第２３図において絞り２４がないか又は絞り２４“
が存在するとしても、その絞り径が大きいとすれば、セ
ンサ２９上に受光されるスポット像は相対的に大きなも
のとなる。 この場合、そのスポット像の重心口を求めるとすれば、
それは角膜の瞳孔の中心を通る光りの投影点となるので
、スポット像の重心Ｃ１の受光系光軸２１２からの距離
ｈｏｃは網膜Ｅ１上の点Ｑの値りに正確に対応しなくな
る。すなわち、となるので、（２５）式に（２４）式を
代入すると、となる。すなわち、この（２６）式は、軸
ずれ誤差量但し、ｄ、は、結像レンズ２７と受光センサ
２９との間の距離を示す。接眼レンズの焦点距離はａと
し、接眼レンズ２２と角膜Ｅ１間の距離と接眼レンズ２
２と絞り２４間の距離はｌ：ｌとしている。 一方、第２３図に示すように、十分少さい絞り穴の絞り
２４を受光系光軸ａ、上に設けると、網膜Ｅ、上のスポ
ット像の反射光の内、測定光学系光軸ａ、が角膜Ｅ１と
交わる点を通る非常に小さな光束だけをセンサ２９上に
選択的に取り出すことができる。 センサ２９上に受光された十分な小さなこのスポット像
をＳとし、その重心Ｃ７の測定系光学系からの距離をり
。とすれば、次式か成立する。 ここで、（２７）式に（２３）式を代入すると、となる
。すなわち、（２８）式は、軸ずれ誤差量を含まない式
となり、この式は（２３）式と同じである。 つまり、たとえ、測定光投光時に、被検眼光軸と測定系
光軸間に軸ずれが生じても、測定値に悪影響を与えない
わけであり、これにより正確な測定か保証されることに
なる。 上記解決方法に対して、次に述べる解決方法（変形例）
によっても測定系光軸と被検眼光軸との光軸ずれにより
生じ得る測定誤差を補正することかできる。 すなわち、本実施例においては、測定光として２対のス
ポット光を使用しており、各対の２つのスポット光は測
定系光軸間して点対称位置に配置されている。第２４図
に、光軸ずれを生じた場合の、１対の測定光の投光系を
示している。 第２４図において、各スポット光は角網Ｅ１上の各点Ｐ
、　Ｐ’を経て網膜Ｅ、上の点Ｑ、Ｑ’に投影される。 各点Ｐ、　Ｐ’の測定系光学系光軸ａ、からの距離は同
一の値（ｈｌ）で光軸ａ２に関して対称の位置にある。 すなわち、点Ｐはり、の位置に、点Ｐ。 は−ｈ１の位置にある。網膜Ｅ１上の各点Ｑ、Ｑ’は被
検眼光軸に対してり、　ｈ’の位置にある。このとき次
式が成立する。 ｈ１＋△ｘ　　　　ｈ。 ｈ＝ｈ、＋△ｘ−ｄ（−−−一δ）、（２９）「　　　
　　　ｄ ｈｏ・−ｈ１＋△ｘ−ｄ（±山竺−ｊ＋δ）　（３０）
ｄ この変形例における測定光受光系を第２５図に示してい
る。この測定光受光系では絞りは設けていない。 今、網膜上の点Ｑ、Ｑ’に結像した２つのスポット像の
各反射光が、網膜Ｅ１、接眼レンズ２２．結像レンズ２
７を経てセンサ２９上にスポット（’Ｉ　Ｓ　。 Ｓ′が結像したとする。そして、また、網膜Ｅ、上の点
Ｑ、Ｑ’に結像した２つのスポット像の各反射光の内、
被検眼の角膜Ｅ１の瞳孔中心を通る光束を図示し、この
場合について考察する。尚、この場合は、その光束がス
ポット像Ｓ、Ｓ”の各重心に対応している６ 今、ここで、スポット像Ｓ、Ｓ″の重心の光軸よりの位
置又は高さをり。＋ｈｏ”とすれば次式が得られる。 次に、（３１）式に（２９）式を、（３２）式に（３０
）式を夫々代入すると、次式が成立する。 ここで、センサ２９上のスポット像ｓ、ｓ’は、測定光
投光系を示す第２４図に示すＱ点又はＱ゛点に対応して
いることを考慮するならば距離りに対応するところの求
めるべきセンサ２９上の距離又は高さり。は、次式で与
えられることが分かる。 従って、（３５）式に（３３）式及び（３４）式を代入
すれば、次式か得られる。 上記（３６）式は、軸ずれｍ△Ｘ、δを含まない式とな
