JPH03189517A - 表示システム - Google Patents
表示システムInfo
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- JPH03189517A JPH03189517A JP32847889A JP32847889A JPH03189517A JP H03189517 A JPH03189517 A JP H03189517A JP 32847889 A JP32847889 A JP 32847889A JP 32847889 A JP32847889 A JP 32847889A JP H03189517 A JPH03189517 A JP H03189517A
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- Japan
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- storage device
- measurement
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、図表表示システムに係り、特に、機械構造物
の応力、温度、変位等の測定値と測定値に基づいて行っ
た解析値を同時に表示するシステ１１に関する。
の応力、温度、変位等の測定値と測定値に基づいて行っ
た解析値を同時に表示するシステ１１に関する。
従来の技術は、第３図（ａ）、（ｂ）に示すように、計
測結果、解析結果を個々に単独で表示する例が一般に販
売されている商品として存在するが、同一装置で測定値
と測定値に基づいて行った解析値とを同時に表示した例
は無い。
測結果、解析結果を個々に単独で表示する例が一般に販
売されている商品として存在するが、同一装置で測定値
と測定値に基づいて行った解析値とを同時に表示した例
は無い。
第２図（ａ）は解析に基づいた結果を図表で表示するシ
ステム構成例、第３図（ｂ）は計測装置により測定され
た値を図表で表示するシステム構成例である。第３図（
ａ）は、解析用入力データ記憶装置２に入力されている
データを基に解析（以下ＣＰＵ）プログラム記憶装置３
内の解析プログラムを用いて中央処理装置（以下ＣＰＵ
）５で演算を行い、その結果を解析結果記憶装置１に入
れ、表示制御装置４により表示装置６に図２表として表
示する。
ステム構成例、第３図（ｂ）は計測装置により測定され
た値を図表で表示するシステム構成例である。第３図（
ａ）は、解析用入力データ記憶装置２に入力されている
データを基に解析（以下ＣＰＵ）プログラム記憶装置３
内の解析プログラムを用いて中央処理装置（以下ＣＰＵ
）５で演算を行い、その結果を解析結果記憶装置１に入
れ、表示制御装置４により表示装置６に図２表として表
示する。
第３図（ｂ）は、計測装置７により測定された測定値は
、ＣＰ Ｕ ５を介して計ａ＋ｑ結果が記憶装置８に入
れられ、次に表示制御装置４により表示装置６に表示さ
れる。
、ＣＰ Ｕ ５を介して計ａ＋ｑ結果が記憶装置８に入
れられ、次に表示制御装置４により表示装置６に表示さ
れる。
この二つのシステムは、従来、互いに独立しており、解
析結果とｉｌｌ’ｌ定値とを比較対照するには手間がか
かり、装置も二種使用する必要があった。
析結果とｉｌｌ’ｌ定値とを比較対照するには手間がか
かり、装置も二種使用する必要があった。
本発明の目的は、この二つのシステム及び装置を一つに
統合し、測定値に基づく解析、および、解析値と測定値
の表示を一つの装置６により行うことにより、測定値と
解析値の比較対照を容易にすること、及び、計ΔＩＩＩ
値を解析に利用することを容易にすることにある。
統合し、測定値に基づく解析、および、解析値と測定値
の表示を一つの装置６により行うことにより、測定値と
解析値の比較対照を容易にすること、及び、計ΔＩＩＩ
値を解析に利用することを容易にすることにある。
第１図に全体構成を示す。計測装置７により測定された
４１１１定値はＣＰ［５を介して計１ｆｌｌ＋結果記憶
装置７に入力され、解析プログラム記憶装置３内の解析
プログラムを用いてＣＰＵ５で演算された結果は解析結
果記憶装置１に入れられる。
４１１１定値はＣＰ［５を介して計１ｆｌｌ＋結果記憶
装置７に入力され、解析プログラム記憶装置３内の解析
プログラムを用いてＣＰＵ５で演算された結果は解析結
果記憶装置１に入れられる。
上記の目的は第１図の全体構成に示すように、計測装置
７．計測結果記憶装置８．解析プログラム、記憶装置８
．中央処理装置（ＣＰＵ）５．解析結果記憶装置１２表
示制御装置４２表示装置６を一つのシステムおよび装置
に統合することにより、解析結果と測定値を同時に処理
し比較対照できるようにしたものである。
７．計測結果記憶装置８．解析プログラム、記憶装置８
．中央処理装置（ＣＰＵ）５．解析結果記憶装置１２表
示制御装置４２表示装置６を一つのシステムおよび装置
に統合することにより、解析結果と測定値を同時に処理
し比較対照できるようにしたものである。
