JPH03189832A - 装置のテスト方式 - Google Patents
装置のテスト方式Info
- Publication number
- JPH03189832A JPH03189832A JP1330148A JP33014889A JPH03189832A JP H03189832 A JPH03189832 A JP H03189832A JP 1330148 A JP1330148 A JP 1330148A JP 33014889 A JP33014889 A JP 33014889A JP H03189832 A JPH03189832 A JP H03189832A
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- Japan
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- test
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- program
- test program
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- Pending
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
試験プログラムを用いて装置の機能の試験を行うテスト
方式に関し、 標準的に開発した試験プログラムを標準として機能が部
分的に異なる装置について変更情報テーブルを参照して
標準あるいは変更した機能に対応する試験を行い、同一
ハードウェアなどで部分的に異なる機能の装置の試験を
容易に可能にすると共に異なる機能試験のために装置毎
の試験プログラムの開発を不要かつ管理を容易にするこ
とを目的とし、 装置の機能の試験を行う試験プログラムと、この試験プ
ログラムによって試験を行う装置の機能と部分的に異な
る機能を持つ装置に対する変更情報を予め格納する変更
情報テーブルと、上記試験プログラムによって装置の試
験を行う際に、上記変更情報テーブルに当該試験を行お
うとする装置の変更情報が格納されていたときに、この
変更情報をもとに装置の試験を行う整合プログラムとを
備え、この整合プログラムによって試験プログラムによ
る試験を行う装置の機能と部分的に異なるＩｌ能を持つ
装置の試験を行うように構成する。
方式に関し、 標準的に開発した試験プログラムを標準として機能が部
分的に異なる装置について変更情報テーブルを参照して
標準あるいは変更した機能に対応する試験を行い、同一
ハードウェアなどで部分的に異なる機能の装置の試験を
容易に可能にすると共に異なる機能試験のために装置毎
の試験プログラムの開発を不要かつ管理を容易にするこ
とを目的とし、 装置の機能の試験を行う試験プログラムと、この試験プ
ログラムによって試験を行う装置の機能と部分的に異な
る機能を持つ装置に対する変更情報を予め格納する変更
情報テーブルと、上記試験プログラムによって装置の試
験を行う際に、上記変更情報テーブルに当該試験を行お
うとする装置の変更情報が格納されていたときに、この
変更情報をもとに装置の試験を行う整合プログラムとを
備え、この整合プログラムによって試験プログラムによ
る試験を行う装置の機能と部分的に異なるＩｌ能を持つ
装置の試験を行うように構成する。
本発明は、試験プログラムを用いて装置の８１能の試験
を行う装置のテスト方式に関するものである。
を行う装置のテスト方式に関するものである。
〔従来の技術と発明が解決しようとする課題〕従来、計
算機システムにおける入出力装置などの装置の機能試験
を行う場合、第４図に示すように、たとえハードウェア
が同一の装置（Ａ）２３−１、装置（Ｂ）、２３−２な
どであってもユーザが希望する機能の仕様にあわせた当
該装置（＾）２３１、装置（Ｂ）２３−２など毎に装置
（Ａ）用試験プログラム２２−１．装置（Ｂ）用試験プ
ログラム２２−２などを作成し、これらの装置の機能試
験を行うようにしていた。このため、仕様がわずかに異
なる多数の装置に共通する部分の仕様変更があった場合
、これら多数の装置毎に作成した試験プログラムをそれ
ぞれ変更する必要が生じてしまい、管理が煩雑となって
