JPS62219035A - 計算機システムの診断方式 - Google Patents
計算機システムの診断方式Info
- Publication number
- JPS62219035A JPS62219035A JP61060741A JP6074186A JPS62219035A JP S62219035 A JPS62219035 A JP S62219035A JP 61060741 A JP61060741 A JP 61060741A JP 6074186 A JP6074186 A JP 6074186A JP S62219035 A JPS62219035 A JP S62219035A
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- JP
- Japan
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- program
- test
- diagnosis
- programs
- monitor
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、計算機システムの機能の正当性を検証する
診断方式に関するものである。
診断方式に関するものである。
第3図は計算機システムのブロック図であり。
図において、C/)は中央処理装置、主記憶装置等を含
む本体装置、(2)はプログラムの実行等を行う中央処
理装置c以下、l’−CPUJと略称する) 、 (,
71はプログラム、データ等が格納される主記憶装置C
以下、「メモリ」と略称する) 、 (p)はメモリ(
3)に格納されるプログラム、(’!ra)〜(5d)
はチャンネル制御装置c以下、「チ゛ヤネル」と略称す
る)。
む本体装置、(2)はプログラムの実行等を行う中央処
理装置c以下、l’−CPUJと略称する) 、 (,
71はプログラム、データ等が格納される主記憶装置C
以下、「メモリ」と略称する) 、 (p)はメモリ(
3)に格納されるプログラム、(’!ra)〜(5d)
はチャンネル制御装置c以下、「チ゛ヤネル」と略称す
る)。
(AIは入出力装置間!(りa)〜(7f)と、これに
接続される入出力装置(ff1〜(/3b)から成る被
診断装置、である。
接続される入出力装置(ff1〜(/3b)から成る被
診断装置、である。
入出力制御装置(7a)〜(7f)、及び、入出力装置
(fl〜(/3b’)から成る被診断装置の診断を行う
場合、メモリ(3)に診断を行うプログラム(tllを
まずロードし、CP U(21がこれを解釈し実行する
ことKよって、チャネル(ja)〜(!d)経由で被診
断装fl (41の診断を行う、 第6図は被診断装置(6)の診断を行う場合の一般的な
処理の流れを示したものであり、図において。
(fl〜(/3b’)から成る被診断装置の診断を行う
場合、メモリ(3)に診断を行うプログラム(tllを
まずロードし、CP U(21がこれを解釈し実行する
ことKよって、チャネル(ja)〜(!d)経由で被診
断装fl (41の診断を行う、 第6図は被診断装置(6)の診断を行う場合の一般的な
処理の流れを示したものであり、図において。
(ハ0は一般的な診断のテストステップシーケンス、(
15)はその際に用いられるテストデータを示している
。すなわち、入出力装置(ff1〜(/3b)を起動す
るための準備としてCCV(J、?)と呼ばれるチャネ
ルプログラム、及び、転送の対象となるデータ(コlI
)を用意し、計算機システムが一般的に備えているS工
0命令を用いて入出力装置を起動しくステップ#/6)
、入出力装置の動作が終了して終了割込みが報告される
のを持つ(ステップ/り)。
15)はその際に用いられるテストデータを示している
。すなわち、入出力装置(ff1〜(/3b)を起動す
るための準備としてCCV(J、?)と呼ばれるチャネ
ルプログラム、及び、転送の対象となるデータ(コlI
)を用意し、計算機システムが一般的に備えているS工
0命令を用いて入出力装置を起動しくステップ#/6)
、入出力装置の動作が終了して終了割込みが報告される
のを持つ(ステップ/り)。
終了割込みが報告されると、同時に各種の入出力装置に
関するステータス、データ(,21)を受け取り(ステ
ップ/ざ)、このデータを一担、メモリ(31に格納し