る。すなわち、軸ずれ量を補正した測定値を自動的に得
ることができる。 上記説明では、１対の測定光について説明したが、他の
１対の測定光についても同様にして高さｈｏが求められ
る。 上記したように、この変形例は、対となる測定光を使用
し、各スポット像の高さり。′とｈ　ｏ　”の値を求め
、（３５）式に従って高とり。を求めるものである。 光軸ずれの補正対策として上に２つの解決方法を示した
が、現実的にはこれらの２つの対策を組み合せて使用す
るのがよい。すなわち第１の解決方法においては、十分
少さい絞り穴を有する絞りを採用しているか、現実的に
はこの絞り穴はＯにすることは勿論不可能であり、かつ
センサ２９の解像能に対応して所定量以上の光量の光束
を通過させるに十分な大きさとする必要がある。センサ
２９上に受光されたスポット像は小さければ小さい程、
この重心を正確に求められるが、一方スポット像が大き
くなるに従ってその重心位置の算出精度か悪くなると云
える。一方、第２の解決方法においては、絞りが設けら
れていないため、センサ２９上に受光されるスポット像
はかなり大きなものとなり、この結果は非常に大きな受
光面を有するセンサが必要となり、装置の小型化に支障
をきたすという問題がある。 上記、第１．第２の解決方法の夫々の欠点を解消するた
めには、第１の解決方法において絞り２４の絞り穴の大
きさを受光センサ２９に必要かつ最少の装置の光束を通
過せしめろ、とともに第２の解決方法を同時に実施すれ
ばよい。本実施例はこの第３の解決方法を採用している
。第２６図に、この解決方法を採用した測定光受光系を
示している。尚、第２６図では、図を見易くするために
、絞り２４の絞り穴の上縁部を通過する光線を示してい
る。また、第２６図は、絞り２４゛を設けたこと、及び
スポット光の反射光を光の束として誇張して示したこと
以外は第２５図と同様の図である。 また、絞り２４′の絞り大半径の値はｙとしている。 今、第２４図に示した測定光投光系により測定光が投射
されたとすれば、一方の測定光について、次式が成立す
る。 前記したように、（２９）式から が成立するので、これを（３７）式に代入すると次式が
成立する。 同様に、上記測定光と光軸対称の測定光についても、次
式が成立する。 前記したように（３０）式から、 か成立するので、これを（３８）式に代入すると次式か
成立する。 ここでり。とり。”両者の差分をとって２で割れば、（
３５）式の場合と同様に、 となり誤差量へＸ、δを含まない式を得ることかできる
。 尚、（３７）式、　（３８）式は、一般式である。今ｙ
Ｏとすれば゛、絞り穴の中心を通る光線について考察す
ることになるが、この場合に得られる式は、（３３）式
および（３４）式と同一のものとなる。 以上、測定系光軸と被検眼光軸との輔ずれが生した場合
の測定値の誤差の補正対策について説明したが、この軸
ずれによる測定値の誤差の補正は、軸ずれ量が小さいと
き（近軸理論が適用できる範囲の軸ずれ量）に限られる
。軸ずれ量がこの限界（△Ｘ・月ｍｍ以内、δ・±１０
’以内）を越えると、収差等の影響で受光センサ上のス
ポット像にゆがみが生じるので補正は不可能となる。つ
まり、この場合に補正かなされたとしても、その結果算
出される値は信頼性に欠ける。従って、この場合は、そ
の算出値は信頼性なきものとして採用しないというエラ
ー処理をなすのがよい。このエラー処理については、第
１５図に示すフローチャートの説明の中で詳述する。 以下、第１５図に本実施例の眼屈折度測定装置による測
定フローチャートを示し、順にその各ステップを説明す
る。 まずステップ１００では、準備モードとして照明光源３
０およびレチクル光源３５がオンにされ、測定光の投光