しまうと共に、試験プログラムの使用者が装置名と試験
プログラムとの関係を意識して試験する煩雑性が生じて
しまうという問題があった。
算機システムにおける入出力装置などの装置の機能試験
を行う場合、第４図に示すように、たとえハードウェア
が同一の装置（Ａ）２３−１、装置（Ｂ）、２３−２な
どであってもユーザが希望する機能の仕様にあわせた当
該装置（＾）２３１、装置（Ｂ）２３−２など毎に装置
（Ａ）用試験プログラム２２−１．装置（Ｂ）用試験プ
ログラム２２−２などを作成し、これらの装置の機能試
験を行うようにしていた。このため、仕様がわずかに異
なる多数の装置に共通する部分の仕様変更があった場合
、これら多数の装置毎に作成した試験プログラムをそれ
ぞれ変更する必要が生じてしまい、管理が煩雑となって
しまうと共に、試験プログラムの使用者が装置名と試験
プログラムとの関係を意識して試験する煩雑性が生じて
しまうという問題があった。
本発明は、標準的に開発した試験プログラムを標準とし
て機能が部分的に異なる装置について変更情報テーブル
を参照して標準あるいは変更した機能に対応する試験を
行い、同一ハードウェアなどで部分的に異なる機能の装
置の試験を容易に可能にすると共に異なる機能試験のた
めに装置毎の試験プログラムの開発を不要かつ管理を容
易にすることを目的としている。
て機能が部分的に異なる装置について変更情報テーブル
を参照して標準あるいは変更した機能に対応する試験を
行い、同一ハードウェアなどで部分的に異なる機能の装
置の試験を容易に可能にすると共に異なる機能試験のた
めに装置毎の試験プログラムの開発を不要かつ管理を容
易にすることを目的としている。
第１図は、本発明の原理構成図を示す。
第１図において、試験プログラム２は、装置の機能の試
験を行う標準的に開発した試験プログラムである。
験を行う標準的に開発した試験プログラムである。
整合プログラム３は、試験プログラム２によって装置の
試験を行う際に、変更情報テーブル３１に標準的な試験
に対する変更情報が格納されているときに、この変更情
報をもとに装置の試験を行うプログラムである。
試験を行う際に、変更情報テーブル３１に標準的な試験
に対する変更情報が格納されているときに、この変更情
報をもとに装置の試験を行うプログラムである。
変更情報テーブル３−１は、試験プログラム２による機
能の標準的な試験に対する変更情報を装置に対応づけて
格納するテーブルである。
能の標準的な試験に対する変更情報を装置に対応づけて
格納するテーブルである。
本発明は、第１図に示すように、試験プログラム２によ
って装置の試験を行う際に、整合プログラム３が変更情
報テーブル３−１に当該試験を行おうとする装置の変更
情報が格納されていたときに、この変更情報をもとに装
置の試験を行うようにしている。
って装置の試験を行う際に、整合プログラム３が変更情
報テーブル３−１に当該試験を行おうとする装置の変更
情報が格納されていたときに、この変更情報をもとに装
置の試験を行うようにしている。
従って、標準的に開発した試験プログラム２を標準とし
て機能が部分的に異なる装置について変更情報テーブル
３−１を参照して標準あるいは変更した機能に対応する
試験を行うことにより、同一ハードウェアなどで部分的
に異なる機能の装置の試験を容易に行うことが可能とな
ると共に、異なる機能試験のために装置毎の試験プログ
ラム２の開発を不要かつ管理を容易にすることが可能と
なる。
て機能が部分的に異なる装置について変更情報テーブル
３−１を参照して標準あるいは変更した機能に対応する
試験を行うことにより、同一ハードウェアなどで部分的
に異なる機能の装置の試験を容易に行うことが可能とな
ると共に、異なる機能試験のために装置毎の試験プログ
ラム２の開発を不要かつ管理を容易にすることが可能と
なる。
次に、第１図から第３図を用いて本発明の１実施例の構
成および動作を順次詳細に説明する。
成および動作を順次詳細に説明する。
第１図において、試験プログラム２は、装置の機能の試
験を行うために標準的に開発した試験プログラムである
。この試験プログラム２は、同一のハードウェアを持ち
、ユーザの希望する機能の仕様を具備した例えばチャネ
ル装置などを試験する機能毎に標準的に開発した試験プ
ログラム（１）、（２）、（３）、（４）などから構成
