JPH03196698A - 絶縁層等の検査部を有するプリント配線板 - Google Patents

絶縁層等の検査部を有するプリント配線板

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JPH03196698A
JPH03196698A JP33719189A JP33719189A JPH03196698A JP H03196698 A JPH03196698 A JP H03196698A JP 33719189 A JP33719189 A JP 33719189A JP 33719189 A JP33719189 A JP 33719189A JP H03196698 A JPH03196698 A JP H03196698A
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JP
Japan
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printed wiring
layer
insulating layer
wiring board
shield
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Pending
Application number
JP33719189A
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English (en)
Inventor
Shin Kawakami
川上 伸
Satoru Haruyama
春山 哲
Hirotaka Okonogi
弘孝 小此木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon CMK Corp
CMK Corp
Original Assignee
Nippon CMK Corp
CMK Corp
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Publication date
Application filed by Nippon CMK Corp, CMK Corp filed Critical Nippon CMK Corp
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Publication of JPH03196698A publication Critical patent/JPH03196698A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0213Electrical arrangements not otherwise provided for
    • H05K1/0216Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference
    • H05K1/0218Reduction of cross-talk, noise or electromagnetic interference by printed shielding conductors, ground planes or power plane
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0266Marks, test patterns or identification means
    • HELECTRICITY
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    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits

Landscapes

  • Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はプリント配線板に関する。
〔従来の技術〕
従来プリント配線板は第3図および第4図に示す如く基
板1の片面または両面に設けた銅箔により所要のパター
ンから成るプリント配線回路2を形成するとともに電気
部品の接続あるいはその他の外部との電気的な接続のた
めの接続ランド3を残して絶縁層4をシルク印刷により
形成している。
また、前記プリント配線回路2上側には必要に応して電
磁波シールド用のシールド層5を設けた場合にはさらに
このシールドN5上側に絶縁層(オーバーコート層)7
を設けることにより構成されている。尚6は接続ランド
3に設けたスルーホールである。
〔発明が解決しようとする課題〕
さて、前記従来のプリント配線板10における絶縁層4
.7はプリント配線回路2あるいはシールド層5の電気
特性、性能を大きく左右するとともにプリント配線板1
0自体の品質5性能、耐久性等を直接左右するもので、
通常製品としてプリント配線板lOの抜き取り検査時に
絶縁層4,7の膜厚を検査しているが、その検査は絶縁
層4゜7の断面部分により検査している。
しかるに絶縁M4,7の断面部分は、プリント配線+1
i 10のうちの単に基板lの上側に形成された絶縁層
4、あるいはシールド層5の上側に設けられた絶縁N7
の部分では膜厚に誤差が存在し、検査部分の計測が正確
であってもバラツキを生しプリント配線板10の全体に
おいて性能あるいは耐久性上等要求される適切な絶縁層
の膜厚を計測することは不可能であった。
又、上述シールド層5のシールド効果を判定するにはシ
ールド層5の厚さと導電性とを知る必要を生ずる。しか
し、シールド層5は通常導電性インキのシルク印刷技法
による塗布であるため各プリント配線板においてシール
ド特性のばらつきが多いが、現在では特性検査の適切な
方法がなく、加えて通常はシールドN5上の全面にオー
バーコートN7を印刷塗布するため検査は不可能である
ことも一要因となっている。
因って、本発明はか−る従来のプリント配線板における
絶縁層の膜厚計測上の欠点並びにシールド層の特性等の
検査上の欠点に鑑みて開発されたもので、プリント配線
板自体に何等の悪影響を与えずに計測および検査し得る
プリント配線板の提供を目的とするものである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明プリント配線板は基板の片面または両面にプリン
ト配線回路を設けるとともに絶縁層を介してシールド層
を設けて成るプリント配線板において、前記絶縁層の形
成と同時に絶縁層のチェック用ランドを設けるとともに
前記シールド層の形成と同時に2個の独立したシールド
層のチェック用ランドと両ランド間に接続部を設けるこ
とにより構成したことを特徴とするものである。
〔作 用〕
本発明プリント配線板は、プリント配線回路上側に形成
される絶縁層およびシールド層と同時にチェック用ラン
ドを形成し、当該チェック用ラントを介してプリント配
線板に形成された絶縁層の11り厚およびシールド層の
特性を適確に計測し得る作用を有する。
〔実施例〕
以下本発明プリント配線板の一実施例を図面とともに詳
細に説明する。
第1図は本発明プリント配線板の平面図、第2図aは第
1図A−A拡大断面図、第2図すは第1図B−B拡大断
面図、第2図Cは第1図C−C断面図である。
しかして、第1図のプリント配線板10は前述した第3
図および第4図示のプリント配線板IOと同時に基板1
の片面にプリント配線回路2を形成するとともにこのプ
リント配線回路2の上側にソルダーレジスト層4を介し
てシールドN5を形成することにより構成されている。
また、か\るプリント配mFilOの形成に当り、予め
、プリント配線I15.10の所要位置に、切取孔11
を配孔した切取部12を介してテストピース部13を設
け、このテストピース部13上側にもソルダーレジスト
層4の形成と同時にテストピース部13上側の銅箔20
上にソルダーレジスト層16a、16bを形成し、かつ
プリント配線板100オーバーコート層7の形成に関連
して前記ソルダーレジスト層16b上側にオーバーコー
ト層z8を施すものである。
すなわち、テストピース部13におけるソルダーレジス
ト層16a、16bおよびオーバーコートM18は、そ
れぞれプリント配線FiIOのソルダーレジスト[4お
よびオーバーコートN7の製造工程と同一工程にて形成
する。
特にテストピース部13におけるソルダーレジスト層1
6a、26bおよびオーバーコート層18により絶縁層
のチェックランド層が形成されるが、その大きさについ
てはそれぞれの形成に当って自由に設計し得るが、M厚
計側の正確性を期する為に5 X 5 IDm以上の大
きさに形成することが望ましい。
さらに、前記プリント配線板lo自体のプリント配線回
路2の形成と同時に前記テストピース部13の銅箔20
の一部を利用して、独立した2個のテスト用のランド1
4.15を形成するとともに前記ソルダーレジスト層4
の形成と同時にテストピース部13上側のテスト用のラ
ンド14.15を残してソルダーレジスト層21を形成
し、さらに前記シールド層5の形成に関連してテスト用
のランド14.15間を接続するシールド回路17を形
成し、かつ前記プリント配線板10のオーバーコート層
7の形成に関連してオーバーコート層22を施すもので
ある。
すなわち、テストピース部13におけるランド14.1
5、ソルダーレジスト層21、シールド回路17および
オーバーコー1[22は、それぞれプリント配線板10
のプリント配線回路2、ソルダーレジスト層4、シール
ド層5およびオーバーコート層7の製造工程と同一工程
にて形成する。
特に、シールド回路17の長さおよび幅については、予
めシールド回路17の形成に使用される導電性インキ、
すなわち前記プリント配線板1゜のシールド層5の形成
に使用される導電性インキの組成における抵抗値に対応
する基準設定値と比較しi+′)る長さおよび幅(体積
)例えば長さ1oIII11、幅5胴等のものとなるよ
うに設計して形成するものである。
尚、ランド14.15の一部は測定を可能とする為にオ
ーバーコートJ!J22の形成時に一部を露出せしめて
形成する。
図中、3はプリント配線回路2における接続ランド、6
はスルーホールである。