用光＃１５がオフにされてステップ１０１へ移行する。 このときのモニタ画像には、照明光源３０の前に被検眼
Ｅがある場合には照明光の角膜反射光による輝点群とレ
チクルパターンが現れ、被検眼Ｅがない場合にはレチク
ルパターンのみが現れる。尚、ステップ１００には、ス
テップ１００゛によるタイマー割り込みも可能である。 ステップ１００′は、第１には、被検眼を自動的にモニ
タリングする目的で、定期的に被検眼の画像情報をマイ
コン５のメモリ内に取り込むためのモードである。その
ために照明光源３０のみがオンで、レチクル光源３５お
よび投光用光＃、Ｉ５がオフにされた状態を一瞬作り、
この状態で被検眼が存在すれば、その像が記録され、そ
のときの被検眼の状態（角膜反射輝点群の状態）が検出
される。 また、このステップ１００′は、第２に、演算及び制御
の条件等を決めるスイッチ６の状態を定期的に管理する
ために、スイッチ状態か検出され、スイッチ入力に変化
があれば、マイコン５のスイッチ状態記憶メモリの内容
を更新する。 ステップ１０１では、プリンタフのスイッチかオンであ
るか否かが判断され、オンである場合にはステップ１０
２で、マイコン５に記憶された前回の測定をデータにつ
いてプリンタ７を出力してからステップ１０３へ移行し
、オフである場合には直接ステップ１０３へ移行する。 ステップ１０３では、照明光１３０の前に被検眼Ｅがあ
るか否かが判断される。ある場合にはステップ１０４へ
移行するが、ない場合にはステップｌｏＯへ逆戻りして
再びステップ１０３までの各ステップが繰り返される。 この判断は、照明光の角膜反射光が受光センサ２９で検
知できているか否かによって判断でき、検者はモニタ画
像上でもそのことが判断できる。 ステップ１０４では、照準検知モードとして照明光の角
膜反射光による輝点群の重心位置すなわち輝点群がつく
る円の中心Ｘ軸およびｙ軸の座標（Ｘ　Ｏｒ　ｙ　ｏン
を画像認識装置３によって求め、ステップ１０５へ移行
する。 ステップ１０５では、ステップ１０４で求めたＸ座標（
Ｘ　ｏ）の絶対値ＩＸ、ｌがＸ軸方向の「ずれ」の許容
範囲として設定されたｙ軸ずれ基準の値よりも小さいか
否かが判断され、小さい場合にはステップ１０６へ移行
し、小さくない場合にはステップ１００へ逆戻りして再
びステップ１０５までの各ステップが繰り返される。 ステップ１０６では、ステップ１０４で求めたＸ座標（
ｙｏ）の絶対値１ｙ０１がＸ軸方向の「ずれ」の許容範
囲として設定されたｙ軸ずれ基準の値よりも小さいか否
かが判断され、小さい場合にはステップ１０７へ移行し
、小さくない場合にはステップ１００へ逆戻りして再び
ステップ１０６までの各ステップが繰り返される。 ステップ１０７では、合焦検知モードとして照明光の角
膜反射光による輝点群の画像信号の高周波成分（Ｈｆ）
を画像認識装置３によって求め、ステップ１０８へ移行
する。尚、このように高周波成分を検出することによっ
て合焦状態を検知する方法はソフトウェ°アのみによっ
て実現可能な方法の１例であるが、より一般的な考え方
としてはハードウェアによる方法も含めて輝点群のコン
トラスト状態を検知することによって合焦状態を検知す
ればよい ステップ１０８では、ステップ１０７で求めた高周波成
分（Ｈｆ）が合焦状態の許容範囲として設定されたコ・
ントラスト基準の値よりも大きいが否がか判断され、大
きい場合にはステップ１０９へ移行し、大きくない場合
にはステップ１００へ逆戻りして再びステップ１０８ま
での各ステップが繰り返される。 以上のステップ１０４および１０７における照準状況お
よび合焦状況は、モニタ画像上ではレチクルパターンと
輝点群との位置ずれ状況および輝点群のコントラストの