、次に1期待値(26)と比較して(ステップ/り)、
一致の有無を判断しくステップ201、一致しなかった
ならばエラーの報告を行う(ステップ2/)。
関するステータス、データ(,21)を受け取り(ステ
ップ/ざ)、このデータを一担、メモリ(31に格納し
、次に1期待値(26)と比較して(ステップ/り)、
一致の有無を判断しくステップ201、一致しなかった
ならばエラーの報告を行う(ステップ2/)。
上記において1診断のテストシーケンス(ハ0は、入出
力装置の診断を行う場合には、どの入出力装置のどの機
能の診断を行う場合にも同一であり、入出力装置間で異
るのは、得られるテストデータ(/3)のみである。
力装置の診断を行う場合には、どの入出力装置のどの機
能の診断を行う場合にも同一であり、入出力装置間で異
るのは、得られるテストデータ(/3)のみである。
第7図は従来の計算機システムの診断方式におけるメモ
リ上にロードされる診断プログラムの構成を示す図であ
る。図において、(27)は診断を行なうためのテスト
プログラム群を示し、(2g)は各々のテストプログラ
ムを制御し、実行の際の各種機能を提供するためのモニ
タプログラムである。(λデ)は診断プログラムが格納
された外部記憶装置としての磁気ディスク装置、(30
)はプログラム(tIlとしてのモニタプログラム格納
領域。
リ上にロードされる診断プログラムの構成を示す図であ
る。図において、(27)は診断を行なうためのテスト
プログラム群を示し、(2g)は各々のテストプログラ
ムを制御し、実行の際の各種機能を提供するためのモニ
タプログラムである。(λデ)は診断プログラムが格納
された外部記憶装置としての磁気ディスク装置、(30
)はプログラム(tIlとしてのモニタプログラム格納
領域。
(3/)は同じくテストプログラム格納領域である。
診断プログラムがオペレーティングシステムの下で実行
される場合には、実行の際に割当てられるメモリの量に
制限があるため各僅診断装置に対する診断プログラムは
、更に複数個のモジュールに分割されていわゆるオーバ
ーレイ構造をとり1診断の進行に従って順次、メモリ上
にロードされ、実行される事になる。
される場合には、実行の際に割当てられるメモリの量に
制限があるため各僅診断装置に対する診断プログラムは
、更に複数個のモジュールに分割されていわゆるオーバ
ーレイ構造をとり1診断の進行に従って順次、メモリ上
にロードされ、実行される事になる。
次に動作について説明する。第S図は従来の診断方式に
おける実行時の処理の流れを示したものである。まず、
被診断装置の指定(第g図ステップT/)、及び、診断
に用いろテストプログラム(コク)の名称の指定(同T
2)がオペレータによってシステムコンソール(3ダ)
から行われる。次に、被診断装置のファイルが破壊され
る事を防止するためのファイル保護処理を行って(同T
3)。
おける実行時の処理の流れを示したものである。まず、
被診断装置の指定(第g図ステップT/)、及び、診断
に用いろテストプログラム(コク)の名称の指定(同T
2)がオペレータによってシステムコンソール(3ダ)
から行われる。次に、被診断装置のファイルが破壊され
る事を防止するためのファイル保護処理を行って(同T
3)。
オペレータが指定したテストプログラム(ニア)を磁気
ディスク装置(ユ9)からメモ1月31内にプログラム
(ダ1としてロードしく同Tφ)、テストを実行する(
同T5)6もし、オペレータの指定したすべてのテスト
プログラム(コク)の実行が完了していないならば(同
T6)、再度ステップTtIに戻ってテストプログラム
のロード及び実行が行われる。
ディスク装置(ユ9)からメモ1月31内にプログラム
(ダ1としてロードしく同Tφ)、テストを実行する(
同T5)6もし、オペレータの指定したすべてのテスト
プログラム(コク)の実行が完了していないならば(同
T6)、再度ステップTtIに戻ってテストプログラム
のロード及び実行が行われる。
先に第6図で示した様に、各テストプログラムは診断を
行なうテストシーケンス(iu)と、ソノ際に用いられ
るテストデータ(/S)とから成り立っており、更に、
第7図に示した様に各テストプログラム(27)は複数
のモジュールによって構成されているのでオーバーレイ
構造として順次、メモリ上にロードされ、実行が行われ
る。