また、一つの装置にすることにより、４１ｇ定値の解析
プログラムでの利用を容易にしたものである。
プログラムでの利用を容易にしたものである。
本発明の構成は、第１図に示すように、計測装置７．計
測結果記憶装置８．ＦＥＭ（有限要素法）。
測結果記憶装置８．ＦＥＭ（有限要素法）。
ＦＤＭ （差分法）等の解析プログラムを記憶しておく
解析プログラム記憶装置１．解析結果記憶装置４２図表
表示を制御する表示制御装置４２表示装置６、及び以上
の装置、動作させて処理を行う中央処理装置５より構成
される。計測装置７により測定された測定値はＣＰＵ５
を介して計Ｍす結果の記憶装置８に格納される。解析プ
ログラム記憶装置１中の解析プログラムは、この計測結
果の記憶装置２、中の測定値の一部を入力データとして
ＣＰＵ５で演算される。演算結果は解析結果記憶装置１
に格納される。表示制御装置４は、計ル１す結果記憶装
置８中の測定値および解析結果記憶装置１中の検析結果
を基にして表示装置６に測定値と解析結果を図表で同時
に表示する。
解析プログラム記憶装置１．解析結果記憶装置４２図表
表示を制御する表示制御装置４２表示装置６、及び以上
の装置、動作させて処理を行う中央処理装置５より構成
される。計測装置７により測定された測定値はＣＰＵ５
を介して計Ｍす結果の記憶装置８に格納される。解析プ
ログラム記憶装置１中の解析プログラムは、この計測結
果の記憶装置２、中の測定値の一部を入力データとして
ＣＰＵ５で演算される。演算結果は解析結果記憶装置１
に格納される。表示制御装置４は、計ル１す結果記憶装
置８中の測定値および解析結果記憶装置１中の検析結果
を基にして表示装置６に測定値と解析結果を図表で同時
に表示する。
以下、実施例の構成および処理手順を第１図。
第２図に従って説明する。
第１図に全体構成を示す。
計測装置７により構造物１機械部品の変位、応力、温度
等の物理量を測定し、ＣＰＵ５を介して計測結果記憶装
置８に格納する。次に、解析プロゲラ１１記憶装置１中
の解析プログラムを用いて、計測結果の記憶装置８に格
納された測定値を基に、ＦＥＭ、ＦＤＭ等の手法により
構造物１機械部品等の全体の変位応力、温度等の分布を
ＣＰＵ５で演算する。その結果は解析結果の記憶装置１
に格納される。表示制御装置４は解析結果の記憶装置１
から変位、応力、温度等の解析結果から必要に応じて指
定されたものを読み込む。同様に計測結果の記憶装置８
から解析結果と比較対照したいｆｌｌ’１定値を読み込
み、表示装置６に、等高線、ベクトル図等の図、折れ線
グラフ、棒グラフ等のグラフ、および数表で表示する。
等の物理量を測定し、ＣＰＵ５を介して計測結果記憶装
置８に格納する。次に、解析プロゲラ１１記憶装置１中
の解析プログラムを用いて、計測結果の記憶装置８に格
納された測定値を基に、ＦＥＭ、ＦＤＭ等の手法により
構造物１機械部品等の全体の変位応力、温度等の分布を
ＣＰＵ５で演算する。その結果は解析結果の記憶装置１
に格納される。表示制御装置４は解析結果の記憶装置１
から変位、応力、温度等の解析結果から必要に応じて指
定されたものを読み込む。同様に計測結果の記憶装置８
から解析結果と比較対照したいｆｌｌ’１定値を読み込
み、表示装置６に、等高線、ベクトル図等の図、折れ線
グラフ、棒グラフ等のグラフ、および数表で表示する。
このように測定値と解析値とを比較対照することにより
、必要な箇所が計測されているか、計測点の再検討が即
座に可能となる。また、構造物や機械部品全体に亘って
の変位、応力、温度等の分布が解析によって求められる
ため、測定点が必要最小限で良い。
、必要な箇所が計測されているか、計測点の再検討が即
座に可能となる。また、構造物や機械部品全体に亘って
の変位、応力、温度等の分布が解析によって求められる
ため、測定点が必要最小限で良い。
次に第２図に従って処理手順を説明する。
作業を開始９した後、まず、計測装置７により構造物２
機械部品等の変位、応力、温度等の物理量が計測１０さ
れる。計測１０された測定値は、ＣＰＵ５を介して計？
ｌ′１１結果記憶装置８に分類して保管１１される。こ
の保管１１された測定値の中で解析用の測定値は、解析
プログラム記憶装置１中の解析プログラム用入力データ
となりＣＰＵ５で演算１２される。演算１２により構造
物や機械部品全体に亘っての変位、応力、温度等が求め
られ、解析結果の記憶装置１に格納される。
機械部品等の変位、応力、温度等の物理量が計測１０さ
れる。計測１０された測定値は、ＣＰＵ５を介して計？
ｌ′１１結果記憶装置８に分類して保管１１される。こ
の保管１１された測定値の中で解析用の測定値は、解析
プログラム記憶装置１中の解析プログラム用入力データ
となりＣＰＵ５で演算１２される。演算１２により構造
物や機械部品全体に亘っての変位、応力、温度等が求め
られ、解析結果の記憶装置１に格納される。
表示制御装置４は、必要に応じて指定された解析結果と
これに対応した測定値を解析結果記憶装置１、および、
計測結果記憶装置８より読み込み比較対象できる図、グ
ラフ、表を用いて表示装置６に表示１３する。