強弱というかたちで現れ、検者はこのモニタ画像から照
準状況および合焦状況の調整見当がつけられる。 ステップ１０９では、角度補正モードとして照明光・の
角・膜厚射光による輝点群のうち基準径線４２上の二つ
の輝点に相当する各照明光源のみオンにし、他の照明光
源と測定光の光源Ｉ５およびレチクル光源３５はオフに
された状態でモニタ画像に人力されてステップ１１０へ
移行する。 ステップ１１０では、ステップ１０９でモニタ画像上に
示された二つの輝点を結ぶ直線と画像上の水平基準線（
光学測定部１の水平軸に相当）とのなす角αを検知して
ステップ１１１へ移行する。 ステップ１１１では、測定モードとして照明光源３０お
よびレチクル光源３５がオフにされ、測定光の投光用光
源１５がオンにされた状！房がモニタ画像に入力されて
ステップ１１２へ移行する。このときのモニタには、測
定光受光光学系１０によって受光センサ２９に検知され
た眼底のパターンの像が画像として一瞬だけ現されるか
、測定はこの時点で完了しているので各光源に関しては
直ちにステップ１１２へ移行し、測定光の光源１５がオ
フに、照明光源３０とレチクル光源３５とがオンにされ
た準備モードと同じ状態にされる。 ステップ１１２からはステップ１１３へ移行し、このス
テップでは測定モードにおける測定光の受光光学系１０
で受光センサ２９に入力された（３号レベルの高さが十
分であるか否かが判断される。これは被検眼１；′か白
内障の場合には測定に必要なたけのレベルの画像信号か
得られない場合があるため、このステップでそのチエツ
クが行われる。ステ。 プ１１３で信号レベルの高さか十分てあった場合にはス
テップ１１４へ移行して計算モードに入り、不十分であ
った場合にはステップ１２０へ移行してエラー処理か行
われる。このステップ１２０でのエラー処理としては、
例えば°’ｎｏ　ｔａｒｇｅｔ’“等の表示を後述のス
テップ＋１６においてモニタ画面に現せばよい。 ステップ１１４では、マイコン５に予め記憶されている
演算式に測定データか入力され、これに基づいて眼鏡レ
ンズあるいはコンタクトレンズの各要素である球面度数
（ＳＰＨ）、柱面度数（ＣＹｌ、、）、軸ｆｆ＋度（Ａ
ＸＩＳ）か算出される。各要素の演算式は投光パターン
によってその測定点か異なるため一律ではないか、本実
施例では、中心角９０°毎の合計４．【すのスボントパ
ターンを投影するようになっており、第４図に示すよう
に各スポｙ＋−３゜＋　Ｓ９１　Ｓ　ｆｉｌｌ　Ｓ　２
７のＸ宇標およびｙ座標Ｓ　Ｑ（ＳＸＯ，５ｙｏ）、Ｓ
　９（ＳＸｇ、　５ｙ９）Ｓ　＋ｅ（Ｓｘ＋ａ、　Ｓｙ
＋ｅ）、Ｓ　＋７（Ｓｘ＋７．５ｙｔ７）をそれぞれ求
め、以下のような演算により球面度数（ＳＰＩＩ）、柱
面度数（ＣＹＬ）、軸角度（ＡＸＩＳ）を求める。 ｓｘ＋　ＳＸｏ　ＳＸ＋８ ＳＸ、−８Ｘ′”−３ｘ” ｓｙ　　５ｙ−Ｓｙ・・ ｓ　、、−Ｓｙ　ｔ“−８ｙ□ Ａ−↓（Ｓ　ｘ＋＋Ｓ　ｙｔ＋（（（Ｓ　Ｋ１−３　ｙ
２）’＋４Ｂ−±Ｃ８ｘ＋＋ｓ　ｙｔ−（ｆ（Ｓ　ｘｒ
−８ｙｚ）’＋４Ｓｙ＋’１） Ｓｙ＋’ｌ） ＳＰＩＩ＝　Ｄ　、＝＝　＋−・Ｂ ｄ、　　Ｌ−ｈ。 ＣＹＬ＝　Ｄ　、−Ｄ　、−土（Ｂ−Ａ）−ｈ 以」二の演算が終了するとステップ１１５へ移行する。 尚、本実施例では、ステップ１１４を詳細に述べると、
第１５図（その３）に示すサブルーチンのような処理が
なされており、合ｐ、σ準・合焦時から測定光投光時の
短時間の間に測定光学系光軸ど被検眼光軸間に軸ずれが
生じた場合、得られるデータか信頼性ないものとしてエ
ラー処理することか可能である。すなわち、この眼屈折
度測定装置においては、ハンディ−タイプの光学測定部
１を採用しているための手振れしを生じ易いのであるか
