JPH03196698A - Printed wiring board having detecting part for insulating layer and the like - Google Patents
Printed wiring board having detecting part for insulating layer and the likeInfo
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- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はプリント配線板に関する。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to printed wiring boards.
従来プリント配線板は第3図および第4図に示す如く基
板1の片面または両面に設けた銅箔により所要のパター
ンから成るプリント配線回路2を形成するとともに電気
部品の接続あるいはその他の外部との電気的な接続のた
めの接続ランド3を残して絶縁層4をシルク印刷により
形成している。Conventional printed wiring boards, as shown in FIGS. 3 and 4, form a printed wiring circuit 2 consisting of a desired pattern using copper foil provided on one or both sides of a substrate 1, and also connect electrical components or other external connections. An insulating layer 4 is formed by silk printing, leaving a connection land 3 for electrical connection.
また、前記プリント配線回路2上側には必要に応して電
磁波シールド用のシールド層5を設けた場合にはさらに
このシールドN5上側に絶縁層(オーバーコート層)7
を設けることにより構成されている。尚6は接続ランド
3に設けたスルーホールである。Further, if a shield layer 5 for electromagnetic wave shielding is provided above the printed wiring circuit 2 as necessary, an insulating layer (overcoat layer) 7 is further provided above the shield N5.
It is constructed by providing the following. Note that 6 is a through hole provided in the connection land 3.
さて、前記従来のプリント配線板10における絶縁層4
.7はプリント配線回路2あるいはシールド層5の電気
特性、性能を大きく左右するとともにプリント配線板1
0自体の品質5性能、耐久性等を直接左右するもので、
通常製品としてプリント配線板lOの抜き取り検査時に
絶縁層4,7の膜厚を検査しているが、その検査は絶縁
層4゜7の断面部分により検査している。Now, the insulating layer 4 in the conventional printed wiring board 10
.. 7 greatly influences the electrical characteristics and performance of the printed wiring circuit 2 or the shield layer 5, and also affects the printed wiring board 1.
The quality of 0 itself directly affects performance, durability, etc.
The film thicknesses of the insulating layers 4 and 7 are usually inspected during sampling inspection of the printed wiring board 10 as a product, and the inspection is performed using a cross-sectional portion of the insulating layer 4.7.
しかるに絶縁M4,7の断面部分は、プリント配線+1
i 10のうちの単に基板lの上側に形成された絶縁層
4、あるいはシールド層5の上側に設けられた絶縁N7
の部分では膜厚に誤差が存在し、検査部分の計測が正確
であってもバラツキを生しプリント配線板10の全体に
おいて性能あるいは耐久性上等要求される適切な絶縁層
の膜厚を計測することは不可能であった。However, the cross section of insulation M4, 7 is printed wiring +1
The insulating layer 4 formed simply on the upper side of the substrate l of i10 or the insulating layer N7 provided on the upper side of the shield layer 5
There is an error in the film thickness in the part, and even if the measurement of the inspection part is accurate, there will be variations, and it is necessary to measure the appropriate thickness of the insulating layer that is required for performance or durability in the entire printed wiring board 10. It was impossible to do so.
又、上述シールド層5のシールド効果を判定するにはシ
ールド層5の厚さと導電性とを知る必要を生ずる。しか
し、シールド層5は通常導電性インキのシルク印刷技法
による塗布であるため各プリント配線板においてシール
ド特性のばらつきが多いが、現在では特性検査の適切な
方法がなく、加えて通常はシールドN5上の全面にオー
バーコートN7を印刷塗布するため検査は不可能である
ことも一要因となっている。Furthermore, in order to determine the shielding effect of the shield layer 5, it is necessary to know the thickness and conductivity of the shield layer 5. However, since the shield layer 5 is usually coated with conductive ink using a silk printing technique, there are many variations in the shielding characteristics of each printed wiring board, but currently there is no appropriate method for testing the characteristics, and in addition, it is usually applied on the shield N5. Another factor is that inspection is impossible because overcoat N7 is applied by printing to the entire surface of the surface.
因って、本発明はか−る従来のプリント配線板における
絶縁層の膜厚計測上の欠点並びにシールド層の特性等の
検査上の欠点に鑑みて開発されたもので、プリント配線
板自体に何等の悪影響を与えずに計測および検査し得る
プリント配線板の提供を目的とするものである。Therefore, the present invention was developed in view of the shortcomings in measuring the film thickness of the insulating layer and the shortcomings in inspecting the characteristics of the shield layer in the conventional printed wiring board. The object of the present invention is to provide a printed wiring board that can be measured and inspected without causing any adverse effects.