以上の構成から成るプリント配線板IOによれば、当該
プリント配線板IOのプリント配線回路2部分に形成さ
れるソルダーレジスト層4およびオーバーコート層7の
製造工程において同時に所定位置にチェック用ランドと
してのソルダーレジストN16a、16b、および一方
のソルダーレジスト層16b上側にはオーバーコート層
18をテストピース部13上側に形成したので、か\る
テストピース部13におけるソルダレジスト層重6aに
より前記プリント配線板10のソルダーレジスト筋4の
膜厚並びにオーバーコート層18によりオーバーコート
層7の膜厚をそれぞれ計測することができる。
特に、前記実施例においては、切取部12を介してテス
トピース部13を設け、このテストピース部13に前記
絶縁層のチェック用ランドを設けたので計測の必要性に
応して、テストピース部13をプリント配線板lOより
切取部12を介して切取り、か\るテストピース部13
のチェック用ンド層を切断してその切断面にて前記両N
16 a 。
16b、1Bの各膜厚を計測することが可能で、プリン
ト配線板lOを無駄にすることなく計測が可能である。
又、計測方法によっては非接触の膜厚形を使用すること
により、切断面による計測のみに限らない膜厚の計測も
可能であって、か−る方法の採用によれば、前記テスト
ピース部13の両層16a。
16b、18を切断することのない計測の実施が可能で
ある。
さらに、前記プリント配線板10自体のシールド層5に
ついては、当=亥シールド層5の上側にはオーバーコー
ト層7を形成してしまうために、オーバーコート[7を
被覆されてしまったシールド層5の膜厚および所要のシ
ールド特性を発揮し得るものであるか否かの直接的な検
査が不可能であるが、本発明プリント配線板10の場合
には、前記シールド層5の形成と同一工程、すなわち同
一形成条件(同一の組成から成る導電性インキによる同
一の条件によるシルク印刷等)による膜厚のシールド回
路17が形成されるので、かかるシールド回路17の電
気的な抵抗値をランF1415を介して測定することが
可能である。
従って、この測定値を予め同一組成の導電性インキによ
り形成された所定の膜厚、長さ(体積)における基準設
定値と比較することにより、プリント配線板10におい
て形成されたシールド層5の特性を間接的に検知するこ
とができる。
しかして、前記実施例の場合には特にテストビス部13
にチェック用ランドとしてのソルダーレジスト層16a
、151)とオーバーコート層18およびランド14.
15と両ランド1415間にシールド回路17を設けた
が、予めプリント配置1i10のプリント配線回路2の
配設部の所定位置に前記構成の絶縁層およびシールド層
の計測、検査部を設けることにより実施することも可能
である。
イリし、か−る構成の場合には、プリント配線板10の
ソルダーレジスト層4およびオーバーコート層7等の絶
S!層の膜厚およびシールド層の特性を適確に計測し得
る位置を選択した実施が要求される。
尚、チェック用−77ド16a、16b、18の配設個
数およびランド14.+5、シールド回路】7について
は一箇所に限らず複数箇所に配設して実施することによ
り、膜厚計測および特性検査をプリント配線板の全体に
おいて把握し得る利点を有する。
〔発明の効果〕
本発明プリント配線板によれば予め設定されたチエ、り
用ランI′およびランドとシールド回路を介してプリン
ト配線板の製造工程における絶縁層の膜厚およびシール
ド層の特性をa確に計測することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明プリント配線板の平面図、第2図aは第
1図A−A拡大断面図、第2図すは第1図B−B拡大断
面図、第2図Cは第1図C−C断面図、第2図dは第1
図D−Dは拡大断面図、第3図は従来のプリント配線板
の平面図、第4図は第3図A−A断面図である。 1・・・基板 2・・・プリント配線回路 3・・・接続ランド 4・・・ソルダーレジスト 5・・・シールド層 G・・・スルーホール 7・・オーバーコート層 O・・・プリント配線板 】・・・切取孔 2・・・切取部 3・・・テストピース部 4.15・・・ランド 6a、  16b・・ツルグーレジスト層7・・・シー
ルド回路 8・・・オーバーコート層 0・・・銅箔 第2図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板の片面または両面にプリント配線回路を設け
    るとともに絶縁層を介してシールド層を設けて成るプリ
    ント配線板において、 前記絶縁層の形成と同時に絶縁層のチェック用ランドを
    設けるとともに前記シールド層の形成と同時に2個の独
    立したシールド層のチェック用ランドと両ランド間に接
    続部を設けることにより構成したことを特徴とする絶縁
    層等の検査部を有するプリント配線板。
  2. (2)前記絶縁層のチェック用ランドは前記プリント配
    線回路部の所要位置に配置して成る請求項1記載の絶縁
    層等の検査部を有するプリント配線板。
  3. (3)前記絶縁層のチェック用ランドは前記基板の切取
    部を介して形成したテスト用ピース部に形成して成る請
    求項1記載の絶縁層等の検査部を有するプリント配線板
  4. (4)前記絶縁層のチェック用ランドは5mm×5mm
    以上の面積を備えて成る請求項1記載の絶縁層等の検査
    部を有するプリント配線板。
JP33719189A 1989-12-26 1989-12-26 絶縁層等の検査部を有するプリント配線板 Pending JPH03196698A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102630370B1 (ko) * 2023-02-27 2024-01-29 주식회사 두성테크 Pba 제조용 기판 구조 및 이를 이용한 pba 제조방법

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR102630370B1 (ko) * 2023-02-27 2024-01-29 주식회사 두성테크 Pba 제조용 기판 구조 및 이를 이용한 pba 제조방법

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