、第１５図（その３）に示すサブルーチンの処理によれ
ば、この手振れをチｓ−’）りすることかできるのであ
る。 このサブルーチンを第１５図（その３）と第２７Ａ図に
従って説明する。 第２７Δ図は、合照準・合焦時から測定光投光時の間に
測定系光軸ａ、と被検眼光軸との軸ずれが生じた結果の
４つのスポットＳ。＋　Ｓ　９＋　Ｓ　ｆｉｌｌ　Ｓ　
２７の座標を示している。 先ず、ステップ１１４ａで、各スポット像Ｓ。、Ｓ、。 Ｓ　ＩＢ＋　Ｓ　２？の重心座標Ｓ　ｏ（Ｓｘｏ、　５
ｙｏ）、Ｓ　５（ＳＸ７．５ｙａ）。 Ｓ　＋８（ＳＫ＋ｅ、　Ｓｙ＋ｓ）、　Ｓ　ｚ□（ｓＸ
、ｔ＋　Ｓ＞’ｚ７）を求める。 次いで、ステップ１１４ｂで、点対称の位置関係になる
２対のスポットＳ。＋　３１８：Ｓ　９＋　Ｓ　２？に
ついて夫々中点座標を求める。すなわち、スポット像Ｓ
。 とＳ　１８との中点Ｍ、、Ｍ２の座標（Ｍｘ、、　Ｍｙ
ｌ）、（ＭＸ２゜Ｍｙ２）は次の計算式により求められ
ることができる。 Ｍｘ、＝　Ｓｘｏ　＋　Ｓｘ□。 ＭＸ、＝ＳＸ□＋５Ｘ２７ Ｍ、、−Ｓｙ・＋Ｓｙ・・ Ｍ）’ｔ＝　Ｓｙ□”　５ｙｔｔ 次いで、スポット１１４Ｃで各中点をＭｌ（ＭＸｌ、Ｍ
ｙｌ）とＭ　ｙ（Ｍｘｔ＋　Ｍｙｚ）の間の距離ＭＥ　
（＝　ｌ　Ｍ５Ｍ２１　）を次式で求める。 ＭＥ＝（（（Ｍｘ＋−Ｍｘｔ）２＋　（Ｍｙｌ−Ｍｙ＊
）’１距離ＭＥは、測定光光学系の光軸と被検眼光軸と
が一致している場合にはＯとなり、両軸のずれ量が大き
くなるに従って大きな値となる。両軸のずれ量が大きく
なると、その結果としての測定値は信頼性がない。本実
施例では、測定値の信頼性の判定ｙ、準値として「３デ
イオプトリ−」を採用し、ステップ１１４ｄで、距離Ｍ
Ｅか３デイオプトリ一以上の場合には、ステップ１１４
ｅに進み、ステップ１１４ｅでエラー処理をしてステッ
プ１１６に進む。エラー処理としては例えば“ｔｒｙ　
ａｇａｉｎ”等の表示を後述のステップ１１６において
モニタ画面に現せばよい。ステップ１１４ｄで、距離Ｍ
Ｅが３デイプトリーより小さい場合には、測定値は信頼
性あるものとして、ステップ１１４ｆに進む。ステップ
１１４「では、第１５図くその２）のステップ＋１４で
示した場合と同様にして球面度数（ＳＰＨ）、柱面度数
（ｃｙｔ、）。 軸角度（ＡＸＩＳ）か求められる。 以上、測定系光軸と被検眼光軸とのずれ量の検出方法の
一例を示したが、これは結局のところ、４つのスボ７）
像の測定光受光光学系光軸に対する相対的位置関係で上
記ずれ量を検出することであるが、この相対的位置関係
は他の方法でも把握することができる。この場合のサブ
ルーチンを第１５図（その４）に示している。このサブ
ルーチンを第１５図（その４）と第２７Ｂ図に従って説
明す第２７Ｂ図は、第２７Ａ図と同様の図である。 先ずステップｌｌａで、各スポット像Ｓ。＋８９＋Ｓ１
８＋Ｓ２？の重心座標Ｓ　ｏ（ＳＸｏ、５ｙｏ）、Ｓ　
ｅ（Ｓｘｓ、　５ｙａ）、　Ｓ＋ａ（Ｓｘ＋ｅ、　Ｓｙ
＋ａ）、　Ｓ　ｔ７（Ｓｘｔ７．　Ｓ）’ｔ７）を求め
る。 次いで、ステップ１１４ｈで、Ｘ軸における各スポット
像Ｓ。とＳ　１８の夫々の原点０に対する距離の差△ｔ
ｌｘＳＹ軸における各スポット像Ｓ。とＳ１８との夫々
の原点０に対する距離の差△ｆｌｙ、　Ｘ軸における各
スポット像Ｓ９とＳｔ７との夫々の原点に対する距離の
差△Ｖｘ、　Ｙ軸におけるスポット像Ｓ、とＳ、？との
夫々の原点に対する距離の差△ｖｙを次式で求める。 △Ｈｘ＝Ｓｘｏ　　＋　ＳＸ＋ｅ △Ｈｙ＝Ｓｙｏ　　十　Ｓｙ＋ａ △Ｖｘ＝Ｓｘｓ　＋　５ｘｔ７ △Ｖｙ＝Ｓｙｅ　＋　５ｙｔ７ 次いで、各ステップ１１４ｉ、　１１４ｊ、　ｌ１４に
、　１１４１で各差△ＨＸ、△ｆｒｙ、△Ｖｘ、△ｖｙ
が基準値としての値である３デイオブトリーと夫々比較