されている。
験を行うために標準的に開発した試験プログラムである
。この試験プログラム２は、同一のハードウェアを持ち
、ユーザの希望する機能の仕様を具備した例えばチャネ
ル装置などを試験する機能毎に標準的に開発した試験プ
ログラム（１）、（２）、（３）、（４）などから構成
されている。
整合プログラム３は、試験プログラム２によってユーザ
の希望する可能の仕様を具備した同−八−ｌ’ウェアを
持つ装置（Ａ）４−１−装置（Ｂ）４−２などの試験を
行う際に、変更情報テーブル３１に標準的な試験に対す
る変更情報が格納されているときに、この変更情報をも
とに装置の機能の試験を行うプログラムである。
の希望する可能の仕様を具備した同−八−ｌ’ウェアを
持つ装置（Ａ）４−１−装置（Ｂ）４−２などの試験を
行う際に、変更情報テーブル３１に標準的な試験に対す
る変更情報が格納されているときに、この変更情報をも
とに装置の機能の試験を行うプログラムである。
変更情報テーブル３−１は、試験プログラム２によって
機能の試験を行おうとする装置（Ａ）４１、装置（Ｂ）
４−２などについて、当該試験プログラム２による標準
的に機能の試験と部分的に異なるときにその変更情報を
装置に対応づけて格納するテーブルである。
機能の試験を行おうとする装置（Ａ）４１、装置（Ｂ）
４−２などについて、当該試験プログラム２による標準
的に機能の試験と部分的に異なるときにその変更情報を
装置に対応づけて格納するテーブルである。
装置（Ａ）４−１装置（Ｂ）４〜２は、同一のへドウエ
アを持ち、ユーザの希望する機能を持たせた装置（例え
ばチャネル装置など）である。図中、装置（Ｂ）中に点
線で“装置１． （Ａ）と機能が異なる部分”と記載し
た部分が、標準的な装置（Ａ）４−１に対して、ユーザ
の希望に合わせて機能を部分的に変更した部分である。
アを持ち、ユーザの希望する機能を持たせた装置（例え
ばチャネル装置など）である。図中、装置（Ｂ）中に点
線で“装置１． （Ａ）と機能が異なる部分”と記載し
た部分が、標準的な装置（Ａ）４−１に対して、ユーザ
の希望に合わせて機能を部分的に変更した部分である。
このように機能を部分的に変更した場合には、標準的に
開発した装置（Ａ）４−１の試験プログラムのうち、こ
の変更した部分の機能の試験を行い得るように変更情報
テーブル３−１に当該装置（Ｂ）４−１に対応づけて変
更情報を予め登録する。これにより、試験時に試験プロ
グラム２から制御権を渡された整合プログラム３がこの
変更情報に対応した試験（機能試験）を装Ｗ（Ｂ）４−
２に対して行うことが可能となる。
開発した装置（Ａ）４−１の試験プログラムのうち、こ
の変更した部分の機能の試験を行い得るように変更情報
テーブル３−１に当該装置（Ｂ）４−１に対応づけて変
更情報を予め登録する。これにより、試験時に試験プロ
グラム２から制御権を渡された整合プログラム３がこの
変更情報に対応した試験（機能試験）を装Ｗ（Ｂ）４−
２に対して行うことが可能となる。
次に、第２図を用いて本発明の１実施例の構成の動作を
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第２図において、■は、試験プログラム２が機能試験（
１１、（２）、（３）、（４）を順次実行を開始し、整
合プログラム３に制御権を渡す。これは、ホスト計算機
１上で動作する標準的に開発した試験プログラム２の機
能試験（ＩＪ、（２ン、（３）、（４）について順次実
行を開始し、整合プログラム３に制御権を渡す。
１１、（２）、（３）、（４）を順次実行を開始し、整
合プログラム３に制御権を渡す。これは、ホスト計算機
１上で動作する標準的に開発した試験プログラム２の機
能試験（ＩＪ、（２ン、（３）、（４）について順次実
行を開始し、整合プログラム３に制御権を渡す。
■は、■で制御権の渡された整合プログラム３が変更情
報テーブル３−１を参照して試験しようとする装置の１
１能の異なる旨が予め登録されているか否かを判別する
。ＮＯの場合（標準的な機能の場合、試験プログラム２
の機能試験（１）、（２）、（３）、（４）によってそ
のまま装置の試験が可能な場合）には、■で試験プログ
ラム２の機能試験（１）、Ｃ）、（３）、（４）を用い
てそのまま装置（Ａ）４−１などの試験を行う。ＹＥＳ