行なうテストシーケンス(iu)と、ソノ際に用いられ
るテストデータ(/S)とから成り立っており、更に、
第7図に示した様に各テストプログラム(27)は複数
のモジュールによって構成されているのでオーバーレイ
構造として順次、メモリ上にロードされ、実行が行われ
る。
従来の計算機システムの診断方式は以上のように構成さ
れているので、各テストプログラム(27)ノ各モジュ
ールは、全く同様のテストシーケンス(ハ0をモジュー
ルの数と同じ数だけ持つ必要があった。このため、モジ
ュール全体の容量が増大し1例えば外部記憶装置として
の磁気ディスク装置上に診断プログラムを配置し、ロー
ディングしながら使用する場合にはテストプログラムが
占有するディスク領域が膨大となる。また、該領域への
アクセス回数が増大するためにシステム全体のオーバー
ヘッドが大きくなるとともに、ローディングに要する時
間が増大してシステム性能低下の原因となるといった問
題点があった。
れているので、各テストプログラム(27)ノ各モジュ
ールは、全く同様のテストシーケンス(ハ0をモジュー
ルの数と同じ数だけ持つ必要があった。このため、モジ
ュール全体の容量が増大し1例えば外部記憶装置として
の磁気ディスク装置上に診断プログラムを配置し、ロー
ディングしながら使用する場合にはテストプログラムが
占有するディスク領域が膨大となる。また、該領域への
アクセス回数が増大するためにシステム全体のオーバー
ヘッドが大きくなるとともに、ローディングに要する時
間が増大してシステム性能低下の原因となるといった問
題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、テストプログラムが配置される外部記憶領域
の容量を削減するとともに、システムのオーバーヘッド
及びローディングに要する時間を削減した効率の良い計
算機システムの診断方式を提供することを目的とする。
たもので、テストプログラムが配置される外部記憶領域
の容量を削減するとともに、システムのオーバーヘッド
及びローディングに要する時間を削減した効率の良い計
算機システムの診断方式を提供することを目的とする。
この発明に係る計算機システムの診断方式は、計算機シ
ステムの各種入出力機器の実際の診断を受け持つ下位の
テストプログラム群に共通に存在するテストシーケンス
のような共通処理部分を個々のテストプログラムから抽
出して独立させたサブモニタプログラムを、テストプロ
グラムの実行中、主記憶装置上に常駐せしめるようにし
たものである、 〔作 用〕 この発明における診断方式によって制御されるサブモニ
タプログラムは、各テストプログラム間で共有され、個
々のテストプログラムが必要とするテストシーケンスや
共通の処理機能を一元的に提供する、従って1診断時、
サブモニタプログラムは外部記憶装置から主記憶装置に
常駐させておき、当該テストシーケンス等の共通処理を
行い各入出力機器のテストデータを呼び出す。
ステムの各種入出力機器の実際の診断を受け持つ下位の
テストプログラム群に共通に存在するテストシーケンス
のような共通処理部分を個々のテストプログラムから抽
出して独立させたサブモニタプログラムを、テストプロ
グラムの実行中、主記憶装置上に常駐せしめるようにし
たものである、 〔作 用〕 この発明における診断方式によって制御されるサブモニ
タプログラムは、各テストプログラム間で共有され、個
々のテストプログラムが必要とするテストシーケンスや
共通の処理機能を一元的に提供する、従って1診断時、
サブモニタプログラムは外部記憶装置から主記憶装置に
常駐させておき、当該テストシーケンス等の共通処理を
行い各入出力機器のテストデータを呼び出す。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図はこの発明による計算機システムの診断方式の構成を
示したものである。図中、(35)は診断を行うための
テストプログラム群、(36)は各々のテストプログラ
ムに共通したテストシーケンス、若しくは共通機能を提
供するサブモニタプログラムである、各々のテストプロ
グラム(33)はオーバーレイ構造をとり、診断の実行
が進行するに従って順次、メモリ上にロードされ、共通
のサブモニタプログラム(36)を参照しながら処理を
行って行く。また、ロードされる各プログラムは磁気デ