する。 各ステップで差か基準値以上でない場合は、ステップ１
１４ｉ順に１１４１まで進み、さらにステップ１１４■
からステップｌｌ４ｍに進む。一方、各ステ、プ１１４
ｉ＝ｌ１４１で差が基準値以上の場合はステップ１１４
ｎに進み、ステップ１１４ｎでエラー処理が行なわれる
。 ステップｌｌ４ｍは前記ステップ１１４「と同様である
。 さらなる検出方法としては、スポット像Ｓ。（ＳＸ。 ５ｙｏ）と３９（ＳＸｅ、５Ｙｅ）間の距離と、スポッ
トＳ、、（ＳＸ＋ｅ＋Ｓｙ＋ａ）とＳ　ｔ７（Ｓｘ２７
＋　５ｙ２７）間の距離との比較により、あるいは、ス
ポットＳ　Ｑ（ＳＸＯ，５ｙｏ）と３２７（ＳＸ２．＋
５ＹｔＪ間の距離と、スポット像Ｓ　５（ＳＸｓ、５ｙ
ｓ）とＳ　ｌ１ｌ（ＳＸＩＩＩ、　ＳＹ＋ｓ＞間の距離
とを比較することにより、上記両軸のずれ量を判定する
ことかできる。 さて、ステップ１１５へ戻って説明すると、ステップ＋
１５では、ステップ１１４で求められた各要素ＳＰＨ。 ＣＹＬ、ＡＸＩＳの数値が合理的な数値範囲に収まって
いるか否かが判断され、合理的範囲内であれば適正な次
のステップ１１６へ移行し、合理的範囲外であればステ
ップ１２１へ移行してエラー処理か行われる。このステ
ップ１２１でのエラー処理としては、前記と同様に、”
ｔｒｙ　ａｇａｉｎ”等の表示を後述のステップ１１６
においてモニタ画面に現せばよい。 ステップ１１６では、ステップ１１４での演算結果ある
いはステップ１２０または１２１でのエラー処理による
表示がモニタ画面に現される。尚、このステップ１１６
での演算結果を表示する出力条件として、［ＩＮ鏡レン
ズ用およびコンタクトレンズ用の表示切り替えか可能で
あり、その曲に、演算結果の数値をどの程度の細かさの
数値毎に表示するか、その表示段階（Ｓ　Ｔ　Ｅ　Ｐ値
）を設定することも可能である。 これらは、ステップ１００においてスイッチ類の操作に
て行なわれる。この操作よりマイコン５に目的とする処
理方法が人力される。また、眼鏡レンズと角膜との間の
距離（ＶＤ値コンタクトレンズの場合はＯ）を設定する
ことも可能である。ステップ１１６が終了すると再びス
テップ１００の準備モードへ戻る。 また、測定用光学系として第２図から第８図に示した例
は本発明の一実施例に過ぎず、光学測定部をハンディタ
イプに構成するためにはこの実施例から種々に変形する
ことか当業者にと一〕では可能であり、第１６図ないし
第１９図にその一変形実施例を４点のスポットパターン
の例で示しＣニー）く。第１６図には測定用光学系８゛
、第１７図は測定光投光光学系、第１８図は測定光受光
光学系１０′、第１９図は照準光学系５０をそれぞれ示
す。 測定光投光光学系９゛は、ハーフプリズムの代わりにハ
ーフミラ−４５か用いられ、赤外線発光タイオードの投
光用光源１ｂ”からハーフミラ−４５まで真っすぐな光
軸ａ１゛に沿い、ノ＼−フミラー４５で直角に反射され
た測定光の光軸８１″に被検眼Ｅ°を位置させることに
よって、測定光を被検眼Ｅ′内に投光することができる
。光源１５’からハーフミラ−４５まての間の光軸ａ１
°上には、光源１５’側から順にコリメータレンズ１９
　、ピラミッド形状の４角錐プリズム４６□絞り４７．
投光リレーレンズ２ビ、４穴ミラー４８．接眼レンズ２
２゛が配置されている。４角錐プリズム４６は、４点の
スポットパターンを形成するために、光源１５°からコ
リメータレンズ１９′を経た赤外光を光軸ａ、”の回り
に中心角９０’毎の位置を通る４本の光束に分離させる
。絞り４７は投光リレーレンズ２１’の焦点位置に配置
されておＪ９．４角錐プリズム４６から出た４本の光束
は絞り４７を通過した後に投光リレーレンズ２１’へ入
射し、それぞれが光軸　、＋に平行な光束となって４点