の場合には、■で異なる機能について変更情報テーブル
３−１を参照し、■で試験プログラム２の機能試験＋１
１、（２）、（３）、（４）のうちの変更情報の部分を
変更して装置（Ｂ）４−２などの機能の試験を行う。
報テーブル３−１を参照して試験しようとする装置の１
１能の異なる旨が予め登録されているか否かを判別する
。ＮＯの場合（標準的な機能の場合、試験プログラム２
の機能試験（１）、（２）、（３）、（４）によってそ
のまま装置の試験が可能な場合）には、■で試験プログ
ラム２の機能試験（１）、Ｃ）、（３）、（４）を用い
てそのまま装置（Ａ）４−１などの試験を行う。ＹＥＳ
の場合には、■で異なる機能について変更情報テーブル
３−１を参照し、■で試験プログラム２の機能試験＋１
１、（２）、（３）、（４）のうちの変更情報の部分を
変更して装置（Ｂ）４−２などの機能の試験を行う。
以上のように、標準的に開発した試験プログラム２を準
備し、整合プログラム３が変更情報テーブル３−１を参
照して機能を部分的に変更した装置について変更情報に
従って機能の試験を行うことにより、ハードウェアが同
一の装置で機能が部分的番こ異なる装置の試験のために
変更情報を変更情報テーブル３−１に格納するという簡
単な操作によって装置の試験を行うことが可能となる。
備し、整合プログラム３が変更情報テーブル３−１を参
照して機能を部分的に変更した装置について変更情報に
従って機能の試験を行うことにより、ハードウェアが同
一の装置で機能が部分的番こ異なる装置の試験のために
変更情報を変更情報テーブル３−１に格納するという簡
単な操作によって装置の試験を行うことが可能となる。
次に、第３図を用いて具体例を説明する。
第３図において、■は、装置（Ａ）４−１に対して標準
的な機能試験を行うために開発したアンロード試験プロ
グラム（試験プログラム２０１つの試験プログラム）が
ステータス情ｌ１ｌ（装置（Ａ）用）をもとに試験を開
始し、整合プログラム３に制御３′ｉ権を渡す。
的な機能試験を行うために開発したアンロード試験プロ
グラム（試験プログラム２０１つの試験プログラム）が
ステータス情ｌ１ｌ（装置（Ａ）用）をもとに試験を開
始し、整合プログラム３に制御３′ｉ権を渡す。
［相］は、制？１１権を受は取った整合プログラム３が
アンロード試験のための変更情報テーブル３−１中のス
テータス情報を参照すると、ここでは、装置（Ｂ）用が
登録されており、装置（Ｂ）について機能が異なること
が判明するので、装置（Ｂ）について■、■によって試
験を行う。尚、ここでは、装置（Ａ）４−１のときは機
能が異ならないのでＮＯとなり、■で試験プログラム３
そのままで装Ｗ（Ａ） ４〜１の機能の試験を行う。
アンロード試験のための変更情報テーブル３−１中のス
テータス情報を参照すると、ここでは、装置（Ｂ）用が
登録されており、装置（Ｂ）について機能が異なること
が判明するので、装置（Ｂ）について■、■によって試
験を行う。尚、ここでは、装置（Ａ）４−１のときは機
能が異ならないのでＮＯとなり、■で試験プログラム３
そのままで装Ｗ（Ａ） ４〜１の機能の試験を行う。
■は、装置（Ｂ）用の７ンロード試験のためのステータ
ス情報を参照する。
ス情報を参照する。
■は、■で参照したステータス情報を用いて装置（Ｂ）
４−２の機能の試験を行う。
４−２の機能の試験を行う。
以下同様に、他の機能の試験についても行う。
以上説明したように、本発明によれば、標準的に開発し
た試験プログラム２を標準として機能が部分的に異なる
装置について変更情報テーブル３−１を参照して標準あ
るいは変更した機能に対応する試験を行う構成を採用し
ているため、同一ハードウェアなどで部分的に異なる機
能の装置の試験を容易に行うことができると共に、異な
る機能試験のために装置毎の試験プログラム２の開発を
不要かつ管理を容易にす、ることができる。また、試験
時に試験プログラム２と、試験しようとする装置の機能
とが異なるか否かの関係を意識する必要がなくなり、部
分的に機能の異なる装置の試験を効率的に行うことがで
きる。
た試験プログラム２を標準として機能が部分的に異なる
装置について変更情報テーブル３−１を参照して標準あ
るいは変更した機能に対応する試験を行う構成を採用し
ているため、同一ハードウェアなどで部分的に異なる機