本発明プリント配線板は基板の片面または両面にプリン
ト配線回路を設けるとともに絶縁層を介してシールド層
を設けて成るプリント配線板において、前記絶縁層の形
成と同時に絶縁層のチェック用ランドを設けるとともに
前記シールド層の形成と同時に2個の独立したシールド
層のチェック用ランドと両ランド間に接続部を設けるこ
とにより構成したことを特徴とするものである。The printed wiring board of the present invention is a printed wiring board in which a printed wiring circuit is provided on one or both sides of the board and a shield layer is provided via an insulating layer, in which a land for checking the insulating layer is provided simultaneously with the formation of the insulating layer. The present invention is characterized in that, simultaneously with the formation of the shield layer, two independent check lands of the shield layer and a connecting portion are provided between the two lands.
本発明プリント配線板は、プリント配線回路上側に形成
される絶縁層およびシールド層と同時にチェック用ラン
ドを形成し、当該チェック用ラントを介してプリント配
線板に形成された絶縁層の11り厚およびシールド層の
特性を適確に計測し得る作用を有する。The printed wiring board of the present invention forms a check land at the same time as the insulating layer and the shield layer formed on the upper side of the printed wiring circuit, and the thickness of the insulating layer formed on the printed wiring board increases through the check runt. It has the ability to accurately measure the characteristics of the shield layer.
以下本発明プリント配線板の一実施例を図面とともに詳
細に説明する。Hereinafter, one embodiment of the printed wiring board of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第1図は本発明プリント配線板の平面図、第2図aは第
1図A−A拡大断面図、第2図すは第1図B−B拡大断
面図、第2図Cは第1図C−C断面図である。1 is a plan view of the printed wiring board of the present invention, FIG. 2a is an enlarged sectional view taken along the line AA in FIG. 1, FIG. It is a sectional view taken along the line C-C in FIG.
しかして、第1図のプリント配線板10は前述した第3
図および第4図示のプリント配線板IOと同時に基板1
の片面にプリント配線回路2を形成するとともにこのプ
リント配線回路2の上側にソルダーレジスト層4を介し
てシールドN5を形成することにより構成されている。Therefore, the printed wiring board 10 of FIG.
At the same time as the printed wiring board IO shown in the figure and the fourth figure, the board 1
A printed wiring circuit 2 is formed on one side of the printed wiring circuit 2, and a shield N5 is formed on the upper side of the printed wiring circuit 2 via a solder resist layer 4.
また、か\るプリント配mFilOの形成に当り、予め
、プリント配線I15.10の所要位置に、切取孔11
を配孔した切取部12を介してテストピース部13を設
け、このテストピース部13上側にもソルダーレジスト
層4の形成と同時にテストピース部13上側の銅箔20
上にソルダーレジスト層16a、16bを形成し、かつ
プリント配線板100オーバーコート層7の形成に関連
して前記ソルダーレジスト層16b上側にオーバーコー
ト層z8を施すものである。In addition, when forming the printed wiring mFilO, cut holes 11 are placed in advance at the required positions of the printed wiring I15.10.
A test piece part 13 is provided through the cutout part 12 in which holes are arranged, and at the same time the solder resist layer 4 is formed on the upper side of the test piece part 13, the copper foil 20 on the upper side of the test piece part 13 is also formed.
Solder resist layers 16a and 16b are formed thereon, and an overcoat layer z8 is applied above the solder resist layer 16b in connection with the formation of the overcoat layer 7 of the printed wiring board 100.
すなわち、テストピース部13におけるソルダーレジス
ト層16a、16bおよびオーバーコートM18は、そ
れぞれプリント配線FiIOのソルダーレジスト[4お
よびオーバーコートN7の製造工程と同一工程にて形成
する。That is, the solder resist layers 16a and 16b and the overcoat M18 in the test piece portion 13 are formed in the same process as the manufacturing process of the solder resist [4 and overcoat N7 of the printed wiring FiIO, respectively.
特にテストピース部13におけるソルダーレジスト層1
6a、26bおよびオーバーコート層18により絶縁層
のチェックランド層が形成されるが、その大きさについ
てはそれぞれの形成に当って自由に設計し得るが、M厚
計側の正確性を期する為に5 X 5 IDm以上の大
きさに形成することが望ましい。Especially the solder resist layer 1 in the test piece part 13
6a, 26b and the overcoat layer 18 form a check land layer of an insulating layer. Although the size of the check land layer can be freely designed when forming each layer, in order to ensure accuracy on the M thickness gauge side, It is desirable to form it to a size of 5×5 IDm or more.