スポットパターンを形成する。４穴ミラー４８は、後述
の測定光受光光学系１０’における網膜反射光である測
定光を直角に反射させるためのミラーであって、その上
側の反射面が光軸　、＋に対して４５°傾斜しており、
投光光学系９゛において投光スポットパターンの光路を
遮断しないように、その光路に相当する部分に小さな穴
が形成されている。従って、４穴ミラー４８の各式を通
過した測定光は、４点スポットパターンとなって接眼レ
ンズ２２゛に入射し、ハーフミラ−４５で直角に反射さ
れて被検眼Ｅ′内に入る。 測定光受光光学系１０′では、測定光は被検眼Ｅ“から
４穴ミラー４８まで投光光学系９′の光路を逆行し、４
穴ミラー４８で直角に反射される。 この反射光の光軸　、ｌ上には、４穴ミラー４８と平行
な反射面を持つマイクロミラー４９が配置されており、
このマイクロミラー４９によって測定光かさらに下方へ
直角に反射される。マイクロミラー４９の下方には光Ｉ
ＴＩＩＩＩａ２”に沿って結像レンズ２７゛および受光
センサ２９°か配置されている。 照準光学系５０では、ハーフミラ−４５を部分的に透過
した照明光の角膜反射光かタイクロインクミラー３１′
によって直角下方へ反射され、モニタリレーレンズ３３
゛を通過する。モニタリレーレンズ３３′の下方には第
１の４５°　ミラー５１が配置され、その反射光路上に
レチクルパターンの書かれた透明ガラスのレチクル板５
２が配置されている。このレチクル板５２は、モニタリ
レーレンズ３３゛に関して被検眼Ｅ”と共役な位置に配
置されている。第１の４５°　ミラー５１からレチクル
板５２を通過した位置には第２の４５°　ミラー５３が
、これに入射した照準光を直角下方へ反射させるように
配置されている。第２の４５°　ミラー５３の下方には
、測定光受光光学系１０°におけるマイクロミラー４９
以下の光軸ａ３＋をこの受光系１０”と共有しており、
結像レンズ２７゛および受光センサ２９°をも共有して
いる。従ってこの照準光学系５０は、モニタ用レチクル
光学系がモニタ用カメラ光学系内に組み込まれた形に構
成されている。尚、照準光学系５０においてマイクロミ
ラー４９は極めて小さく、照準光はその周辺部分を通過
するので、その存在は支障を来さない。 以上に説明した実施例および変形実施例のような構成お
よび作用によれば、例えば第２０図に示すように、本体
部２をテーブル等の台上に据え置き、検者がハンディタ
イプの光学測定部ｌだけを片手に持ってこれを被検眼に
向けて位置させ、被検者には３〜５肩先の視標３８を見
させた状態にし、モニタ４を眺めながら光学測定部１の
姿勢や位置を微調整操作しているうちに合照準且つ合焦
状態となれば、検者はその瞬間だけを捕まえるだけで後
は自動的に本体部２で演算が行われ、眼屈折度が算出さ
れてモニタ４に表示される。したがつて測定時間は極め
て短縮化され、また、被検者がどのような姿勢をとって
いても光学測定部１をその状態に合わせられるので、検
者にとっては測定が容易となり、被検者にとっては測定
時の窮屈な苦痛感から解放される。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の１実施例係る眼屈折度測定装置の概略
構成を示すブロック図である。第２図は第１図における
光学測定部に内蔵された測定用光学系を示す図である。 第３図ないし第８図は上記測定用光学系を構成する各要
素としての各光学系を示す図であり、第３図は測定光投
光光学系、第４図は測定光受光光学系、第５図は照明光
学系、第６図および第７図は照準光学系としてのモニタ
用カメラ光学系およびモニタ用レチクル光学系、第８図
は視標光学系をそれぞれ示している。第９図および第１
