JPH0319978U - - Google Patents
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- JPH0319978U JPH0319978U JP8029389U JP8029389U JPH0319978U JP H0319978 U JPH0319978 U JP H0319978U JP 8029389 U JP8029389 U JP 8029389U JP 8029389 U JP8029389 U JP 8029389U JP H0319978 U JPH0319978 U JP H0319978U
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- Pending
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 2
- 238000012216 screening Methods 0.000 claims 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 101100102849 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) VTH1 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000008707 rearrangement Effects 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例を示すブロツク図、
第２図、第３図は特性項目の並べ替えを説明する
図である。 １……ＶＴＨ０の不良数、２……ＶＴＨ１の不
良数、３……測定項目、４……測定時間、５……
不良数、６……ムダ時間、１０……カウンタ、１
１……処理回路。
第２図、第３図は特性項目の並べ替えを説明する
図である。 １……ＶＴＨ０の不良数、２……ＶＴＨ１の不
良数、３……測定項目、４……測定時間、５……
不良数、６……ムダ時間、１０……カウンタ、１
１……処理回路。
Claims (1)
- 複数の特性項目の測定を行う半導体特性選別用
テスターにおいて、各測定項目毎に不良品数をカ
ウントするカウンタと、前記カウンタの出力に基
いて不良品数の大きいものから順番に測定項目を
並べ替える処理回路とを有することを特徴とする
半導体特性選別用テスター。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8029389U JPH0319978U (ja) | 1989-07-07 | 1989-07-07 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8029389U JPH0319978U (ja) | 1989-07-07 | 1989-07-07 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0319978U true JPH0319978U (ja) | 1991-02-27 |
Family
ID=31625222
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8029389U Pending JPH0319978U (ja) | 1989-07-07 | 1989-07-07 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0319978U (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63143987A (ja) * | 1986-12-08 | 1988-06-16 | 株式会社タツノ・メカトロニクス | スプレ−式洗車機 |
| JP2000335543A (ja) * | 1999-05-27 | 2000-12-05 | Dainippon Printing Co Ltd | インモールドラベル容器およびその製造方法 |
| JP2009051515A (ja) * | 2007-08-24 | 2009-03-12 | Kao Corp | 耐衝撃性容器 |
-
1989
- 1989-07-07 JP JP8029389U patent/JPH0319978U/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63143987A (ja) * | 1986-12-08 | 1988-06-16 | 株式会社タツノ・メカトロニクス | スプレ−式洗車機 |
| JP2000335543A (ja) * | 1999-05-27 | 2000-12-05 | Dainippon Printing Co Ltd | インモールドラベル容器およびその製造方法 |
| JP2009051515A (ja) * | 2007-08-24 | 2009-03-12 | Kao Corp | 耐衝撃性容器 |
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