ィスク装置(コ?)上に配置されており。
図はこの発明による計算機システムの診断方式の構成を
示したものである。図中、(35)は診断を行うための
テストプログラム群、(36)は各々のテストプログラ
ムに共通したテストシーケンス、若しくは共通機能を提
供するサブモニタプログラムである、各々のテストプロ
グラム(33)はオーバーレイ構造をとり、診断の実行
が進行するに従って順次、メモリ上にロードされ、共通
のサブモニタプログラム(36)を参照しながら処理を
行って行く。また、ロードされる各プログラムは磁気デ
ィスク装置(コ?)上に配置されており。
この磁気ディスク装置(−9)には、モニタプログラム
格納領域(30)に加えて、テストプログラム領域(3
り)及びサブモニタプログラム領域(sr)が設けられ
ている。
格納領域(30)に加えて、テストプログラム領域(3
り)及びサブモニタプログラム領域(sr)が設けられ
ている。
次に動作について説明する。第2図は本発明に係る計算
機システムの診断方式の処理の流れを示したものである
。まず、被診断装置の指定(第コ図ステップS/)、及
び1診断に用いるテストプログラム(35)の名称の指
定(同8.2)がオペレータによってシステムコンソー
ル(3ψ)から行われる。
機システムの診断方式の処理の流れを示したものである
。まず、被診断装置の指定(第コ図ステップS/)、及
び1診断に用いるテストプログラム(35)の名称の指
定(同8.2)がオペレータによってシステムコンソー
ル(3ψ)から行われる。
次に、被診断装置(第5図の6)のファイルが破壊され
る事を防止するためのファイル保護処理を従来と同様行
って(同S3)、各テストプログラム(3りに共通のテ
ストシーケンス、若しくは共通機能を提供しているサブ
モニタプログラム(36)を磁気ディスク装置(2デ)
からロードする(同S<<)。このサブモニタプログラ
ム(36)はその後、テストプログラム(35)の実行
がすべて終了し、もうこれ以上使用されなくなるまでの
間。
る事を防止するためのファイル保護処理を従来と同様行
って(同S3)、各テストプログラム(3りに共通のテ
ストシーケンス、若しくは共通機能を提供しているサブ
モニタプログラム(36)を磁気ディスク装置(2デ)
からロードする(同S<<)。このサブモニタプログラ
ム(36)はその後、テストプログラム(35)の実行
がすべて終了し、もうこれ以上使用されなくなるまでの
間。
メモリ上に常駐しており各種の機能をテストプログラム
(J5)に対して提供し続ける、次ニ、オペレータが指
定したテストプログラムプログラム(、?j)Fi先に
ロードされたサブモニタプログラム(36)を用いて診
断を行う。もし、オペレータの指定したすべてのテスト
プログラム(36)の実行が完了していないならば(同
s7)。
(J5)に対して提供し続ける、次ニ、オペレータが指
定したテストプログラムプログラム(、?j)Fi先に
ロードされたサブモニタプログラム(36)を用いて診
断を行う。もし、オペレータの指定したすべてのテスト
プログラム(36)の実行が完了していないならば(同
s7)。
再度、ステップS5に戻ってテストプログラムのロード
及び実行が行われる。
及び実行が行われる。
第3図(at及び[blは従来例との対比において、本
発明に係る計算機システムの診断方式を説明するための
説明図である。従来は第3図(alに示す如く個々のテ
ストプログラム(コク)が内部にテストデータ(/3)
及びテストシーケンス(ハ0を持ち、診断の実行を行っ
ていた。この発明においては。
発明に係る計算機システムの診断方式を説明するための
説明図である。従来は第3図(alに示す如く個々のテ
ストプログラム(コク)が内部にテストデータ(/3)
及びテストシーケンス(ハ0を持ち、診断の実行を行っ
ていた。この発明においては。
第3図(blに示す如くテストシーケンス(ハ・をサブ
モニタプログラム(36)として独立させ、テストデー
タ(/3)から呼び出す構成を取る。
モニタプログラム(36)として独立させ、テストデー
タ(/3)から呼び出す構成を取る。
また、第ダ図は、実際圧サブモニタプログラム(36)
を呼び出す手順の一例を示す説明図であり、各テストプ
ログラム(35)の持つポインタ(39)により指し示
されるモニタプログラム(2g)内のテーブルが保持す