０図は照明光源の位置の違いによる角膜反射光の照準状
況を説明する説明図であり、第９図は照準がずれている
状態、第１０図は照準があっている状態をそれぞれ示し
ている。第１１図は上記照明光源および錘が円盤部材に
取り付けられている状態を示す図である。第１２図は上
記測定光投光光学系において測定光かその光軸上の定点
を通って角膜上に入射し、網膜上に至る光路を斜視図的
に示した図である。第１３図は本実施例において角膜上
に投影される測定光パターンの位置を座標平面上に一般
化して示す図であり、第」４図は第１３図のように角膜
上に投影された測定光パターンに対応する受光センサ上
の像の位置を座標平面上に一般化して示すである。第１
５図〈その１，２，３．４＞は上記眼屈折度測定の制御
を示すフローチャート図である。第１６図は変形実施例
の測定用光学系を示す図、第１７図は第１６図における
測定光投光光学系を示す図、第１８図は第１６図におけ
る測定光受光光学系を示す図、第１９図は第１６図にお
ける照準光学系を示す図である。第２０図は本実施例に
よる眼屈折度の測定状態を示す図である。第２１．２２
図は第１〜１５図の実施例において測定系光軸と被検眼
光軸間の軸ずれ誤差の補正方法を説明するための測定光
受光光学系及び測定光投光光学系を示す図である。第２
３図は第２１図をさらに分かり易くするための図である
。第２４．２５図は第２１〜２３図に対し、今１つの補
正方法を示すための測定光投光光学系及び測定光受光光
学系を示す図である。 第２６図は、第２１〜２２図の補正方法と第２４２５図
の補正方法の両者を同時実施する場合を示す測定光受光
光学系の図である。第２７Ａ、Ｂ図は夫々上記実施例に
おいてエラー処理をするための説明図である。 ■・・・光学測定部、２・・・本体部、３・・・画像認
識装置、４・・・モニタ、５・・・マイクロコンピュー
タ、８・・測定用光学系、９・・・測定光投光光学系、
１０・・測定光受光光学系、１１・・・視標光学系、１
２・・・照準光学系の一部としてのモニタ用カメラ光学
系、１３・・・照準光学系の一部としてのモニタ用レチ
クル光学系、１４・・・照明光学系、１５・・・測定光
の投光用光源、２９・・・受光センサ、３０・・・照明
光源、３５・・レチクル光源、３８・・・視標、Ｅ・・
・被検眼第１ 図 第１３図 第１４図 コｌ／２７ 第５図 第２図 第１１図 第９図 第１０図 第１５図 （ｆ／）２） 第１５図（その３） 第２０図 ｆ２７Ａ図 第２７８図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）、被検眼の眼屈折度を測定するための測定光学系
   （８）を備えた光学測定部（１）と、上記光学測定部（
   １）からの測定データに基づいて眼屈折度を算出する本
   体部（２）とを備え、上記測定光学系（８）は、測定光
   を投光して被検眼の網膜上に投光パターンを投影する測
   定光投光光学系（９）と、該被検眼の網膜上に投影され
   た投光パターン像の反射光を受光する測定光受光光学系
   （１０）とを含み、 上記測定光の投光パターンは、測定光投光光学系（９）
   の光軸（ａ＿Ｉ）の周囲に該光軸に関して９０゜毎に配
   置された計４つのスポット光を含み、 さらに、上記測定光受光光学系（１０）で受光された４
   つのスポット光の像の測定光受光光学系光軸に対する相
   対的位置関係により、測定光投光時における測定光光学
   系光軸（ａ＿Ｉ）と被検眼光軸（ａ＿Ｅ）との軸ずれ量
   を判定する判定手段と、該軸ずれ量と基準値とを比較す
   る手段と、上記両軸のずれ量が基準値以上の場合、測定
   エラーありとして処理する手段を有することを特徴とす
   る眼屈折度測定装置。