さらに、前記プリント配線板lo自体のプリント配線回
路2の形成と同時に前記テストピース部13の銅箔20
の一部を利用して、独立した2個のテスト用のランド1
4.15を形成するとともに前記ソルダーレジスト層4
の形成と同時にテストピース部13上側のテスト用のラ
ンド14.15を残してソルダーレジスト層21を形成
し、さらに前記シールド層5の形成に関連してテスト用
のランド14.15間を接続するシールド回路17を形
成し、かつ前記プリント配線板10のオーバーコート層
7の形成に関連してオーバーコート層22を施すもので
ある。Further, at the same time as the printed wiring circuit 2 of the printed wiring board lo itself is formed, the copper foil 20 of the test piece portion 13 is
two independent test lands 1 using a part of the
4.15 and the solder resist layer 4
Simultaneously with the formation of the test piece portion 13, a solder resist layer 21 is formed leaving test lands 14.15 on the upper side of the test piece portion 13, and further, in connection with the formation of the shield layer 5, the test lands 14.15 are connected. A shield circuit 17 is formed, and an overcoat layer 22 is applied in connection with the formation of the overcoat layer 7 of the printed wiring board 10.
すなわち、テストピース部13におけるランド14.1
5、ソルダーレジスト層21、シールド回路17および
オーバーコー1[22は、それぞれプリント配線板10
のプリント配線回路2、ソルダーレジスト層4、シール
ド層5およびオーバーコート層7の製造工程と同一工程
にて形成する。That is, the land 14.1 in the test piece portion 13
5, solder resist layer 21, shield circuit 17 and overcoat 1 [22 is printed wiring board 10]
It is formed in the same process as the manufacturing process of the printed wiring circuit 2, solder resist layer 4, shield layer 5, and overcoat layer 7.
特に、シールド回路17の長さおよび幅については、予
めシールド回路17の形成に使用される導電性インキ、
すなわち前記プリント配線板1゜のシールド層5の形成
に使用される導電性インキの組成における抵抗値に対応
する基準設定値と比較しi+′)る長さおよび幅(体積
)例えば長さ1oIII11、幅5胴等のものとなるよ
うに設計して形成するものである。In particular, regarding the length and width of the shield circuit 17, the conductive ink used to form the shield circuit 17,
That is, the length and width (volume) are compared with the reference setting value corresponding to the resistance value in the composition of the conductive ink used to form the shield layer 5 of the printed wiring board 1°, for example, the length 1oIII11, It is designed and formed to have a width of 5 cylinders or the like.
尚、ランド14.15の一部は測定を可能とする為にオ
ーバーコートJ!J22の形成時に一部を露出せしめて
形成する。In addition, a part of land 14.15 is covered with an overcoat J! to enable measurement. When forming J22, a part thereof is exposed.
図中、3はプリント配線回路2における接続ランド、6
はスルーホールである。In the figure, 3 is a connection land in the printed wiring circuit 2, and 6 is a connection land in the printed wiring circuit 2.
is a through hole.
以上の構成から成るプリント配線板IOによれば、当該
プリント配線板IOのプリント配線回路2部分に形成さ
れるソルダーレジスト層4およびオーバーコート層7の
製造工程において同時に所定位置にチェック用ランドと
してのソルダーレジストN16a、16b、および一方
のソルダーレジスト層16b上側にはオーバーコート層
18をテストピース部13上側に形成したので、か\る
テストピース部13におけるソルダレジスト層重6aに
より前記プリント配線板10のソルダーレジスト筋4の
膜厚並びにオーバーコート層18によりオーバーコート
層7の膜厚をそれぞれ計測することができる。According to the printed wiring board IO having the above configuration, in the manufacturing process of the solder resist layer 4 and the overcoat layer 7 formed on the printed wiring circuit 2 portion of the printed wiring board IO, a check land is simultaneously placed at a predetermined position. Since the overcoat layer 18 is formed above the test piece part 13 on the solder resist N16a, 16b and one of the solder resist layers 16b, the solder resist layer 6a in the test piece part 13 makes the printed wiring board 10 The thickness of the overcoat layer 7 can be measured based on the thickness of the solder resist streaks 4 and the overcoat layer 18.
特に、前記実施例においては、切取部12を介してテス
トピース部13を設け、このテストピース部13に前記
絶縁層のチェック用ランドを設けたので計測の必要性に
応して、テストピース部13をプリント配線板lOより
切取部12を介して切取り、か\るテストピース部13
のチェック用ンド層を切断してその切断面にて前記両N
16 a 。In particular, in the above embodiment, the test piece part 13 was provided through the cutout part 12, and the test piece part 13 was provided with a land for checking the insulating layer. 13 is cut out from the printed wiring board lO through the cutout part 12, and the resulting test piece part 13 is
The check layer is cut and the above-mentioned N
16 a.