るポインタ(lIo)がサブモニタプログラム(36)
の先頭を示すため、テストプログラム(J3)はこのポ
インタを参照して、サブモニタプログラム(36)内の
テストシーケンス(/V)を呼び出す、 なお、上記の実施例ではプログラムを記憶しておく装置
として磁気ディスク装置を例に挙げて説明したが、これ
は磁気テープ装置やフレキシブルディスク装置であって
も良く、また診断プログラム自体の動作環境はオペレー
ティングシステム環境下に限らずにスタンドアロン環境
下であってもよい。
を呼び出す手順の一例を示す説明図であり、各テストプ
ログラム(35)の持つポインタ(39)により指し示
されるモニタプログラム(2g)内のテーブルが保持す
るポインタ(lIo)がサブモニタプログラム(36)
の先頭を示すため、テストプログラム(J3)はこのポ
インタを参照して、サブモニタプログラム(36)内の
テストシーケンス(/V)を呼び出す、 なお、上記の実施例ではプログラムを記憶しておく装置
として磁気ディスク装置を例に挙げて説明したが、これ
は磁気テープ装置やフレキシブルディスク装置であって
も良く、また診断プログラム自体の動作環境はオペレー
ティングシステム環境下に限らずにスタンドアロン環境
下であってもよい。
サラに1本例ではサブモニタプログラム内に含まれる共
通ルーチンとしてテストシーケンスの場合を例に挙げて
説明したが、これに限らず1例えば回線制御手順といっ
た一連の手順であってもよく、上記実施例と同様の効果
を奏する。
通ルーチンとしてテストシーケンスの場合を例に挙げて
説明したが、これに限らず1例えば回線制御手順といっ
た一連の手順であってもよく、上記実施例と同様の効果
を奏する。
以上のように、この発明によればモニタプログラムとテ
ストプログラムの間に、各テストプログラムに共通の一
組の処理を提供するサブモニタプログラムを介在させ診
断時には主記憶装置に常駐させたので、テストプログラ
ムが配置される外部記憶装置上の領域を削減でき、また
、該外部記憶製蓋へのアクセス回数が減少するので、シ
ステムのオーバーヘッドを小さくすることができるとと
もに、ローディングに要する時間を減少でき、したがっ
て、効率の良い計算機システムの診断方式が得られると
いう効果がある。
ストプログラムの間に、各テストプログラムに共通の一
組の処理を提供するサブモニタプログラムを介在させ診
断時には主記憶装置に常駐させたので、テストプログラ
ムが配置される外部記憶装置上の領域を削減でき、また
、該外部記憶製蓋へのアクセス回数が減少するので、シ
ステムのオーバーヘッドを小さくすることができるとと
もに、ローディングに要する時間を減少でき、したがっ
て、効率の良い計算機システムの診断方式が得られると
いう効果がある。
第1図はこの発明の一実施例による計算機システムの診
断方式における診断プログラムの構成を示す図、第2図
はこの発明に係る計算機システムの診断方式の処理の流
れを示すフローチャート図。 第3図(a)及び(b)は従来例との対比において、本
発明に係る計算機システムの診断方式を説明する説明図
、第f図はテストプログラムからサブモニタプログラム
を呼び出す手順の一例を示す説明図、第5図は一般的な
計算機システムのブロック図、第6図は診断の際の一般
的な処理の流れを示すフローチャート図、第7図は従来
の計算機システムの診断方式における診断プログラムの
構成を示す図、第を図は従来の計算機システムの診断方
式における処理の流れを示すフローチャート図、である
。 (コ1はCPU、(,71はメモリ、(!1はチャネル
、(6)は被診断装置、(7a)乃至(7f)は入出力
制御装置、(fflは乃至(/3b)は入出力装置、(
ハ・はテストシーケンス、(/!r)はテストデータ、
(コr)はモニタプログラム、 (29)は磁気ディス
ク装置。 (33)はテストプログラム、(36)はサブモニタプ
ログラム、である。 なお、図中同一符号は同一、または相当部分を示す。 氾3図 (b) 昂5図 昂6図
断方式における診断プログラムの構成を示す図、第2図
はこの発明に係る計算機システムの診断方式の処理の流
れを示すフローチャート図。 第3図(a)及び(b)は従来例との対比において、本
発明に係る計算機システムの診断方式を説明する説明図
、第f図はテストプログラムからサブモニタプログラム
を呼び出す手順の一例を示す説明図、第5図は一般的な