能の装置の試験を容易に行うことができると共に、異な
る機能試験のために装置毎の試験プログラム２の開発を
不要かつ管理を容易にす、ることができる。また、試験
時に試験プログラム２と、試験しようとする装置の機能
とが異なるか否かの関係を意識する必要がなくなり、部
分的に機能の異なる装置の試験を効率的に行うことがで
きる。
第１図は本発明の原理構成図、第２図は本発明の１実施
例構成図、第３図は本発明の詳細な説明図、第４図は従
来技術の説明図を示す。 図中、■はホスト計算機、２は試験プログラム、３は整
合プログラム、３−１は変更情報テーブル、２は機能試
験対象の装置を表す。
例構成図、第３図は本発明の詳細な説明図、第４図は従
来技術の説明図を示す。 図中、■はホスト計算機、２は試験プログラム、３は整
合プログラム、３−１は変更情報テーブル、２は機能試
験対象の装置を表す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 試験プログラムを用いて装置の機能の試験を行うテスト
方式において、 装置の機能の試験を行う試験プログラム（２）と、この
試験プログラム（２）によって試験を行う装置の機能と
部分的に異なる機能を持つ装置に対する変更情報を予め
格納する変更情報テーブル（３−１）と、 上記試験プログラム（２）によって装置の試験を行う際
に、上記変更情報テーブル（３−１）に当該試験を行お
うとする装置の変更情報が格納されていたときに、この
変更情報をもとに装置の試験を行う整合プログラム（３
）とを備え、 この整合プログラム（３）によって試験プログラム（２
）による試験を行う装置の機能と部分的に異なる機能を
持つ装置の試験を行うように構成したことを特徴とする
装置のテスト方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1330148A JPH03189832A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 装置のテスト方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1330148A JPH03189832A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 装置のテスト方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03189832A true JPH03189832A (ja) | 1991-08-19 |
Family
ID=18229351
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1330148A Pending JPH03189832A (ja) | 1989-12-20 | 1989-12-20 | 装置のテスト方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03189832A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62219035A (ja) * | 1986-03-20 | 1987-09-26 | Mitsubishi Electric Corp | 計算機システムの診断方式 |
| JPH01102647A (ja) * | 1987-10-15 | 1989-04-20 | Fujitsu Ltd | テストプログラムロード制御方式 |
-
1989
- 1989-12-20 JP JP1330148A patent/JPH03189832A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62219035A (ja) * | 1986-03-20 | 1987-09-26 | Mitsubishi Electric Corp | 計算機システムの診断方式 |
| JPH01102647A (ja) * | 1987-10-15 | 1989-04-20 | Fujitsu Ltd | テストプログラムロード制御方式 |
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