これに対応した測定値を解析結果記憶装置１、および、
計測結果記憶装置８より読み込み比較対象できる図、グ
ラフ、表を用いて表示装置６に表示１３する。
表示１３された解析結果と１Ｉｌｌｌ定値はその誤差が
、設定された許容範囲内にあるかどうかＣｒ’Ｕ５でチ
エツク１４され、誤差以内の値が計測されていれば処理
は終了１５し、チエツク１３の結果、誤差が人であれば
、ＣＰ ｔＪ ５により計測１０の指令が出され、再び
ｉｔ １１１１１ ｔ □が行われる。
、設定された許容範囲内にあるかどうかＣｒ’Ｕ５でチ
エツク１４され、誤差以内の値が計測されていれば処理
は終了１５し、チエツク１３の結果、誤差が人であれば
、ＣＰ ｔＪ ５により計測１０の指令が出され、再び
ｉｔ １１１１１ ｔ □が行われる。
本発明によれば、計測、解析２表示が統合され一つの装
置で行えるため、計測を行いながら解析結果と測定値が
同時に比較対照でき、従って、４り定値の検証が即座に
行えこの種の作業の効率向上。
置で行えるため、計測を行いながら解析結果と測定値が
同時に比較対照でき、従って、４り定値の検証が即座に
行えこの種の作業の効率向上。
省力化が実現できる。
第１図は本発明の一実施例の全体システムブロック図、
第２図は本発明を実行する際の処理手順を示すフローチ
ャート、第３図は従来のシステムブロック図である。 １・・・解析結果の記憶装置、２・・・解析用入力デー
タ記憶装置、３・・・ＦＥＭ、ＦＤＭの解析プログラム
記憶装置、４・・・表示制御装置、５・・・中央処理装
置（ＣＰＵ） 、６・・・表示装置、７・・・計測装置
、８・・・計測結果記憶装置。 第２図 第１図
第２図は本発明を実行する際の処理手順を示すフローチ
ャート、第３図は従来のシステムブロック図である。 １・・・解析結果の記憶装置、２・・・解析用入力デー
タ記憶装置、３・・・ＦＥＭ、ＦＤＭの解析プログラム
記憶装置、４・・・表示制御装置、５・・・中央処理装
置（ＣＰＵ） 、６・・・表示装置、７・・・計測装置
、８・・・計測結果記憶装置。 第２図 第１図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、圧力、温度、応力等の計測装置、前記計測装置によ
り測定されたデータを格納する記憶装置、格納されたデ
ータを基に解析を行う解析プログラム、この解析結果を
格納する記憶装置、解析結果や測定データを表示する表
示プログラム及び表示装置より成る表示システムに於い
て、計測装置により測定された測定値が、この測定値を
基に、この装置上の解析プログラムで演算された演算結
果と共に比較して表示装置に表示することを特徴とする
表示システム。 ２、請求項１において、比較して表示された演算結果と
測定値の誤差を計算し、あらかじめ設定された許容範囲
内でなければ、再び計測を行うことを特徴とする表示シ
ステム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32847889A JPH03189517A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 表示システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32847889A JPH03189517A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 表示システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03189517A true JPH03189517A (ja) | 1991-08-19 |
Family
ID=18210724
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32847889A Pending JPH03189517A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 表示システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03189517A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0571960A (ja) * | 1991-09-12 | 1993-03-23 | Kajima Corp | 斜面すべり等の地表面挙動の計測方法 |
-
1989
- 1989-12-20 JP JP32847889A patent/JPH03189517A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0571960A (ja) * | 1991-09-12 | 1993-03-23 | Kajima Corp | 斜面すべり等の地表面挙動の計測方法 |
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