計算機システムのブロック図、第6図は診断の際の一般
的な処理の流れを示すフローチャート図、第7図は従来
の計算機システムの診断方式における診断プログラムの
構成を示す図、第を図は従来の計算機システムの診断方
式における処理の流れを示すフローチャート図、である
。 (コ1はCPU、(,71はメモリ、(!1はチャネル
、(6)は被診断装置、(7a)乃至(7f)は入出力
制御装置、(fflは乃至(/3b)は入出力装置、(
ハ・はテストシーケンス、(/!r)はテストデータ、
(コr)はモニタプログラム、 (29)は磁気ディス
ク装置。 (33)はテストプログラム、(36)はサブモニタプ
ログラム、である。 なお、図中同一符号は同一、または相当部分を示す。 氾3図 (b) 昂5図 昂6図
Claims (3)
- (1)計算機システムの各種入出力機器の実際の診断を
受け持つ下位のテストプログラム群と、該テストプログ
ラム群に対する各種の処理を受け持つている上位のモニ
タプログラムと、前記テストプログラム群に特有の処理
を一まとまりとして提供するサブモニタプログラムと、
を外部記憶装置に配置しておき、診断時、前記サブモニ
タプログラムを、前記モニタプログラムとテストプログ
ラム群との間に介在するように主記憶装置上に常駐させ
ておくことを特徴とした計算機システムの診断方式。 - (2)前記サブモニタプログラムが、前記テストプログ
ラム群のテストシーケスを記述したプログラムである特
許請求の範囲第1項記載の計算機システムの診断方式。 - (3)前記テストプログラム群及びモニタプログラムは
それぞれポインタを有し、診断時、前記テストプログラ
ム群の個々のテストプログラムのポインタにより指示さ
れる前記モニタプログラムのポインタが前記テストシー
ケンスを記述したプログラムの先頭を示すことにより前
記テストシーケンスを記述したプログラムを呼び出す特
許請求の範囲第2項記載の計算機システムの診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61060741A JPS62219035A (ja) | 1986-03-20 | 1986-03-20 | 計算機システムの診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61060741A JPS62219035A (ja) | 1986-03-20 | 1986-03-20 | 計算機システムの診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62219035A true JPS62219035A (ja) | 1987-09-26 |
Family
ID=13150987
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61060741A Pending JPS62219035A (ja) | 1986-03-20 | 1986-03-20 | 計算機システムの診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62219035A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02294740A (ja) * | 1989-05-09 | 1990-12-05 | Fujitsu Ltd | 計算機の検査方式 |
| JPH03189832A (ja) * | 1989-12-20 | 1991-08-19 | Fujitsu Ltd | 装置のテスト方式 |
-
1986
- 1986-03-20 JP JP61060741A patent/JPS62219035A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02294740A (ja) * | 1989-05-09 | 1990-12-05 | Fujitsu Ltd | 計算機の検査方式 |
| JPH03189832A (ja) * | 1989-12-20 | 1991-08-19 | Fujitsu Ltd | 装置のテスト方式 |
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