16b、1Bの各膜厚を計測することが可能で、プリン
ト配線板lOを無駄にすることなく計測が可能である。It is possible to measure each film thickness of 16b and 1B, and measurement is possible without wasting the printed wiring board IO.
又、計測方法によっては非接触の膜厚形を使用すること
により、切断面による計測のみに限らない膜厚の計測も
可能であって、か−る方法の採用によれば、前記テスト
ピース部13の両層16a。Furthermore, depending on the measurement method, by using a non-contact film thickness gauge, it is possible to measure the film thickness not only by measuring the cut surface. 13 both layers 16a.
16b、18を切断することのない計測の実施が可能で
ある。It is possible to carry out measurements without cutting 16b, 18.
さらに、前記プリント配線板10自体のシールド層5に
ついては、当=亥シールド層5の上側にはオーバーコー
ト層7を形成してしまうために、オーバーコート[7を
被覆されてしまったシールド層5の膜厚および所要のシ
ールド特性を発揮し得るものであるか否かの直接的な検
査が不可能であるが、本発明プリント配線板10の場合
には、前記シールド層5の形成と同一工程、すなわち同
一形成条件(同一の組成から成る導電性インキによる同
一の条件によるシルク印刷等)による膜厚のシールド回
路17が形成されるので、かかるシールド回路17の電
気的な抵抗値をランF1415を介して測定することが
可能である。Furthermore, regarding the shield layer 5 of the printed wiring board 10 itself, since the overcoat layer 7 is formed on the upper side of the shield layer 5, the shield layer 5 covered with the overcoat [7] However, in the case of the printed wiring board 10 of the present invention, the same process as that for forming the shield layer 5 is performed. That is, since the shield circuit 17 is formed with the same film thickness under the same formation conditions (silk printing under the same conditions with conductive ink having the same composition, etc.), the electrical resistance value of the shield circuit 17 is determined by the run F1415. It is possible to measure via
従って、この測定値を予め同一組成の導電性インキによ
り形成された所定の膜厚、長さ(体積)における基準設
定値と比較することにより、プリント配線板10におい
て形成されたシールド層5の特性を間接的に検知するこ
とができる。Therefore, by comparing this measured value with a standard set value at a predetermined film thickness and length (volume) formed using conductive ink of the same composition, the characteristics of the shield layer 5 formed on the printed wiring board 10 can be determined. can be detected indirectly.
しかして、前記実施例の場合には特にテストビス部13
にチェック用ランドとしてのソルダーレジスト層16a
、151)とオーバーコート層18およびランド14.
15と両ランド1415間にシールド回路17を設けた
が、予めプリント配置1i10のプリント配線回路2の
配設部の所定位置に前記構成の絶縁層およびシールド層
の計測、検査部を設けることにより実施することも可能
である。Therefore, in the case of the above embodiment, especially the test screw portion 13
Solder resist layer 16a as a check land
, 151), overcoat layer 18 and land 14.
The shield circuit 17 was provided between the land 15 and both lands 1415, but this was implemented by providing a measurement and inspection section for the insulating layer and shield layer of the above structure in advance at a predetermined position of the placement section of the printed wiring circuit 2 of the printed layout 1i10. It is also possible to do so.
イリし、か−る構成の場合には、プリント配線板10の
ソルダーレジスト層4およびオーバーコート層7等の絶
S!層の膜厚およびシールド層の特性を適確に計測し得
る位置を選択した実施が要求される。However, in the case of such a configuration, the solder resist layer 4, overcoat layer 7, etc. of the printed wiring board 10 are completely damaged! It is required to select a location where the thickness of the layer and the characteristics of the shield layer can be accurately measured.
尚、チェック用−77ド16a、16b、18の配設個
数およびランド14.+5、シールド回路】7について
は一箇所に限らず複数箇所に配設して実施することによ
り、膜厚計測および特性検査をプリント配線板の全体に
おいて把握し得る利点を有する。In addition, the number of check-77 doors 16a, 16b, 18 and lands 14. +5, Shield circuit] With regard to 7, there is an advantage that film thickness measurement and characteristic inspection can be performed on the entire printed wiring board by disposing the shield circuit not only at one location but at multiple locations.
本発明プリント配線板によれば予め設定されたチエ、り
用ランI′およびランドとシールド回路を介してプリン
ト配線板の製造工程における絶縁層の膜厚およびシール
ド層の特性をa確に計測することができる。According to the printed wiring board of the present invention, the film thickness of the insulating layer and the characteristics of the shield layer in the manufacturing process of the printed wiring board can be accurately measured through the preset wire run I' and the land and the shield circuit. be able to.
第1図は本発明プリント配線板の平面図、第2図aは第
1図A−A拡大断面図、第2図すは第1図B−B拡大断
面図、第2図Cは第1図C−C断面図、第2図dは第1
図D−Dは拡大断面図、第3図は従来のプリント配線板
の平面図、第4図は第3図A−A断面図である。
1・・・基板
2・・・プリント配線回路
3・・・接続ランド
4・・・ソルダーレジスト
5・・・シールド層
G・・・スルーホール
7・・オーバーコート層
O・・・プリント配線板
】・・・切取孔
2・・・切取部
3・・・テストピース部
4.15・・・ランド
6a、 16b・・ツルグーレジスト層7・・・シー
ルド回路
8・・・オーバーコート層
0・・・銅箔
第2図1 is a plan view of the printed wiring board of the present invention, FIG. 2a is an enlarged sectional view taken along the line AA in FIG. 1, FIG. Figure C-C sectional view, Figure 2 d is the first
DD is an enlarged cross-sectional view, FIG. 3 is a plan view of a conventional printed wiring board, and FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line A-A in FIG. 1... Board 2... Printed wiring circuit 3... Connection land 4... Solder resist 5... Shield layer G... Through hole 7... Overcoat layer O... Printed wiring board] ... Cutout hole 2 ... Cutout section 3 ... Test piece section 4.15 ... Lands 6a, 16b ... Turtle resist layer 7 ... Shield circuit 8 ... Overcoat layer 0 ...・Copper foil diagram 2
Claims (4)
るとともに絶縁層を介してシールド層を設けて成るプリ
ント配線板において、 前記絶縁層の形成と同時に絶縁層のチェック用ランドを
設けるとともに前記シールド層の形成と同時に2個の独
立したシールド層のチェック用ランドと両ランド間に接
続部を設けることにより構成したことを特徴とする絶縁
層等の検査部を有するプリント配線板。(1) In a printed wiring board in which a printed wiring circuit is provided on one or both sides of a board and a shield layer is provided via an insulating layer, a land for checking the insulating layer is provided at the same time as the formation of the insulating layer, and the shield layer is provided with a land for checking the insulating layer. What is claimed is: 1. A printed wiring board having an inspection section for an insulating layer, etc., characterized in that the check land of two independent shield layers and a connection section are provided between both lands at the same time as the formation of the board.
線回路部の所要位置に配置して成る請求項1記載の絶縁
層等の検査部を有するプリント配線板。(2) A printed wiring board having a part for inspecting an insulating layer or the like according to claim 1, wherein the land for checking the insulating layer is arranged at a predetermined position of the printed wiring circuit part.
部を介して形成したテスト用ピース部に形成して成る請
求項1記載の絶縁層等の検査部を有するプリント配線板
。(3) A printed wiring board having an inspection section for an insulating layer or the like according to claim 1, wherein the check land for the insulating layer is formed on a test piece section formed through a cutout section of the substrate.
以上の面積を備えて成る請求項1記載の絶縁層等の検査
部を有するプリント配線板。(4) The check land of the insulating layer is 5 mm x 5 mm.
2. A printed wiring board having an inspection section such as an insulating layer according to claim 1, which has an area equal to or more than 100 .ANG.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33719189A JPH03196698A (en) | 1989-12-26 | 1989-12-26 | Printed wiring board having detecting part for insulating layer and the like |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33719189A JPH03196698A (en) | 1989-12-26 | 1989-12-26 | Printed wiring board having detecting part for insulating layer and the like |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03196698A true JPH03196698A (en) | 1991-08-28 |
Family
ID=18306302
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33719189A Pending JPH03196698A (en) | 1989-12-26 | 1989-12-26 | Printed wiring board having detecting part for insulating layer and the like |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03196698A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102630370B1 (en) * | 2023-02-27 | 2024-01-29 | 주식회사 두성테크 | Substrate structure for pba manufacturing and pba manufacturing method using the same |
-
1989
- 1989-12-26 JP JP33719189A patent/JPH03196698A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102630370B1 (en) * | 2023-02-27 | 2024-01-29 | 주식회사 두성테크 | Substrate structure for pba manufacturing and pba manufacturing method using the same |
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